CN110751923B - 混合老化补偿方法、装置、电子设备及可读存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种混合老化补偿方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，位置信息表征待侦测子像素在显示装置上的位置，待侦测子像素为显示装置上的部分子像素；根据位置信息对待侦测子像素进行侦测，得到待侦测子像素对应的侦测值；根据侦测值对显示装置上的所有子像素进行老化补偿。上述方法，先确定待侦测子像素的位置信息，之后根据位置信息仅对待侦测子像素进行侦测，最后根据侦测后得到的待侦测子像素的侦测值对所有子像素进行老化补偿。由于无需对显示装置上所有子像素进行一一侦测便可实现所有子像素的老化补偿，能够极大地减少侦测时间，进而减少了老化补偿所需的时间。

Description

混合老化补偿方法、装置、电子设备及可读存储介质
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种混合老化补偿方法、装置、电子设备及可读存储介质。
背景技术
显示装置在人们日常生活中应用越来越广泛，但是随着使用时间的增加，显示装置的老化程度随之加剧，老化后的显示装置的显示均匀性下降，因此，为了实现较佳的显示效果，需要对显示装置进行老化补偿。
目前，常用的老化补偿方法分为外部补偿和内部补偿两类。内部补偿是指在像素内部利用TFT构建的子电路进行补偿的方法，具有像素结构和驱动方式复杂、补偿效果仅限于TFT阈值电压和IR Drop、补偿范围偏小等特点。外部补偿是指通过外部的驱动电路或设备感知像素的特性然后进行补偿的方法，具有像素结构简单、驱动速度快、补偿范围大的特点。然而，外部补偿在实际应用中侦测一个画面所需时间较长，存在老化补偿所需时间长的缺点。
发明内容
基于此，本发明实施例提供了一种混合老化补偿方法、装置、电子设备及可读存储介质，以解决现有技术中老化补偿所需时间长的问题。
根据第一方面，本发明实施例提供了一种混合老化补偿方法，包括：根据DataCounting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，所述位置信息表征所述待侦测子像素在所述显示装置上的位置，其中，所述待侦测子像素为所述显示装置上的部分子像素；根据所述位置信息对所述待侦测子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素对应的侦测值；根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿。
可选地，根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息的步骤中，包括：获取所述显示装置上子像素的应力分布图的基本单位和单元应力值；根据所述基本单位和单元应力值得到所述应力分布图，并根据所述应力分布图得到所述显示装置上所有子像素的累积应力值；根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息。
可选地，根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息的步骤中，包括：按照第一预设方式在所述累积应力值中选取预设累积应力值，并将所述预设累积应力值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素。
可选地，根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息的步骤中，包括：获取所述累积应力值的最大值和最小值；按照第二预设方式将所述累积应力值量化为最大值和最小值之间的预设量化值，并将所述预设量化值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素。
可选地，根据所述位置信息对所述待侦测子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素对应的侦测值的步骤中，包括：根据所述位置信息对所述待侦测子像素以及与所述待侦测子像素相邻的相邻子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素和所述相邻子像素的初始侦测值；根据所述初始侦测值得到所述待侦测子像素对应的侦测值。
可选地，根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿的步骤中，包括：获取所述显示装置的老化模型；根据所述侦测值和所述老化模型建立包含所有子像素补偿值的查找表；根据所述查找表对所有子像素进行老化补偿。
可选地，根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿的步骤中，包括：对所述侦测值进行曲线拟合得到包含所有子像素补偿值的补偿曲线；根据所述补偿曲线对所有子像素进行老化补偿。
根据第二方面，本发明实施例提供了一种混合老化补偿装置，包括：第一处理模块，根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，所述位置信息表征所述待侦测子像素在所述显示装置上的位置，其中，所述待侦测子像素为所述显示装置上的部分子像素；第二处理模块，用于根据所述位置信息对所述待侦测子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素对应的侦测值；第三处理模块，用于根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿。
可选地，所述第一处理模块包括：第一获取单元，用于获取所述显示装置上子像素的应力分布图的基本单位和单元应力值；第一处理单元，用于根据所述基本单位和单元应力值得到所述应力分布图，并根据所述应力分布图得到所述显示装置上所有子像素的累积应力值；第二处理单元，用于根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息。
可选地，所述第二处理单元包括：第一处理子单元，用于按照第一预设方式在所述累积应力值中选取预设累积应力值，并将所述预设累积应力值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素。
可选地，所述第二处理单元包括：第一获取子单元，用于获取所述累积应力值的最大值和最小值；第二处理子单元，用于按照第二预设方式将所述累积应力值量化为最大值和最小值之间的预设量化值，并将所述预设量化值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素。
可选地，所述第二处理模块包括：第三处理单元，用于根据所述位置信息对所述待侦测子像素以及与所述待侦测子像素相邻的相邻子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素和所述相邻子像素的初始侦测值；第四处理单元，用于根据所述初始侦测值得到所述待侦测子像素对应的侦测值。
可选地，所述第三处理模块包括：第二获取单元，用于获取所述显示装置的老化模型；第五处理单元，用于根据所述侦测值和所述老化模型建立包含所有子像素补偿值的查找表；第六处理单元，用于根据所述查找表对所有子像素进行老化补偿。
可选地，所述第三处理模块包括：第七处理单元，用于对所述侦测值进行曲线拟合得到包含所有子像素补偿值的补偿曲线；第八处理单元，用于根据所述补偿曲线对所有子像素进行老化补偿。
根据第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行本发明第一方面中任一所述的混合老化补偿方法。
根据第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机从而执行本发明第一方面中任一所述的混合老化补偿方法。
本发明技术方案，具有如下优点：
本发明提供的混合老化补偿方法，包括：根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，所述位置信息表征所述待侦测子像素在所述显示装置上的位置，其中，所述待侦测子像素为所述显示装置上的部分子像素；根据所述位置信息对所述待侦测子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素对应的侦测值；根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿。上述混合老化补偿方法，根据Data Counting确定待侦测子像素的位置信息，之后根据位置信息仅对待侦测子像素进行侦测，除待侦测子像素以外的其它子像素不进行侦测，最后根据侦测后得到的待侦测子像素的侦测值对整个显示装置上的所有子像素进行老化补偿。由于无需对显示装置上所有子像素进行一一侦测便可实现对所有子像素的老化补偿，能够极大地减少侦测时间，进而减少了老化补偿所需的时间。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例的混合老化补偿方法的一个具体示例的流程图；
图2为本发明实施例的混合老化补偿方法的另一个具体示例的流程图；
图3为本发明实施例的混合老化补偿方法的一个电流查找表的示意图；
图4为本发明实施例的混合老化补偿方法的一个温度查找表的示意图；
图5为本发明实施例的混合老化补偿方法的单元应力值的示意图；
图6为本发明实施例的混合老化补偿方法的另一个具体示例的流程图；
图7为本发明实施例的混合老化补偿方法的显示装置的一个累积应力分布图的示意图；
图8为本发明实施例的混合老化补偿方法的另一个具体示例的流程图；
图9为本发明实施例的混合老化补偿方法的另一个具体示例的流程图；
图10为本发明实施例的混合老化补偿方法的另一个具体示例的流程图；
图11为本发明实施例的混合老化补偿方法的一个整体老化模型的示意图；
图12为本发明实施例的混合老化补偿方法的一个补偿值查找表的示意图；
图13为本发明实施例的混合老化补偿方法的显示装置的累积时间的示意图；
图14为本发明实施例的混合老化补偿方法的另一个具体示例的流程图；
图15为本发明实施例的混合老化补偿方法的待侦测子像素的累积应力值和侦测到的与之相对应的老化程度之间的关系的示意图；
图16为本发明实施例的混合老化补偿方法的各个子像素的累积应力值和老化程度之间的关系的示意图；
图17为本发明实施例的混合老化补偿方法的老化程度和补偿程度之间的关系的示意图；
图18为本发明实施例的混合老化补偿方法的累积应力值和补偿程度之间的关系的示意图；
图19为本发明实施例的混合老化补偿方法的一个光学补偿的示意图；
图20为本发明实施例的混合老化补偿装置的一个具体示例的框图；
图21为本发明实施例的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
为了减少显示装置随着时间的推移显示效果变差的影响，如残影等显示不均匀，需要对显示装置进行老化补偿，通过老化补偿提高显示装置的显示效果。发明人发现，外部补偿在实际应用中侦测一个画面所需时间较长的原因在于对显示装置中的每一个子像素均进行侦测，例如，在进行电压侦测时，对每一子像素均进行电压侦测，故测量像素老化状态的电压的充电/放电时间会很长。
本发明实施例提供了一种混合老化补偿方法，如图1所示，包括步骤S1-S3。
步骤S1：根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，位置信息表征待侦测子像素在显示装置上的位置，其中，待侦测子像素为显示装置上的部分子像素。
在本实施例中，显示装置可以是智能手表、手环、手机、平板、笔记本、液晶电视或者车载显示屏等任何具有显示功能的装置，本实施例仅作示意性说明，并不以此为限。
Data Counting的方法具体是一种量化输入到显示装置的视频数据的方法，并计算显示装置上每个像素的累积应力值，累积应力值表示显示装置上像素的老化程度。在一实施例中，具体地，可根据外部补偿方式中的Data Counting数据计数方法预测一定时间后显示装置上所有子像素的老化补偿数据，并根据上述老化补偿数据选取部分子像素作为待侦测子像素，进而确定待侦测子像素在显示装置上的位置信息。上述位置信息可包括待侦测子像素在显示装置上的位置坐标，该位置坐标可以是坐标值，例如，位于第i列第j行的子像素的位置坐标为(Xi，Yj)；当然，在其它实施例中，位置信息也可以是其它信息，如对上述所有子像素的坐标值进行一一映射后得到的一系列数值，该一系列数值中的每一个数值可以唯一地对应显示装置上的一个子像素，例如将坐标(Xi，Yj)映射为Zij；又例如对子像素进行计数以记录子像素的位置信息，具体地，逐行计数，显示装置上的像素总共有4行，每一行又包括10个子像素，则第一行中的子像素从左至右分别记为1、2、3...10，第二行的子像素从左至右分别记为11、12、13...20，第三行和第四行以此类推，将1-40作为显示装置上子像素的位置信息，具体位置信息的存储方式可以是存储于一维数组中，也可以是存储于多维数组中，还可以存储于查找表中等，本实施例仅作示意性说明，对此不作任何限制。
具体地，待侦测子像素的个数可根据实际需要合理设置，例如，待侦测子像素的个数可以是10个、20个、25个等，具体数值不作任何限制。在一实施例中，具体可以根据面板的尺寸、子像素的最大亮度和最小亮度的差值、子像素的总个数等因素合理确定；如面板尺寸越大，待侦测子像素个数选取的越多；子像素的最大亮度和最小亮度的差值越大，待侦测子像素个数选取的越多；子像素的个数越多，待侦测子像素个数选取的越多等，具体可根据实际需要合理设置。需要说明的是，由于这些部分子像素作为待侦测子像素，后续要对这些待侦测子像素进行侦测，并根据侦测值进行老化补偿，因此，部分子像素的个数越多，侦测得到的侦测值越多，最终老化补偿也越准确。
步骤S2：根据位置信息对待侦测子像素进行侦测，得到待侦测子像素对应的侦测值。
在一实施例中，侦测可以是电学侦测，也可以是光学侦测；其中，电学侦测可以电压侦测，也可以是电流侦测。具体侦测方式需要与显示装置中的具体侦测电路相适应。当采用电压侦测进行侦测时，侦测值为电压值；当采用电流侦测进行侦测时，侦测值为电流值；当采用光学侦测时，可以是通过显示装置中的感光器件得到侦测值，具体地感光器件可以是photodetector，如photo diode、或者pin solar cell又或者pin diode等。通过何种方式进行侦测，可根据实际应用合理确定，本实施例对此不作任何限制。
在一实施例中，侦测值是待侦测子像素所对应的补偿值或者老化值。具体地，老化值可以是表征显示装置老化了多少的数值，也可以是显示装置老化到多少的数值；无论是哪种数值(补偿值或者老化值)均可表征显示装置的老化，并且各种数值之间只需要进行简单的数学变化便可相互转换，具体根据实际需要合理设置即可，本实施例对此不作任何限制。
在一具体示例中，侦测值可以是待侦测子像素当前值与初始值之间的差值，也可以是待侦测子像素的当前值。具体地侦测过程可以如下：显示装置中的Tcon(TimingController)板等逻辑板或者控制板预先存储有待侦测子像素的初始值(如初始电压值、初始电流值或者初始亮度值等)，一段时间后通过侦测电路得到待侦测子像素的当前值，通过当前值与初始值之间的关系可以得到待侦测子像素的侦测值，该侦测值用于表征待侦测子像素的在该段时间内的老化情况。
在一实施例中，由于已经得到待侦测子像素在显示装置上的位置信息，根据位置信息可以快速定位到待侦测子像素在显示装置中的具体位置，在进行侦测时，便可仅对这些待侦测子像素进行侦测，除待侦测子像素以外的其它子像素不进行侦测，这样可以极大地缩短侦测时间，进而减少老化补偿所需的时间。例如，待侦测子像素有3个，在显示装置上的坐标分别为(X5，Y6)、(X8，Y9)和(X12，Y5)，则在侦测时仅需对第6行第5列的子像素、对第9行第8列的子像素和对第5行第12列的子像素进行侦测，除这3个子像素以外，则无需对显示装置上其它位置的子像素进行侦测，也就是说只对显示装置上的3个子像素进行侦测。
步骤S3：根据侦测值对显示装置上的所有子像素进行老化补偿。
在一实施例中，可以是根据待侦测子像素的侦测值确定待侦测子像素的老化补偿值，进而根据待侦测子像素的补偿值确定除待侦测子像素以外的其它子像素的老化补偿值，这样便可得到整个显示装置上所有子像素的老化补偿值，根据老化补偿值对显示装置上的所有子像素进行老化补偿。
具体地，可以是根据待侦测像素的补偿值进行曲线拟合，之后根据拟合后的曲线便可得到每一个子像素的补偿值，进而实现所有子像素的老化补偿。也可以是根据待侦测子像素的补偿值建立补偿查找表，该查找表包括所有子像素不同老化程度下所对应的补偿值，进而根据查找表进行所有子像素的老化补偿。
上述混合老化补偿方法，根据Data counting确定待侦测子像素的位置信息，之后根据位置信息仅对待侦测子像素进行侦测，除待侦测子像素以外的其它子像素不进行侦测，最后根据侦测后得到的待侦测子像素的侦测值对整个显示装置上的所有子像素进行老化补偿。由于无需对显示装置上所有子像素进行一一侦测便可实现对所有子像素的老化补偿，能够极大地减少侦测时间，进而减少了老化补偿所需的时间。
在一实施例中，如图2所示，步骤S1具体可包括步骤S11-S13。
步骤S11：获取显示装置上子像素的应力分布图(stress map)的基本单位和单元应力值。
在一实施例中，应力分布图(stress map)是一个分布图，表示显示装置上每个像素中累积的应力(stress)，应力(stress)是输入到显示装置中的视频数据的量化值，累积应力值(accumulate stress)表示像素的退化程度。
在一具体示例中，具体地，可通过Tcon(Timing Controller)板等逻辑板或者控制板通过Data Counting方法得到整个显示装置上每一个子像素的累积应力值。保存应力图的实现方法可以是按照逐像素存储累积应力值，也可以是按照x大小的宏块保存累积应力值，还可以是通过数据压缩存储累积应力值，本实施例仅作示意性说明，并不以此为限，在实际应用中根据需要合理设置即可。
在一实施例中，应力分布图的基本单元可以是单个子像素，也可以是由多个子像素构成的像素block。像素block的大小可根据实际需要合理设置，如m*n大小的block，具体地，可以是2*2的block、4*4的block，当然，也可以是30*50的block等。需要说明的是，基本单元越小，补偿值越准确，但是所需硬件越复杂，本实施例仅作示意性说明，并不以此为限。在实际应用中，可根据显示装置上像素的实际排布情况和实际需求进行合理设置。
具体地，当应力分布图的基本单元为block时，block中的每一个子像素对应一个单元应力值，将上述每一个子像素对应的单元应力值进行处理后得到一个总的单元应力值，将该总的单元应力值作为block对应的单元应力值。例如，block所对应总的单元应力值可以是将block中的各个子像素的单元应力值作平均后得到的平均值，将平均值作为该block的单元应力值；也可以是对block中的各个子像素进行参数配置使得每一个子像素对应一个权重比例系数，将子像素对应的单元应力值与该子像素对应的权重比例系数进行加权平均，将加权平均值作为该block的单元应力值。确定block的单元应力值的方式还有很多种，本实施例中仅作示意性说明，不对此进行逐一列举，在实际应用中可根据需要合理设置。
在一实施例中，单元应力值表示单位时间内的应力。具体地，单位时间可以是0.5个小时、1个小时，5个小时或者10个小时等，根据需要合理设置即可。单元应力值与子像素的驱动电流、显示装置的使用环境温度等因素相关，不同厂商的显示装置和不同使用环境下的显示装置上的子像素的单元应力值不同；具体地，可将上述不同单元应力值存储于应力值查找表中，根据显示装置的实际情况确定合适的应力值，保证老化补偿的精确度。
为了方便地理解本技术方案的发明构思，下面以一个具体示例进行详细说明，对于同一个厂商的显示装置，单元应力值的大小与电流和温度相关。图3为显示装置的一个电流查找表(I-LUT)的示意图，如图3所示，G·LV表示不同输入电压所对应的灰阶值；Current表示子像素在该灰阶下的电流值；Current normalize为对电流值进行计算后得到的标准化电流值，便于在存储器中进行数据的存储。图4为显示装置的一个温度查找表(T-LUT)的示意图，T表示显示装置的温度，Acceleration factor表征温度对显示装置老化的影响大小，称为加速系数。图5表示温度为25摄氏度时的单元应力值的确定过程，Current Stress的值为25摄氏度所对应的Acceleration factor与标准化电流值Current normalize的乘积值，将Current Stress的值作为单元应力值。根据本实施例的描述，其它温度下的单元应力值可通过电流查找表和温度查找表确定。当然，在其它实施例中，单元应力值的确定还可以通过a(比例常数)*Acceleration factor*Current normalize确定，除此之外，单元应力值的影响因素还可有包括其它因素，如制造厂商、生产批次等，具体影响系数可通过实验测得，本实施例仅作示意性描述，并不以此为限。
需要说明的是，本实施例中的I-LUT表可根据I-V曲线得到，电压V和灰阶G·LV具有一定的对应关系，具体如图4和图5所示，该对应关系可以根据经验值得出，I-V曲线可以通过公式或者实验得到。
不同的像素电路结构具有不同的IV公式，如7T1C像素电路的IV公式如下：
Figure BSA0000195961730000091
其中，IDS为显示装置中显示器件的电流，μ为载流子迁移率，C为单位绝缘层电容，W为驱动管的宽度，L为驱动管的宽度，VDATA为数据电压，ELVDD为屏体的电源电压。
本实施例考虑到显示装置的各种特性和算法的准确性，通过实验而非公式来创建LUT。
步骤S12：根据基本单位和单元应力值得到应力分布图，并根据应力分布图得到显示装置上所有子像素的累积应力值。
在一实施例中，所有子像素的累积应力值可以是累积时间内单元应力值的积累，具体地，单元应力值乘以累积时间，上述累积时间为显示装置总的点亮时间。当然，在其它实施例中，还可以通过其它方式得到累积应力值，如公式或者查找表等。
在一具体示例中，如图5中所示，在25摄氏度、单元应力值按照每小时为单位设置的条件下，若某一子像素P1处于4V电压下，则P1的单元应力值为14240，当子像素P1的累积时间为10小时，则P1的累积应力值为14240*10；当P1的累积时间为320小时，则P1的累积应力值为14240*320；若另一子像素P2处于3V电压下，则P2的单元应力值为1430，当子像素P2的累积时间为10小时，则P2的累积应力值为1430*10；当P2的累积时间为320小时，则P2的累积应力值为1430*320。按照上述描述方法依次类推，便可得到显示装置上所有子像素的累积应力值。
步骤S13：根据累积应力值确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息。
在一实施例中，对累积应力值进行选择，将其中的某些特定数值的累积应力值作为典型值，将该典型值所对应的子像素确定为待侦测子像素，进而根据已确定好的待侦测子像素便可确定待侦测子像素在显示装置上的具体位置，后续对该位置上的子像素进行侦测即可。
需要说明的是，若基本单元为包含多个子像素的block时，则得到的累积应力值为该block中每一个子像素的累积应力值，即该block中的全部子像素具有相同的累积应力值。
上述混合老化补偿方法，先确定显示装置上子像素的应力分布图的基本单位以及单元应力值，之后，根据基本单位、单元应力值和累积时间计算得到所有子像素的累积应力值，最后根据累积应力值确定待侦测子像素的位置信息。该方法具有处理速度快，操作便捷的优点。
在一实施例中，如图6所示，步骤S13具体可包括步骤S131。
步骤S131：按照第一预设方式在累积应力值中选取预设累积应力值，并将预设累积应力值对应的子像素作为显示装置上的待侦测子像素。
具体地，在老化预测过程中，显示装置使用一段时间后，由于子像素之间的使用情况不同导致其对应的累积应力值也不同，累积应力值之间存在差异，整个显示装置的累积应力值在一定范围内。在一实施例中，第一预设方式可以是在上述一定范围的累积应力值中按照间隔固定差值的方式确定代表累积应力值；具体地，图7为一具体示例中显示装置的累积应力分布图，如图7所示，整个显示装置的累积应力值的范围为11-96，则第一预设方式可以是该范围内按照10的整数倍选取累积应力值作为代表累积应力值，故选定的代表累积应力值为20、30、40、50、60、70、80和90；当然，在其它实施例中，第一预设方式也可以是其它方式，如按照间隔非固定差值的累积应力值作为代表累积应力值，具体地，代表累积应力值可以是13、20、50、70、96等；第一预设方式还可以是根据整个显示装置上累积应力值的分布确定，具体可以是累积应力分布范围较集中的范围内设置较多的代表累积应力值，反之，分布范围较分散的范围内设置较少的代表累积应力值，如，整个显示装置的累积应力值的范围为13-99，在40-70范围内的累积应力值分布较集中，则该范围内设置8个代表累积应力值，而12-40范围值设置2个代表累积应力值，70-99范围内也设置2个代表累积应力值。需要说明的是，本实施例仅对第一预设方式作示意性表示，并不以此为限，具体可根据实际情况合理设置。可以理解的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，所作出的其它不同形式的变化或变动，均应落入本发明的保护范围内。
在一实施例中，预设累积应力值可以是根据第一预设方式所确定的代表累积应力值，将预设累积应力值对应的子像素作为显示装置上的待侦测子像素。
通常一个显示装置上可以拥有成千上万个子像素，故存在不同的子像素对应同一个预设量化值的情况；当预设量化值所对应的子像素的个数不唯一时，可以选择其中的任意一个子像素作为待侦测子像素，也可以选择其中的一部分作为待侦测子像素，当然，还可以是将其全部作为待侦测子像素。
具体地，如图7所示，图中水平方向表示行方向，垂直方向表示列方向，选取的预设累积应力值分别为20、30、40、50、60、70、80和90，由图7可知：累积应力值为20时所对应的子像素的个数为3个，分别位于第1行第1列、第1行第8列以及第5行第1列；累积应力值为30时所对应的子像素的个数为2个，分别位于第1行第7列以及第5行第7列；其它预设累积应力值对应的子像素按照类似方法得出，在此不再赘述。待侦测子像素的确定还需要考虑显示装置的具体情况，若显示装置为PMOLED显示装置，由于PMOLED显示的特性，PMOLED中的每一个子像素可以单独进行控制，则待侦测子像素的选取不会受到其它条件的制约，选择空间较大，比较灵活；若显示装置为AMOLED显示装置，由于AMOLED显示的特性，AMOLED显示装置的扫描线scan是按行开启的，也就是scan是一行接一行打开的，当某一行的scan开启时则这一行所对应的所有子像素的scan均有效开启，之后下一行子像素的scan再同时开启，这样便会对待侦测子像素的确定带来一定的影响。为了尽可能地减少侦测时间，所需侦测的行数越少，则侦测时间越少，这就需要选取的待侦测子像素尽可能位于同一行，这样侦测一行时就能对多个待侦测子像素同时侦测。
在一具体示例中，如相同的累积应力值对应多个子像素，而只对其中的任意一个子像素进行侦测，具体方法可以如下：由图7可以看出，第5行中包含累积应力值为20、30、40、60、70、80的待侦测子像素，则这些累积应力值所对应的子像素均选择为第5行中的子像素，这样只需侦测第5行这一行便可得到这些累积应力值所对应的侦测值；相应地，累积应力值50和90所对应的子像素均只有一个，则还需要侦测第6行和第7行；因此，该显示装置最少侦测3行(第5行、第6行和第7行)便可得到所有待侦测子像素对应的侦测值，由于每一个子像素均对应一个坐标值，通过比较待侦测子像素的坐标值便可得到最优的侦测方案，软件上也容易实现。当然，在其它实施例中，待侦测子像素也可以是随机选择的，如累积应力值20所对应的子像素选择为第1行第1列，累积应力值70所对应的子像素选择为第3行第4列，则还需要对第1行和第4行进行侦测，增加了侦测时间。
以电压侦测为例详细说明侦测行数越多所需的侦测时间越长，电压侦测时在侦测电路中是通过对侦测电容的采样来获得侦测值，在进行每一行的侦测过程时，需要对侦测电容进行充电和放电，电容充放电所需的时间较长，如不侦测某一行，当扫描至该行时则无需对侦测电容进行充放电，故能够减少侦测时间，因此，侦测的行数越少所需的侦测时间越短。电流侦测与之类似，在此不再赘述。
上述混合老化补偿方法，通过在显示装置的累积应力分布图上按照第一预设方式选取特定的累积应力值作为预设累积应力值，将预设累积应力值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素，预设累积应力值的确定可根据实际显示装置进行灵活选择，故待侦测子像素的选择更加灵活。
在另一实施例中，如图8所示，步骤S13具体可包括步骤S132-S133。
步骤S132：获取累积应力值的最大值和最小值。
在一实施例中，可以将显示装置上的多个累积应力值存储于存储器中的数组中，通过遍历查找的方法得到最大值和最小值；当然，在其它实施例中，也可采用现有技术中的其它方式得到最大值和最小值，如采用二分法查找最大值和最小值，具体可根据实际需要合理设置，本实施例对最大值和最小值的确定方法不作任何限制。
步骤S133：按照第二预设方式将累积应力值量化为最大值和最小值之间的预设量化值，并将预设量化值对应的子像素作为显示装置上的待侦测子像素。
在一实施例中，第二预设方式可以是将累积应力值划分为最大值和最小值之间的多个不同等级，不同等级的个数可根据实际情况合理设置。需要说明的是，后续根据等级数确定待侦测子像素，等级数划分的越多，待侦测子像素的数量越多，侦测时间会增加，侦测值也会越精确，提高了补偿效果。例如，累积应力值的最大值为10000，最小值为100，将整个显示装置的累积应力值划分为11个等级，分别为10000、9000、8000、7000、6000、5000、4000、3000、2000、1000、100；当然，在其它实施例中，也可以划分为其它个数个等级，如6个等级、7个等级等，还可以是非等间距的划分，如10000、9000、8500、7000、6500、6000、5000、3000、1000、100，本实施例对此不作任何限制，根据需要合理设置即可。
在一实施例中，预设量化值可以是代表不同等级的累积应力值，以上述累积应力值100-10000划分为11个等级为例，具体地量化过程可以是将9001-10000之间的累积应力值归至于10000，8001-9000之间的累积应力值归至于9000，7001-8000之间的累积应力值归至于8000，依此类推，101-1000之间的累积应力值归至于1000，故得到的预设量化值为10000、9000、8000、7000、6000、5000、4000、3000、2000、1000、100；在其它实施例中，也可以采用其它方式进行量化，如，9501-10000之间的累积应力值归至于10000，8501-9500之间的累积应力值归至于9000，7501-8500之间的累积应力值归至于8000，依此类推，501-1500之间的累积应力值归至于1000，100-500之间的累积应力值归至于100。
将预设量化值所对应的子像素作为待侦测子像素，需要说明的是，预设量化值为计算出的数值或者预先设定的数值，实际的子像素累积应力值有可能不能完全与预设量化值对应，如预设量化值为9000，然而整个显示装置上没有任何一个子像素的累积应力值为9000，这种情况下，需要选取与预设量化值最接近的数值所对应的子像素作为待侦测子像素。在一具体示例中，8001-9000之间的累积应力值归至于预设量化值9000，若整个显示装置上刚好有累积应力值为9000的子像素，则将该子像素作为待侦测子像素；若整个显示装置上没有找到累积应力值为9000的子像素，而显示装置上与预设量化值最接近的累积应力值是8998，则将累积应力值为8998的子像素作为待侦测子像素。
通常一个显示装置上可以拥有成千上万个子像素，故存在不同的子像素对应同一个预设量化值的情况；当预设量化值所对应的子像素的个数不唯一时，可以选择其中的任意一个子像素作为待侦测子像素，也可以选择其中的一部分作为待侦测子像素，当然，还可以是将其全部作为待侦测子像素。
在一实施例中，可以将所有预设量化值对应的子像素的坐标存储于一个数组中，便于后续根据坐标位置对待侦测子像素进行侦测。
上述混合老化补偿方法，通过先找到累积应力值的最大值和最小值，并将其它累积应力值量化为最大值和最小值之间的预设量化值，将预设量化值所对应的子像素作为待侦测子像素，可根据输入到显示装置中的video的不同得到不同的预设量化值，灵活性更高，软件上更易实现。
在一实施例中，如图9所示，步骤S2具体可包括步骤S21-S22。
步骤S21：根据位置信息对待侦测子像素以及与待侦测子像素相邻的相邻子像素进行侦测，得到待侦测子像素和相邻子像素的初始侦测值。
在一实施例中，在侦测过程中根据待侦测子像素的位置信息便可定位待侦测子像素的位置；根据上述位置信息也能够很方便地定位到与其相邻的相邻子像素的位置，进而对待侦测子像素和相邻子像素进行侦测，得到初始侦测值。
由于子像素在侦测过程中可能会受到电压波动干扰、噪声干扰、外部干扰等众多因素的影响，这些干扰会导致侦测值不准确。避免侦测不准确的方法可以是对待侦测子像素和与其相邻的子像素同时进行侦测。通常待侦测子像素的老化程度和其周围紧邻的子像素的老化程度较接近，由于待侦测子像素受到较大的干扰影响导致其侦测值不准确，而与其紧密相邻的子像素未受到该干扰的影响，这些相邻子像素的侦测值较准确，待侦测完成后，对待侦测子像素的侦测值和相邻子像素的初始侦测值进行处理得到待侦测子像素对应的侦测值。避免侦测不准确的方法还可以是在一较短的时间内对某一待侦测子像素进行多次侦测，得到多个侦测值，并对这多个侦测值进行处理得到该待侦测子像素对应的侦测值，例如，对多个侦测值取平均值，或者分配相应的数值权重，本实施例仅作示意性说明，并不以此为限。
若侦测方式为上述所提及的按照行进行侦测，则为了减少侦测的行数，则相邻子像素应选择与待侦测子像素位于同一行的子像素，这样可以减少侦测时间。当然，在其它实施例中，也可以选择非同一行的相邻子像素，本实施例仅作示意性说明，并不以此为限。
步骤S22：根据初始侦测值得到待侦测子像素对应的侦测值。
在一实施例中，可以是对多个初始侦测值求取平均值，并将上述平均值作为待侦测子像素对应的侦测值，也可以是对多个初始侦测值分配相应的数值权重，对初始侦测值进行加权平均得到待侦测子像素对应的侦测值，本实施例仅作示意性说明，并不以此为限。
上述混合老化补偿方法，通过对待侦测像素周围相邻的子像素进行侦测，以减少侦测过程中可能发生的干扰或错误，提高了侦测的准确度，使得补偿效果更优。
在一实施例中，如图10所示，步骤S3具体可包括步骤S31-S33。
步骤S31：获取显示装置的老化模型。
在一实施例中，由于不同厂商的显示装置、或者同一厂商不同材料的显示装置，又或者不同批次的显示装置之间可能存在较大差异，起始像素值(即出厂时的像素值)可能不同，该起始像素值由显示屏的材料特性等多种因素决定，具体地，起始像素值可以是亮度值、或者电流值、或者电压值等；此外，各个显示装置在实际使用过程中的老化程度可能不同；同一显示装置中不同颜色的像素的老化程度也不相同，如显示装置中包含红绿蓝三种颜色的子像素，蓝色子像素的衰减程度最快，其次是绿色子像素，衰减程度最小的是蓝色子像素；这些影响均使得不同显示装置的老化模型也不相同。为了给各个显示装置提供合适的像素补偿数据，并减少计算过程，可以在存储器上存储多个老化模型，每个老化模型用于表征一种颜色的子像素对应的显示器件(如OLED显示屏中的OLED器件)在起始像素值为指定像素值时，老化累积时长与像素指示值的对应关系。
在一实施例中，例如，对于某一厂商的显示装置，子像素包括红绿蓝三种颜色的像素结构，其存储有3个老化模型，分别为对应红色、绿色、蓝色子像素的老化模型。当然，在其它实施例中，还可以包括白色子像素的老化模型、黄色子像素的老化模型、或者品红色子像素的老化模型等，具体所包含的老化模型可根据显示装置的实际情况进行合理设置。
在一实施例中，老化模型可以以多种形式表征，例如表格形式或者图形形式，在一具体示例中，该老化模型可以采样曲线图表征，该曲线图为指定像素值下，横坐标为老化累积时间，纵坐标为像素指示值的曲线图。由该曲线图，可以看出在一种颜色的子像素点对应的显示器件随着老化累积时间的增加，像素指示值的变化趋势。需要说明的是，当每种颜色对应的老化模型均采用曲线图表征时，不同颜色对应的老化模型可以为一个整体老化模型，具体可参考图11，图11为一种分别对应红色、绿色、蓝色和白色的整体老化模型，该老化模型与一种类型的显示装置相对应，该显示装置具有红绿蓝白4色的像素结构。
本实施例中的老化曲线通过对大量的实验数据进行处理后得到老化公式，并根据老化公式计算获得，具体可以通过使用TEG(TEST Element Group)或面板进行老化衰减实验获得实验数据。老化曲线的公式如下：
Figure BSA0000195961730000151
其中，normalized Luminance为归一化亮度值，LINIT为像素的初始亮度值，LT为像素的当前亮度值，T50为像素寿命衰减至50％的时间，T为当前时间，α为衰减指数(常数)。当然，在其它实施例中，上述公式也可以采用寿命降至其初始值的95％或者80％或者70％等数值来表示，本实施例仅作示意性表示，不以此为限。
在一实施例中，该老化模型可以通过软件模拟的方式建立；在另一实施例中，该老化模型可以通过实验室的实验数据建立；当然，还可以通过现有技术中的其它方式建立，如屏体制造厂商直接提供等，本实施例仅作示意性说明，对此不作任何限制。当指定像素值为亮度值时，由于显示器件的亮度值越大，其老化越快，则若老化模型是通过实验室建立时，在较大的亮度值下建立老化模型的速度较快，因此，在这种场景下，为了加快老化模型的建立，可以将亮度值设置为较高的数值。例如，该亮度值为6000-10000nits。
显示装置的实际老化时间可以通过显示装置上指定子像素点的实际老化累积时间来表征，显示装置的实际老化时间即为其在对应的老化模型中的老化累积时间。在一实施例中，显示装置中设置有计时器等可用于计时的模块，该模块用于记录累积历史点亮时长，显示装置可以将累积得到的历史点亮时长确定为显示屏的实际老化时长，并将该显示屏的实际老化时长上传至处理器以获取该实际老化时长，并根据老化模型找到该实际老化时长所对应的老化数据。
步骤S32：根据侦测值和老化模型建立包含所有子像素补偿值的查找表。
在一实施例中，根据侦测值确定显示装置中待侦测子像素的老化程度，并根据老化模型确定待侦测子像素的补偿程度，由于本实施例在前面已经将整个显示装置中的各个子像素进行了量化处理，如步骤S133所示，因此，处于同一量化范围内的子像素和该范围所对应的待侦测子像素具有相同的补偿值，故根据待侦测子像素的补偿值便可得到整个显示面板上所有子像素的补偿值。
显示装置的显示亮度越大，其老化程度也越快。随着显示装置使用时间的增加，人眼对于显示装置的老化(亮度衰减)也会慢慢适应。为了延长显示装置的使用寿命，可以在显示装置使用一段时间(即第一预设时间，其数值如1000小时)后将亮度补偿至初始亮度，即补偿后的亮度值等于初始亮度值；在显示装置使用较长时间(即第二预设时间，其数值如5000小时，第二预设时间大于第一预设时间)后将亮度补偿至初始亮度的90％，即补偿后的亮度值等于初始亮度值的90％；在显示装置使用更长时间(即第三预设时间，其数值如10000小时，第三预设时间大于第二预设时间)后将亮度补偿至初始亮度的80％，即补偿后的亮度值等于初始亮度值的80％，具体的补偿趋势为随着显示装置使用时间的增加，补偿后的亮度值减少。补偿后亮度值的具体设置可根据实际需要合理设置，本实施例仅作示意性描述，并不以此为限。
在一实施例中，可以将所有子像素的补偿值建立补偿值查找表，该查找表可包括累积应力值、待侦测子像素、侦测值和补偿值之间的对应关系，如图12所示。具体的补偿值可根据不同的显示装置进行设置，为了更好地理解本技术方案，以某两个厂商的显示装置进行示例性说明，在不考虑补偿后的亮度随使用时间的增加而降低的情况下，如对A、B两个厂商的显示装置在使用相同时间后进行侦测，得到的侦测值相同，确定两个厂商的显示装置均老化了50％，即亮度衰减为初始亮度的50％，若将显示装置均补偿至初始亮度，则需要对两个厂商的显示装置均补偿50％的亮度。由于A厂商的制造技术比B厂商的制造技术成熟和先进，则A厂商的显示装置补偿50％的亮度值便可符合要求，B厂商的显示装置需要补偿60％的亮度值才能符合要求；故补偿值查找表中A、B厂商所对应的补偿值不相同。当然，在其它实施例中，还可以将补偿后的亮度随使用时间的增加而降低等因素也考虑进去，这样查找表会更加复杂，所需的存储容量也会增加，但是会相应地增加补偿的精确度，延长显示装置的使用寿命，达到更好地显示效果。
步骤S33：根据查找表对所有子像素进行老化补偿。
具体地，在查找表中找到对应的补偿值，并根据该补偿值对显示装置进行老化补偿。
如图13所示，t0为显示装置的起始使用时间，t1、t2和t3分别为显示装置使用不同的累积时间。当显示装置的使用累积时间达到t1时，在t1时刻根据t1时刻所对应的累积应力值确定t1时刻的待侦测子像素，对待侦测子像素进行侦测后得到t1时刻显示装置所需的第一补偿值C1，并在t1时刻对显示装置进行补偿，也就是在t1-t2时刻的时间内进行第一补偿值C1的补偿；当显示装置的使用累积时间达到t2时，在t2时刻根据t2时刻所对应的累积应力值确定t2时刻的待侦测子像素，对待侦测子像素进行侦测后得到t2时刻显示装置所需的第二补偿值C2，并在t2时刻对显示装置进行第二补偿值C2的补偿，也就是在t2-t3时刻的时间内进行第二补偿值C2的补偿；依照此方法对显示装置进行补偿。需要说明的是，同一像素不同时刻对应的累积应力值不同，故不同时刻根据累积应力值所得到的待侦测子像素也可能不同。
还需要说明的是，补偿后的子像素的单元应力值会相应地发生改变，故在补偿后的累积应力值采用新的单元应力值进行累积，以便得到下一时刻的累积应力。在一实施例中，如某一子像素t0时刻为初始时刻，在t1时刻进行补偿，t0-t1时间段内的单元应力值为x1，故t0-t1时间段内的累积应力值为x1*t1；在t1时刻对该子像素进行补偿后，t1-t2时间段内的单元应力值为x2，故t1-t2时间段内的累积应力值为x2*t2。t2时刻得到的该子像素的累积应力值可以是从初始时刻进行应力累积得到的应力值，即x1*t1+x2*t2；也可以是上一个补偿时刻后得到的应力值累积，即x2*t2，此种情况下，每次补偿完成后对补偿时刻之前的累积应力值进行清零处理即可。
上述混合老化补偿方法，不同的显示装置具有不同的老化模型，对侦测值和老化模型建立补偿值查找表，通过查找表确定整个显示装置上所有子像素的补偿值，进而实现所有子像素的补偿，根据显示装置的特性灵活设置补偿值，提高了补偿效果。
在另一实施例中，如图14所示，步骤S3具体可包括步骤S34-S35。
步骤S34：对侦测值进行曲线拟合得到包含所有子像素补偿值的补偿曲线。
在一实施例中，侦测值是待侦测子像素所对应的补偿值或者老化值，为了便于理解本技术方案的构思，下面以补偿值为例进行详细说明。待侦测子像素为离散分布的点，根据侦测值可以得到待侦测子像素的补偿值，将待侦测子像素的补偿值和累积应力值作为基准点，对这些基准点进行插值计算便可得到一条包含这些基准点的连续曲线，连续曲线表示累积应力与补偿值之间的关系，该连续曲线即是所有子像素的补偿曲线。
在一实施例中，曲线拟合可以是线性拟合，也可以是非线性拟合，其中线性拟合可以是一次函数拟合，非线性拟合可以是二次函数拟合、或者三次函数拟合等，不同的拟合函数具有不同的补偿精度，具体可根据实际需要合理设置。
具体地，图15为待侦测子像素的累积应力值和侦测到的与之相对应的老化程度之间的关系，图16为各个子像素的累积应力值和老化程度之间的关系，图17为老化程度和补偿程度之间的关系，图18为累积应力值和补偿程度之间的关系，图18中的曲线即为补偿曲线。
图17中老化值和补偿值之间的关系具体可参见步骤S32中的描述，在此不再赘述。如随着使用时间的增加，补偿程度逐渐降低；不同的显示装置对应不同的补偿程度。
步骤S35：根据补偿曲线对所有子像素进行老化补偿。
具体地，根据Data Counting能够得到每个子像素的累积应力值，根据每个子像素相对应的累积应力值在补偿曲线上找到与该累积应力值对应的补偿值，该补偿值即为子像素所对应的补偿值，因此，通过该方法便可实现对所有子像素的老化补偿。
上述混合老化补偿方法，通过待侦测子像素的侦测值进行曲线拟合得到所有子像素的补偿曲线，根据补偿曲线实现所有子像素的补偿，补偿至每一个子像素；补偿精确度更高，提高了补偿效果，并且无需老化补偿模型，根据不同的显示装置得到不同的补偿曲线，使得补偿曲线能够很好地与显示装置相适应，进一步提高补偿准确性。
本实施例中的补偿方法，通过Data Counting和侦测相互配合的方法(即通过DataCounting和侦测两种算法的混合，可记作complementary hybrid algorithm)实现了所有子像素的老化补偿，在侦测过程中仅进行一部分子像素的侦测，极大地减小了侦测时间，同时，也避免了数据预测方式由于显示装置之间的差异而带来的预测误差，使得补偿值更加准确，提高了老化补偿的精确度。
若显示装置制造厂通过修改屏体电路(如为每一个子像素设置单独的扫描线)使得侦测模式下支持单个像素侦测，可以进一步减少侦测时间。若显示装置制造厂无法进行电路修改，扫描还是要按行进行逐行扫描，还可以将显示装置分为若干个区域，如将显示装置的显示屏划分为上中下三个区域，为每一个区域单独设置扫描线，即当需要对中间区域进行扫描时，则通过中间区域的扫描线进行扫描，无需依赖于其他区域的扫描线；当待侦测子像素位于某一区时，则只需对该区域进行扫描即可，减少了侦测时间。在一具体示例中，将显示装置分为三个区域，分别记为第一区域、第二区域和第三区域，第一区域内的扫描线包括S1-Sm，第二区域内的扫描线包括Sm+1-Sn，第三区域内的扫描线包括Sn+1-Sp，其中，m＜n＜p，当待侦测子像素均位于第二区域内时，则扫描线从Sm+1开始扫描，而无需从S1开始扫描，节省了S1-Sm行的扫描时间，进而减少侦测时间；当然，在其它实施例中，显示装置划分区域的个数可根据实际需要合理设置，本实施例仅作示意性描述，并不以此为限。
本实施例中还提供一种光学补偿电路，具体地，显示装置包括显示面板，显示面板包括多个子像素，每一个子像素对应至少一个显示器件，每一个显示器件均对应至少一个光感器件，通过光感器件侦测显示器件的老化程度，该光感器件位于显示面板上。在一具体示例中，如图19所示，一个子像素对应一个显示器件，一个显示器件对应一个光感器件，上述显示器件可以是OLED，上述光感器件可以是光电二极管(Photo-Diode，PD)，在侦测过程中，光电二极管接收OLED发出的光，将其转化为电流值，并将该电流值输出至处理器以便处理器对其进行处理得到侦测值。
在本实施例中还提供了一种混合老化补偿装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
相应地，请参考图20，本发明实施例提供一种混合老化补偿装置，包括：第一处理模块1、第二处理模块2和第三处理模块3。
第一处理模块1，根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，位置信息表征待侦测子像素在显示装置上的位置，其中，待侦测子像素为显示装置上的部分子像素；详细内容参考步骤S1所述。
第二处理模块2，用于根据位置信息对待侦测子像素进行侦测，得到待侦测子像素对应的侦测值；详细内容参考步骤S2所述。
第三处理模块，用于根据侦测值对显示装置上的所有子像素进行老化补偿；详细内容参考步骤S3所述。
在一实施例中，第一处理模块包括：第一获取单元，用于获取显示装置上子像素的应力分布图的基本单位和单元应力值，详细内容参考步骤S11所述；第一处理单元，用于根据基本单位和单元应力值得到应力分布图，并根据应力分布图得到显示装置上所有子像素的累积应力值，详细内容参考步骤S12所述；第二处理单元，用于根据累积应力值确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，详细内容参考步骤S13所述。
在一实施例中，第二处理单元包括：第一处理子单元，用于按照第一预设方式在累积应力值中选取预设累积应力值，并将预设累积应力值对应的子像素作为显示装置上的待侦测子像素，详细内容参考步骤S131所述。
在另一实施例中，第二处理单元包括：第一获取子单元，用于获取累积应力值的最大值和最小值，详细内容参考步骤S132所述；第二处理子单元，用于按照第二预设方式将累积应力值量化为最大值和最小值之间的预设量化值，并将预设量化值对应的子像素作为显示装置上的待侦测子像素，详细内容参考步骤S133所述。
在一实施例中，第二处理模块包括：第三处理单元，用于根据位置信息对待侦测子像素以及与待侦测子像素相邻的相邻子像素进行侦测，得到待侦测子像素和相邻子像素的初始侦测值，详细内容参考步骤S21所述；第四处理单元，用于根据初始侦测值得到待侦测子像素对应的侦测值，详细内容参考步骤S22所述。
在一实施例中，第三处理模块包括：第二获取单元，用于获取显示装置的老化模型，详细内容参考步骤S31所述；第五处理单元，用于根据侦测值和老化模型建立包含所有子像素补偿值的查找表，详细内容参考步骤S32所述；第六处理单元，用于根据查找表对所有子像素进行老化补偿，详细内容参考步骤S33所述。
在另一实施例中，第三处理模块包括：第七处理单元，用于对侦测值进行曲线拟合得到包含所有子像素补偿值的补偿曲线，详细内容参考步骤S34所述；第八处理单元，用于根据补偿曲线对所有子像素进行老化补偿，详细内容参考步骤S35所述。
上述各个模块的更进一步的功能描述与上述方法实施例相同，在此不再赘述。
本发明实施例还提供了一种电子设备，如图21所示，包括：处理器101和存储器102；其中，处理器101和存储器102可以通过总线或者其他方式连接，图21中以通过总线连接为例。
处理器101可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器101还可以为其它通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
存储器102作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的混合老化补偿方法对应的程序指令/模块(例如，图20所示的第一处理模块1、第二处理模块2和第三处理模块3)。处理器101通过运行存储在存储器102中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的混合老化补偿方法。
存储器102可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器101所创建的数据等。此外，存储器102可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器102可选包括相对于处理器101远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器101。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
所述一个或者多个模块存储在所述存储器102中，当被所述处理器101执行时，执行如图1至图19所示实施例中的混合老化补偿方法。
上述服务器具体细节可以对应参阅图1至图19所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行上述任一所述的混合老化补偿方法。本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-StateDrive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下作出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。

Claims (6)

1.一种混合老化补偿方法，其特征在于，包括：
根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，所述位置信息表征所述待侦测子像素在所述显示装置上的位置，其中，所述待侦测子像素为所述显示装置上的部分子像素；
根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息的步骤中，包括：获取所述显示装置上子像素的应力分布图的基本单位和单元应力值，其中，所述单元应力值的大小与电流和温度相关，通过a*Acceleration factor*Current normalize确定，a为比例常数，Current表示子像素在不同输入电压所对应的灰阶下的电流值，Current normalize为对电流值进行计算后得到的标准化电流值，Acceleration factor为温度对显示装置老化的影响大小，称为加速系数；根据所述基本单位和单元应力值得到所述应力分布图，并根据所述应力分布图得到所述显示装置上所有子像素的累积应力值；根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息；
根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息的步骤中，包括：按照第一预设方式在所述累积应力值中选取预设累积应力值，并将所述预设累积应力值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素；其中，第一预设方式是将预设数值的累积应力值作为典型值，将典型值所对应的子像素确定为待侦测子像素，或者第一预设方式是在累积应力值的范围中按照间隔固定差值或者非固定差值的方式确定预设累积应力值，或者第一预设方式是在累积应力值的范围内按照整数倍选取累积应力值作为预设累积应力值，或者第一预设方式是在累积应力分布范围集中的范围内设置的预设累积应力值的个数大于在累积应力分布范围分散的范围内设置的预设累积应力值的个数；
根据所述位置信息对所述待侦测子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素对应的侦测值；
根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿；
根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿的步骤中，包括：获取所述显示装置的老化模型，不同颜色的子像素对应不同的老化模型，所述老化模型为老化曲线，老化曲线的公式为
Figure FDA0003931244080000021
其中，normalizedLuminance为归一化亮度值，LINIT为像素的初始亮度值，LT为像素的当前亮度值，T50为像素寿命衰减至50％的时间，T为当前时间，α为衰减指数，α为常数；根据所述侦测值和所述老化模型建立包含所有子像素补偿值的查找表，具体为根据侦测值确定显示装置中待侦测子像素的老化程度，并根据老化模型确定待侦测子像素的补偿程度，其中，在显示装置使用第一预设时间后将亮度补偿至初始亮度，在显示装置使用第二预设时间后将亮度补偿至初始亮度的90％，第二预设时间大于第一预设时间；在显示装置使用第三预设时间后将亮度补偿至初始亮度的80％，第三预设时间大于第二预设时间；根据所述查找表对所有子像素进行老化补偿。
2.根据权利要求1所述的混合老化补偿方法，其特征在于，根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息的步骤中，包括：
获取所述累积应力值的最大值和最小值；
按照第二预设方式将所述累积应力值量化为最大值和最小值之间的预设量化值，并将所述预设量化值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素。
3.根据权利要求1所述的混合老化补偿方法，其特征在于，根据所述位置信息对所述待侦测子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素对应的侦测值的步骤中，包括：
根据所述位置信息对所述待侦测子像素以及与所述待侦测子像素相邻的相邻子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素和所述相邻子像素的初始侦测值；
根据所述初始侦测值得到所述待侦测子像素对应的侦测值。
4.一种混合老化补偿装置，其特征在于，包括：
第一处理模块，用于根据Data Counting确定显示装置上的待侦测子像素的位置信息，所述位置信息表征所述待侦测子像素在所述显示装置上的位置，其中，所述待侦测子像素为所述显示装置上的部分子像素；
所述第一处理模块包括：第一获取单元，用于获取所述显示装置上子像素的应力分布图的基本单位和单元应力值，其中，所述单元应力值的大小与电流和温度相关，通过a*Acceleration factor*Current normalize确定，a为比例常数，Current表示子像素在不同输入电压所对应的灰阶下的电流值，Current normalize为对电流值进行计算后得到的标准化电流值，Acceleration factor为温度对显示装置老化的影响大小，称为加速系数；第一处理单元，用于根据所述基本单位和单元应力值得到所述应力分布图，并根据所述应力分布图得到所述显示装置上所有子像素的累积应力值；第二处理单元，用于根据所述累积应力值确定所述显示装置上的待侦测子像素的位置信息；
所述第二处理单元包括：第一处理子单元，用于按照第一预设方式在所述累积应力值中选取预设累积应力值，并将所述预设累积应力值对应的子像素作为所述显示装置上的待侦测子像素；其中，第一预设方式是将预设数值的累积应力值作为典型值，将典型值所对应的子像素确定为待侦测子像素，或者第一预设方式是在累积应力值的范围中按照间隔固定差值或者非固定差值的方式确定预设累积应力值，或者第一预设方式是在累积应力值的范围内按照整数倍选取累积应力值作为预设累积应力值，或者第一预设方式是在累积应力分布范围集中的范围内设置的预设累积应力值的个数大于在累积应力分布范围分散的范围内设置的预设累积应力值的个数；
第二处理模块，用于根据所述位置信息对所述待侦测子像素进行侦测，得到所述待侦测子像素对应的侦测值；
第三处理模块，用于根据所述侦测值对所述显示装置上的所有子像素进行老化补偿；
所述第三处理模块包括：第二获取单元，用于获取所述显示装置的老化模型，不同颜色的子像素对应不同的老化模型，所述老化模型为老化曲线，老化曲线的公式为
Figure FDA0003931244080000041
其中，normalized Luminance为归一化亮度值，LINIT为像素的初始亮度值，LT为像素的当前亮度值，T50为像素寿命衰减至50％的时间，T为当前时间，α为衰减指数，α为常数；第五处理单元，用于根据所述侦测值和所述老化模型建立包含所有子像素补偿值的查找表，具体为根据侦测值确定显示装置中待侦测子像素的老化程度，并根据老化模型确定待侦测子像素的补偿程度，其中，在显示装置使用第一预设时间后将亮度补偿至初始亮度，在显示装置使用第二预设时间后将亮度补偿至初始亮度的90％，第二预设时间大于第一预设时间；在显示装置使用第三预设时间后将亮度补偿至初始亮度的80％，第三预设时间大于第二预设时间；第六处理单元，用于根据所述查找表对所有子像素进行老化补偿。
5.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行权利要求1-3中任一所述的混合老化补偿方法。
6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机从而执行权利要求1-3中任一所述的混合老化补偿方法。
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