KR102556574B1 - 표시 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents

표시 장치 및 이의 구동 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102556574B1
KR102556574B1 KR1020160090604A KR20160090604A KR102556574B1 KR 102556574 B1 KR102556574 B1 KR 102556574B1 KR 1020160090604 A KR1020160090604 A KR 1020160090604A KR 20160090604 A KR20160090604 A KR 20160090604A KR 102556574 B1 KR102556574 B1 KR 102556574B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
stress
pixels
value
display device
Prior art date
Application number
KR1020160090604A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20180009407A (ko
Inventor
문승현
이동원
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020160090604A priority Critical patent/KR102556574B1/ko
Priority to US15/624,604 priority patent/US10431155B2/en
Publication of KR20180009407A publication Critical patent/KR20180009407A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102556574B1 publication Critical patent/KR102556574B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3233—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G5/00—Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators
    • G09G5/10—Intensity circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/54—Screens on or from which an image or pattern is formed, picked-up, converted, or stored; Luminescent coatings on vessels
    • H01J1/62—Luminescent screens; Selection of materials for luminescent coatings on vessels
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B45/00—Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED]
    • H05B45/60—Circuit arrangements for operating LEDs comprising organic material, e.g. for operating organic light-emitting diodes [OLED] or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
    • G09G2300/0819—Several active elements per pixel in active matrix panels used for counteracting undesired variations, e.g. feedback or autozeroing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0285—Improving the quality of display appearance using tables for spatial correction of display data
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/04—Maintaining the quality of display appearance
    • G09G2320/043—Preventing or counteracting the effects of ageing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Abstract

표시 장치는 화소들을 포함하는 표시 패널; 기준전압에 따라 상기 화소들 각각에 흐르는 전류를 측정하여 센싱 데이터를 생성하는 센싱부; 및 외부 장치로부터 제공되는 입력 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터를 생성하고, 상기 스트레스 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 변곡(variation)을 보정하여 열화 데이터를 생성하는 보상부를 포함할 수 있다.

Description

표시 장치 및 이의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD OF DRIVING THE SAME}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 화소 열화를 보상하는 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법에 관한 것이다.
유기 발광 표시 장치는 유기 발광 다이오드를 이용하여 영상을 표시하는 장치이다. 유기 발광 다이오드와 유기 발광 다이오드로 전류를 공급하는 구동 트랜지스터는 사용에 의해 그 특성이 열화될 수 있다. 유기 발광 표시 장치는 유기 발광 다이오드 또는 구동 트랜지스터의 열화(이하, "화소의 열화"라 함)에 따라 원하는 휘도의 영상을 표시할 수 없다.
종래의 유기 발광 표시 장치는 화소들에 기준 신호를 인가하고, 기준 신호에 따라 화소들 각각에 흐르는 전류(즉, 구동 전류)를 측정하여 센싱 데이터를 생성하며, 기 설정된 기준 데이터(예를 들어, 제조 단계에서 측정된 전류) 및 센싱 데이터에 기초하여 화소들 각각의 열화량을 산출하며, 열화량에 기초하여 화소의 열화를 보상한다. 그러나, 기준 데이터 설정시의 구동 환경(예를 들어, 온도)은 센싱 데이터 생성시의 구동 환경과 다르므로, 열화량은 정확하지 않을 수 있다.
또한, 종래의 유기 발광 표시 장치는 센싱 데이터 중에서 상대적으로 덜 열화된 제1 화소의 측정값을 기준으로 상대적으로 더 열화된 제2 화소에 대한 열화량을 산출한다. 그러나, 화소의 배치 위치에 따라 화소의 전류 변화 특성은 다르게 나타나므로, 제1 화소와 제2 화소 간의 이격 거리가 클수록 산출된 열화량의 정확도가 낮아질 수 있다.
본 발명의 일 목적은 화소의 열화를 정확하게 보상할 수 있는 표시 장치를 제공하고자 한다.
본 발명의 일 목적은 상기 표시 장치에서 수행되는 표시 장치의 구동 방법을 제공하고자 한다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는, 화소들을 포함하는 표시 패널; 기준전압에 따라 상기 화소들 각각에 흐르는 전류를 측정하여 센싱 데이터를 생성하는 센싱부; 및 외부 장치로부터 제공되는 입력 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터를 생성하고, 상기 스트레스 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 변곡(variation)을 보정하여 열화 데이터를 생성하는 보상부를 포함 할 수 있다.
여기서, 상기 센싱 데이터의 상기 변곡은 상기 화소들의 특성 편차 및 상기 표시 장치의 구동 조건 중 적어도 하나에 따라 변화 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 상기 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들로 구분하고, 상기 스트레스 데이터 중 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 데이터를 생성하며, 상기 제1 기준 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 상기 변곡을 보정 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 스트레스 값은 상기 스트레스 데이터 중 가장 많이 분포된 값일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 스트레스 값은 상기 스트레스 데이터 중 가장 작은 값일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 상기 센싱 데이터 중 상기 제1 화소들에 대응하는 센싱 전류값들을 상기 그룹들별로 산술 평균하여 상기 제1 기준 값들을 산출 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 상기 스트레스 데이터 중 제2 스트레스 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터를 생성하고, 상기 제2 기준 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 상기 그룹별로 상기 제1 기준 값들 및 상기 제2 기준 값들 간의 차이들을 산출하고, 상기 차이들에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는, 상기 제1 기준 데이터 중 제1 유효 값을 가지고 상기 제2 기준 데이터 중 제2 유효 값을 가지는 제1 그룹을 선택하고, 상기 제1 유효 값 및 상기 제2 유효 값 간의 제1 차이를 산출하며, 상기 제1 기준 데이터 중 제1 무효 값을 가지고 상기 제2 기준 데이터 중 제3 유효 값을 가지는 제2 그룹을 선택하고, 상기 제3 유효 값을 상기 제1 차이에 기초하여 보정하여 제1 보정 값을 산출하며, 상기 제1 보정 값에 기초하여 상기 제1 무효 값을 보정하여 상기 제1 기준 데이터를 갱신 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는, 상기 제1 기준 데이터 중 제2 무효 값을 가지는 제3 그룹을 선택하고, 상기 제3 그룹에 인접하고, 상기 제1 기준 데이터에 제4 유효 값을 가지는 제4 그룹을 선택하며, 상기 제4 유효 값에 기초하여 상기 제2 무효 값을 보정하여 상기 제1 기준 데이터를 갱신 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 제2 크기를 가지는 제2 블록에 기초하여 제1 추가 데이터(supplementary data)를 생성하며, 상기 제1 추가 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 상기 제1 기준 값들을 상기 화소들에 기초하여 내삽(interpolating)하여 상기 센싱 데이터의 해상도와 동일한 해상도를 갖도록 상기 제1 기준 데이터를 보정 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 상기 센싱 데이터에서 상기 보정된 제1 기준 데이터를 차감하여 상기 열화 데이터를 생성 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 보상부는 상기 표시 장치의 초기 구동시 상기 열화 데이터를 생성 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 표시 장치는 변조 데이터에 기초하여 데이터 신호를 생성하고, 상기 데이터 신호를 상기 화소들에 공급하는 데이터 구동부를 더 포함하고, 상기 보상부는 상기 열화 데이터에 기초하여 상기 입력 데이터를 보상하여 상기 변조 데이터를 생성 할 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법은, 화소들을 포함하는 표시 장치에서, 외부 장치로부터 제공되는 입력 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터를 생성하는 단계; 기준전압에 따라 상기 화소들 각각에 흐르는 전류를 측정하여 센싱 데이터를 생성하는 단계; 상기 스트레스 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 변곡(variation)을 보정하여 열화 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 열화 데이터에 기초하여 상기 화소들의 열화를 보상하는 단계를 포함 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 데이터를 생성하는 단계는, 상기 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들로 구분하는 단계; 상기 스트레스 데이터 중 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 제1 기준 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 상기 변곡을 보정하는 단계를 포함 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 기준 데이터를 생성하는 단계는, 상기 스트레스 데이터 중 제2 스트레스 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터를 생성하는 단계; 및 상기 제2 기준 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 단계를 포함 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 기준 데이터를 생성하는 단계는, 상기 제1 기준 데이터 중 무효 값을 인접 블록의 유효 값에 기초하여 보정하는 단계를 더 포함하고, 상기 인접 블록은 상기 무효 값에 대응하는 대상 블록과 인접 할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 기준 데이터를 생성하는 단계는, 상기 제1 기준 값들을 상기 화소들에 기초하여 내삽하여 상기 센싱 데이터의 해상도와 동일한 해상도를 갖도록 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 단계를 포함 할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 스트레스 데이터에 기초하여 센싱 데이터의 변곡(예를 들어, 표시 장치 내 화소들의 특성 편차 및/또는 구동 조건(온도 등)에 기인한 변곡)을 보정하여 열화 데이터를 생성 할 수 있다. 따라서, 표시 장치는 열화 데이터에 기초하여 화소의 열화를 보다 정확하게 보상할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법은 보다 효율적으로 표시 장치를 구동시킬 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 센싱부에서 생성된 센싱 데이터의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 보상부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 3의 보상부에서 센싱 데이터를 보상하는 과정을 설명하는 도면이다.
도 5a는 도 3의 보상부에서 생성된 기준 데이터의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5b는 도 3의 보상부에서 생성된 기준 데이터의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 3의 보상부에서 열화 데이터를 생성하는 과정을 설명하는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 8은 도 7의 방법에 포함된 열화 데이터를 생성하는 단계의 일 예를 나타내는 순서도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호를 사용한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 주사 구동부(120), 데이터 구동부(130), 발광 구동부(140), 센싱부(150), 타이밍 제어부(160) 및 보상부(170)를 포함할 수 있다. 표시 장치(100)는 외부로부터 제공되는 영상 데이터(예를 들어, 제1 데이터(DATA1))에 기초하여 영상을 출력하는 장치일 수 있다. 예를 들어, 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치일 수 있다.
표시 패널(110)은 주사선들(S1 내지 Sn), 데이터선들(D1 내지 Dm), 피드백선들(F1 내지 Fm) 및 화소(111)를 포함할 수 있다(단, n과 m은 2이상의 정수). 또한, 표시 패널(110)은 발광제어선들(E1 내지 En)을 포함할 수 있다. 화소(111)는 주사선들(S1 내지 Sn), 데이터선들(D1 내지 Dm) 및 피드백선들(F1 내지 Fm)의 교차 영역에 배치될 수 있다.
화소(111)는 주사 신호에 응답하여 데이터 신호를 저장하고, 저장된 데이터 신호에 기초하여 발광할 수 있다. 예를 들어, 화소(111)는 유기 발광 다이오드, 게이트 전극에 제공되는 전압에 기초하여 유기 발광 다이오드에 흐르는 전류량을 제어하는 구동 트랜지스터, 주사 신호에 응답하여 데이터 신호를 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 제공하는 스위칭 트랜지스터 및 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 제공되는 데이터 신호를 저장하는 저장 커패시터를 포함할 수 있다. 또한, 화소(111)는 유기 발광 다이오드의 일단(예를 들어, 양극(anode)) 및 피드백선(예를 들어, 피드백선들(F1 내지 Fm) 중 하나) 사이에 연결되고, 센싱 제어 신호에 응답하여 턴온되는 센싱 트랜지스터를 더 포함할 수 있다.
주사 구동부(120)는 주사 구동제어신호(SCS)에 기초하여 주사신호를 생성할 수 있다. 주사 구동제어신호(SCS)는 타이밍 제어부(160)로부터 주사 구동부(120)에 제공될 수 있다. 주사 구동제어신호(SCS)는 스타트 펄스 및 클럭신호들을 포함하고, 주사 구동부(120)는 스타트 펄스 및 클럭신호들에 기초하여 주사신호를 순차적으로 생성하는 시프트 레지스터를 포함하여 구성될 수 있다.
데이터 구동부(130)는 데이터 구동제어신호(DCS) 및 영상 데이터(또는, 변조 데이터, 예를 들어, 제3 데이터(DATA3))에 기초하여 데이터 신호를 생성할 수 있다. 데이터 구동부(130)는 데이터 구동제어신호(DCS)에 응답하여 데이터 신호를 표시 패널(110)에 제공할 수 있다. 데이터 구동제어신호(DCS)는 타이밍 제어부(160)로부터 데이터 구동부(130)에 제공되고, 영상 데이터는 타이밍 제어부(160) 또는 보상부(170)로부터 데이터 구동부(130)에 제공될 수 있다.
발광 구동부(140)는 발광 구동제어신호(ECS)에 기초하여 발광 제어신호를 생성할 수 있다. 발광 구동제어신호(ECS)는 타이밍 제어부(160)로부터 발광 구동부(140)에 제공될 수 있다. 발광 구동부(140)는 발광 구동제어신호(ECS) 및 클럭신호들에 기초하여 동시 또는 순차적으로 발광 제어신호를 생성할 수 있다.
센싱부(150)는 피드백선들(F1 내지 Fm)에 연결되고, 제어신호(CS)에 기초하여 화소(111)의 특성을 측정(또는, 감지, 센싱)할 수 있다. 여기서, 제어신호(CS)는 타이밍 제어부(160)로부터 센싱부(150)에 제공될 수 있다. 화소(111)의 특성은 화소(111) 내에 구비된 발광 소자의 특성으로, 발광 소자의 전류-전압 특성, 발광 소자의 전압-휘도 특성, 발광 소자의 임피던스(저항 성분 및 커패시터 성분) 특성 중 적어도 하나를 포함 할 수 있다.
실시예들에서, 센싱부(150)는 제어신호에 응답하여 피드백선(예를 들어, 제m 피드백선(Fm))에 기준전압(또는, 센싱 전압)을 인가하고, 기준전압에 따라 피드백선을 통해 피드백되는 전류를 적분하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 센싱부(150)는 증폭기, 적분 커패시터 및 스위치를 포함할 수 있다. 화소(111) 내 센싱 트랜지스터가 턴온된 경우, 증폭기로부터 피드백선을 통해 유기 발광 다이오드까지 전류 이동 경로가 형성되고, 기준 전압에 따라 증폭기의 출력 단자로부터 적분 커패시터, 피드백선 및 유기 발광 다이오드를 통해 피드백 전류가 흐를 수 있다. 센싱부(150)는 적분 커패시터를 이용하여 피드백 전류를 적분하고, 적분된 피드백 전류(예를 들어, 측정 전압)를 샘플링하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)를 생성할 수 있다.
타이밍 제어부(160)는 주사 구동부(120), 데이터 구동부(130), 발광 구동부(140) 및 센싱부(150)의 동작을 제어할 수 있다. 타이밍 제어부(160)는 주사 구동제어신호(SCS), 데이터 구동제어신호(DCS), 발광 구동제어신호(ECS), 제어신호(CS)를 생성하고, 상기 생성된 신호들에 기초하여 주사 구동부(120), 데이터 구동부(130), 발광 구동부(140) 및 센싱부(150)를 각각 제어할 수 있다.
보상부(170)는 입력 데이터(예를 들어, 제2 데이터(DATA2)) 및 센싱 데이터(DATA_SENSE)에 기초하여 화소(111)의 열화량을 산출할 수 있다.
실시예들에서, 보상부(170)는 입력 데이터에 기초하여 화소(111)의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터를 생성할 수 있다. 여기서, 스트레스는 화소(111)의 사용된 정도를 나타내며, 입력 데이터 중 화소(111)에 대응하는 계조값을 누적하여 산출될 수 있다. 예를 들어, 화소(111)의 스트레스는 화소(111)의 구동 시간 및 계조값(또는, 평균 계조값)에 비례할 수 있다. 스트레스 데이터는 화소별로 산출된 스트레스 값들을 포함할 수 있다.
실시예들에서, 보정부(170)는 스트레스 데이터에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡(variation)을 보정하여 열화 데이터(즉, 화소의 열화량을 포함하는 데이터)를 생성할 수 있다. 여기서, 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡은 화소들의 특성 편차, 표시 장치(100)의 구동 조건(예를 들어, 온도) 등에 기인하여 나타날 수 있다. 화소들은 상호 동일하지 않으며, 예를 들어, 화소들의 전압-전류 특성들(예를 들어, 전압 변화 대비 전류 변화)은 상호 다르고, 같은 조건에서 화소들의 열화되는 정도들은 상호 다를 수 있다. 센싱 데이터는 이러한 화소들의 특성 편차 및 구동 조건(또는, 센싱 환경)의 변화에 기인한 변곡을 포함할 수 있다. 따라서, 보다 정확한 열화 보상을 위해서는, 센싱 데이터의 변곡을 제거(또는, 보상)해야 한다.
실시예들에서, 보정부(170)는 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들로 구분하고, 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 그룹별로 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 데이터를 생성하며, 제1 기준 데이터에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정할 수 있다. 예를 들어, 보정부(170)는 상대적으로 열화가 가장 적은 화소들(예를 들어, 스트레스 데이터 중에서 가장 작은 스트레스 값에 대응하는 화소들)에 기초하여 그룹별 보정 기준(또는, 기준값)을 설정하고, 보정 기준에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정할 수 있다. 또한, 보정부(170)는 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제2 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터를 생성하고, 제2 기준 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보정할 수 있다. 예를 들어, 보정부(170)는 제1 화소들에 기초하여 설정된 보정 기준이 적절하지 않은 것으로 판단되는 경우(또는, 보정 기준이 무효한 값을 포함하는 경우), 제2 화소들(예를 들어, 제1 화소들과 다르고, 상대적으로 열화가 적은 화소들)에 기초하여 보정 기준을 보정할 수 있다.
보정부(170)에서 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하는 구성에 대해서는 도 2 내지 도 6을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(100)는 스트레스 데이터에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하여 열화 데이터를 생성할 수 있다. 따라서, 표시 장치(100)는 구동 조건(예를 들어, 온도 등)이 변화하더라도, 열화 데이터에 기초하여 보다 정확하게 화소의 열화를 보상할 수 있다.
한편, 도 1에는 표시 패널(110)이 피드백선들(F1 내지 Fm)을 포함하고, 센싱부(150)는 피드백선들(F1 내지 Fm)에 연결되는 것으로 도시되어 있으나, 표시 패널(110)은 이에 국한되는 것은 아니다. 예를 들어, 표시 패널(110)은 피드백선들(F1 내지 Fm)을 포함하지 아니하고, 시분할 구동을 통해 데이터선들(D1 내지 Dm)을 피드백선(F1 내지 Fm)으로 이용할 수 있다.
또한, 도 1에는 보상부(170)가 별도로 구비되는 것으로 도시되어 있으나, 보상부(170)는 이에 국한되는 것은 아니다. 예를 들어, 보상부(170)는 타이밍 제어부(160) 또는 구동 집적 회로(즉, 주사 구동부(120), 데이터 구동부(130) 및 발광 구동부(140) 중 적어도 하나를 포함하는 집적 회로)에 포함될 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 센싱부에서 생성된 센싱 데이터의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 표시 패널(200)은 도 1을 참조하여 설명한 표시 패널(100)과 실질적으로 동일하고, 제i 화소행(단, i는 양의 정수)을 따라 배열된 제1 내지 제5 열화 영역들(A_DEG1 내지 A_DEG5)을 포함할 수 있다.
제1 그래프(210)는 센싱부(150)에서 생성된 센싱 데이터(DATA_SENSE) 중 제i 화소행(또는, 제i 화소행의 화소들)에 대응하는 센싱 값들을 나타내고, 제2 그래프(212)는 종래의 표시 장치에서 산출된 기준 라인을 나타내며, 제3 그래프(214)는 실제 기준 라인을 나타낼 수 있다. 여기서, 기준 라인은 센싱 데이터(SENSE_DATA)로부터 열화 데이터(또는, 화소의 열화량)를 산출하기 위한 기준으로, 열화되지 않은 화소들(또는, 상대적으로 열화가 적은 화소들)의 센싱 값들(또는, 전류 값들)을 포함할 수 있다.
제2 그래프(212)는 상대적으로 비열화된 화소들(또는, 열화되지 않은 화소들)을 기준으로 설정될 수 있다. 이 경우, 제1 열화 영역(A_DEG1), 제2 열화 영역(A_DEG2), 제4 열화 영역(A_DEG4)과 같이 폭이 상대적으로 좁은 열화 영역에서, 제2 그래프(212)는 제3 그래프(214)와 유사한 값을 가질 수 있다. 따라서, 제1 열화 영역(A_DEG1), 제2 열화 영역(A_DEG2) 및 제4 열화 영역(A_DEG4)에 대해, 제2 그래프(212)에 기초하여 산출된 화소의 열화량은 실제 열화량(예를 들어, 제3 그래프(214)에 기초하여 산출된 화소의 열화량)과 유사하고, 열화 보상이 상대적으로 정확하게 수행될 수 있다.
그러나, 제3 열화 영역(A_DEG3)과 같이 폭이 상대적으로 넓은 열화 영역과, 제5 열화 영역(A_DEG5)과 같이 비열화된 화소를 포함하지 않는 열화 영역에서는, 제2 그래프(212)는 제3 그래프(214)와 다르게 나타날 수 있다. 예를 들어, 제1 지점(P1)에서 제2 그래프(212)는 제3 그래프(214)를 기준으로 제1 오차(△I1)만큼 큰 값을 가질 수 있다. 이 경우, 제1 지점(P1)에서 제2 그래프(212)에 기초하여 산출된 제1 산출 열화량(△I_C1)은 제1 실제 열화량(△I_R1)을 기준으로 제1 오차(△I1)를 가질 수 있다. 따라서, 제2 그래프(212)에 기초한 열화 보상은 부정확할 수 있다.
유사하게, 제2 지점(P2)에서 제2 그래프(212)는 제3 그래프(214)를 기준으로 제2 오차(△I2)만큼 작은 값을 가지고, 제2 그래프(212)에 기초한 열화 보상은 부정확할 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(100)는 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들(또는, 블록들, 영역들)로 구분하고, 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 그룹별로 제1 기준 값들 산출하여 제1 기준 데이터(예를 들어, 제2 그래프(212))를 생성하며, 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제2 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터(예를 들어, 제1 그래프(210)와 유사한 그래프)를 생성하고, 제2 기준 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보정하며(예를 들어, 제3 열화 구역(A_DEG3)에서, 제1 기준 데이터를 제2 기준 데이터에 기초하여 재설정하며), 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정할 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 보상부의 일 예를 나타내는 블록도이고, 도 4는 도 3의 보상부에서 센싱 데이터를 보상하는 과정을 설명하는 도면이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 보상부(300)는 데이터 누적부(310), 열화 데이터 생성부(320) 및 메모리(330)를 포함할 수 있다. 또한, 보상부(300)는 열화 보상부(340)를 더 포함할 수 있다.
데이터 누적부(310)는 외부 장치로부터 제공되는 입력 데이터(예를 들어, 제2 데이터(DATA2))에 기초하여 화소들 각각의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터(DATA_STRESS)를 생성할 수 있다. 여기서, 스트레스는 앞서 도 1을 참조하여 설명한 바와 같이, 화소(111)의 사용된 정도를 나타내며, 데이터 누적부(310)는 입력 데이터 중 화소(111)에 대응하는 계조값을 누적하여 화소(111)의 스트레스를 산출할 수 있다. 스트레스 데이터(DATA_STRESS)는 열화 데이터 생성부(320)에 제공되거나, 또는 메모리(330)에 저장될 수 있다.
일 실시예에서, 데이터 누적부(310)는 계조값(또는, 입력 데이터)을 다운 스케일링하고, 다운 스케일링된 계조값을 누적하여 화소(111)의 스트레스를 산출할 수 있다. 이 경우, 스트레스 데이터(DATA_STRESS)의 크기가 감소되고, 이를 저장하는 메모리(330)의 용량이 감소될 수 있다.
열화 데이터 생성부(320)는 스트레스 데이터(DATA_STRESS)에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하여 열화 데이터(DATA_DEG)를 생성할 수 있다.
도 2 및 도 4를 참조하면, 제4 그래프(410)는 도 2를 참조하여 설명한 표시 패널(200)의 제1 영역(A1)(또는, 제i 화소열에 포함되고, 제1 영역(A1)에 포함되는 화소들)에서 측정된 센싱 값들을 나타내고, 도 2를 참조하여 설명한 제1 그래프(210)와 실질적으로 동일할 수 있다. 유사하게, 제5 그래프(414)는 제1 영역(A1)에 대한 실제 기준 라인(예를 들어, 제i 화소열들이 열화되지 않은 것으로 가정하여 예측/산출된 센싱 값들)을 나타낼 수 있다.
한편, 제6 그래프(420)는 제1 영역(A1)에 대응하는 스트레스 데이터(DATA_STRESS)이고, 제1 영역(A1)에 포함된 화소들의 스트레스 값들을 포함할 수 있다.
열화 데이터 생성부(320)는 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들로 구분할 수 있다. 예를 들어, 열화 데이터 생성부(320)는 제1 블록에 기초하여 제1 영역(A1)(또는, 표시 패널(200))을 그룹들로 구분하고, 제1 내지 제3 그룹들(BLOCK1, BLOCK2, BLOCK3)은 상기 그룹들에 포함될 수 있다.
열화 데이터 생성부(320)는 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 그룹별로 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 열화 데이터 생성부(320)는 제6 그래프(420)에서 제1 스트레스 영역(SR1)에 포함된 제1 화소들에 기초하여 제1 내지 제3 블록들(BLOCK1, BLOCK2, BLOCK3) 각각의 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 라인(LINE1)을 생성할 수 있다. 여기서, 제1 스트레스 영역(SR1)은 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 가장 작은 스트레스 값들을 포함하거나, 또는 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 가장 많이 분포된 스트레스 값들을 포함할 수 있다.
실시예들에서, 열화 데이터 생성부(320)는 제1 화소들에 대응하는 센싱 전류값들을 그룹들별로 산술 평균하여 제1 기준 값들을 산출할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 열화 데이터 생성부(320)는 제1 스트레스 영역(SR1)에 대응하는 제1 서브 그룹(SB1) 및 제3 서브 그룹(SB3)에 포함된 화소들의 센싱 전류값들을 평균하여 제1 그룹(BLOCK1)에 대한 제1 서브 기준 값(RV1)을 산출하고, 제4 서브 그룹(SB4)에 포함된 화소들의 센싱 전류값들을 평균하여 제2 그룹(BLOCK2)에 대한 제2 서브 기준 값(RV2)을 산출할 수 있다. 한편, 제3 그룹(BLOCK1)은 제1 스트레스 영역(SR1)에 대응하는 화소들을 포함하지 않으므로, 제3 그룹(BLOCK3)에 대한 제3 서브 기준 값(RV3)은 산출되지 않을 수 있다(즉, 제3 기준 값(RV3)은 유효하지 않을 수 있다). 따라서, 제1 기준 라인(LINE1)(또는, 제1 센싱 데이터)은 제1 그룹(BLOCK1)에 대한 제1 서브 기준 값(RV1) 및 제2 그룹(BLOCK2)에 대한 제2 서브 기준 값(RV2)을 포함할 수 있다.
또한, 열화 데이터 생성부(320)는 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제2 스트레스 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터를 생성하고, 제2 기준 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보정할 수 있다. 예를 들어, 열화 데이터 생성부(320)는 제6 그래프(420)에서 제2 스트레스 영역(SR2)에 포함된 제2 화소들에 기초하여 제1 내지 제3 블록들(BLOCK1, BLOCK2, BLOCK3) 각각의 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 라인(LINE2)을 생성할 수 있다. 여기서, 제2 스트레스 영역(SR1)은 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제1 스트레스 영역(SR1) 다음으로 가장 작은(즉, 2번째로 작은) 스트레스 값들을 포함하거나, 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제1 스트레스 영역(SR1) 다음으로 가장 많이 분포된(즉, 2번째로 많이 분포된) 값들을 포함할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 열화 데이터 생성부(320)는 제2 스트레스 영역(SR2)에 대응하는 제2 서브 그룹(SB2)에 포함된 화소들의 센싱 전류값들을 평균하여 제1 그룹(BLOCK1)에 대한 제4 서브 기준 값(RV4)을 산출하고, 제5 서브 그룹(SB5)에 포함된 화소들의 센싱 전류값들을 평균하여 제2 그룹(BLOCK2)에 대한 제5 서브 기준 값(RV5)을 산출하며, 제6 서브 그룹(SB6)에 포함된 화소들의 센싱 전류값들을 평균하여 제3 그룹(BLOCK3)에 대한 제6 서브 기준 값(RV6)을 산출할 수 있다. 따라서, 제2 기준 라인(LINE2)(또는, 제2 센싱 데이터)은 제1 그룹(BLOCK1)에 대한 제4 서브 기준 값(RV4), 제2 그룹(BLOCK2)에 대한 제5 서브 기준 값(RV5) 및 제3 그룹(BLOCK3)에 대한 제6 서브 기준 값(RV6)을 포함할 수 있다.
실시예들에서, 열화 데이터 생성부(320)는 그룹들별로 제1 기준 값들 및 제2 기준 값들 간의 차이들을 산출하고, 차이들에 기초하여 제1 기준 데이터를 보정할 수 있다.
일 실시예에서, 열화 데이터 생성부(320)는 제1 기준 데이터 중 제1 유효 값을 가지고 상기 제2 기준 데이터 중 제2 유효 값을 가지는 제1 그룹을 선택하고, 제1 유효 값 및 제2 유효 값 간의 제1 차이를 산출하며, 제1 기준 데이터 중 제1 무효 값을 가지고 상기 제2 기준 데이터 중 제3 유효 값을 가지는 제2 그룹을 선택하고, 제3 유효 값을 상기 제1 차이에 기초하여 보정하여 제1 보정 값을 산출하며, 제1 보정 값에 기초하여 제1 무효 값을 보정하여 상기 제1 기준 데이터를 갱신(또는, 보정)할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 열화 데이터 생성부(320)는 제1 블록(BLOCK1)의 제1 서브 기준 값(RV1) 및 제4 서브 기준 값(RV4)간의 제1 차이(△LI1)를 산출하고, 제2 블록(BLOCK2)의 제2 서브 기준 값(RV2) 및 제5 서브 기준 값(RV4)간의 제2 차이(△LI2)를 산출할 수 있다. 이후, 열화 데이터 생성부(320)는 제1 차이(△LI1)(및/또는, 제2 차이(△LI2)) 및 제2 기준 데이터(또는, 제3 블록(BLOCK2)의 제6 서브 기준 값(RV6))에 기초하여 제3 블록(BLOCK3)의 제3 서브 기준 값(RV3)을 도출할 수 있다. 예를 들어, 열화 데이터 생성부(320)는 제6 서브 기준 값(RV6) 및 제1 차이(△LI1)(또는, 제1 차이(△LI1) 및 제2 차이(△LI2)의 평균, 제2 차이(△LI2) 등)를 합산하여 제3 서브 기준 값(RV3)을 산출(또는, 예측)할 수 있다. 따라서, 보정된 제1 기준 라인(LINE_S)(또는, 보정된 제1 기준 데이터)은 제1 그룹(BLOCK1)에 대한 제1 서브 기준 값(RV1), 제2 그룹(BLOCK2)에 대한 제2 서브 기준 값(RV2) 및 제3 그룹(BLOCK3)에 대한 제3 서브 기준 값(RV3)을 포함할 수 있다.
열화 데이터 생성부(320)는 보정된 제1 기준 데이터를 화소들에 기초하여 내삽(interpolating)하여 센싱 데이터의 해상도와 동일한 해상도를 갖는 최종 기준 데이터를 생성하고, 센싱 데이터에서 최종 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)를 차감하여 열화 데이터(DATA_DEG)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 열화 데이터 생성부(320)는 보정된 제1 기준 라인(LINE_S)을 화소들에 기초하여 내삽(interpolating)하여 제5 그래프(414)(또는, 실제 기준 라인)와 유사한 형태를 가지는 최종 기준 라인을 생성하고, 제4 그래프(410) 및 최종 기준 라인(또는, 제5 그래프(414))에 기초하여 열화 데이터를 산출할 수 있다.
도 4를 참조하여 설명한 바와 같이, 열화 데이터 생성부(320)는 스트레스 데이터(DATA_STRESS)에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하여 열화 데이터(DATA_DEG)를 생성할 수 있다.
다시 도 3을 참조하면, 메모리(330)는 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 및 열화 데이터(DATA_DEG)를 저장하고, 특정 구성요소들(예를 들어, 열화 데이터 생성부(320), 열화 보상부(340))의 호출에 따라 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 및 열화 데이터(DATA_DEG)를 특정 구성요소들에 제공할 수 있다.
열화 보상부(340)는 열화 데이터(DATA_DEG)에 기초하여 입력 데이터(예를 들어, 제2 데이터(DATA2))를 보상하여 변조 데이터(예를 들어, 제3 데이터(DATA3))를 생성할 수 있다.
실시예들에서, 열화 데이터 생성부(320)는 표시 장치(100)의 초기 구동시(예를 들어, 표시 장치(100)가 턴 온 된 직후) 열화 데이터(DATA_DEG)를 생성하고, 메모리(330)는 열화 데이터(DATA_DEG)를 저장(또는, 갱신)하며, 열화 보상부(340)는 표시 장치(100)가 턴오프되기 전까지 메모리(330)에 저장된 열화 데이터(DATA_DEG)에 기초하여 변조 데이터를 생성할 수 있다.
도 3 및 도 4를 참조하여 설명한 바와 같이, 보상부(170)는 입력 데이터(예를 들어, 제2 데이터(DATA2))에 기초하여 스트레스 데이터(DATA_STRESS)를 생성하고, 스트레스 데이터(DATA_STRESS)에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하여 열화 데이터(DATA_DEG)를 생성할 수 있다. 또한, 보상부(170)는 열화 데이터(DATA_DEG)에 기초하여 입력 데이터(예를 들어, 제2 데이터(DATA2))를 보상하여 변조 데이터(예를 들어, 제3 데이터(DATA3))를 생성할 수 있다. 표시 장치(100)의 구동 조건(예를 들어, 온도 등)에 기인한 센싱 데이터의 변곡을 보정함으로써, 표시 장치(100)는 보다 정확하게 화소의 열화를 보상할 수 있다.
실시예들에서, 보상부(300)는 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)가 유효한 값들만을 가질 때까지(즉, 무효 값들을 포함하지 않을 때까지), 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제i 스트레스 값(단, i는 양의 정수)을 변경하면서 제i 기준 데이터를 생성하는 과정을 순차/반복적으로 수행하고, 제i 기준 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보정하는 과정을 반복할 수 있다.
도 5a는 도 3의 보상부에서 생성된 기준 데이터의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 5b는 도 3의 보상부에서 생성된 기준 데이터의 일 예를 나타내는 도면이다. 도 6은 도 3의 보상부에서 열화 데이터를 생성하는 과정을 설명하는 도면이다.
도 2, 도 3, 도 5a 및 도 5b를 참조하면, 보상부(300)는 표시 패널(200)을 12개의 그룹들(또는, 3*4 개의 그룹들)로 구분할 수 있다. 도 4에서는 기준 데이터를 1차원 상에 예시하였으며, 도 5a에서는 기준 데이터를 2차원 상에 예시하였다.
제1 맵(MAP1)은 보상부(300)에서 생성된 제1 기준 데이터를 나타내고, 예를 들어, 제12 그룹, 제13 그룹, 제21 그룹, 제22 그룹 및 제23 그룹에 제1 기준 값들(51, 53, 54)(또는, 유효한 값들)을 가지고, 제11 그룹, 제14 그룹, 제24 그룹, 제31 내지 제34 그룹들에 무효한 값들을 가질 수 있다.
제1 보정 맵(MAP_S1)은 제1 맵(MAP1)에 기초하여 보정된 기준 데이터를 나타내고, 제1 맵(MAP1)과 실질적으로 동일할 수 있다.
제1 맵(MAP1)(또는, 제1 보정 맵(MAP_S1))은 무효한 값들을 포함하므로, 보상부(300)는 제2 기준 데이터를 생성하여, 제1 맵(MAP1)(또는, 제1 보정 맵(MAP_S1))을 보정할 수 있다.
제2 맵(MAP2)은 보상부(300)에서 생성된 제2 기준 데이터를 나타내고, 예를 들어, 제11 내지 제14 그룹들, 제21 그룹, 제31 그룹 및 제32 그룹에 유효한 값들(45, 46, 48, 49)을 가지고, 제22 내지 제24 그룹들, 제33 그룹 및 제34 그룹에 무효한 값을 가질 수 있다.
제12 그룹, 제13 그룹 및 제21 그룹이 제1 맵(MAP1) 및 제2 맵(MAP2) 상에 유효한 값들을 가지므로, 보상부(300)는 제12 그룹, 제13 그룹 및 제21 그룹에서 제1 기준 값들 및 제2 기준 값들 간의 차이를 산출할 수 있다. 예를 들어, 제12 그룹의 제12 차이, 제13 그룹의 제13 차이 및 제21 그룹의 제21 차이는 각각 5 일 수 있다.
한편, 제11 그룹, 제14 그룹, 제31 그룹 및 제32 그룹이 제2 맵(MAP2) 상에 유효한 값들 가지고, 제1 맵(MAP1) 상에서 무효한 값들을 가지므로, 보상부(300)는 제12 그룹의 제12 차이(또는, 제13 그룹의 제13 차이, 제21 그룹의 제21 차이 등, 예를 들어, 5)에 기초하여 제1 맵(MAP1)(또는 제1 보정 맵(MAP_S1))을 보정할 수 있다. 따라서, 제2 보정 맵(MAP_S2)은 제11 그룹, 제14 그룹, 제31 그룹 및 제32 그룹에 대응하여 유효한 값들(50, 51, 53, 54)을 포함할 수 있다.
유사하게, 제2 보정 맵(MAP_S2)(또는, 보정된 제1 맵)은 무효한 값들을 포함하므로, 보상부(300)는 제3 기준 데이터를 생성하여, 제1 맵(MAP1)(또는, 제2 보정 맵(MAP_S2))을 다시 보정할 수 있다.
제3 맵(MAP3)은 보상부(300)에서 생성된 제3 기준 데이터를 나타내고, 예를 들어, 제23 그룹, 제24 그룹, 제32 그룹, 제33 그룹에 유효한 값들(38, 40, 41)을 가질 수 있다. 제32 그룹이 제2 맵(MAP2) 및 제3 맵(MAP3) 상에 유효한 값들을 가지므로, 보상부(300)는 제32 그룹에서 제2 기준 값들 및 제3 기준 값들 간의 차이를 산출할 수 있다. 이와 달리, 제23 그룹이 제1 맵(MAP1) 및 제3 맵(MAP3) 상에 유효한 값들을 가지므로, 보상부(300)는 제23 그룹에서 제1 기준 값들 및 제3 기준 값들 간의 차이를 산출할 수 있다. 이후, 보상부(300)는 제32 그룹의 차이(예를 들어, 5)(또는, 제23 그룹의 차이로서, 예를 들어, 10)에 기초하여 제1 맵(MAP1)(또는 제2 보정 맵(MAP_S2))을 다시 보정할 수 있다. 따라서, 제3 보정 맵(MAP_S3)은 제11 내지 제33 그룹들에 대응하여 유효한 값들을 포함할 수 있다.
도 5b에 도시된 제4 보정 맵(MAP_S4)은 유효한 값들만을 포함하는 보정된 제1 맵을 나타낼 수 있다.
실시예들에서, 보상부(300)는 제1 기준 데이터 중 제2 무효 값을 가지는 제3 그룹을 선택하고, 제3 그룹에 인접하고 제1 기준 데이터에 제4 유효 값을 가지는 제4 그룹을 선택하며, 제4 유효 값에 기초하여 제2 무효 값을 보정하여 제1 기준 데이터를 갱신(또는, 보정)할 수 있다. 즉, 보상부(300)는 인접 그룹의 유효한 값을 이용하여 특정 그룹의 무효한 값을 보정(또는, 추정)할 수 있다.
예를 들어, 도 5a를 참조하여 설명한 제3 보정 맵(MAP_S3)에서 제34 그룹이 무효한 값을 가지므로, 보상부(300)는 제34 그룹에 인접하는 제33 그룹(또는, 제24 그룹)을 선택하고, 제33 그룹의 유효 값을 제34 그룹에 대응시킬 수 있다. 따라서, 제4 보정 맵(MAP_S4)은 모든 그룹들에 대해 유효한 값들을 가질 수 있다.
참고로, 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)가 유효한 값들만을 가질 때까지(즉, 무효 값들을 포함하지 않을 때까지), 보상부(300)가 스트레스 데이터(DATA_STRESS) 중 제i 스트레스 값(단, i는 양의 정수)을 변경하면서 제i 기준 데이터를 생성하는 과정을 반복하는 경우, 열화 데이터의 정확도(또는, 신뢰도, 보상 성능)는 향상될 수 있다. 반면, 제i 기준 데이터를 생성하는 과정을 반복하는 횟수를 제한하고, 인접 그룹의 유효한 값을 이용하여 특정 그룹의 무효한 값을 보정하는 경우, 화소의 열화를 보상하는 속도(또는, 실행 속도)가 향상될 수 있다.
제 5 보정 맵(MAP_S5)은 제4 보정 맵(MAP_S4)을 화소들에 기초하여 내삽(interpolating)하여 생성된 최종 기준 데이터를 나타낼 수 있다. 예를 들어, 그룹들 각각은 9개(또는, 3*3개)의 화소들을 포함하는 경우, 보정부(300)는 제13 그룹의 기준 값인 54 와 제21 그룹의 기준 값인 51을 내삽하여 제46 화소의 기준 값인 52를 산출할 수 있다.
실시예들에서, 보상부(300)는 제2 크기를 가지는 제2 블록에 기초하여 제1 추가 데이터(supplementary data)를 생성하며, 제1 추가 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보정할 수 있다.
예를 들어, 도 5b에 도시된 제5 보정 맵(MAP_S5)과 같이, 보상부(300)는 표시 패널(200)을 108개의 그룹들(또는, 9*12 개의 그룹들)로 구분하고, 도 5a를 참조하여 설명한 제1 기준 데이터를 보정하는 방식을 이용하여 제1 추가 데이터를 생성할 수 있다.
참고로, 제1 추가 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보상하는 경우, 열화 데이터의 정확도(또는, 신뢰도, 보상 성능)는 향상될 수 있다. 반면, 제1 추가 데이터를 생성하지 않는 경우(즉, 제1 기준 데이터만을 이용하여 열화 보상을 수행하는 경우), 화소의 열화를 보상하는 속도(또는, 실행 속도)가 향상될 수 있다.
도 6을 참조하면, 제1 차트(610)는 3차원 공간 상에 도시된 센싱 데이터(DATA_SENSE)를 나타내고, 제2 차트(614)는 보상부(300)에서 제1 차트(620)로부터 생성된 최종 기준 데이터(예를 들어, 도 5b에 도시된 제5 보정 맵(MAP_S5))를 나타낼 수 있다.
앞서 도 3을 참조하여 설명한 바와 같이, 보상부(300)는 제1 차트(610)의 센싱 데이터(DATA_SENSE)에서 제2 차트(614)의 최종 기준 데이터를 차감함으로써, 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정할 수 있다. 즉, 보상부(300)는 열화 데이터(DATA_DEG)를 생성할 수 있다.
제3 차트(630)는 열화 데이터(DATA_DEG)를 나타내고, 화소들 각각의 열화량을 나타낼 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이고, 도 8은 도 7의 방법에 포함된 열화 데이터를 생성하는 단계의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 1 및 도 7을 참조하면, 도 7의 방법은 도 1의 표시 장치(100)에서 수행될 수 있다.
도 7의 방법은, 앞서 도 1을 참조하여 설명한 바와 같이, 외부 장치로부터 제공되는 입력 데이터(예를 들어, 제2 데이터(DATA2))에 기초하여 화소들 각각의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터를 생성할 수 있다. 스트레스 데이터는 보상부(170) 또는 별도의 메모리 장치에 저장되고 주기적으로 갱신될 수 있다.
도 7의 방법은 기준전압에 따라 화소들 각각에 흐르는 전류를 측정하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)를 생성할 수 있다(S710). 앞서 도 1을 참조하여 설명한 바와 같이, 도 7의 방법은 센싱부(150)를 통해 피드백선(예를 들어, 제m 피드백선(Fm))에 기준전압(또는, 센싱 전압)을 인가하고, 기준전압에 따라 피드백선을 통해 피드백되는 전류를 적분하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)를 생성할 수 있다.
도 7의 방법은 스트레스 데이터에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하여 열화 데이터를 생성할 수 있다(S720).
도 8을 참조하면, 도 7의 방법은 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들로 구분할 수 있다(S810). 예를 들어, 도 7의 방법은 제1 블록에 기초하여 표시 패널(100)을 M*N개의 그룹들로 구분할 수 있다.
도 7의 방법은 스트레스 데이터 중 제i 스트레스 값(단, i는 양의 정수)을 가지는 제i 화소들에 기초하여 그룹별로 제i 기준 값들을 산출하여 제i 기준 데이터를 생성할 수 있다(S820). 예를 들어, 도 7의 방법은 스트레스 데이터 중 가장 많이 분포된 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 그룹별로 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 데이터를 생성할 수 있다. 유사하게, 도 7의 방법은 스트레스 데이터 중 2번째로 많이 분포된 제2 스트레스 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터를 생성할 수 있다.
도 7의 방법은 제i 기준 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보완할 수 있다(S830). 예를 들어, 앞서 도 4 및 도 5a를 참조하여 설명한 바와 같이, 제1 기준 데이터 이외에 제2 기준 데이터를 생성한 경우, 제2 기준 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보완할 수 있다. 이와 달리, 제1 기준 데이터만을 생성한 경우, 도 7의 방법은 제1 기준 데이터를 그대로 저장/이용할 수 있다.
도 7의 방법은 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)에 무효 값이 존재하는 지 여부를 판단하고(S840), 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)가 유효 값만을 포함하는 경우, 제1 기준 데이터에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정할 수 있다(S850). 앞서 도 6을 참조하여 설명한 바와 같이, 도 7의 방법은 센싱 데이터(DATA_SENSE)에서 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)를 차감함으로써, 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하고, 열화 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 도 7의 방법은 제1 기준 데이터에 포함된 제1 기준 값들을 화소들에 기초하여 내삽하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 해상도와 동일한 해상도를 갖도록 제1 기준 데이터를 보정할 수 있다. 즉, 제1 기준 데이터의 해상도는 블록 수준이므로, 도 7의 방법은 제1 기준 데이터의 해상도를 화소 수준으로 업 스케일링 할 수 있다.
실시예들에서, 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터)에 무효 값이 존재하는 경우, 도 7의 방법은 제i 스트레스 값을 제k 스트레스 값(단, k는 2 이상의 정수)으로 변경하여 제k 기준 데이터를 생성하고, 제k 기준 데이터 기초하여 제1 기준 데이터를 보완할 수 있다.
예를 들어, 제1 스트레스 값이 스트레스 데이터 중에서 가장 많이 분포된 값인 경우, 도 7의 방법은 스트레스 데이터 중에서 2번째로 많이 분포된 제2 스트레스 값을 선택하고(S880), 제2 스트레스 값에 기초하여 제2 기준 데이터를 생성하며(S820), 제2 기준 데이터에 기초하여 제1 기준 데이터를 보완할 수 있다(S830).
실시예들에서, 도 7의 방법은 제1 기준 데이터(또는, 보정된 제1 기준 데이터) 중 무효 값을 인접 블록의 유효 값에 기초하여 보정(또는, 추정)할 수 있다. 여기서, 인접 블록은 무효 값에 대응하는 대상 블록과 인접할 수 있다.
예를 들어, 도 7의 방법은 기준 데이터(예를 들어, 제i 기준 데이터)를 생성하는 제1 횟수가 최대 횟수(예를 들어, j, 단, j는 양의 정수)보다 작은지 여부를 판단하고(S860), 제1 횟수가 최대 횟수보다 큰 경우 인접 블록의 유효 값에 기초하여 대상 블록의 무효 값을 보정할 수 있다(S870). 제i 기준 데이터를 반복적으로 생성하는 횟수를 제한하고, 인접 그룹의 유효한 값을 이용하여 대상 그룹의 무효 값을 보정하는 경우, 화소의 열화를 보상하는 속도(또는, 실행 속도)가 향상될 수 있다.
다시 도 7을 참조하면, 도 7의 방법은 열화 데이터에 기초하여 화소의 열화를 보상할 수 있다(S730). 앞서 도 3을 참조하여 설명한 바와 같이, 도 7의 방법은 열화 데이터에 기초하여 입력 데이터(예를 들어, 제2 데이터(DATA2))를 보상하여 변조 데이터(예를 들어, 제3 데이터(DATA3))를 생성할 수 있다. 이 경우, 도 7의 방법은 데이터 구동부(130)를 통해 변조 데이터에 기초하여 데이터 신호를 생성하고, 데이터 신호를 화소들에 공급할 수 있다.
도 7 및 도 8을 참조하여 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법은 스트레스 데이터에 기초하여 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하여 열화 데이터를 생성할 수 있다. 따라서, 표시 장치(100)의 구동 조건(예를 들어, 온도 등)에 기인한 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡이 보정되므로, 표시 장치의 구동 방법은 화소의 열화를 보다 정확하게 보상할 수 있다. 또한, 표시 장치의 구동 방법은 센싱 데이터(DATA_SENSE)의 변곡을 보정하기 위한 기준 데이터를 생성함에 있어서, 기준 데이터의 생성하는 횟수를 제한하거나 또는 기준 데이터를 추정하는 방식을 이용함으로써, 열화 보상의 수행 속도를 향상시키고, 표시 장치를 보다 효율적으로 구동시킬 수 있다.
이상, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법은 다양한 디스플레이 시스템에 적용될 수 있다. 예를 들어, 표시 장치는 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 랩탑, 디지털 카메라, 셀룰러 폰, 스마트 폰, PDA, PMP, MP3 플레이어, 네비게이션 시스템, 비디오 폰 등에 적용될 수 있다.
100: 표시 장치 110: 표시 패널
120: 주사 구동부 130: 데이터 구동부
140: 발광 구동부 150: 센싱부
160: 타이밍 제어부 170: 보상부
200: 표시 패널 210: 제1 그래프
212: 제2 그래프 214: 제3 그래프
300: 보상부 310: 데이터 누적부
320: 열화 데이터 생성부 330: 메모리
340: 열화 보상부 410: 제4 그래프
414: 제5 그래프 420: 제6 그래프
610: 제1 차트 614: 제2 차트
630: 제3 차트

Claims (20)

  1. 화소들을 포함하는 표시 패널;
    기준전압에 따라 상기 화소들 각각에 흐르는 전류를 측정하여 센싱 데이터를 생성하는 센싱부; 및
    외부 장치로부터 제공되는 입력 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터를 생성하고, 상기 스트레스 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 변곡(variation)을 보정하여 열화 데이터를 생성하는 보상부를 포함하고,
    상기 보상부는 상기 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들로 구분하고, 상기 스트레스 데이터 중 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 데이터를 생성하며, 상기 제1 기준 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 상기 변곡을 보정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 센싱 데이터의 상기 변곡은 상기 화소들의 특성 편차 및 상기 표시 장치의 구동 조건 중 적어도 하나에 따라 변화하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 제1 스트레스 값은 상기 스트레스 데이터 중 가장 많이 분포된 값인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 제1 스트레스 값은 상기 스트레스 데이터 중 가장 작은 값인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 보상부는 상기 센싱 데이터 중 상기 제1 화소들에 대응하는 센싱 전류값들을 상기 그룹들별로 산술 평균하여 상기 제1 기준 값들을 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 보상부는 상기 스트레스 데이터 중 제2 스트레스 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터를 생성하고, 상기 제2 기준 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 보상부는 상기 그룹별로 상기 제1 기준 값들 및 상기 제2 기준 값들 간의 차이들을 산출하고, 상기 차이들에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 보상부는,
    상기 제1 기준 데이터 중 제1 유효 값을 가지고 상기 제2 기준 데이터 중 제2 유효 값을 가지는 제1 그룹을 선택하고,
    상기 제1 유효 값 및 상기 제2 유효 값 간의 제1 차이를 산출하며,
    상기 제1 기준 데이터 중 제1 무효 값을 가지고 상기 제2 기준 데이터 중 제3 유효 값을 가지는 제2 그룹을 선택하고,
    상기 제3 유효 값을 상기 제1 차이에 기초하여 보정하여 제1 보정 값을 산출하며,
    상기 제1 보정 값에 기초하여 상기 제1 무효 값을 보정하여 상기 제1 기준 데이터를 갱신하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 보상부는, 상기 제1 기준 데이터 중 제2 무효 값을 가지는 제3 그룹을 선택하고,
    상기 제3 그룹에 인접하고, 상기 제1 기준 데이터에 제4 유효 값을 가지는 제4 그룹을 선택하며,
    상기 제4 유효 값에 기초하여 상기 제2 무효 값을 보정하여 상기 제1 기준 데이터를 갱신하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제 1 항에 있어서, 상기 보상부는 제2 크기를 가지는 제2 블록에 기초하여 제1 추가 데이터(supplementary data)를 생성하며, 상기 제1 추가 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 보상부는 상기 제1 기준 값들을 상기 화소들에 기초하여 내삽(interpolating)하여 상기 센싱 데이터의 해상도와 동일한 해상도를 갖도록 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제 12 항에 있어서, 상기 보상부는 상기 센싱 데이터에서 상기 보정된 제1 기준 데이터를 차감하여 상기 열화 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제 1 항에 있어서, 상기 보상부는 상기 표시 장치의 초기 구동시 상기 열화 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 제 1 항에 있어서,
    변조 데이터에 기초하여 데이터 신호를 생성하고, 상기 데이터 신호를 상기 화소들에 공급하는 데이터 구동부를 더 포함하고,
    상기 보상부는 상기 열화 데이터에 기초하여 상기 입력 데이터를 보상하여 상기 변조 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 화소들을 포함하는 표시 장치에서,
    외부 장치로부터 제공되는 입력 데이터에 기초하여 상기 화소들 각각의 스트레스를 산출하여 스트레스 데이터를 생성하는 단계;
    기준전압에 따라 상기 화소들 각각에 흐르는 전류를 측정하여 센싱 데이터를 생성하는 단계;
    상기 스트레스 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 변곡(variation)을 보정하여 열화 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 열화 데이터에 기초하여 상기 화소들의 열화를 보상하는 단계를 포함하고,
    상기 열화 데이터를 생성하는 단계는,
    상기 화소들을 제1 크기를 가지는 제1 블록에 기초하여 그룹들로 구분하는 단계;
    상기 스트레스 데이터 중 제1 스트레스 값을 가지는 제1 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제1 기준 값들을 산출하여 제1 기준 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 제1 기준 데이터에 기초하여 상기 센싱 데이터의 상기 변곡을 보정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  17. 삭제
  18. 제 16 항에 있어서, 상기 제1 기준 데이터를 생성하는 단계는,
    상기 스트레스 데이터 중 제2 스트레스 값을 가지는 제2 화소들에 기초하여 상기 그룹별로 제2 기준 값들을 산출하여 제2 기준 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 제2 기준 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  19. 제 18 항에 있어서, 상기 제1 기준 데이터를 생성하는 단계는,
    상기 제1 기준 데이터 중 무효 값을 인접 블록의 유효 값에 기초하여 보정하는 단계를 더 포함하고,
    상기 인접 블록은 상기 무효 값에 대응하는 대상 블록과 인접하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  20. 제 16 항에 있어서, 상기 제1 기준 데이터를 생성하는 단계는,
    상기 제1 기준 값들을 상기 화소들에 기초하여 내삽하여 상기 센싱 데이터의 해상도와 동일한 해상도를 갖도록 상기 제1 기준 데이터를 보정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.

KR1020160090604A 2016-07-18 2016-07-18 표시 장치 및 이의 구동 방법 KR102556574B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160090604A KR102556574B1 (ko) 2016-07-18 2016-07-18 표시 장치 및 이의 구동 방법
US15/624,604 US10431155B2 (en) 2016-07-18 2017-06-15 Display device with degradation compensation based on sensing data and method of driving the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160090604A KR102556574B1 (ko) 2016-07-18 2016-07-18 표시 장치 및 이의 구동 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180009407A KR20180009407A (ko) 2018-01-29
KR102556574B1 true KR102556574B1 (ko) 2023-07-19

Family

ID=60941793

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160090604A KR102556574B1 (ko) 2016-07-18 2016-07-18 표시 장치 및 이의 구동 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10431155B2 (ko)
KR (1) KR102556574B1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102619313B1 (ko) * 2018-12-17 2023-12-29 엘지디스플레이 주식회사 발광표시장치 및 이의 구동방법
KR20200134584A (ko) 2019-05-22 2020-12-02 삼성전자주식회사 디스플레이 구동 회로 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
KR20210007068A (ko) 2019-07-09 2021-01-20 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
CN110751923B (zh) * 2019-11-28 2022-12-30 北京加益科技有限公司 混合老化补偿方法、装置、电子设备及可读存储介质
KR20210089819A (ko) * 2020-01-08 2021-07-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
KR20210091859A (ko) 2020-01-14 2021-07-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 열화 보상 방법
KR20220060219A (ko) * 2020-11-04 2022-05-11 삼성전자주식회사 전계발광 디스플레이 장치의 열화 보상 방법 및 이를 수행하는 디스플레이 시스템
KR20230040116A (ko) * 2021-09-15 2023-03-22 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법
KR20230050536A (ko) * 2021-10-07 2023-04-17 삼성디스플레이 주식회사 광 스트레스를 보상하는 표시 장치

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101983764B1 (ko) * 2012-12-24 2019-05-29 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법
KR101980779B1 (ko) 2013-04-01 2019-05-21 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 다이오드 표시장치 및 그 구동방법
KR102260443B1 (ko) 2014-10-06 2021-06-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 구동 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20180009407A (ko) 2018-01-29
US10431155B2 (en) 2019-10-01
US20180020525A1 (en) 2018-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102556574B1 (ko) 표시 장치 및 이의 구동 방법
US10283043B2 (en) Organic light emitting display device and method of driving the same
EP3343549B1 (en) Active-matrix organic light emitting diode display device and luminance compensation method thereof
US10629118B2 (en) Organic light emitting display device and method for driving the same
KR102435923B1 (ko) 유기 발광 표시 장치 및 이의 구동 방법
JP5552117B2 (ja) 有機ｅｌ表示装置の表示方法および有機ｅｌ表示装置
US9202412B2 (en) Organic EL display apparatus and method of fabricating organic EL display apparatus
US10297193B2 (en) Organic light-emitting display device and method of driving the same
CN104700772A (zh) 有机发光显示装置及其图像质量补偿方法
US10141020B2 (en) Display device and drive method for same
US9984628B2 (en) Organic light emitting display device for compensating deterioration of a pixel and method of driving the same
KR102449369B1 (ko) 표시 장치 및 표시 장치의 검사 방법
KR102386402B1 (ko) 화소 열화 센싱 방법 및 유기 발광 표시 장치
KR20200134584A (ko) 디스플레이 구동 회로 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
KR102546995B1 (ko) 표시 패널의 휘도 보상 방법
US20160260383A1 (en) Organic light-emitting display panel, organic light-emitting display apparatus, and voltage drop compensating method
US11087687B2 (en) Display device and driving method for the same
KR102342086B1 (ko) 표시 장치 및 표시 장치의 열화 보상 방법
US20190156737A1 (en) Display Degradation Compensation
KR20180021947A (ko) 열화 보상 장치 및 유기 발광 표시 장치의 데이터 보상 방법
US11348505B2 (en) Display device and driving method thereof
KR102279397B1 (ko) 유기발광표시장치 및 이의 동작방법
KR102053445B1 (ko) 유기전계발광표시장치의 열화 보상 방법
KR102445128B1 (ko) 유기 발광 표시 장치
US20230162670A1 (en) Display device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant