KR102342086B1 - 표시 장치 및 표시 장치의 열화 보상 방법 - Google Patents

표시 장치 및 표시 장치의 열화 보상 방법 Download PDF

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Abstract

표시 장치는 복수의 화소들을 구비한 표시 패널, 화소들에 연결되는 복수의 리드아웃 라인들을 각각 포함하고, 리드아웃 라인들을 통해 화소들의 열화 정보를 포함하는 열화 센싱 값들을 각각 검출하는 복수의 리드아웃 집적 회로들, 화소들이 비열화된 상태인 초기 상태의 경우에 리드아웃 집적 회로들에서 검출되는 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 가중치들을 산출하고, 가중치들에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정한 보정 영상 데이터를 생성하는 편차 보정부, 복수의 스캔 라인들을 통해 표시 패널에 스캔 신호를 제공하는 스캔 구동부, 복수의 데이터 라인들을 통해 표시 패널에 보정 영상 데이터에 상응하는 데이터 신호를 제공하는 데이터 구동부, 및 리드아웃 집적 회로들, 스캔 구동부 및 데이터 구동부를 제어하는 타이밍 제어부를 포함한다.

Description

표시 장치 및 표시 장치의 열화 보상 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR COMPENSATING DEGRADATION OF DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치를 포함하는 전자 기기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 복수의 리드아웃 집적 회로들을 포함하는 표시 장치 및 상기 표시 장치의 열화 보상 방법에 관한 것이다.
표시 장치 중 유기 발광 표시 장치(OLED)는 전자와 정공의 재결합에 의하여 빛을 발생하는 유기 발광 다이오드를 이용하여 영상을 표시하는 것으로, 이는 빠른 응답속도를 가짐과 동시에 낮은 소비전력으로 구동되는 장점이 있다.
다만, 상기 유기 발광 다이오드에 포함되는 유기물들의 특성 변화로 인해 화소가 열화되고, 표시 장치의 표시 불량이 발생할 수 있다. 표시 장치는 상기 화소 열화로 인한 표시 불량을 방지하기 위해 열화를 보상하여 이미지를 표시한다. 유기 발광 다이오드의 열화 센싱을 위해 복수의 리드아웃(Readout) 집적 회로(Integrated Circuit; IC)들을 포함한다. 이 때, 서로 다른 리드아웃 집적 회로가 동일한 열화 정도를 센싱하는 경우, 상기 리드아웃 집적 회로들 사이의 동작 편차(offset)로 인해 상기 센싱 값들이 서로 다르게 검출될 수 있다. 따라서, 복수의 리드아웃 집적 회로들을 이용하여 화소 열화를 검출하는 경우, 열화 검출의 정확도가 떨어진다.
상기 동작 편차를 보정하기 위해 리드아웃 집적 회로들을 캘리브레이션(calibration)할 수 있다. 그러나, 이 경우, 리드아웃 집적 회로의 단가가 상승하고, 제조 공정이 복잡해지며, 공정 시간이 늘어나게 되는 문제점이 있다.
본 발명의 일 목적은 복수의 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하여 열화를 보상하는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치의 열화 보상 방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 구비한 제1 내지 제m(단, m은 2 이상의 정수) 화소열들을 포함하는 표시 패널, 상기 화소들에 연결되는 복수의 리드아웃 라인들을 각각 포함하고, 상기 리드아웃 라인들을 통해 상기 화소들의 열화 정보를 포함하는 열화 센싱 값들을 각각 검출하는 복수의 리드아웃 집적 회로들, 상기 화소들이 비열화된 상태인 초기 상태의 경우에 상기 리드아웃 집적 회로들에서 검출되는 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 상기 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 가중치들을 산출하고, 상기 가중치들에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정한 보정 영상 데이터를 생성하는 편차 보정부, 복수의 스캔 라인들을 통해 상기 표시 패널에 스캔 신호를 제공하는 스캔 구동부, 복수의 데이터 라인들을 통해 상기 표시 패널에 상기 보정 영상 데이터에 상응하는 데이터 신호를 제공하는 데이터 구동부, 및 상기 리드아웃 집적 회로들, 상기 스캔 구동부 및 상기 데이터 구동부를 제어하는 타이밍 제어부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 내지 제m 화소열들은 각각 제1 리드아웃 라인 내지 제m 리드아웃 라인들에 연결될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 편차 보정부는 상기 리드아웃 집적 회로들로부터 검출된 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각을 통해 리드아웃되는 상기 초기 센싱 값들의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들을 산출하는 라인 평균 산출부, 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들에 기초하여 상기 화소들 전체에 대한 상기 초기 센싱 값들의 평균인 전체 평균을 산출하는 전체 평균 산출부, 및 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들 각각을 상기 전체 평균으로 나누어 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치를 산출하는 가중치 산출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 편차 보정부는 상기 제1 내지 제m 가중치들 각각을 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들에 상응하는 상기 화소들의 상기 열화 센싱 값들 각각에 적용하여 상기 화소들의 열화를 보상하는 보정 센싱 값들을 생성하고, 상기 보정 센싱 값들을 기초로 상기 보정 영상 데이터를 생성하는 열화 보상부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 편차 보정부는 상기 화소들 중 적어도 하나의 열화된 화소가 검출되는 경우, 상기 열화된 화소와 인접하는 비열화된 화소들에 대한 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 열화된 화소에 대한 초기 센싱 값인 추정 초기 센싱 값을 산출하는 센싱 값 추정부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값 추정부는 상기 열화된 화소가 포함되는 제k(단, k은 m이하의 자연수) 화소열에 포함되는 상기 화소들 중 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 상기 화소들의 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 추정 초기 센싱값을 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 라인 평균 산출부는 상기 제k 화소열에 상응하는 상기 초기 센싱 값들 및 상기 추정 초기 센싱 값을 이용하여 제k 리드아웃 라인 평균을 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값 추정부는 상기 열화된 화소가 포함되는 화소행에 포함되는 상기 화소들 중 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 상기 화소들의 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 추정 초기 센싱 값을 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전류에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전압에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 리드아웃 라인들의 개수는 상기 데이터 라인들의 개수와 동일할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 편차 보정부는 상기 타이밍 제어부에 포함될 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 열화 보상 방법은 표시 패널에 포함되는 화소들이 비열화된 초기 상태에서 복수의 리드아웃 집적 회로들을 통해 검출된 화소들에 대한 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 상기 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 가중치들을 산출하고, 상기 리드아웃 집적 회로들을 이용하여 상기 화소들의 열화 정보를 포함하는 열화 센싱 값들을 검출하며, 상기 가중치들을 상기 열화 센싱 값들에 각각 적용하여 열화를 보상하는 보정 센싱 값들을 산출하고, 상기 보정 센싱 값들을 기초로 입력 영상 데이터가 보정된 보정 영상 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 상기 복수의 화소들을 각각 구비하는 제1 내지 제m(단, m은 2 이상의 정수) 화소열들을 포함하고, 상기 제1 내지 제m 화소열들은 각각 상기 리드아웃 집적 회로들에 연결되는 제1 리드아웃 라인 내지 제m 리드아웃 라인들에 연결될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 가중치들을 산출하는 단계는 상기 화소들 각각의 상기 초기 센싱 값들을 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각을 통해 리드아웃하고, 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 상응하는 상기 초기 센싱 값들의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들을 산출하며, 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들에 기초하여 상기 초기 센싱 값들 전체의 평균인 전체 평균을 산출한 후, 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들 각각을 상기 전체 평균으로 나누어 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 상응하는 제1 가중치 내지 제m 가중치를 산출하는 것을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 가중치들을 산출하는 단계는 상기 화소들 중 적어도 하나의 열화된 화소가 검출되는 경우, 상기 초기 상태에서 상기 열화된 화소에서 검출되는 초기 센싱 값을 추정한 추정 초기 센싱 값을 산출하고, 상기 초기 센싱 값들 및 상기 추정 초기 센싱 값에 기초하여 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치들을 산출하는 것을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 추정 초기 센싱 값은 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 화소들에 대한 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 추정될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전류에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전압에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 리드아웃 라인들의 개수는 상기 표시 패널에 포함되는 데이터 라인들의 개수와 동일할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 복수의 리드아웃 집적 회로들을 포함하는 표시 장치는 상기 초기 센싱 값들을 기초로 상기 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 개선하는 제1 내지 제m 가중치들을 생성하는 편차 보정부를 포함함으로써, 열화 센싱 값들의 정확도를 향상시킬 수 있다. 따라서, 화소 열화에 의한 표시 장치의 표시 불량을 효과적으로 개선할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 열화 보상 방법은 상기 초기 센싱 값들을 기초로 생성된 가중치들을 이용하여 열화 센싱 값을 효과적으로 보정함으로써, 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 개선하고, 열화 센싱 값들의 정확도를 향상시킬 수 있다.
나아가, 상기 가중치 산출 동작 및 보정 센싱 값 산출 동작은 소프트웨어 알고리즘으로 구현됨으로써 리드아웃 집적 회로들 사이의 동작 편차의 보정을 위한 별도의 하드웨어 또는 회로 설계가 불필요해지므로, 표시 장치의 제조 비용을 감소시킬 수 있으며, 상기 편차 보정을 진행을 위한 공정 시간을 줄일 수 있다. 또한, 표시 장치의 사용 중에 상기 알고리즘이 포함되는 프로그램을 이용하게 간단하게 상기 가중치들을 보정할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함되는 리드아웃 라인들이 화소들에 연결되는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 도 1의 표시 장치에 포함되는 리드아웃 라인들이 화소들에 연결되는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 편차 보정부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함되는 편차 보정부의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 6a는 도 1의 표시 장치에 포함되는 화소들의 일부가 열화된 경우에 하나의 리드아웃 라인을 통해 센싱 값들이 출력되는 일 예를 나타내는 그래프이다.
도 6b는 편차 보정부가 도 6a의 초기 센싱 값들에 기초하여 열화된 화소들에 대한 추정 초기 센싱 값들을 산출하는 일 예를 나타내는 그래프이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 열화 보상 방법을 나타내는 순서도이다.
도 8은 도 7의 열화 보상 방법에 따라 가중치를 산출하는 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 9는 도 7의 열화 보상 방법에 따라 가중치를 산출하는 방법의 다른 예를 나타내는 순서도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 복수의 리드아웃(readout) 집적 회로들(120), 편차 보정부(130), 스캔 구동부(140), 데이터 구동부(150) 및 타이밍 제어부(160)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 타이밍 제어부(160)는 편차 보정부(130)를 포함할 수 있다.
표시 패널(110)은 복수의 화소들(P)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 표시 패널(110)은 복수의 화소들(P)을 구비하는 제1 내지 제m(단, m은 2 이상의 정수) 화소열들을 포함할 수 있다. 표시 패널(110)은 복수의 스캔 라인들(SL1, ..., SLn), 스캔 라인들(SL1, ..., SLn)과 교차하여 배치되는 복수의 데이터 라인들(DL1, ..., DLm) 및 복수의 화소들을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 표시 패널(110)은 스캔 라인들(SL1, ..., SLn)과 교차하여 배치되는 복수의 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 스캔 라인들(SL1, ..., SLn)은 화소행 방향으로 형성되고, 데이터 라인들(DL1, ..., DLm) 및 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)은 화소열 방향으로 형성될 수 있다. 다만, 스캔 라인들(SL1, ..., SLn), 데이터 라인들(DL1, ..., DLm) 및 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)의 배치 방향이 이에 한정되는 것은 아니다. 화소들(P)은 매트릭스(matrix) 형태로 배치될 수 있다. 스캔 라인들(SL1, ..., SLn)의 개수는 n(n은 자연수)개일 수 있다. 데이터 라인들(DL1, ..., DLm)의 개수는 m개 일 수 있다. 일 실시예에서, 화소(P)들의 개수는 n*m개일 수 있다. 한편, 화소들(P) 각각은 스위칭 트랜지스터 및 유기 발광 다이오드를 포함할 수 있다.
리드아웃 집적 회로들(120)은 각각 복수의 리드아웃 라인들을 포함할 수 있다. 리드아웃 집적 회로들(120)은 리드아웃 라인들을 통해 화소들(P)의 열화 정보를 포함하는 열화 센싱 값들을 각각 검출할 수 있다. 예를 들어, 리드아웃 집적 회로들(120)은 열화 센싱 동작이 수행될 때, 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 통하여 화소들(P)로부터 출력되는 검출 신호를 판독할 수 있다. 또한, 리드아웃 집적 회로들(120)은 상기 검출 신호를 기초로 화소들(P)의 열화 여부를 판단할 수도 있다. 실시예에 따라, 리드아웃 집적 회로들(120)은 아날로그 투 디지털 컨버팅(analog-to-digital converting; ADC) 회로 등을 이용하여 상기 열화 센싱 값들을 디지털 신호로 변경하여 출력할 수 있다. 일 실시예에서, 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)의 개수는 데이터 라인들(DL1, ..., DLm)의 개수와 동일할 수 있다. 즉, 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)은 각각의 화소열들에 대응하여 표시 패널(110)에 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 내지 제m 화소열들은 각각 제1 리드아웃 라인 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)에 연결될 수 있다. 예를 들면, 제k(k는 m 이하의 자연수) 화소열에 포함되는 화소들은 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결될 수 있다.
표시 장치(100)는 화소들(P)의 열화 정도를 센싱하기 위해 복수의 리드아웃 집적 회로들(120)을 포함한다. 이와 같이, 열화 검출 동작이 수행될 때, 표시 패널(110)의 화소들(P)에서 열화 센싱 값들이 출력되면, 리드아웃 집적 회로들(120)에 의해 화소들(P)의 열화 정도가 판독됨으로써, 표시 패널(110)로 인가되는 데이터 신호가 보정될 수 있다. 리드아웃 집적 회로들(120)은 타이밍 제어부(160)의 제어에 의해 주기적으로 또는 기 설정된 시간 동안 화소들(P)에 대한 열화 센싱 값들을 검출할 수 있다. 이 때, 서로 실질적으로 동일한 정도로 열화된 화소들 각각을 서로 다른 리드아웃 집적 회로들이 센싱하는 경우, 리드아웃 집적 회로들(120) 각각의 동작 편차 등에 의해 상기 열화 센싱 값들이 서로 다를 수 있다. 따라서, 리드아웃 집적 회로들(120) 동작의 오차(또는, 편차)를 보정하는 과정이 필요하다. 또한, 리드아웃 집적 회로들(120)은 화소들(P) 전체가 비열화 상태인 초기 상태에서 초기 센싱 값들을 검출할 수 있다. 상기 초기 센싱 값들은 리드아웃 집적 회로들(120) 동작의 오차를 보정하기 위해 편차 보정부(130)에서 사용된다. 리드아웃 집적 회로들(120)은 검출된 상기 열화 센싱 값들 및 상기 초기 센싱 값들을 편차 보정부(130)에 제공할 수 있다.
편차 보정부(130)는 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 보정하는 가중치들을 산출할 수 있다. 편차 보정부(130)는 화소들(P) 전체가 비열화 상태인 초기 상태에서 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작에 의해 검출되는 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 상기 가중치들을 산출할 수 있다. 즉, 상기 초기 센싱 값들은 화소가 비열화된 상태에서 리드아웃 집적 회로에 의해 검출된 센싱값이다. 일 실시예에서, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들(P) 각각의 구동 전류들에 상응할 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들(P) 각각의 구동 전압들에 상응할 수 있다. 편차 보정부(130)는 타이밍 제어부(160)에 포함되거나, 타이밍 제어부(160)에 연결될 수 있다.
편차 보정부(130)는 상기 초기 상태에서의 화소들 각각의 구동 전류들 또는 구동 전압들의 편차에 기초한 가중치들을 생성하고, 상기 가중치들을 적용한 데이터 신호를 생성함으로써 리드아웃 집적 회로들(120)의 구동 편차를 보정할 수 있다. 일 실시예에서, 편차 보정부(130)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm) 각각을 통해 리드아웃되는 상기 초기 센싱 값들의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들을 산출하는 라인 평균 산출부, 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들에 기초하여 화소들(P) 전체에 대한 상기 초기 센싱 값들의 평균인 전체 평균을 산출하는 전체 평균 산출부 및 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들 각각을 상기 전체 평균으로 나누어 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm) 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치를 산출하는 가중치 산출부를 포함할 수 있다. 상술한 편차 보정부(130)에 의해 가중치들이 산출되는 구동은 알고리즘 설계를 통해 간단하게 구현될 수 있다. 따라서, 상기 구동 알고리즘을 포함하는 프로그램을 실행함으로써 사용자는 시간 및 장소의 제약 없이 화소의 열화를 보상할 수 있다.
일 실시예에서, 편차 보정부(130)는 상기 제1 내지 제m 가중치들 각각을 상기 제1 내지 제m 화소열들에 포함되는 화소들(P)의 상기 열화 센싱 값들 각각에 적용하여 화소들(P)의 열화를 보정하는 보정 센싱 값들을 생성하고, 상기 보정 센싱 값을 기초로 입력 영상 데이터를 보정한 보정 영상 데이터를 생성할 수 있다.
유기 발광 다이오드의 특성에 의해 표시 패널(110)의 일부 화소들에 열화가 발생할 수 있다. 리드아웃 집적 회로들(120)이 화소의 열화 여부를 검출할 수 있다. 이 때, 편차 보정부(130)는 적어도 하나의 열화된 화소 각각에 인접한 비열화된 화소들에 대한 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 열화된 화소에 대한 초기 센싱 값인 추정 초기 센싱 값을 산출할 수 있다. 예를 들면, 상기 추정 초기 센싱 값은 상기 초기 센싱 값들을 보간(interpolation)함으로써 추정될 수 있다. 편차 보정부(130)는 상기 초기 센싱 값들과 상기 추정 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 상기 제1 내지 제m 가중치들을 생성할 수 있다. 편차 보정부(130)는 상기 제1 내지 제m 가중치들에 기초하여 열화 센싱 값들을 보정한 보정 센싱 값들을 생성하고, 상기 보정 센싱 값을 기초로 영상 신호를 보정한 보정 데이터 신호를 생성할 수 있다.
스캔 구동부(140)는 복수의 스캔 라인들(SL1, ..., SLn)을 통해 표시 패널(110)에 스캔 신호를 제공할 수 있다. 데이터 구동부(150)는 복수의 데이터 라인들(DL1, ..., DLm)을 통해 표시 패널(110)에 상기 보정 영상 데이터에 상응하는 데이터 신호를 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 보정 영상 데이터는 편차 보정부(130)를 포함하는 타이밍 제어부(160)에서 생성될 수 있다.
타이밍 제어부(160)는 제 1 내지 제 3 제어 신호들(CONT1, CONT2, CONT3)에 기초하여 리드아웃 집적 회로들(120), 스캔 구동부(140) 및 데이터 구동부(150)를 제어할 수 있다. 일 실시예에서, 타이밍 제어부(160)는 외부의 그래픽 기기와 같은 화상 소스로부터 입력 영상 데이터를 수신할 수 있다. 입력 제어 신호는 메인 클럭 신호, 수직 동기 신호, 수평 동기 신호 및 데이터 인에이블 신호를 포함할 수 있다. 타이밍 제어부(160)는 상기 입력 영상 데이터에 기초하여 표시 패널(110)의 동작 조건에 맞는 영상 데이터를 생성하여 데이터 구동부(150)에 제공할 수 있다. 타이밍 제어부(160)는 상기 보정 영상 데이터를 데이터 구동부(150)에 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 타이밍 제어부(160)는 편차 보정부(130)를 포함하고, 편차 보정부(130)에서 생성된 가중치들 및 리드아웃 집적 회로들(120)에서 검출된 열화 센싱 값들에 기초하여 상기 보정 데이터 신호들을 생성할 수 있다.
상술한 바와 같이, 복수의 리드아웃 집적 회로들(120)을 포함하는 표시 장치(100)는 상기 초기 센싱 값들을 기초로 제1 내지 제m 가중치들을 생성하는 편차 보정부(130)를 포함하고, 상기 제1 내지 제m 가중치들에 기초하여 열화 센싱 값을 효과적으로 보정함으로써, 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 개선하고, 열화 센싱 값들의 정확도를 향상시킬 수 있다. 따라서, 화소 열화에 의한 표시 장치(100)의 표시 불량을 효과적으로 개선할 수 있다. 또한, 편차 보정부(130)의 동작을 소프트웨어 설계로 구현함으로써 리드아웃 집적 회로들(120) 사이의 동작 편차의 보정을 위한 별도의 하드웨어 또는 회로 설계가 불필요해지므로, 표시 장치(100)의 제조 비용 및 제조 시간을 감소시킬 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함되는 리드아웃 라인들이 화소들에 연결되는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 복수의 화소들(P)을 포함하는 표시 패널(110)은 복수의 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 포함할 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이, 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)은 화소열 방향으로 형성될 수 있다.
일 실시에예서, 화소들(P)은 제1 화소열 내지 제m(m은 2 이상의 정수) 화소열들(C1, ..., Cm)로 구분될 수 있다. 제1 내지 제m 화소열들(C1, ..., Cm)은 각각 제1 리드아웃 라인 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제k(k는 m 이하의 자연수) 화소열(Ck)은 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결될 수 있다. 제k 화소열(Ck)에 포함되는 화소들(P)은 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결되고, 상기 화소들 각각으로부터 검출되는 초기 센싱 값들 및 열화 센싱 값들은 제k 리드아웃 라인(OUTk)을 통해 복수의 리드아웃 집적 회로들 중 어느 하나로 전달될 수 있다. 리드아웃 집적 회로들 각각은 상기 검출된 값들을 편차 보정부(130)에 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 편차 보정부(130)는 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결된 화소들에서 검출되는 상기 초기 센싱 값들을 이용하여 제k 리드아웃 라인 평균을 산출할 수 있다. 편차 보정부(130)는 상기 리드아웃 집적 회로들이 검출한 센싱 값들 및 상기 평균 등을 기초로 열화 센싱 값들을 정확한 값으로 보정하는 제1 내지 제m 가중치들을 생성할 수 있다. 즉, 하나의 화소열에 포함되는 화소들에 인가하는 데이터에 대해서는 동일한 가중치가 적용될 수 있다.
도 3은 도 1의 도 1의 표시 장치에 포함되는 리드아웃 라인들이 화소들에 연결되는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 복수의 화소들(P)을 포함하는 표시 패널(110)은 복수의 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 포함할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)은 화소행 방향으로 형성될 수 있다.
일 실시에예서, 화소들(P)은 제1 화소행 내지 제n(n은 2 이상의 정수) 화소행들(R1, ..., Rn)로 구분될 수 있다. 제1 내지 제n 화소행들(R1, ..., Rn)은 각각 제1 리드아웃 라인 내지 제n 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTn)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제k(k는 n 이하의 자연수) 화소행(Rk)은 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결될 수 있다. 제k 화소열(Ck)에 포함되는 화소들(P)은 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결되고, 상기 화소들 각각으로부터 검출되는 초기 센싱 값들 및 열화 센싱 값들은 제k 리드아웃 라인(OUTk)을 통해 복수의 리드아웃 집적 회로들 중 어느 하나로 전달될 수 있다. 리드아웃 집적 회로들 각각은 상기 검출된 값들을 편차 보정부(130)에 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 편차 보정부(130)는 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결된 화소들에서 검출되는 상기 초기 센싱 값들을 이용하여 제k 리드아웃 라인 평균을 산출할 수 있다. 편차 보정부(130)는 상기 리드아웃 집적 회로들이 검출한 센싱 값들 및 상기 평균 등을 기초로 열화 센싱 값들을 정확한 값으로 보정하는 제1 내지 제n 가중치들을 생성할 수 있다. 즉, 하나의 화소행에 포함되는 화소들에 인가되는 데이터에 대해서는 동일한 가중치가 적용될 수 있다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 편차 보정부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 1, 2 및 도 4를 참조하면, 편차 보정부(130)는 라인 평균 산출부(132), 전체 평균 산출부(134), 가중치 산출부(136)를 포함할 수 있다. 편차 보정부(130)는 열화 센싱 값에 기초하여 데이터 신호를 보정하는 열화 보정부(138)를 더 포함할 수 있다.
편차 보정부(130)는 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 보정하는 가중치들(W1 ~ Wm)을 산출하고, 가중치들(W1 ~ Wm)에 기초하여 열화 센싱 값들을 보정한 보정 센싱 값들을 출력할 수 있다.
라인 평균 산출부(132)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm) 각각을 통해 리드아웃되는 초기 센싱 값들(IS)의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)을 산출할 수 있다. 라인 평균 산출부(132)는 리드아웃 집적 회로들(120)로부터 화소들(P) 각각에 대한 초기 센싱 값들(IS)을 제공받을 수 있다. 라인 평균 산출부(132)는 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결된 화소들에서 검출되는 초기 센싱 값들(IS)을 이용하여 제k 리드아웃 라인 평균을 산출할 수 있다. 마찬가지로, 라인 평균 산출부(132)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)을 산출할 수 있다.
전체 평균 산출부(134)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)에 기초하여 화소들(P) 전체에 대한 초기 센싱 값들(IS)의 평균인 전체 평균(M)을 산출할 수 있다.
가중치 산출부(136)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm) 각각을 전체 평균(M)으로 나누어 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm) 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치(W1, ..., Wm)를 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)은 각각 제1 화소열 내지 제m 화소열에 포함되는 화소들에 인가되는 데이터 신호에 적용될 수 있다. 예를 들어, 제k 화소열에 포함되는 화소들에 인가되는 데이터 각각에는 제k 가중치가 적용될 수 있다. 한편, 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)은 각각 수학식 1을 이용하여 산출될 수 있다.
수학식 1
Wk = AVGk/M
여기서, Wk는 제k 화소열에 대한 제k 가중치, AVGk는 제k 화소열에 대한 제k 리드아웃 라인 평균, M은 상기 전체 평균을 나타낸다. 또한, k는 m 이하의 자연수를 나타낸다.
편차 보정부(130)는 열화 보정부(138)를 더 포함할 수 있다. 열화 보정부(138)는 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm) 각각을 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)에 상응하는 화소들의 열화 센싱 값들(DS) 각각에 적용하여 화소들(P)의 열화를 보정하는 보정 센싱 값들을 생성하고, 상기 보정 센싱 값을 기초로 보정 데이터 신호(DATA')를 생성할 수 있다. 편차 보정부(130)는 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)과 소정의 시간에 검출된 열화 센싱 값들(DS)을 제공받을 수 있다. 일 실시예에서, 편차 보정부(130)는 소정의 화소에 상응하는 열화 센싱 값과 가중치를 곱하여 상기 보정 센싱 값들을 생성할 수 있다. 상기 보정 센싱 값들은 상기 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)에 의해 리드아웃 집적 회로들(120) 사이의 동작 편차가 보정된 열화 센싱 값들이다. 따라서, 열화 센싱의 정확도가 향상될 수 있다. 열화 보정부(138)는 타이밍 제어부(160) 또는 외부 장치로부터 영상 데이터 신호(DATA)를 더 제공받을 수 있다. 열화 보정부(138)는 상기 보정 센싱 값들을 기초로 영상 데이터 신호(DATA)가 보정된 보정 데이터 신호(DATA')를 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 편차 보정부(130)는 보정 데이터 신호(DATA')를 데이터 구동부(150)에 제공할 수 있다.
이와 같이, 표시 장치(100)에 포함되는 편차 보정부(130)는 초기 센싱 값들(IS)을 이용하여 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 보정하는 가중치들을 생성하고, 상기 가중치들을 기초로 열화 센싱 값을 효과적으로 보정함으로써, 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 개선하고, 열화 센싱 값들의 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함되는 편차 보정부의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
본 실시예에 따른 편차 보정부는 센싱 값 추정부(233)의 구성을 제외하면 도 4의 편자 보정부와 실질적으로 동일하므로, 동일하거나 대응되는 구성 요소에 대한 중복되는 설명은 생략한다.
도 1, 2 및 5를 참조하면, 편차 보정부(230)는 센싱 값 추정부(231), 라인 평균 산출부(232), 전체 평균 산출부(234), 가중치 산출부(236) 및 열화 보정부(238)를 포함할 수 있다.
표시 패널(110)에 포함되는 화소들(P)의 일부가 열화될 수 있다. 열화된 화소에 대해서는 초기 센싱 값이 검출될 수 없으므로, 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정할 수 없다. 따라서, 편차 보정부(230)는 열화된 화소에 인접한 비열화된 화소들의 초기 센싱 값들을 이용하여 상기 열화된 화소에 대한 초기 센싱 값을 추정할 수 있다.
화소들(P) 중 적어도 하나의 열화된 화소가 검출되는 경우, 센싱 값 추정부(231)는 상기 열화된 화소와 인접하는 비열화된 화소들에 대한 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 열화된 화소에 대한 초기 센싱 값인 추정 초기 센싱 값(IES)을 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 센싱 값 추정부(231)는 상기 열화된 화소가 포함되는 화소열에 포함되는 화소들 중 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 상기 화소들의 상기 초기 센싱 값들(IS)에 기초하여 추정 초기 센싱값(IES)을 산출할 수 있다. 예를 들어, 센싱 값 추정부(231)는 열화된 화소가 포함된 제k 열에 포함되는 비열화된 화소들의 초기 센싱 값들(IS)을 보간하여 추정 초기 센싱값(IES)을 산출할 수 있다. 다른 실시예에서, 센싱 값 추정부(231)는 상기 열화된 화소가 포함되는 화소행에 포함되는 상기 화소들 중 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 상기 화소들의 초기 센싱 값들(IS)에 기초하여 추정 초기 센싱 값(IES)을 산출할 수 있다. 예를 들어, 센싱 값 추정부(231)는 열화된 화소가 포함된 화소행에 포함되는 비열화된 화소들의 초기 센싱 값들(IS)을 보간하여 추정 초기 센싱값(IES)을 산출할 수 있다. 또 다른 실시예에서, 센싱 값 추정부(231)는 상기 제1 화소에 인접한 비열화된 화소들에 대한 초기 센싱 값들(IS)을 2차원적으로 보간하여 추정 초기 센싱 값(IES)을 산출할 수 있다. 센싱 값 추정부(231)는 추정 초기 센싱 값(IES)을 라인 평균 산출부(232)에 제공할 수 있다. 다만, 추정 초기 센싱 값(IES)을 산출하는 방법이 이에 한정되는 것은 아니다.
라인 평균 산출부(232)는 초기 센싱 값들(IS) 및 추정 초기 센싱 값(IES)의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)을 산출할 수 있다. 상기 제1 화소가 제k 화소열에 포함되는 경우, 라인 평균 산출부(232)는 상기 제k 화소열에 상응하는 초기 센싱 값들(IS) 및 추정 초기 센싱 값(IES)을 이용하여 제k 리드아웃 라인 평균(AVGk)을 산출할 수 있다.
전체 평균 산출부(234)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)에 기초하여 화소들(P) 전체에 대한 초기 센싱 값들(IS)의 평균인 전체 평균(M)을 산출할 수 있다. 가중치 산출부(236)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm) 각각을 전체 평균(M)으로 나누어 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm) 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치(W1, ..., Wm)를 산출할 수 있다. 열화 보정부(138)는 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm) 각각을 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)에 상응하는 화소들의 열화 센싱 값들(DS) 각각에 적용하여 화소들(P)의 열화를 보정하는 보정 센싱 값들을 생성하고, 상기 보정 센싱 값을 기초로 보정 데이터 신호(DATA')를 생성할 수 있다.
상술한 바와 같이, 표시 패널에 열화된 화소가 존재하는 경우, 편차 보정부(230)는 열화된 화소 주변의 비열화된 화소들에 대한 초기 센싱 값들을 기초로 하여 상기 열화된 화소에 대한 추정 초기 센싱 값을 산출함으로써, 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 보정하는 가중치들을 생성하고, 상기 가중치들을 기초로 열화 센싱 값을 효과적으로 보정할 수 있다.
도 6a는 도 1의 표시 장치에 포함되는 화소들의 일부가 열화된 경우에 하나의 리드아웃 라인을 통해 센싱 값들이 출력되는 일 예를 나타내는 그래프이고, 도 6b는 편차 보정부가 도 6a의 초기 센싱 값들에 기초하여 열화된 화소들에 대한 추정 초기 센싱 값들을 산출하는 일 예를 나타내는 그래프이다.
도 5 내지 도 6b를 참조하면, 편차 보정부에 포함되는 센싱 값 추정부가 열화된 화소들에 대한 열화 센싱 값들을 보정할 수 있다.
도 6a는 하나의 리드아웃 라인을 통해 검출된 센싱 값들을 보여준다. 리드아웃 집적 회로가 열화된 화소를 포함하는 화소열(또는 화소행)에 대한 초기 센싱 값들을 검출할 수 있다. 도 6a에 도시된 바와 같이, 열화된 화소들에 대한 센싱 값들은 비열화된 화소들에 대한 센싱 값들에 대해 크게 벗어난다. 따라서, 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하기 위해서는 상기 열화된 화소들의 센싱 값들에 대한 보정이 필요하다.
일 실시예에서, 센싱 값 추정부(231)는, 도 6b에 도시된 바와 같이, 열화된 화소들에 각각 인접하는 비열화된 화소들에 대한 초기 센싱 값들을 기초로 추정 초기 센싱 값들을 산출할 수 있다. 예를 들면, 상기 초기 센싱 값들을 보간함으로써 열화된 화소들에 대한 추정 초기 센싱 값들을 산출할 수 있다. 편차 보정부(230)는 상기 추정 초기 센싱 값들 및 초기 센싱 값들에 기초하여 각각의 리드아웃 라인에 상응하는 가중치를 산출할 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 열화 보상 방법을 나타내는 순서도이다.
도 1 및 도 7을 참조하면, 복수의 리드아웃 집적 회로들을 포함하는 표시 장치의 열화 보상 방법은 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 가중치를 산출(S100)하고, 화소들에 대한 열화 센싱 값들을 검충(S200)하며, 상기 열화 센싱 값들을 보정한 보정 센싱 값들을 생성(S300)하고, 상기 보정 센싱 값들에 기초하여 표시 패널에 인가되는 보정 데이터 신호를 생성(S400)할 수 있다.
상기 표시 장치의 열화 보상 방법은 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 가중치를 산출(S100)할 수 있다. 표시 패널(110)에 포함되는 화소들(P)이 비열화된 초기 상태에서 복수의 리드아웃 집적 회로들(120)을 통해 검출된 화소들(P)에 대한 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 보정하는 가중치들이 산출될 수 있다. 상기 가중치들은 리드아웃 집적 회로들(120)에 연결된 복수의 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 기준으로 설정될 수 있다. 즉, 하나의 리드아웃 라인에 연결된 화소들에 대한 데이터 신호에는 동일한 가중치가 적용될 수 있다. 일 실시예에서, 표시 패널(110)은 복수의 화소들을 각각 구비하는 제1 내지 제m(단, m은 2 이상의 정수) 화소열들을 포함하고, 상기 제1 내지 제m 화소열들은 각각 제1 리드아웃 라인 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)에 연결될 수 있다. 즉, 리드아웃 라인들의 개수는 표시 패널(110)에 포함되는 데이터 라인들(DL1, ..., DLm)의 개수와 동일할 수 있다. 다른 실시예에서, 리드아웃 라인들은 화소행 단위로 화소들(P)에 연결될 수 있다. 즉, 리드아웃 라인들의 개수는 표시 패널(110)에 포함되는 스캔 라인들(SL1, ..., SLn)의 개수와 동일할 수도 있다. 한편, 상기 초기 센싱 값들은 상기 초기 상태에서의 화소들(P) 각각의 구동 전류들 또는 구동 전압들에 상응할 수 있다.
일 실시예예서, 리드아웃 집적 회로들에 의해 검출된 센싱 값들은 상기 가중치들을 산출하는 편차 보정부(130)에 제공될 수 있다. 편차 보정부(130)의 가중치 산출 동작은 간단한 알고리즘 설계로 구현될 수 있다. 다만, 이에 대해서는 도 8 및 도 9를 참조하여 상술하기로 한다.
리드아웃 집적 회로들(120)에 의해 화소들(P)의 열화 정보를 포함하는 열화 센싱 값들이 검출(S200)될 수 있다. 일 실시예에서, 열화 센싱 값들이 검출되는 주기는 타이밍 제어부(160)에서 출력되는 제어 신호에 의해 제어될 수 있다. 열화 센싱 값들은 상기 검출 동작시 화소들(P) 각각의 구동 전류 또는 구동 전압들에 상응할 수 있다.
상기 가중치들이 상기 열화 센싱 값들에 각각 적용되어 열화를 보정하는 보정 센싱 값들이 산출(S300)될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 보정 센싱 값들은 각각 소정의 화소에 상응하는 열화 센싱 값과 가중치의 곱에 의해 산출될 수 있다. 상기 보정 센싱 값들은 상기 가중치들에 의해 리드아웃 집적 회로들(120) 사이의 동작 편차가 보정된 열화 센싱 값들이다. 따라서, 열화 센싱의 정확도가 향상될 수 있다.
이후에, 상기 보정 센싱 값들을 기초로 입력 영상 데이터가 보정된 보정 영상 데이터가 생성(S400)될 수 있다. 표시 장치(100)는 상기 보정 영상 데이터에 기초하여 화소 열화가 보상된 이미지를 표시할 수 있다. 상기 표시 장치의 열화 보상 방법에 대해서는 도 1 내지 도 5를 참조하여 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
이와 같이, 복수의 리드아웃 집적 회로들(120)을 포함하는 표시 장치의 열화 보상 방법은 상기 초기 센싱 값들을 기초로 생성된 가중치들을 이용하여 열화 센싱 값을 효과적으로 보정함으로써, 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 개선하고, 열화 센싱 값들의 정확도를 향상시킬 수 있다. 따라서, 화소의 열화가 효과적으로 보상될 수 있다. 또한, 상기 가중치 산출 동작 및 보정 센싱 값 산출 동작을 소프트웨어 설계로 구현함으로써 리드아웃 집적 회로들(120) 사이의 동작 편차의 보정을 위한 별도의 하드웨어 또는 회로 설계가 불필요해지므로, 표시 장치(100)의 제조 비용을 감소시킬 수 있으며, 상기 편차 보정을 진행을 위한 공정 시간을 줄일 수 있다.
도 8은 도 7의 열화 보상 방법에 따라 가중치를 산출하는 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 1, 4, 7 및 8을 참조하면, 복수의 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 가중치를 산출하는 방법은 화소들(P) 각각의 초기 센싱 값들(IS)을 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 통해 리드아웃(S110)하고, 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)에 각각 상응하는 초기 센싱 값들(IS)의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)을 산출(S120)하며, 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)에 기초하여 초기 센싱 값들(IS) 전체의 평균인 전체 평균(M)을 산출(S130)하고, 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm) 각각을 전체 평균(M)으로 나누어 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm) 각각에 상응하는 제1 가중치 내지 제m 가중치(W1, ..., Wm)를 산출(S140)할 수 있다. 상기 가중치 산출 방법은 표시 패널(110) 내에 열화된 화소가 없는 경우에 적용될 수 있다.
초기 센싱 값들(IS)은 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 통해 리드아웃(S110)될 수 있다. 복수의 리드아웃 집적 회로들(120)은 타이밍 제어부(160)에서 인가되는 제어 신호를 인가받아 초기 센싱 값들(IS)을 검출할 수 있다.
제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)이 산출(S120)될 수 있다. 예를 들어, 편차 보정부(130)는 제k 리드아웃 라인(OUTk)에 연결된 화소들에서 검출되는 초기 센싱 값들(IS)을 이용하여 제k 리드아웃 라인 평균을 산출할 수 있다. 마찬가지로, 편차 보정부(130)는 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)을 산출할 수 있다.
제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm)에 기초하여 전체 평균(M)이 산출(S130)된 후, 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들(AVG1, ..., AVGm) 및 전체 평균(M)에 기초하여 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)이 산출될 수 있다. 이와 같이, 초기 센싱 값들(IS)을 이용하여 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 보정하는 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)을 산출하는 방식은 소프트웨어 알고리즘을 통해 구현될 수 있다. 다만, 상기 가중치들을 산출하는 방법은 도 1 내지 도 4를 참조하여 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 9는 도 7의 열화 보상 방법에 따라 가중치를 산출하는 방법의 다른 예를 나타내는 순서도이다.
도 1, 5, 7 및 9를 참조하면, 화소들(P) 중 적어도 하나의 열화된 화소가 검출되는 경우, 복수의 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 가중치를 산출하는 방법은 화소들(P) 각각의 초기 센싱 값들(IS)을 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 통해 리드아웃(S150)하고, 초기 상태에서 상기 열화된 화소에서 검출되는 초기 센싱 값을 추정한 추정 초기 센싱 값을 산출(S160)하며, 상기 초기 센싱 값들 및 상기 초기 센싱 값에 기초하여 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm) 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)을 산출(S170)할 수 있다.
열화된 화소에 대해서는 초기 센싱 값이 검출될 수 없다. 이 경우, 열화된 화소에 인접한 비열화된 화소들의 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 열화된 화소에 대한 초기 센싱 값이 추정될 수 있다.
초기 센싱 값들(IS)은 제1 내지 제m 리드아웃 라인들(OUT1, ..., OUTm)을 통해 리드아웃(S110)될 수 있다. 복수의 리드아웃 집적 회로들(120)은 타이밍 제어부(160)에서 인가되는 제어 신호를 인가받아 초기 센싱 값들(IS)을 검출할 수 있다.
열화된 화소에 대한 추정 초기 센싱 값(IES)이 산출(S160)될 수 있다. 복수의 열화된 화소가 검출되는 경우, 상기 열화된 화소의 개수에 상응하는 복수의 추정 초기 센싱 값들이 산출될 수 있다. 일 실시예에서, 추정 초기 센싱 값(IES)은 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 화소들에 대한 초기 센싱 값들(IS)에 기초하여 추정될 수 있다. 예를 들어, 추정 초기 센싱값(IES)은 상기 열화된 화소가 포함된 화소열에 포함되는 비열화된 화소들의 초기 센싱 값들(IS)을 보간(interpolation)함으로써 산출될 수 있다. 또는, 추정 초기 센싱값(IES)은 상기 열화된 화소가 포함된 화소행에 포함되는 비열화된 화소들의 초기 센싱 값들(IS)을 보간함으로써 산출될 수 있다. 다만, 추정 초기 센싱 값(IES)을 산출하는 방법이 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 초기 센싱 값들 및 상기 초기 센싱 값에 기초한 제1 가중치 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)이 산출(S170)될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 내지 제m 가중치들(W1, ..., Wm)은 도 8을 참조하여 설명된 방법에 의해 산출될 수 있다. 상기 가중치들을 산출하는 방법은 도 1 내지 도 4를 참조하여 상술한 바 있으므로, 그에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
상술한 바와 같이, 표시 패널(110)에 열화된 화소가 존재하는 경우, 가중치 생성 방법은 열화된 화소 주변의 비열화된 화소들에 대한 초기 센싱 값들을 기초로 하여 상기 열화된 화소에 대한 추정 초기 센싱 값을 산출함으로써, 리드아웃 집적 회로들(120)의 동작 편차를 보정하는 가중치들을 생성할 수 있다. 따라서, 표시 장치의 열화 보상 방법은 상기 가중치들을 기초로 열화 센싱 값을 효과적으로 보정할 수 있다. 또한, 상기 가중치를 산출하고 보정 영상 데이터를 생성하는 방법은 알고리즘을 이용하여 구현될 수 있으므로, 표시 장치의 사용 중에 상기 알고리즘이 포함되는 프로그램을 이용하게 간단하게 상기 가중치들을 보정할 수 있다.
본 발명은 본 발명은 표시 장치를 구비한 전자 기기에 다양하게 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 컴퓨터, 노트북, 디지털 카메라, 비디오 캠코더, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 피엠피(PMP), 피디에이(PDA), MP3 플레이어, 차량용 네비게이션, 비디오폰, 감시 시스템, 추적 시스템, 동작 감지 시스템, 이미지 안정화 시스템 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 표시 장치 110: 표시 패널
120: 리드아웃 집적 회로들 130: 편차 보정부
132, 232: 라인 평군 산출부 134, 234: 전체 평균 산출부
136, 236: 가중치 산출부 138, 238: 열화 보정부
140: 스캔 구동부 150: 데이터 구동부
160: 타이밍 제어부 231: 센싱 값 추정부

Claims (20)

  1. 복수의 화소들을 구비한 제1 내지 제m(단, m은 2 이상의 정수) 화소열들을 포함하는 표시 패널;
    상기 화소들에 연결되는 복수의 리드아웃 라인들을 각각 포함하고, 상기 리드아웃 라인들을 통해 상기 화소들의 열화 정보를 포함하는 열화 센싱 값들을 각각 검출하는 복수의 리드아웃 집적 회로들;
    상기 화소들이 비열화된 상태인 초기 상태의 경우에 상기 리드아웃 집적 회로들에서 검출되는 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 상기 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 상기 리드 아웃 라인들 별 가중치들을 산출하고, 상기 가중치들을 기초로 상기 열화 센싱 값들의 상기 리드아웃 집적 회로들의 상기 동작 편차를 보정하여 보정 센싱 값들을 생성하고, 상기 보정 센싱 값들에 기초하여 입력 영상 데이터를 보정한 보정 영상 데이터를 생성하는 편차 보정부;
    복수의 스캔 라인들을 통해 상기 표시 패널에 스캔 신호를 제공하는 스캔 구동부;
    복수의 데이터 라인들을 통해 상기 표시 패널에 상기 보정 영상 데이터에 상응하는 데이터 신호를 제공하는 데이터 구동부; 및
    상기 리드아웃 집적 회로들, 상기 스캔 구동부 및 상기 데이터 구동부를 제어하는 타이밍 제어부를 포함하는 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제1 내지 제m 화소열들은 각각 제1 리드아웃 라인 내지 제m 리드아웃 라인들에 연결되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 편차 보정부는
    상기 리드아웃 집적 회로들로부터 검출된 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각을 통해 리드아웃되는 상기 초기 센싱 값들의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들을 산출하는 라인 평균 산출부;
    상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들에 기초하여 상기 화소들 전체에 대한 상기 초기 센싱 값들의 평균인 전체 평균을 산출하는 전체 평균 산출부; 및
    상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들 각각을 상기 전체 평균으로 나누어 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치를 산출하는 가중치 산출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 편차 보정부는, 상기 제1 내지 제m 가중치들 각각을 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들에 상응하는 상기 화소들의 상기 열화 센싱 값들 각각에 적용하여 상기 화소들의 열화를 보상하는 상기 보정 센싱 값들을 생성하고, 상기 보정 센싱 값들을 기초로 상기 보정 영상 데이터를 생성하는 열화 보상부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 편차 보정부는, 상기 화소들 중 적어도 하나의 열화된 화소가 검출되는 경우, 상기 열화된 화소와 인접하는 비열화된 화소들에 대한 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 열화된 화소에 대한 초기 센싱 값인 추정 초기 센싱 값을 산출하는 센싱 값 추정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 센싱 값 추정부는 상기 열화된 화소가 포함되는 제k(단, k은 m이하의 자연수) 화소열에 포함되는 상기 화소들 중 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 상기 화소들의 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 추정 초기 센싱값을 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 라인 평균 산출부는 상기 제k 화소열에 상응하는 상기 초기 센싱 값들 및 상기 추정 초기 센싱 값을 이용하여 제k 리드아웃 라인 평균을 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제 5 항에 있어서, 상기 센싱 값 추정부는 상기 열화된 화소가 포함되는 화소행에 포함되는 상기 화소들 중 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 상기 화소들의 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 상기 추정 초기 센싱 값을 산출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제 1 항에 있어서, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전류에 상응하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제 1 항에 있어서, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전압에 상응하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제 1 항에 있어서, 상기 리드아웃 라인들의 개수는 상기 데이터 라인들의 개수와 동일한 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 편차 보정부는 상기 타이밍 제어부에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 표시 패널에 포함되는 화소들이 비열화된 초기 상태에서 복수의 리드아웃 집적 회로들을 통해 검출된 화소들에 대한 초기 센싱 값들의 평균에 기초하여 상기 리드아웃 집적 회로들의 동작 편차를 보정하는 리드 아웃 라인들 별 가중치들을 산출하는 단계;
    상기 리드아웃 집적 회로들을 이용하여 상기 화소들의 열화 정보를 포함하는 열화 센싱 값들을 검출하는 단계;
    상기 가중치들을 기초로 상기 열화 센싱 값들의 상기 리드아웃 집적 회로들의 상기 동작 편차를 보정하여 열화를 보상하는 보정 센싱 값들을 산출하는 단계; 및
    상기 보정 센싱 값들을 기초로 입력 영상 데이터가 보정된 보정 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 표시 패널은 상기 복수의 화소들을 각각 구비하는 제1 내지 제m(단, m은 2 이상의 정수) 화소열들을 포함하고, 상기 제1 내지 제m 화소열들은 각각 상기 리드아웃 집적 회로들에 연결되는 제1 리드아웃 라인 내지 제m 리드아웃 라인들에 연결되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
  15. 제 14항에 있어서, 상기 가중치들을 산출하는 단계는,
    상기 화소들 각각의 상기 초기 센싱 값들을 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각을 통해 리드아웃하는 단계;
    상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 상응하는 상기 초기 센싱 값들의 평균인 제1 리드아웃 라인 평균 내지 제m 리드아웃 라인 평균들을 산출하는 단계;
    상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들에 기초하여 상기 초기 센싱 값들 전체의 평균인 전체 평균을 산출하는 단계; 및
    상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인 평균들 각각을 상기 전체 평균으로 나누어 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 상응하는 제1 가중치 내지 제m 가중치를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
  16. 제 14 항에 있어서, 상기 가중치들을 산출하는 단계는,
    상기 화소들 중 적어도 하나의 열화된 화소가 검출되는 경우, 상기 초기 상태에서 상기 열화된 화소에서 검출되는 초기 센싱 값을 추정한 추정 초기 센싱 값을 산출하는 단계;
    상기 초기 센싱 값들 및 상기 추정 초기 센싱 값에 기초하여 상기 제1 내지 제m 리드아웃 라인들 각각에 대한 제1 가중치 내지 제m 가중치들을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 추정 초기 센싱 값은 상기 열화된 화소에 인접하면서 비열화된 화소들에 대한 상기 초기 센싱 값들에 기초하여 추정되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
  18. 제 13 항에 있어서, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전류에 상응하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
  19. 제 13 항에 있어서, 상기 초기 센싱 값들은, 상기 초기 상태에서의 상기 화소들 각각의 구동 전압에 상응하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
  20. 제 13 항에 있어서, 상기 리드아웃 라인들의 개수는 상기 표시 패널에 포함되는 데이터 라인들의 개수와 동일한 것을 특징으로 하는 표시 장치의 열화 보상 방법.
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