TW202223864A - 不均勻補償裝置和方法以及用於不均勻補償的資料處理電路 - Google Patents

不均勻補償裝置和方法以及用於不均勻補償的資料處理電路 Download PDF

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Abstract

本發明提供不均勻補償裝置和方法以及用於不均勻補償的資料處理電路。根據實施例的資料處理電路可以包括接收電路,其被配置為接收包括與佈置在顯示面板中的像素相關聯的灰階值的圖像資料。資料處理電路可以包括補償電路,其被配置為藉由將各個區域的代表補償值與全域增益相乘來計算最終補償值,並且產生轉換後的圖像資料。資料處理電路可以包括儲存與顯示面板的各個區域的灰階值相關聯的代表補償值的記憶體,並且可以包括被配置為將轉換後的圖像資料傳輸到資料驅動電路的傳輸電路。

Description

不均勻補償裝置和方法以及用於不均勻補償的資料處理電路
本公開係有關於一種不均勻(Mura)補償裝置的不均勻補償方法和資料處理電路,並且係有關於檢測顯示面板中出現的不均勻並進行補償的不均勻補償裝置和資料處理電路。
諸如液晶顯示(LCD)面板、有機發光二極體(OLED)面板等的各種類型的面板可用於顯示裝置,並且面板可由顯示裝置的資料處理電路控制。
多個像素佈置在面板中,並且資料處理電路可以控制各個像素的發光元件(例如有機發光二極體(OLED)),或者可以控制開啟元件(例如液晶(LC)),以控制各個像素的亮度(brightness)。
顯示面板的驅動裝置可以根據基於灰階值改變要供應給各個像素的資料電壓的方法來控制面板中顯示的圖像的亮度,以控制各個像素的亮度。
儘管向各個像素提供相同的資料電壓,但是由於各種內部和外部因素(諸如製造顯示面板過程中的故障和瑕疵、設計缺點、面板操作時出現的物理特性變化等),在面板的像素之間可能會出現亮度差。
如果由於顯示面板中的一些像素的特性相對於相鄰像素的特性改變而出現的亮度差被定義為不均勻(Mura)缺陷,則可以檢測到出現不均勻缺陷的面板的像素或區域,並且可以進行補償。
為了檢測顯示面板的不均勻,基於相同的灰階來操作顯示面板的像素,拍攝其圖像,並且包括諸如斑點等的圖案或未以相同顏色顯示的圖像可以被檢測為不均勻。
期望一種如下的技術:在辨識整個面板中顯示的圖像的亮度、顏色等並且辨識是否出現不均勻缺陷之後進行補償,以均勻地保持螢幕的特性。
然而,對於為了對顯示面板中出現的不均勻進行補償而將整個面板的像素的特性儲存在記憶體中,或者對於為了確定不均勻的特性而經由複雜操作計算不均勻補償值,所需的記憶體容量可能過高,這是個弊端。
在該背景下,本公開的實施例的一方面是提供一種不均勻補償裝置和資料處理電路,其能夠藉由基於圖像資料針對各個區塊確定不均勻並且使用針對各個區塊的代表補償值來有效地使用記憶體。
本公開的實施例的另一方面是提供一種不均勻補償裝置和資料處理電路,其能夠藉由計算單個全域增益並計算最終補償值來有效地使用記憶體。
為此,第一實施例可以提供一種資料處理電路,包括:接收電路,其被配置為接收包括與佈置在顯示面板中的像素相關聯的灰階值的圖像資料;記憶體,其儲存與所述顯示面板的各個區塊的灰階值相關聯的代表補償值;補償電路,其被配置為藉由將各個區塊的所述代表補償值與全域增益相乘來計算最終補償值,並且產生轉換後的圖像資料;以及傳輸電路,其被配置為將所述轉換後的圖像資料傳輸到資料驅動電路。
第二實施例可以提供一種不均勻補償裝置,包括:接收電路,其被配置為獲得與顯示面板的單個區塊相關聯的多個灰階值相對應的多個亮度值;以及計算電路,其被配置為計算針對所述灰階值的補償值以解決由目標亮度值和所述亮度值之間的差引起的不均勻現象,並且藉由產生針對各個區塊的代表補償值來計算最終補償值。
第三實施例可以提供一種不均勻補償方法,包括:計算針對圖像資料中的不均勻區塊中的多個像素的亮度補償值;使用針對所述多個像素的所述亮度補償值來計算各個不均勻區塊的代表補償值;基於單個不均勻區塊來計算針對各個灰階的全域增益;以及藉由將針對各個不均勻區塊的所述代表補償值與所述全域增益相乘來產生最終不均勻補償值。
如上所述,根據本公開的實施例,提供了一種資料處理電路和資料處理電路的不均勻補償方法,其可以提高不均勻補償的精確度並且可以最小化用於不均勻補償的記憶體容量。
圖1是示出根據實施例的顯示裝置的配置的圖。
參考圖1,顯示裝置100可以包括顯示面板110、驅動顯示面板110的資料驅動電路120、像素感測電路130、閘極驅動電路140、資料處理電路150、主機160等。
在顯示面板110中,可以佈置多個資料線(DL)、閘極線(GL)和感測線(SL),並且可以佈置多個像素(P)。
根據情況,顯示面板110可以配置為從觸摸面板(未示出)可移除或與觸摸面板整合。諸如液晶顯示器(LCD)、有機發光二極體(OLED)等的各種類型的面板可以用作顯示面板110。
資料驅動裝置120可以經由資料線(DL)向像素(P)供應資料電壓。供應給資料線(DL)的資料電壓可以根據閘極驅動電路140的掃描信號被傳送到連接到資料線(DL)的像素(P)。根據情況,資料驅動電路120可以被定義為源極驅動器。
像素感測電路130可以經由感測線(SL)接收在各個像素(P)中形成的類比信號(例如,電壓、電流等),並且可以確定像素(P)的特性。此外,像素感測電路130可以感測各個像素(P)的特性隨時間的變化,並且可以將其傳輸到資料處理電路150。
閘極驅動電路140可以經由閘極線(GL)供應導通電壓或關斷電壓的掃描信號。如果向像素(P)供應導通電壓的掃描信號,則相應的像素(P)可以連接到資料線(DL)。如果向像素(P)供應關斷電壓的掃描信號,則相應的像素(P)和資料線(DL)斷開連接。根據情況,閘極驅動電路140可以被定義為閘極驅動器。
資料處理電路150可以向資料驅動電路120和閘極驅動電路140供應各種控制信號。資料處理電路150可以傳輸資料控制信號(DCS),或者可以向閘極驅動電路140傳輸閘極控制信號(GCS),其中資料控制信號(DCS)用於進行控制使得資料驅動電路120在各個時序正確地向各個像素(P)供應資料電壓。根據情況,資料處理電路150可以被定義為時序控制器(T-Con)。
資料處理電路150可以向資料驅動電路120輸出藉由將從外部輸入的圖像資料轉換為適合於資料驅動電路120中使用的資料信號格式而獲得的圖像資料(RGB)。
資料處理電路150可以以基於顯示面板110的劃分出的區域而定義的區塊為單位來轉換圖像資料(RGB)。此外,為了對與各個區塊的灰階值相關聯的輝度(luminance)或亮度的差進行補償,可以計算與灰階相關聯的補償值,並且可以產生轉換後的圖像資料(RGB')。
資料處理電路150可以儲存針對各個區塊的至少一個補償值,並且可以進行與區塊中的各個像素的灰階值相關聯的補償。由於儲存了針對各個區塊的至少一個補償值,因此可以最小化補償值的儲存容量。然而,根據情況,可以針對各個像素儲存補償值。
資料處理電路150可以基於由像素感測電路130確定的像素(P)的特性來進行與圖像資料(RGB)相關聯的補償,可以傳輸該補償,並且可以從像素感測電路130接收感測資料。
資料處理電路150可以藉由使用轉換後的圖像資料(RGB')來控制佈置在顯示面板150中的各個像素的亮度。
資料處理電路150可以處理數位形式的信號,以調整資料驅動電路120的類比形式的信號的輸出。資料處理電路150可以計算針對面板的各個區塊的亮度值或補償值,以解決不均勻現象。區塊可以是面板中按位置分類的區域。資料處理電路150可以藉由回應於灰階值的變化而計算針對各個區塊的亮度值或補償值來獲得最終補償值。
主機160可以產生圖像資料,並且可以將圖像資料傳輸到資料處理電路150。主機可以是中央處理單元(CPU),並且可以包括諸如微處理器等的各種類型的處理裝置。
圖2是示出根據實施例的不均勻補償處理的信號流向的圖。
參考圖2,在根據實施例的不均勻補償中,照相機裝置10可以拍攝顯示在顯示裝置100中的圖像,以及不均勻補償裝置20可以計算用於不均勻補償的補償值(DCp),並且可以將計算出的補償值傳輸到顯示裝置100,以補償顯示面板110的不均勻。根據情況,不均勻補償裝置20可以包括在顯示裝置100中。
資料處理電路150可以向資料驅動電路120傳輸具有恒定灰階值的圖像資料(RGB)。接收圖像資料(RGB)的資料驅動電路120可以將圖像資料(RGB)轉換為資料電壓(Vd),並且可以將資料電壓(Vd)供應給顯示面板110。例如,資料電壓(Vd)可以是伽瑪電壓。
顯示面板110可以提供針對各個灰階的測試圖像,以進行不均勻補償。可以向顯示面板110供應具有相同灰階值的信號,並且可以顯示參考圖像。面板檢查裝置(未示出)基於藉由拍攝參考圖像而獲得的圖片或圖像來確定顯示面板的品質或顯示面板是否正常操作。
照相機裝置10可以拍攝顯示面板的測試圖像,並且可以測量和儲存針對各個像素或針對各個區塊的亮度值。根據情況,亮度值可儲存在記憶體中(未示出)。
不均勻補償裝置20可以接收藉由拍攝顯示在顯示面板110中的測試圖像而獲得的檢測圖像,並且可以確定在顯示面板110中是否出現不均勻。此外,不均勻補償裝置20可以接收從照相機裝置10獲得的亮度值(DLx),可以計算針對各個區塊或針對各個像素的亮度值,並且可以計算用於消除不均勻現象的補償值。根據情況,可以針對預定灰階值重複進行上述處理。例如,除了所拍攝圖像的亮度差之外,還可以將不均勻特性定義為所拍攝圖像的顏色差。
不均勻補償裝置20可以基於諸如所檢測的圖像的亮度、光度(luminosity)、明亮(lightness)強度、顏色等的各種參考值,確定在顯示面板110中是否出現不均勻。
不均勻補償裝置20可以基於整個面板的圖像資料來確定是否出現不均勻。然而,所需記憶體的儲存容量迅速增加。因此,藉由將整個面板劃分為(4×4)區塊來針對各個區塊確定是否出現不均勻,並且可以減少所使用的記憶體的量。根據情況,各個區塊可以包括N×M像素(N和M是自然數)。
例如,區塊的總數可以由(水平大小)×(垂直大小)×(子像素的數量)/(4×4區塊大小)定義。
可以基於資料電壓(Vd)來對接收與灰階值相對應的資料電壓(Vd)的顯示面板110的各個像素的亮度(Lx)或顏色進行控制。例如,像素之間的亮度(Lx)差可被定義為不均勻。
灰階值可以從0至255範圍內的值中選擇。可以針對主要灰階值(例如,32、64、128、192和224)中的各個主要灰階值來計算針對各個像素或各個區塊的亮度值(DLx),並且相應的值可以儲存在不均勻補償裝置20中。
不均勻補償裝置20可以獲得與多個灰階值相對應的多個亮度值(DLx),並且可以計算與多個灰階值相對應的補償值(DCp),以去除由目標亮度值和亮度值(DLx)之間的差引起的不均勻現象。
例如,可以主要基於位於顯示面板中心的區塊的亮度值來確定目標亮度值。根據情況,為了減少與區塊的亮度值相關聯的計算量,可以定義區塊的代表亮度值,可以將特定像素的亮度值定義為目標亮度值,或者可以藉由計算多個像素的亮度值的平均值來確定目標亮度值。
不均勻補償裝置20可以將計算出的補償值(DCp)傳輸到外部裝置,使得將補償值(DCp)儲存在資料處理電路150的記憶體157中。
圖3是示出根據實施例的像素的結構的圖。
參考圖3,佈置在顯示面板110中的像素(P)可以包括有機發光二極體(OLED)、驅動電晶體(DRT)、開關電晶體(SWT)、感測電晶體(SENT)、儲存電容器(Cstg)等。
資料驅動電路120可以經由資料線(DL)向各個像素(P)傳送驅動電壓(Vd),並且像素感測電路130可以接收在各個像素(P)中形成的類比信號並確定像素(P)的特性。資料處理電路150可以分析像素感測資料,可以識別出各個像素(P)的特性,並且可以控制驅動信號。
根據由驅動電晶體(DRT)進行的控制,陽極電極連接到驅動電壓(EVDD)且陰極電極連接到基極電壓(EVSS),並且發光。驅動電晶體(DRT)可以控制供應給OLED的驅動電流,並且可以控制OLED的亮度。
根據實施例,驅動電晶體(DRT)控制驅動電流以改變OLED的亮度,從而補償不均勻特性。
感測電晶體(SENT)可以連接驅動電晶體(DRT)的第一節點(N1)和感測線(SL),以及感測線(SL)可以將參考電壓(Vref)傳送到第一節點(N1),並且可以將在第一節點(N1)中形成的類比信號(例如,電壓或電流)傳送到像素感測電路130。
像素感測電路130可以使用經由感測線(SL)傳送的類比信號(Vsense或Isense)來測量像素(P)的特性。像素感測電路130可以測量從第一節點(N1)傳送或傳送到第一節點(N1)的電流,並且可以將像素感測資料(其是與測量值相關聯的數位信號)傳輸到資料處理電路150。
各個像素(P)中包括的OLED和電晶體的特性可能隨時間或取決於周圍環境而變化。可能由於製造誤差、像素(P)的特性變化、外部因素等而出現顯示面板110的亮度差和顏色差,並且該現象可以被定義為不均勻。當在各自像素中沒有同等地保持電和光學的特性時,可能出現不均勻,並且可以基於不均勻特性來不同地設置用以確定不均勻的標準。
本公開的技術思想不限於OLED顯示面板的不均勻現象的解析度,而是可以應用於各種類型的顯示面板。
圖4是示出根據實施例的不均勻補償裝置的配置的圖。
參考圖4,不均勻補償裝置20可以包括接收電路21、計算電路23、傳輸電路25等。
接收電路21可以獲得與針對顯示面板110的各個區塊的多個灰階值相對應的多個亮度值。接收電路21可以經由與照相機裝置10的通信來接收亮度值。
接收電路21可以獲得區塊中的像素的亮度值,以計算針對各個區塊而定義的代表補償值。
計算電路23可以計算針對灰階值的補償值(DCp),以解決由目標亮度值和測量亮度值之間的差引起的不均勻現象。
計算電路23可以計算針對灰階值的補償值,以解決由目標亮度值和亮度值之間的差引起的不均勻現象,並且可以產生針對各個區塊的代表補償值。這裡,區塊可以具有與灰階值相對應的代表補償值或與不同灰階值的相對應的多個代表補償值。本公開的技術思想是使用代表補償值而不使用針對所有灰階值的補償值以降低記憶體容量需求,並且不限於上述示例。
計算電路23可以選擇顯示面板的多個區塊中的一個,並且可以基於與多個灰階值相對應的多個亮度值來產生全域增益。
計算電路23可以藉由將針對各個區塊的代表補償值與全域增益相乘來獲得最終補償值。根據情況,可以由資料處理裝置150進行操作處理。
計算電路23可以基於與多個灰階值相對應的多個亮度值產生插值函數。插值函數可以是二次函數或高階函數。然而,計算複雜並且記憶體使用增加,因此,插值函數可以被配置為線性函數。使用插值函數允許減少實際獲得的針對各個灰階的補償值的數量。此外,可以根據需要來獲得針對各種灰階的補償值的範圍(spectrum)。
計算電路23可以計算用於將測量了亮度值的灰階值轉換為用於補償的灰階值的補償值。例如,資料處理電路可以藉由將灰階值應用於線性函數來產生用於補償的灰階值,並且可以計算應用於線性函數的增益值和偏移值作為補償值。
補償值(DCp)可以最終插入資料處理電路150的記憶體157中以驅動顯示面板。為此,傳輸電路25可以將這些補償值傳輸到用於將補償值儲存在資料處理電路150的記憶體157中的裝置。
根據情況,不均勻補償裝置20可以佈置在顯示裝置100內部,或者不均勻補償裝置20可以與顯示裝置100分開佈置並且可以與照相機裝置10一起被配置為單獨的裝置。
圖5是示出根據實施例的資料處理電路的配置的圖。
參考圖5,資料處理電路150可以包括接收電路151、補償電路153、傳輸電路155、記憶體157等。
接收電路151可以接收圖像資料。接收電路151可以經由與主機160等的通信來接收圖像資料。
補償電路153可以轉換圖像資料。補償電路153可以轉換圖像資料以補償像素的惡化,並且可以轉換圖像資料以向圖像添加預定效果。補償電路153可以以像素為單位或以區塊為單位來轉換圖像資料,以補償面板中出現的不均勻。
如果包括在圖像資料中的灰階值對應於預定灰階值,則補償電路153可以基於補償值來轉換相應的灰階值。對於與預定灰階值不同的其他灰階值,補償電路153可以根據插值方案計算補償值,並且可以基於計算出的補償值來轉換相應的灰階值。
補償電路153可以識別出與包括在圖像資料中的灰階值相對應的像素的位置,可以基於相應的位置來選擇區塊,可以從記憶體157辨識相應區塊的補償值,並且可以進行與灰階值相關聯的補償。
當產生轉換後的圖像資料時,補償電路153可以使用基於與針對一個區塊的多個灰階值相對應的多個補償值而定義的全域增益。此外,補償電路153可以基於藉由將全域增益與區塊的代表補償值相乘而獲得的最終補償值來轉換圖像資料。
當計算最終補償值時,補償電路153可以重複使用一個全域增益,並且當將在一個區塊中獲得的一個全域增益應用於計算時,記憶體157的儲存容量可以減小。在確定為各區塊的不均勻的特性類似的情況下,補償電路153可以重複地將相同的全域增益用於計算。
可以基於校準後的灰階值來獲得轉換後的圖像資料,並且傳輸電路155可以將轉換後的圖像資料傳輸到資料驅動電路。
用於轉換圖像資料的補償值可以儲存在記憶體157中。用於針對各個區塊的不均勻補償的補償值可以儲存在記憶體157中。記憶體157可以儲存針對被稱為“平面”的預定灰階值的補償值、或針對多個灰階值的補償值集合。
圖6是示出根據實施例的資料處理電路的不均勻補償方法200的流程圖。
資料處理電路或不均勻補償裝置的不均勻補償方法200可以包括計算針對各個區塊的不均勻補償值的操作S201、計算針對各個區塊的代表不均勻補償值的操作S203、計算全域增益的操作S205、以及計算最終不均勻補償值的操作S207。
在計算針對各個區塊的不均勻補償值的操作S201中,將針對各個灰階的測試圖像提供給顯示面板以用於不均勻補償,並且可以基於藉由拍攝測試圖像而獲得的圖像資料的亮度或顏色來辨識不均勻的形狀和大小。
此外,在計算針對各個區塊的不均勻補償值的操作S201中,可以藉由針對包括多個像素的各個不均勻區塊確定圖像資料的諸如輝度、亮度、顏色等各種不均勻因素來確定是否出現不均勻。
這裡,不均勻區塊可被定義為藉由劃分顯示面板而獲得的具有相同大小的區域。根據需要,區塊的大小可以一致地增加例如N倍(N是自然數)。
在計算針對各個區塊的代表不均勻補償值的操作S203中,可以針對各個區塊定義要計算其不均勻補償值的區域或像素。可以基於所選擇的像素或區域的資料來確定針對各個不均勻區塊的代表補償值。
在正常操作的顯示面板中,如果供應同一灰階的信號,則獲得具有相同特性(諸如同一亮度、顏色等)的圖像資料是正常的。
如果出現不均勻,則各個像素或區域的特性改變,因此,可以計算針對出現不均勻的像素或區塊的不均勻補償值,並且可以進行補償,使得校準出現不均勻的像素或區域的資料以具有同一特性。根據情況,可以進行不均勻補償以使面板能夠處於正常顯示範圍內。
作為與像素相關聯的補償的參考值,可以使用平均像素亮度值或位於面板中心的像素的亮度值。可以計算不均勻補償值的量級以應對比參考值大或小的亮度值的量級。
如果計算針對顯示面板的每個像素的補償值,則記憶體的容量可能不足,因此,針對各個區塊確定是否出現不均勻,並且可以針對各個區塊產生不均勻的補償值。
此外,在各自區塊中的不均勻現象具有類似特性的情況下,不計算所有區塊的補償值,而是計算並使用一個區塊中的補償值,使得可以提高計算速度並且可以減少記憶體使用量。
在計算全域增益的操作S205中,可以計算作為用於與不均勻區塊相關聯的補償的參考的全域增益,以基於顯示面板的補償參考值來校準不均勻區塊的代表補償值。例如,面板的補償參考值被定義為平均像素亮度值,但這不限於此。
根據實施例,可以將同一全域增益應用於所有區塊,並且可以藉由將同一全域增益應用於各個不均勻區塊的相應代表補償值來獲得最終補償值。
根據實施例,如果使用全域增益,則使用基於單個區塊所計算的單個查閱資料表(LUT),並且可以減少所進行的計算量,這是有利的。
這裡,全域增益可以是與亮度值相對應的補償值的比率或差。
在計算最終不均勻補償值的操作S207中,可以藉由將在操作S203中計算的代表補償值與在操作S205中計算的全域增益相乘來獲得最終補償值,並且可以去除不均勻區塊的不均勻。
圖7是示出隨著一個不均勻區塊中的灰階變化的面板變化的圖。
為了計算不均勻,可以計算針對顯示面板的整個區域的補償值。然而,為了減少所進行的操作的數量和所使用的記憶體容量,可以針對各個劃分出的區塊來計算補償值。
在這種情況下,如果經由相同區塊傳遞的灰階值不同,則可以產生不同的亮度值或不同的補償值。
例如,當區塊1中的各個像素(A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1、H1、I1、J1、K1、L1、M1、N1、O1和P1)的灰階值在相應情況下分別為32、64和128時,可以計算顯示面板在這些情況之間的亮度差。
圖8是示出根據實施例的計算不均勻區塊的代表值的方法的第一示例的圖。
參考圖8,根據實施例,可以藉由計算多個像素的補償值的平均值來計算不均勻區塊的代表值。
例如,整個面板可以劃分為區塊,其中各個區塊具有4×4區塊大小並且包括16個像素。根據情況,各個區塊可以包括N×M個像素(N和M是自然數)。區塊大小與記憶體容量成反比。因此,如果區塊大小增大,則所使用的記憶體的容量減小。根據情況,可以調整用作參考的區塊大小。
為了計算區塊的代表值,選擇整個面板410-1中的區塊的一些像素401-1,並且可以計算區塊的代表補償值。根據情況,可以藉由計算所選擇的一些像素401-1的不均勻補償值的平均值來計算區塊的代表補償值。在這種情況下,當針對各個區塊計算區塊的代表補償值時,可以使用基於相同灰階值的補償值,但是也可以使用基於不同灰階值的補償值。
例如,對於區塊1,可以基於灰階值32處的補償值來計算區塊的代表值。對於區塊2,可以基於灰階值64的補償值來計算區塊的代表值。
圖9是示出根據實施例的計算不均勻區塊的代表值的方法的第二示例的圖。
參考圖9,根據實施例,可以基於針對佈置在預定位置的像素401-2的補償值來計算不均勻區塊的代表值。
在這種情況下,可以不計算針對未選擇的像素402-2的補償值,因此,可以減少處理器的操作的數量和所使用的記憶體的量。
例如,可以在區塊1中選擇位於J1中的像素,並且可以在區塊2中選擇位於J2中的像素。然而,根據情況,可以不同地定義所選擇的位置。
確定為針對各個區塊,區塊的代表補償值是一個。在這種情況下,所使用的變數的數量減少,因此,所需的記憶體容量可以減少。根據情況,可以藉由將針對各個區塊的補償值定義為單個矩陣來簡單地進行計算。
代表不均勻補償值可以具有-128至127範圍內的8位元的量級。根據情況,補償值可以具有-512至511的範圍內的10位元的量級,並且可以具有-2048至2047的範圍內的12位元的量級。可以基於所需精確度來調整所需記憶體的量級。
圖10是示出傳統不均勻補償方法的圖。
參考圖10,曲線圖500示出針對各個灰階值的不均勻補償值的分佈。
在針對各個灰階的補償值的情況下,如果灰階值設置在0至255的範圍內,則可以藉由在區塊1中進行總共256個操作來計算區塊1的補償值的變化。
如果針對所有灰階計算補償值,則進行的操作的數量可能會迅速增加。根據諸如韓國專利申請KR 10-2020-0079920 A的公佈的傳統不均勻補償方法,可以藉由基於5個測量值進行標繪來計算不均勻補償值。根據傳統方法,用於各個區塊的二次函數的各個係數被儲存在記憶體中,因此,記憶體使用可以與二次函數中的係數數量成比例地增加。
也就是說,如果二次函數用於不均勻補償,則可能需要(水平大小)×(垂直大小)×(子像素的數量)/(4×4區塊大小)×(24位元)的記憶體大小,以儲存二次項的係數a、線性項的係數b和常數項的係數c。
此外,如果根據傳統的不均勻補償方法使用二次函數來計算不均勻補償值,則不均勻補償值計算精確度可能針對各個區塊而不同。例如,在特性不同於相鄰區塊的特性的區塊4的情況下,區塊4的不均勻補償值的分佈可能不同於區塊1至區塊3的補償值的分佈。計算誤差可以用作降低不均勻補償的精確度的因素。當顯示面板的不均勻更糟糕時,使用二次函數的對不均勻補償值的計算的精確度可能降低。
圖11是示出根據實施例的不均勻補償方法的圖。
參考圖11,曲線圖600示出針對各個灰階值的不均勻補償值的分佈。
根據傳統方法,藉由配置三至五個查閱資料表(LUT)來進行不均勻補償。然而,根據實施例的資料處理電路150可以產生單個查閱資料表(LUT)以進行不均勻補償。
根據實施例的資料處理電路150可以提供一種不均勻補償值計算方法,該不均勻補償值計算方法藉由使用全域增益作為全域變數來提高不均勻補償的精確度並減少所使用的記憶體的量。
這裡,全域增益可以是儲存在一個查閱資料表中的一組補償值或補償比率。
不均勻補償裝置20可以選擇單個區塊並計算針對區塊的各個灰階的補償值,以產生全域增益。例如,可以藉由選擇區塊1來計算全域增益。然而,可以基於其他區塊獲得全域增益
如果經由對所有灰階的不均勻特性的識別而辨識為不均勻特性是類似的並且各個區塊中的不均勻強度是不同的,則可以使用全域增益,並且可以減少所使用的記憶體的量。
如果區塊具有類似的特性,則基於單個區塊獲得的查閱資料表(LUT)可以同等地應用於針對各個區塊的不均勻補償值計算。
在與用於獲得查閱資料表(LUT)的區塊不同的區塊中,計算針對各個灰階值的單個不均勻補償值。可以基於不均勻補償值來應用全域增益,並且可以計算所有灰階值所需的不均勻補償值。
例如,單個查閱資料表(LUT)可以藉由以下方式配置:計算在區塊1的灰階值32處的不均勻補償值D21,計算在區塊1的灰階值64處的不均勻補償值D22,計算在區塊1的灰階值128處的不均勻補償值D23,計算在區塊1的灰階值192處的不均勻補償值D24,以及計算在區塊1的灰階值224處的不均勻補償值D25。根據情況,灰階值224處的不均勻補償值D25可以被定義為區塊1的代表補償值,但這不限於此。
隨後,如果在區塊2至區塊4中重複相同的操作,則所進行的操作的數量可以與區塊的數量成比例增加。然而,如果使用根據實施例的全域增益,則僅使用單個查閱資料表(LUT),則可以減少由資料處理裝置進行的操作的數量和所使用的記憶體的量。
為了應用全域增益,可以針對各個區塊計算不均勻補償值的比率。例如,如果區塊1中灰階值32處的不均勻補償值為10,並且區塊2中灰階值32處的不均勻補償值為5,則不均勻補償值的比率被定義為0.5。
此外,與計算所有灰階值處的不均勻補償值不同,根據實施例的資料處理裝置的不均勻補償方法可以計算一些代表灰階值處的不均勻補償值,並且可以在對其進行插值,以減少所進行的操作的數量和所使用的記憶體的量。例如,在補償值隨著灰階值的變化而變化的情況下,可以藉由線性插值來減少所使用變數的數量。
根據另一實施例,可以藉由根據上述二次函數標繪方法、基於單個區塊獲得全域增益,來配置查閱資料表(LUT)。在這種情況下,二次函數標繪方法不應用於其他區塊,並且應用所獲得的全域增益,且可以減少所使用的變數的數量。
考慮到灰階值的間隔和補償值的間隔,插值部分的誤差是無關緊要的,因此,所獲得的不均勻補償值可以在無需額外資料處理的情況下是可用的。
如果使用根據實施例的全域增益,則可以減少與具有類似不均勻特性的區塊(諸如區塊4的情況)相關聯的基於區塊的操作的誤差。可以藉由使用全域增益來防止圖8的上述標繪誤差。
如果使用根據實施例的基於單個查閱資料表(LUT)的全域增益,則需要單個平面,因此,可能需要(水平大小)×(垂直大小)×(子像素的數量)/(4×4區塊大小)×(8位元)的記憶體大小。
根據情況,各個區塊包括N×M個像素(N和M是自然數),並且基於補償值的精確度,所需的記憶體大小可以是8位元至12位元。不均勻區塊可以被定義為具有藉由劃分顯示面板而獲得的相同大小的至少兩個區域,但不限於此。
與需要多個平面的傳統記憶體大小相比,所需的記憶體大小可以與平面的數量的減少成比例地減少。
不均勻補償裝置可以針對各個子像素不同地定義全域增益,並且可以定義針對子像素R的全域增益,可以定義針對子像素GL的全域增益,可以定義針對子像素GR的全域增益,並且可以定義針對子像素B的全域增益。
計算補償值所需的灰階值可以被定義為“平面”。在這種情況下,可以基於(平面的數量)×(子像素的數量)來獲得全域增益的暫存器的數量。
例如,在5個平面和4個子像素的情況下,全域增益的暫存器的數量可以總共為5×4=20個。
最終不均勻補償值可以藉由將不均勻補償裝置20中計算的針對各個區塊的代表補償值與全域增益相乘來獲得。
不均勻補償裝置20可以獲得相同的灰階值處的針對各個區塊的代表補償值,並且可以獲得不同的灰階值處的針對各個區塊的代表補償值。可以將根據上述代表補償值計算方法獲得的單個值儲存在記憶體157中。
根據情況,不均勻補償裝置20可以進行比較在不同灰階值處所獲得的不均勻補償值的操作。
根據實施例的不均勻補償裝置可以僅儲存針對各個區塊的單個代表補償值,並且可以減少所使用的記憶體157的量。此外,不均勻補償裝置可以產生單個查閱資料表(LUT)作為單個全域增益,並且可以減少所使用的記憶體157的量。這裡,一個查閱資料表意為一個平面,並且可以在物理上或邏輯上被劃分為多個部分。
上述電路可以包括在不均勻補償裝置20中,或者可以單獨地包括在顯示裝置100或資料處理電路150中。
圖12是示出根據實施例的基於全域增益的記憶體中的變化的圖。
參考圖12,存在根據傳統的不均勻補償方法的記憶體使用容量700A和根據基於實施例的不均勻補償方法的記憶體使用容量700B之間的比較。
根據韓國專利申請10-2020-0079920 A的公佈中公開的傳統不均勻補償方法,需要儲存二次函數的所有係數。例如,如果二次函數被用於不均勻補償,則記憶體容量可能針對各個參數消耗8位元的記憶體,以儲存二次項的係數a、線性項的係數b和常數項的係數c,並且整個記憶體700A可能消耗24位元。
與上述不同,根據實施例的使用單個查閱資料表(LUT)進行操作所需的記憶體容量可以是8位元,其為傳統方法所需記憶體容量的1/3。因此,記憶體被更有效地使用。例如,可以消耗8位元的記憶體容量以儲存基於單個區塊所計算出的全域增益,並且另一區塊需要與單個灰階值相對應的單個亮度值,因此,可以不需要額外的記憶體容量。
本說明書中使用的術語“補償值”和“亮度補償值”可以根據面板的測量方法而被不同地定義,並且可以意為用於不均勻補償的補償值。
說明書中使用的術語“區塊”可以被定義為至少一個像素的組,並且其形狀或大小不受限制。根據需要,可以將區塊定義為區域或像素組。
說明書中使用的術語“查閱資料表”可以是資料組,並且可以以各種方式定義。例如,可以根據資料組的查閱資料表的大小來確定查閱資料表的數量。一個查閱資料表可以意為一個平面,並且可以在物理上和邏輯上被劃分為多個部分。
相關申請的交叉引用
本申請要求於2020年12月2日提交的韓國專利申請10-2020-0166598的優先權,其藉由交叉引用的方式併入本文以用於所有目的,如同在本文中充分地闡述一樣。
10:照相機裝置 20:不均勻補償裝置 21:接收電路 23:計算電路 25:傳輸電路 100:顯示裝置 110:顯示面板 120:資料驅動電路 130:像素感測電路 140:閘極驅動電路 150:資料處理電路 151:接收電路 153:補償電路 155:傳輸電路 157:記憶體 160:主機 200:不均勻補償方法 401-1:像素 401-2:像素 402-2:像素 410-1:面板 410-2:面板 500:曲線圖 600:曲線圖 700A:記憶體使用容量,記憶體 700B:記憶體使用容量 A1:像素 A2:像素 A3:像素 B1:像素 B2:像素 B3:像素 C1:像素 C2:像素 C3:像素 Cstg:儲存電容器 D1:像素 D2:像素 D3:像素 D21:不均勻補償值 D22:不均勻補償值 D23:不均勻補償值 D24:不均勻補償值 D25:不均勻補償值 DCp:補償值 DCS:資料控制信號 DL:資料線 DLx:亮度值 DRT:驅動電晶體 E1:像素 E2:像素 E3:像素 EVDD:驅動電壓 EVSS:基極電壓 F1:像素 F2:像素 F3:像素 G1:像素 G2:像素 G3:像素 GCS:閘極控制信號 GL:閘極線 GL1:閘極線 GL2:閘極線 H1:像素 H2:像素 H3:像素 I1:像素 I2:像素 I3:像素 Isense:類比信號 J1:像素 J2:像素 J3:像素 K1:像素 K2:像素 K3:像素 L1:像素 L2:像素 L3:像素 Lx:亮度 M1:像素 M2:像素 M3:像素 N1:第一節點(圖3),像素(圖7~9) N2:第二節點(圖3),像素(圖8~9) N3:第三節點(圖3),像素(圖8~9) O1:像素 O2:像素 O3:像素 OLED:有機發光二極體 P:像素 P1:像素 P2:像素 P3:像素 RGB:圖像資料 S201:操作 S203:操作 S205:操作 S207:操作 SENT:感測電晶體 SL:感測線 SWT:開關電晶體 Vd:資料電壓 Vsense:類比信號
圖1是示出根據實施例的顯示裝置的配置的圖;
圖2是示出根據實施例的不均勻補償處理的信號流向的圖;
圖3是示出根據實施例的像素的結構的圖;
圖4是示出根據實施例的不均勻補償裝置的配置的圖;
圖5是示出根據實施例的資料處理電路的配置的圖;
圖6是示出根據實施例的資料處理電路的不均勻補償方法的流程圖;
圖7是示出隨著一個不均勻區塊中的灰階變化的面板變化的圖;
圖8是示出根據實施例的計算不均勻區塊的代表值的方法的第一示例的圖;
圖9是示出根據實施例的計算不均勻區塊的代表值的方法的第二示例的圖;
圖10是示出傳統不均勻補償方法的圖;
圖11是示出根據實施例的不均勻補償方法的圖;以及
圖12是示出根據實施例的基於全域增益的記憶體中的變化的圖。
600:曲線圖
D21:不均勻補償值
D22:不均勻補償值
D23:不均勻補償值
D24:不均勻補償值
D25:不均勻補償值

Claims (20)

  1. 一種資料處理電路,包括: 接收電路,其被配置為接收包括灰階值的圖像資料,所述灰階值與佈置在顯示面板中的像素相關聯; 記憶體,其儲存與所述顯示面板的各個區域的灰階值相關聯的代表補償值; 補償電路,其被配置為藉由將各個區域的所述代表補償值與全域增益相乘來計算最終補償值,並且產生轉換後的圖像資料;以及 傳輸電路,其被配置為將所述轉換後的圖像資料傳輸到資料驅動電路。
  2. 根據請求項1所述的資料處理電路,其中,所述代表補償值是針對所述顯示面板的區域中的特定像素的補償值、或針對多個像素的補償值的平均值。
  3. 根據請求項1所述的資料處理電路,其中,基於與所述顯示面板的一個區域相關聯的多個灰階值相對應的多個補償值,來定義所述全域增益。
  4. 根據請求項2所述的資料處理電路,其中,所述全域增益經由單個查閱資料表來獲得,並且所述全域增益包括藉由對針對預定灰階值的補償值進行線性插值而獲得的補償值。
  5. 根據請求項1所述的資料處理電路,其中,所述記憶體儲存所述全域增益和所述補償電路所計算出的最終補償值。
  6. 根據請求項1所述的資料處理電路,其中,所述補償電路基於各個像素的位置選擇區域,針對各個區域確定是否出現不均勻,並且產生轉換後的圖像資料。
  7. 根據請求項1所述的資料處理電路,其中,所述補償電路將相同的全域增益重複地用於針對各區域的所述最終補償值。
  8. 根據請求項1所述的資料處理電路,其中,基於各個區域中的像素的亮度值和目標亮度值之間的差來計算針對該區域的灰階值的所述代表補償值。
  9. 一種不均勻補償裝置,包括: 接收電路,其被配置為獲得與顯示面板的單個區域相關聯的多個灰階值相對應的多個亮度值;以及 計算電路,其被配置為計算針對所述灰階值的補償值以解決由所述亮度值和目標亮度值之間的差引起的不均勻現象,並且藉由產生針對各個區域的代表補償值來計算最終補償值。
  10. 根據請求項9所述的不均勻補償裝置,其中,為了計算針對各個區域所定義的代表補償值,所述接收電路獲得區域中的一個或多個像素的亮度值。
  11. 根據請求項9所述的不均勻補償裝置,其中,所述計算電路基於與單個區域相關聯的多個灰階值相對應的多個亮度值來產生全域增益。
  12. 根據請求項11所述的不均勻補償裝置,其中,所述計算電路藉由將針對各個區域的代表值與所述全域增益相乘來計算最終補償值。
  13. 根據請求項11所述的不均勻補償裝置,其中,所述計算電路基於與多個灰階值相對應的多個亮度值來產生插值函數。
  14. 根據請求項13所述的不均勻補償裝置,其中,所述插值函數包括線性函數,並且所述計算電路使用所述插值函數來獲得所述全域增益。
  15. 根據請求項9所述的不均勻補償裝置,其中,所述計算電路將與所述亮度值相對應的所述補償值的比率儲存在一個查閱資料表中,並且使用所述查閱資料表以獲得所述最終補償值。
  16. 一種不均勻補償方法,包括: 計算針對圖像資料中的不均勻區域中的多個像素的亮度補償值; 使用針對所述多個像素的所述亮度補償值來計算各個不均勻區域的代表補償值; 基於單個不均勻區域來計算針對預定灰階的全域增益;以及 藉由將針對各個不均勻區域的所述代表補償值與所述全域增益相乘來獲得最終不均勻補償值。
  17. 根據請求項16所述的不均勻補償方法,其中,藉由在顯示面板中顯示具有同一灰階的參考圖像並且拍攝所述參考圖像來獲得所述圖像資料。
  18. 根據請求項16所述的不均勻補償方法,其中,各個不均勻區域的所述代表補償值是藉由使用在記憶體中針對各個區域所儲存的亮度資料而獲得的。
  19. 根據請求項16所述的不均勻補償方法,其中,經由單個查閱資料表來獲得針對不均勻區域的預定灰階值的所述全域增益。
  20. 根據請求項16所述的不均勻補償方法,其中,不均勻區域是藉由劃分顯示面板而獲得的具有相同大小的至少兩個區域,並且所述亮度補償值是針對不均勻區域中的各個灰階值的亮度補償值。
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