JP2008522213A - ガラス基板のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置及び方法 - Google Patents
ガラス基板のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008522213A JP2008522213A JP2007542932A JP2007542932A JP2008522213A JP 2008522213 A JP2008522213 A JP 2008522213A JP 2007542932 A JP2007542932 A JP 2007542932A JP 2007542932 A JP2007542932 A JP 2007542932A JP 2008522213 A JP2008522213 A JP 2008522213A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- glass substrate
- discolor
- edge
- edge defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A47—FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
- A47J—KITCHEN EQUIPMENT; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; APPARATUS FOR MAKING BEVERAGES
- A47J31/00—Apparatus for making beverages
- A47J31/44—Parts or details or accessories of beverage-making apparatus
- A47J31/54—Water boiling vessels in beverage making machines
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A47—FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
- A47J—KITCHEN EQUIPMENT; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; APPARATUS FOR MAKING BEVERAGES
- A47J31/00—Apparatus for making beverages
- A47J31/44—Parts or details or accessories of beverage-making apparatus
- A47J31/4403—Constructional details
- A47J31/441—Warming devices or supports for beverage containers
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A47—FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
- A47J—KITCHEN EQUIPMENT; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; APPARATUS FOR MAKING BEVERAGES
- A47J31/00—Apparatus for making beverages
- A47J31/44—Parts or details or accessories of beverage-making apparatus
- A47J31/46—Dispensing spouts, pumps, drain valves or like liquid transporting devices
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A47—FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
- A47J—KITCHEN EQUIPMENT; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; APPARATUS FOR MAKING BEVERAGES
- A47J36/00—Parts, details or accessories of cooking-vessels
- A47J36/14—Pouring-spouts, e.g. as parts separate from vessel
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A47—FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
- A47J—KITCHEN EQUIPMENT; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; APPARATUS FOR MAKING BEVERAGES
- A47J36/00—Parts, details or accessories of cooking-vessels
- A47J36/38—Parts, details or accessories of cooking-vessels for withdrawing or condensing cooking vapors from cooking utensils
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/133302—Rigid substrates, e.g. inorganic substrates
Abstract
Description
11 プレート
12 移送部材
12a、12b、12c、12d 回転アーム
20 検査ユニット
21 検査窓
22 カメラ
22a、22b 中央カメラ及び側部カメラ
24、24a、24b 感知センサ
25 照明器
26 検査フレーム
30 制御ユニット
40 ガラス基板
Claims (24)
- 薄膜トランジスタ液晶表示装置製造のためのガラス基板を運ぶローディングユニットと、
前記ローディングユニットにより供給された前記ガラス基板のエッジ及びディスカラーを検査する検査ユニットと、
前記ローディングユニット及び前記検査ユニットを制御する制御ユニットと、
を備えたことを特徴とするエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。 - 前記ガラス基板に対する前記エッジ検査と前記ディスカラー検査は同時に行われることを特徴とする請求項1に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記ガラス基板に対する前記エッジ検査と前記ディスカラー検査は、選択的にいずれか一つの検査を行うことを特徴とする請求項1に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記ローディングユニットは、
前記ガラス基板を収容するプレートと、
前記プレートが回動できるように前記プレートの一側に結合した移送部材と、
を備えたことを特徴とする請求項1に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。 - 前記検査ユニットは、
前記ガラス基板が通過できるように検査窓が形成された検査フレームと、
前記ガラス基板進行方向の検査フレーム両面に設けられて前記検査窓を通過する前記ガラス基板の存在有無を感知する感知センサと、
前記検査窓上部に設けられて前記ガラス基板のエッジを検査する複数のカメラと、
前記検査窓下部に設けられて前記検査窓を通過する前記ガラス基板に光を照射する照明器と、
を備えたことを特徴とする請求項1に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。 - 前記検査フレーム上部には、前記照明器から照射された光を集光して前記制御ユニットに伝送する複数の集光レンズが設けられていることを特徴とする請求項5に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記制御ユニットには、前記集光レンズにより集光された光を分析する分光器が備えられたことを特徴とする請求項1または請求項5に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記分光器の観測波長は、180〜1100ナノメートルであり、解像度は0.1〜10ナノメートルであることを特徴とする請求項6に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記複数のカメラは、
前記検査窓を最初及び最後に通過するガラス基板の両端部エッジ欠陥を検査するために前記ガラス基板と垂直に設けられた複数の中央カメラと、
前記中央カメラを対称軸にして両側に、前記ガラス基板の両端部を連結する両側端部のエッジ欠陥を検査するための少なくとも一対の側部カメラと、
を備えたことを特徴とする請求項5に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。 - 前記側部カメラは、前記中央カメラと平行であることを特徴とする請求項9に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記側部カメラは、前記中央カメラに対して所定の角度で傾いていることを特徴とする請求項9に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記側部カメラは、ラインスキャンCCDカメラであることを特徴とする請求項9に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記制御ユニットは、前記カメラにより撮れた映像を視覚化するモニタを備えたことを特徴とする請求項1に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- 前記ローディングユニット及び検査ユニットは、薄膜トランジスタ液晶表示装置の製造のためのプラズマを用いる工程設備のそれぞれの出入側ゲートバルブ前方及び排出側ゲートバルブ後方のうちの少なくとも1ヶ所に設けられたことを特徴とする請求項1に記載のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置。
- カメラで検査窓を通過したガラス基板を撮影する段階と、
前記撮影された映像をデジタルコードに変換する段階と、
前記デジタルコードを正常データと数学的に比較演算する段階と、
前記数学的比較演算値が使用者の指定許容範囲を逸脱した場合に警告する段階と、
を含むことを特徴とするエッジ欠陥検査方法。 - 前記正常データは、エッジ欠陥のないガラス基板がエッジ検査装置を通過して前記カメラにより撮影された映像のデジタルコード変換値であることを特徴とする請求項15に記載のエッジ欠陥検査方法。
- 前記カメラにより撮影された映像は、
検査窓を最初及び最後に通過するガラス基板の両端部エッジ部分と、
前記ガラス基板の両端部を連結する両側端部のエッジ部分と
を含むことを特徴とする請求項15に記載のエッジ欠陥の検査方法。 - 前記ガラス基板の両端部を連結する両側端部のエッジ部分は、ラインスキャン方式により撮影されることを特徴とする請求項17に記載のエッジ欠陥の検査方法。
- 前記撮影段階は、撮影された映像をモニタによってディスプレイする段階をさらに含むことを特徴とする請求項15に記載のエッジ欠陥の検査方法。
- 集光レンズによりガラス基板に照射された光を集光する段階と、
前記集光された光の波長を分析する段階と、
前記分析された波長と正常水準の波長を比較する段階と、
前記比較された波長が使用者の指定許容範囲を逸脱した場合に警告する段階と、
を含むことを特徴とするディスカラー検査方法。 - 前記正常水準の波長は、薄膜厚さ測定装置により異物及び薄膜厚さに異常がないガラス基板をディスカラー検査装置に通過させて受光された波長であることを特徴とする請求項20に記載のディスカラー検査方法。
- 前記集光された光の波長分析は、分光器により行われることを特徴とする請求項20に記載のディスカラー検査方法。
- 前記分光器により分析される波長は、明暗度レベルで示されることを特徴とする請求項22に記載のディスカラー検査方法。
- 集光レンズでガラス基板に照射された光を集光する段階と、
前記集光された光の波長を分析する段階と、
前記波長と以前集光して分析された波長を比較する段階と、
前記比較された波長が使用者の指定許容範囲を逸脱した場合に警告する段階と、
を含むことを特徴とするディスカラー検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050017428A KR100642500B1 (ko) | 2005-03-02 | 2005-03-02 | 유리기판의 에지 결함 및 디스컬러 검사장치 |
PCT/KR2006/000678 WO2006093381A1 (en) | 2005-03-02 | 2006-02-27 | Apparatus and method for inspecting edge defect and discoloration of glass substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008522213A true JP2008522213A (ja) | 2008-06-26 |
JP4642858B2 JP4642858B2 (ja) | 2011-03-02 |
Family
ID=36941397
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007542932A Expired - Fee Related JP4642858B2 (ja) | 2005-03-02 | 2006-02-27 | ガラス基板のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置及び方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1807730A1 (ja) |
JP (1) | JP4642858B2 (ja) |
KR (1) | KR100642500B1 (ja) |
CN (1) | CN100523920C (ja) |
WO (1) | WO2006093381A1 (ja) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101566734B (zh) * | 2008-04-25 | 2011-03-16 | 郭上鲲 | 固定lcd面板的检测机具 |
KR100953203B1 (ko) * | 2008-04-25 | 2010-04-15 | (주)쎄미시스코 | 기판 품질 검사장치 |
US20090287450A1 (en) * | 2008-05-16 | 2009-11-19 | Lockheed Martin Corporation | Vision system for scan planning of ultrasonic inspection |
KR101009043B1 (ko) * | 2008-10-23 | 2011-01-18 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
CN101806963A (zh) * | 2009-02-17 | 2010-08-18 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 液晶显示面板的检查方法以及装置 |
CN101995674B (zh) * | 2009-08-13 | 2013-07-03 | 爱德牌工程有限公司 | 用于lcd玻璃的宏观检查设备 |
JP4921597B1 (ja) * | 2011-03-18 | 2012-04-25 | 日東電工株式会社 | 液晶表示パネルの連続製造システムおよび液晶表示パネルの連続製造方法、並びに、検査装置および検査方法 |
CN102279161B (zh) * | 2011-05-12 | 2012-11-07 | 广州市光机电技术研究院 | 一种自动测试分筛系统 |
EP2600140A1 (en) * | 2011-11-29 | 2013-06-05 | Hennecke Systems GmbH | Inspection system |
KR101231184B1 (ko) * | 2011-12-02 | 2013-02-07 | (주)쎄미시스코 | 기판 성막 검사장치 |
CN103185722A (zh) * | 2011-12-30 | 2013-07-03 | 塞米西斯科株式会社 | 具有多级基板投入门的基板质量检测装置 |
CN102560628B (zh) * | 2012-01-31 | 2016-04-20 | 常州亿晶光电科技有限公司 | 免仰视全视角观察分检蓝宝石晶体气泡的专用装置 |
KR101977243B1 (ko) * | 2012-07-09 | 2019-08-28 | 엘지디스플레이 주식회사 | 글라스 기판의 검사장치, 이를 이용한 검사방법 및 증착장치 |
DE112014000895B4 (de) | 2013-02-19 | 2023-04-20 | AGC Inc. | Verfahren zum Auswählen sowie Verfahren zur Verwendung einer Glasplatte |
HUE056308T2 (hu) | 2013-03-19 | 2022-02-28 | Hennecke Systems Gmbh | Eljárás és rendszer sík félvezetõ tárgyak ellenõrzéséhez |
JP6037564B2 (ja) * | 2013-06-24 | 2016-12-07 | 住友化学株式会社 | 光学表示デバイスの生産システム |
CN103955080A (zh) * | 2014-04-29 | 2014-07-30 | 电子科技大学 | 一种采用多摄像头的液晶屏缺陷检测采图装置 |
CN104266843A (zh) * | 2014-07-26 | 2015-01-07 | 安徽省地坤汽车天窗科技有限公司 | 一种汽车天窗的天窗强度性能试验机构 |
CN104238159B (zh) * | 2014-09-24 | 2017-03-01 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 面板边缘缺陷的监测方法和系统、面板切割系统 |
CN104535590B (zh) * | 2014-12-01 | 2017-08-25 | 周宏祎 | 玻璃崩边检测机 |
KR101730039B1 (ko) | 2014-12-03 | 2017-04-26 | 주식회사 케이엔제이 | 평판디스플레이 패널 에지 검사장치 및 방법 |
CN107131832B (zh) * | 2016-02-29 | 2019-07-09 | 深圳市升瑞科仪光电有限公司 | Lcd玻璃磨边效果检测方法和装置 |
KR102626352B1 (ko) * | 2016-04-25 | 2024-01-16 | 동우 화인켐 주식회사 | 기판 상의 결함을 검사하는 방법 및 장치 |
CN106525869B (zh) * | 2016-11-09 | 2024-03-22 | 芜湖东旭光电科技有限公司 | 玻璃边部缺陷检测方法及其装置和系统 |
CN106597712A (zh) * | 2017-02-21 | 2017-04-26 | 武汉华星光电技术有限公司 | 涂布检测装置 |
KR20180116154A (ko) * | 2017-04-14 | 2018-10-24 | 코닝 인코포레이티드 | 커버 글라스 검사 장치 |
WO2018190693A2 (en) * | 2017-04-14 | 2018-10-18 | Corning Precision Materials Co., Ltd | Glass processing apparatus and methods |
CN109580655A (zh) * | 2018-12-14 | 2019-04-05 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 基板检测系统及基板检测方法 |
CN109916910B (zh) * | 2019-03-27 | 2022-02-25 | 中建材凯盛机器人(上海)有限公司 | 光伏玻璃边部缺陷检测系统及相应的方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07311157A (ja) * | 1994-05-19 | 1995-11-28 | Hoya Corp | フォトマスク検査方法及びその装置 |
JP2000046537A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-18 | Kobe Steel Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2002005850A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-09 | Toshiba Corp | 欠陥検査方法及びその装置、マスクの製造方法 |
JP2004276151A (ja) * | 2003-03-13 | 2004-10-07 | Yaskawa Electric Corp | 搬送用ロボットおよび搬送用ロボットの教示方法 |
JP2006086154A (ja) * | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マクロ検査方法 |
WO2006057125A1 (ja) * | 2004-11-24 | 2006-06-01 | Asahi Glass Company, Limited | 透明板状体の欠陥検査方法および装置 |
JP2006138830A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Nippon Electro Sensari Device Kk | 表面欠陥検査装置 |
JP2006201360A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Ohkura Industry Co | 撮像システム及び撮像方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0160655B1 (ko) * | 1994-03-24 | 1999-05-01 | 김광호 | 판넬 검사방법 및 장치 |
JPH11160151A (ja) | 1997-11-25 | 1999-06-18 | Asahi Glass Co Ltd | 測色計を用いた膜質評価方法及び装置 |
US6175645B1 (en) * | 1998-01-22 | 2001-01-16 | Applied Materials, Inc. | Optical inspection method and apparatus |
JP3595226B2 (ja) | 1999-11-25 | 2004-12-02 | 日本板硝子株式会社 | ガラス板のエッジ欠陥検出方法及び同検出装置 |
CN1293381C (zh) * | 2001-07-05 | 2007-01-03 | 日本板硝子株式会社 | 片状透明体缺陷的检查方法与装置 |
KR100490952B1 (ko) * | 2002-11-29 | 2005-05-19 | (주)넥스트인스트루먼트 | 스테이지 방식을 갖는 다목적 광학 검사용 디스플레이패널 이송장치 |
US7142295B2 (en) * | 2003-03-05 | 2006-11-28 | Corning Incorporated | Inspection of transparent substrates for defects |
KR100535569B1 (ko) * | 2003-05-31 | 2005-12-08 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리 기판에 존재하는 결함의 깊이방향 위치 검출방법 |
KR20050015784A (ko) * | 2003-08-07 | 2005-02-21 | 최종주 | 표면 및 형상 검사장치 |
-
2005
- 2005-03-02 KR KR1020050017428A patent/KR100642500B1/ko active IP Right Grant
-
2006
- 2006-02-27 EP EP06716128A patent/EP1807730A1/en not_active Withdrawn
- 2006-02-27 WO PCT/KR2006/000678 patent/WO2006093381A1/en active Application Filing
- 2006-02-27 JP JP2007542932A patent/JP4642858B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-02-27 CN CNB2006800012869A patent/CN100523920C/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07311157A (ja) * | 1994-05-19 | 1995-11-28 | Hoya Corp | フォトマスク検査方法及びその装置 |
JP2000046537A (ja) * | 1998-07-24 | 2000-02-18 | Kobe Steel Ltd | 欠陥検査装置 |
JP2002005850A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-09 | Toshiba Corp | 欠陥検査方法及びその装置、マスクの製造方法 |
JP2004276151A (ja) * | 2003-03-13 | 2004-10-07 | Yaskawa Electric Corp | 搬送用ロボットおよび搬送用ロボットの教示方法 |
JP2006086154A (ja) * | 2004-09-14 | 2006-03-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マクロ検査方法 |
JP2006138830A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Nippon Electro Sensari Device Kk | 表面欠陥検査装置 |
WO2006057125A1 (ja) * | 2004-11-24 | 2006-06-01 | Asahi Glass Company, Limited | 透明板状体の欠陥検査方法および装置 |
JP2006201360A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Ohkura Industry Co | 撮像システム及び撮像方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101069118A (zh) | 2007-11-07 |
EP1807730A1 (en) | 2007-07-18 |
WO2006093381A1 (en) | 2006-09-08 |
KR20060096717A (ko) | 2006-09-13 |
KR100642500B1 (ko) | 2006-11-06 |
JP4642858B2 (ja) | 2011-03-02 |
CN100523920C (zh) | 2009-08-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4642858B2 (ja) | ガラス基板のエッジ欠陥及びディスカラー検査装置及び方法 | |
JP5228490B2 (ja) | 画像解析によって欠陥検査を行う欠陥検査装置 | |
KR100838656B1 (ko) | 유리기판의 품질 검사장치 | |
JP4468696B2 (ja) | 半導体ウエハ検査装置 | |
JP5190405B2 (ja) | ガラス表面の異物検査装置及びその方法 | |
US7660036B2 (en) | Method for particle analysis and particle analysis system | |
JP5444053B2 (ja) | 多結晶シリコン薄膜検査方法及びその装置 | |
JP5308934B2 (ja) | 基板検査方法および基板検査装置 | |
JP2006081154A (ja) | 光学検査システムのためのカメラモジュールおよび関連する使用方法 | |
JP4655644B2 (ja) | 周期性パターンのムラ検査装置 | |
JP5589888B2 (ja) | 表面検査装置の評価装置及び表面検査装置の評価方法 | |
JP4632564B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JP2010507801A (ja) | ガラス基板の品質検査装置及びその検査方法 | |
JP5320936B2 (ja) | 周期性パターンのムラ検査装置における検査条件設定方法および検査装置 | |
TWI391650B (zh) | 基板品質測試器 | |
KR100782424B1 (ko) | 유리기판의 품질 검사장치 | |
JP6927790B2 (ja) | 検査方法及び検査装置 | |
JP2001209798A (ja) | 外観検査方法及び検査装置 | |
JPH08271433A (ja) | 錠剤検査装置 | |
JP4108829B2 (ja) | 厚み欠陥検査装置及びその検査方法 | |
TW200809184A (en) | Apparatus and method for inspecting edge defect and discoloration of glass substrate | |
JP2004271205A (ja) | 容器口部の欠陥検査装置 | |
JP2007187630A (ja) | パターンの欠陥検出方法およびパターンの欠陥検出装置 | |
JP2003344299A (ja) | カラーフィルターの欠陥検査装置およびカラーフィルターの欠陥検査方法 | |
JP2001235425A (ja) | ペットボトルの偏肉検査方法および装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100608 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100902 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101102 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131210 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |