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  1. 試験されるそれぞれのディスクドライブを個々に受容するための複数のベイと、
    ディスクドライブがテストカードを介して試験され得る該テストカードを個々に受容するための複数のカードスロットと、
    それぞれのテストカードは個々のカードスロットに受容され、それぞれの前記テストカードは環境テストカード又は接続テストカードである、複数のテストカードと、を備えており、
    前記カードスロットと前記テストカードとが、それぞれのカードスロットが接続テストカード又は前記ベイ内で試験されるそれぞれのディスクドライブの環境を制御するための環境テストカードを選択的に受容できるように配置される、
    ディスクドライブ試験装置。
  2. 前記カードスロットと、前記又は個々の環境テストカードと、前記又は個々の接続テストカードとが、個々のカードスロットがテストカードで満たされ得る他のいかなるカードスロットとも物理的に干渉することなく、個々のカードスロットが環境テストカード又は接続テストカードを選択的に受容できるように配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の装置。
  3. 前記装置は、少なくとも一の環境テストカードと、少なくとも一の接続テストカードと、を有することを特徴とする、請求項1又は2に記載の装置。
  4. 前記装置は、各ベイにつき、それぞれ一のカードスロットを有していることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載の装置。
  5. フレームと、
    少なくとも一のディスクドライブを受容するために設けられ、前記フレームに固定されているか又は一体的に形成されているディスクドライブホルダと、
    前記ディスクドライブがカードを介して試験し又は運転され得る少なくとも一の該カードを受容するために設けられ、前記フレームに着脱自在に受容され、前記ディスクドライブホルダ内のディスクドライブの環境を制御するための環境テストカードを受容できるように配置されているカードホルダと、
    を備えるディスクドライブ取り付け装置。
  6. 前記ディスクドライブホルダは、複数のディスクドライブを受容するために構成され配置されており、前記カードホルダは、対応する複数のカードを受容するために構成され配置されていることを特徴とする、請求項5に記載の装置。
  7. 前記ディスクドライブホルダは、内部に一のディスクドライブを取り付けることができるディスクドライブ取り付け装置を備えており、前記ディスクドライブ取り付け装置は、前記ディスクドライブホルダを前記フレームから取り外さないでも、ディスクドライブホルダからの着脱が自在であることを特徴とする、請求項5又は6に記載の装置。
  8. 少なくとも一のディスクドライブを受容するためのディスクドライブホルダと、前記ディスクドライブがカードを介して試験し又は運転され得る少なくとも一の該カード、および、空気を前記ディスクドライブに通すための少なくとも一のファンを含むカードホルダと、を備えるディスクドライブ取り付け装置であって、
    空気が前記カードホルダから前記ディスクドライブホルダおよび前記ディスクドライブに通ることができる一方で、前記ディスクドライブホルダおよび前記カードホルダが互いに機械的に孤立しており、前記ディスクドライブホルダおよび前記カードホルダが、非接触で封止する配置によって、互いに動作可能に接続される、ディスクドライブ取り付け装置。
  9. 前記ディスクドライブホルダおよび前記カードホルダは、前記ディスクドライブを通過した前記空気の少なくともいくらかが前記カードホルダに戻ってくるように配置されていることを特徴とする、請求項8に記載の装置。
  10. 前記封止する配置は、前記ディスクドライブホルダと前記カードホルダとの間に空隙を有し、前記空気が前記カードホルダから前記ディスクドライブホルダへと通過するとき、および、前記空気が前記ディスクドライブホルダから前記カードホルダへと通過するときに、前記空気の圧力が低下するようになっていることを特徴とする、請求項8又は9に記載の装置。
  11. 前記少なくとも一のカードは、空気を前記カードホルダから前記ディスクドライブホルダおよび前記ディスクドライブに通すための少なくとも一のファンを有していることを特徴とする、請求項8〜10に記載の装置。
  12. ディスクドライブを受容するためのベイと、
    前記ディスクドライブの試験中又は運転中に前記ディスクドライブの温度を直接感知するように構成され、配置されている温度センサと、
    を備える、ディスクドライブ取り付け装置であって、
    前記装置がさらに、前記ベイを画定しているフレームを備えており、前記温度センサが前記フレームに取り付けられていることを特徴とする、ディスクドライブ取り付け装置。
  13. 前記温度センサは、前記温度センサを前記ディスクドライブに接触するように付勢するための付勢手段を介して取り付けられていることを特徴とする、請求項12に記載の装置。
  14. 内部にディスクドライブを受容することができ、かつ前記ディスクドライブを前記ベイ内に取り付けるために該ベイ内に着脱自在に受容できる、可撤性トレーを備えており、前記温度センサが前記トレーに取り付けられていることを特徴とする、請求項12又は13に記載の装置。
  15. 前記装置は、前記ディスクドライブの試験中又は運転中に前記ディスクドライブの温度を直接感知するように構成され、配置されている少なくとも二の温度センサを備え、
    前記装置は、ベイを画定するフレームを備え、
    少なくとも一の温度センサが前記フレームに取り付けられており、
    前記装置は、内部にディスクドライブを受容することができ、かつ前記ディスクドライブを前記ベイ内に取り付けるために該ベイ内に着脱自在に受容できる、可撤性トレーを備えており、
    少なくとも一の温度センサが前記トレーに取り付けられていることを特徴とする、請求項12又は13に記載の装置。
  16. 前記トレーは、前記トレー内で受容されるディスクドライブを支持する複数の取り付けピンを備えており、少なくとも一の前記取り付けピンは、その内部に温度センサを包含していることを特徴とする、請求項14又は15に記載の装置。
  17. 前記装置は、前記ベイ内で受容されるディスクドライブを備えており、
    前記ディスクドライブは、内部温度センサを有していることにより、ディスクドライブ取り付け装置の温度センサによって検知された温度と前記ディスクドライブの内部温度センサによって検知された温度との比較ができることを特徴とする、請求項12〜16のいずれか一項に記載の装置。
  18. 内部にディスクドライブを有するディスクドライブトレーを受容することができる容器を画定し、三つの直交方向における振動を減衰するための減衰材料を有する、ディスクドライブ取り付け手段であって、
    前記減衰材料は、前記手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して、前記減衰材料のせん断と圧縮/延伸との組み合わせにより前記減衰材料が振動を減衰するような所定の角度で設けられていることを特徴とする、ディスクドライブ取り付け手段。
  19. 前記手段は、二の対向する側壁を備えており、少なくとも一の前記側壁の外部はその面上に減衰材料を有していることを特徴とする、請求項18に記載の手段。
  20. 少なくとも一の前記側壁は、前記側壁の外部が、前記手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して所定の角度になるように設けられていることを特徴とする、請求項18又は19に記載の手段。
  21. 前記手段は、対向する二の側壁を備えており、前記側壁のそれぞれは、該側壁の外部が、前記手段内で使用時に受容されているディスクドライブの回転軸に対して所定の角度になるように設けられており、それぞれの側壁は減衰材料をその面上に有しており、前記減衰材料は、該減衰材料のせん断と圧縮/延伸との組み合わせにより前記減衰材料が振動を減衰することができるように設けられていることを特徴とする、請求項18に記載の手段。
  22. 塊が、前記手段の上に着脱自在に取り付けられていることを特徴とする、請求項1821のいずれか一項に記載の手段。
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