JP2008287829A - 垂直磁気記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】非磁性基板上に、少なくとも軟磁性下地層と垂直磁気記録層と保護層を有する垂直磁気記録媒体において、垂直磁気記録層を、主記録層と非磁性中間層と補助層から構成し、主記録層を、磁性結晶粒子とそれを取り囲む粒界領域を有し、かつ垂直磁気異方性を有する材料から構成し、補助層を、負の結晶磁気異方性を有する材料から構成し、非磁性中間層を、主記録層と補助層の間に形成し、Ru,Rh,Irから選択される少なくとも一種の金属または合金から構成する。
【選択図】図1
Description
現在市販されているHDDの磁気記録方式として、いわゆる垂直磁気記録方式が、従来の面内磁気記録方式に代わる技術として近年急速に利用が広まっている。垂直磁気記録方式は、情報を記録する磁気記録層を構成する磁性結晶粒子が、基板に対して垂直方向にその磁化容易軸を持つ。ここで、磁化容易軸とは、磁化の方向が向きやすい軸のことであり、Co系合金の場合、Coのhcp構造の(0001)面の法線に平行な軸(c軸)である。このため、高密度化の際にも記録ビット間の反磁界の影響が少なく、また高密度化においても静磁気的に安定である。垂直磁気記録媒体は、一般に、基板と、垂直磁気記録層の磁性結晶粒を(0001)面配向させ、かつその配向分散を低減する配向制御下地層と、硬質磁性材料を含む垂直磁気記録層と、垂直磁気記録層の表面を保護する保護層から形成されている。さらに、基板と配向制御下地層との間に、記録時に磁気ヘッドから発生する磁束を集中させる役割を担う軟磁性下地層が設けられる。
さらに主記録層と補助層の間の非磁性中間層材料を設けることが提案され、その材料について研究されているが(非特許文献2及び3)、これについては後述する。
IEEE Transaction on Magnetics,vol.41,pp.537
(1)基板と、該基板上に形成された少なくとも一層の軟磁性下地層と、
該軟磁性下地層上に形成された垂直磁気記録層と、
該垂直磁気記録層上に形成された保護層を具備し、
該垂直磁気記録層は、主記録層と非磁性中間層と補助層から構成されており、
該主記録層は、磁性結晶粒子とそれを取り囲む粒界領域を有し、かつ垂直磁気異方性を有しており、
該補助層は、負の結晶磁気異方性を有しており、
該非磁性中間層は、主記録層と補助層の間に形成され、Ru,Rh,Irから選択される少なくとも一種の金属または合金を含むことを特徴とする磁気記録媒体。
(2)前記補助層の結晶磁気異方性の絶対値が、105 erg/cc以上であることを特徴とする前記(1)に記載の磁気記録媒体。
(3)前記補助層の厚さが0.5nm以上であることを特徴とする前記(1)または(2)に記載の磁気記録媒体。
(5)前記補助層は、Co−Ir,Co−Fe,Mn−Sb,Fe−C,Fe−Ptの中から選択される少なくとも一種の合金を含むことを特徴とする前記(1)乃至(4)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(6)前記補助層がCo−Irからなり、かつIr含有量が5〜40原子パーセントの範囲であることを特徴とする前記(5)に記載の磁気記録媒体。
(7)前記補助層が、前記(5)または(6)に記載の合金を含む磁性結晶粒子と、それを取り囲む粒界領域を有していることを特徴とする前記(1)乃至(6)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(9)前記補助層に含まれる前記酸化物または窒化物または炭化物の物質量の合計の割合が、1乃至20モル%の範囲にあることを特徴とする前記(8)に記載の磁気記録媒体。
(10)前記非磁性中間層膜厚が、0.3nm〜2nmの範囲内であることを特徴とする前記(1)乃至(9)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(11)前記非磁性中間層が、Ru、Rh、Irから選択される少なくとの一種の金属または合金からなる結晶粒と、それを取り囲む粒界領域を有することを特徴とする前記(1)乃至(10)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(13)前記非磁性中間層に含まれる前記酸化物または窒化物または炭化物の物質量の合計の割合が、1乃至20モル%の範囲にあることを特徴とする前記(12)に記載の磁気記録媒体。
(14)前記主記録層の磁性結晶粒子が、Co及びPtを含み、六方最密充填(hcp)構造を有し、(0001)面配向していることを特徴とする前記(1)乃至(13)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(15)前記主記録層の粒界領域が、Si,Ti,Cr,Al,Mg,Ta,Yのうち少なくとも一種の酸化物または窒化物または炭化物からなることを特徴とする前記(1)乃至(14)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(17)前記軟磁性下地層が、Co−Zr−Nb,CoB, CoTaZr, FeSiAl,FeTaC,CoTaC,NiFe,Fe,FeCoB,FeCoN,FeTaN、CoIrの中から選択される少なくとも一種の合金を含むことを特徴とする前記(1)乃至(16)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(19)前記軟磁性下地層と前記垂直磁気記録層の間に、
(0001)面配向した、hcp構造、
または、(111)面配向した、面心立方(fcc)構造と体心立方(bcc)構造の混合による層状不整格子を含む構造、
または、(111)面配向した、fcc構造とhcp構造の混合による層状不整格子を含む構造、
を有する金属または合金からなる非磁性下地層を設けることを特徴とする前記(1)乃至(18)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
(20)前記非磁性下地層が、、(0001)面配向したRu, Ti, Re、Ru−Cr,Ru−W、Ru−Co、(111)面配向したPt−Cr,Au−Cr,Pd−Cr,Ir−Cr,Pd−W,Pd−W−Cr、Ir−Tiから選択される少なくとも一種であることを特徴とする前記(19)に記載の磁気記録媒体。
(21)前記軟磁性下地層と前記非磁性下地層との間にシード層を設けることを特徴とする請求項19または20に記載の磁気記録媒体。
(22)前記シード層が、Pd、Pt, Ta、Ni−Ta、Ni−Nb、Ni−Zr, Ni−Fe−Cr, Ni−Feから選択される少なくとも一種であることを特徴とする前記(21)に記載の磁気記録媒体。
(23)前記(1)乃至(22)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体と、記録再生ヘッドを具備することを特徴とする磁気記録再生装置。
本発明の垂直磁気記録媒体は、基板と、該基板上に形成された少なくとも一層の軟磁性下地層と、該軟磁性下地層上に形成された垂直磁気記録層と、該垂直磁気記録層上に形成された保護層を具備している。
そして垂直磁気記録層は、主記録層と非磁性中間層と補助層から構成されており、主記録層は、磁性結晶粒子とそれを取り囲む粒界領域を有し、かつ垂直磁気異方性を有している。
補助層は、負の結晶磁気異方性を有している。
非磁性中間層は、主記録層と補助層の間に形成され、Ru,Rh,Irから選択される少なくとも一種の金属または合金を含む。
本発明の磁気記録再生装置は、上述の磁気記録媒体と記録再生ヘッドとを具備する。
以下、図面を参照して具体的に説明する。
図示するように、この垂直磁気記録媒体10は、基板1上に、軟磁性下地層2と、垂直磁気記録層3と、保護層4とが順に積層された構造を有する。垂直磁気記録層3は、補助層3−1と非磁性中間層3−2と主記録層3−3の三層からなる。
本発明の垂直磁気記録媒体の垂直磁気記録層は、少なくとも一層の補助層と、少なくとも一層の非磁性中間層と、少なくとも一層の主記録層から構成される。
本発明の垂直磁気記録媒体の主記録層としては、各磁性結晶粒子を非磁性の粒界領域が取り囲んだ、グラニュラ構造をとるものを用いることが好ましい。主記録層の磁性結晶粒界に非磁性の粒界領域を形成させることで、磁性結晶粒間の交換相互作用を低減させることができるため、記録・再生特性における遷移性ノイズを低減させることができる。
主記録層が、グラニュラ構造を形成しているかどうかは、例として、透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて主記録層平面を観察することで確認できる。また、エネルギー分散型X線分析(EDX)を併用すれば、結晶粒子部及び粒界領域部の元素の同定及びその組成を評価することができる。
主記録層の粒界領域を構成する材料としては、Si,Ti,Cr,Al,Mg,Ta,Yのうち少なくとも一種の酸化物、窒化物、炭化物といった化合物が好ましく使用しうる。これらの化合物は、上述の結晶粒材料とほとんど固溶しないため析出しやすく、好ましい。具体的には、SiOx,TiOx,CrOx,AlOx,MgOx,TaOx,YOx,TiNx,CrNx,SiNx,AlNx,TaNx,SiCx,TiCx,TaCx等が挙げられる。
粒界領域を構成する材料は、結晶質であっても、非晶質であっても構わない。
磁性結晶粒を形成する合金に対する粒界領域を構成する上記材料の物質量の割合の合計は、5乃至20モル%の範囲が好ましい。5モルパーセント未満ならばグラニュラ構造を維持するのが困難となり、20モルパーセントを超えるとR/W特性における再生出力が低下するため、好ましくない。
主記録層は、これらの材料を用いた二層以上の多層膜としてもよい。その場合、少なくとも一層が、上述のグラニュラ構造をとっていればよい。
このような特性を示す材料としては、CoIr, CoFe, MnSb, FeC, またはFe−Pt等を挙げることができる。CoIr(Co−Irと表す場合も同じ)等はCoとIrの合金を表し、CoとIrの原子比が1:1を意味するものではない(以下同様)。またFe−Ptとしては、Fe3Ptを用いるのが好ましい。
前述のように、交換結合された主記録層と補助層とは、一体化して熱揺らぎをうけるため、補助層のKuも大きくないと垂直磁気記録層全体の熱揺らぎ耐性は低下する。例えば、上記非特許文献1に記載のコンポジットメディアの場合、補助層のKuが0とみなせる軟磁性材料を用いているため、熱揺らぎ耐性を主記録層のみで担わなければならず、熱揺らぎ耐性を維持するためには必然的に主記録層と補助層の合計膜厚を大きくせざるを得なくなる。これは、SULと記録ヘッド間の距離を短くしなければならない垂直磁気記録媒体にとっては好ましくない。この際、補助層と主記録層とで異方性の容易軸の向きが直行するが、熱揺らぎ耐性的には、容易軸の向きが平行である場合と同様に考えることができる。すなわち、補助層のKuが大きい場合、両者のエネルギーの折り合いが付くところで磁化の微細構造が決まるが、そのようにして決まった構造自体が両者のKuの絶対値の中間の値の熱揺らぎ耐性を持つからである。従って、補助層のKuの絶対値は大きい方が好ましい。具体的には、105 erg/cc以上であると好ましく、106 erg/cc以上であればさらに好ましいことが実験によって明らかとなった。
また、現在の垂直HDD用磁気記録媒体に用いられる下地層を用いて、(0001)面配向のCoCrPtを得ることができれば、逆に、CoCrPt上に積層されるCoIrを(0001)面配向させることができる。この場合も、補助層となるCoIrの磁化容易面は膜面であり、主記録層となるCoCrPtの磁化容易軸方向は、膜面垂直方向である。
さらに、補助層の厚さは0.5nm以上であることが好ましく、さらに好ましくは1nm以上である。補助層の厚さが0.5nm未満であるとティルテッドメディアとしての効果が小さくなり、かつ媒体全面に亘って均一性を保つことが困難となるからである。
さらに、補助層の厚さは、主記録層の厚さの半分以下であることが好ましい。補助層の厚さが主記録の厚さの半分を超えると、残留磁化の主成分が面内方向となり、垂直磁気記録媒体としての信号強度が低下する。
補助層は、これらの材料を用いた二層以上の多層膜としてもよい。
補助層の粒界領域を構成する材料としては、Si,Ti,Cr,Al,Mg,Ta,Yのうち少なくとも一種の酸化物、窒化物、炭化物といった化合物が好ましく使用しうる。これらの化合物は、上述の結晶粒材料とほとんど固溶しないため析出しやすく、好ましい。具体的には、SiOx,TiOx,CrOx,AlOx,MgOx,TaOx,YOx,TiNx,CrNx,SiNx,AlNx,TaNx,SiCx,TiCx,TaCx等が挙げられる。
粒界領域を構成する材料は、結晶質であっても、非晶質であっても構わない。
磁性結晶粒を形成する合金に対する粒界領域を構成する上記材料の物質量の割合の合計は、1乃至20モル%の範囲が好ましい。1モルパーセント未満であるとSNR向上の効果が顕著に現れず、20モルパーセントを超えるとOW特性の向上が顕著に現れない。
非磁性中間層の膜厚は、例えば、断面TEM観察により評価することができる。
非磁性中間層として、グラニュラ構造を持つものを用いると、非磁性中間層の上部に積層された主記録層または補助層の磁性結晶粒子の磁気的孤立化が促進されるため、SNR特性が向上し、より好ましい。非磁性中間層の粒界領域を構成する材料としては、酸化物、窒化物、炭化物といった化合物が好ましく使用しうる。これらの化合物は、上述の非磁性結晶粒材料とほとんど固溶しないため析出しやすく、好ましい。具体的には、SiOx,TiOx,CrOx,AlOx,MgOx,TaOx,YOx,TiNx,CrNx,SiNx,AlNx,TaNx,SiCx,TiCx,TaCx等が挙げられる。
非磁性結晶粒を形成する合金に対する粒界領域を構成する上記材料の物質量の割合の合計は、1乃至20モル%の範囲が好ましい。1モルパーセント未満であるとSNR向上の効果が顕著に現れず、20モルパーセントを超えると直上の層である補助層、または主記録層の配向性が低下するため、好ましくない。
垂直磁気記録層と基板との間に高透磁率な軟磁性下地層を設けることにより、いわゆる垂直二層媒体が構成される。この垂直二層媒体において、軟磁性下地層は、垂直磁気記録層を磁化するための磁気ヘッド例えば単磁極ヘッドからの記録磁界を、水平方向に通して、磁気ヘッド側へ還流させるという磁気ヘッドの機能の一部を担っており、磁界の記録層に急峻で充分な垂直磁界を印加させ、記録再生効率を向上させる役目を果たし得る。
ここで、軟磁性下地層と補助層の両方にCoIr合金を用いて、かつ、両層が接した場合、両層の境界が不明瞭になることが考えられる。しかしながら、この場合の両層のCoIr合金は、その機能によって組成比が相違し、また補助層のCoIr合金においては、粒界層にSiO2等を含む構造とすることが好ましいため、両層を識別することが可能である。
軟磁性下地層は、二層以上の多層膜であってもよい。その場合、それぞれの層の材料、組成、膜厚が異なっていてもよい。また、軟磁性下地層二層を薄いRu層を挟んで積層させた三層構造としてもよい。
また、軟磁性下地層と基板との間に、例えば、面内硬磁性膜及び反強磁性膜等のバイアス付与層を設けることができる。軟磁性層は磁区を形成しやすく、この磁区からスパイク状のノイズが発生することから、バイアス付与層の半径方向の一方向に磁界を印加することにより、その上に形成された軟磁性層にバイアス磁界をかけて磁壁の発生を防ぐことができる。バイアス付与層を積層構造として異方性を細かく分散して大きな磁区を形成しにくくすることもできる。バイアス付与層材料としては、CoCrPt、CoCrPtB、CoCrPtTa、CoCrPtTaNd、CoSm、CoPt、FePt,CoPtO、CoPtCrO、CoPt−SiO2、CoCrPt−SiO2、CoCrPtO−SiO2、FeMn,IrMn,PtMnがあげられる。
図示するように、この垂直磁気記録媒体20は、基板1上に、軟磁性下地層2と、非磁性下地層5と、垂直磁気記録層3と、保護層4とが順に積層された構造を有する。垂直磁気記録層3は、補助層3−1と非磁性中間層3−2と主記録層3−3の三層からなる。
軟磁性下地層と垂直磁気記録層の間に非磁性下地層を設けることにより、垂直磁気記録層の結晶配向性の向上や、磁性結晶粒の膜面内における磁気的孤立化を促進することができ、好ましい。非磁性下地層用材料としては、(0001)面配向したhcp構造を有する金属または合金材料を好ましく使用しうる。具体的には、Ru, Ti, Reといった単体金属や、Ru−Cr,Ru−W、Ru−Coといった合金が好ましい。
非磁性下地層は、これらの材料を用いた二層以上の多層膜としてもよい。
図示するように、この垂直磁気記録媒体40は、基板1上に、軟磁性下地層2と、シード層6と、非磁性中間層5と、垂直磁気記録層3と、保護層4とが順に積層された構造を有する。垂直磁気記録層3は、補助層3−1と非磁性中間層3−2と主記録層3−3の三層からなる。
非磁性下地層の結晶配向性を向上させる目的で、軟磁性下地層と非磁性下地層との間にシード層を設けると、より好ましい。具体的には、例えば、Pd、Pt, Ta、Ni−Ta、Ni−Nb、Ni−Zr, Ni−Fe−Cr, Ni−Fe等が挙げられる。
軟磁性下地層の軟磁性材料の代わりに、負のKuを有する材料を用いることができる。
例えば、補助層としてhcp構造の(0001)配向したCoIr−SiO2を用い、主記録層としてhcp構造の(0001)配向したCoPtCr−SiO2を用いた場合、軟磁性下地層の代わりにhcp構造の(0001)配向したCoIrを用いれば、結晶構造、格子定数ともに類似した材料を用いているため、前述の非磁性下地層の機能を兼ねることができ、補助層および主記録層の(0001)配向性が向上し、好ましい。
垂直磁気記録層上には、保護層を設けることができる。保護層としては、例えばC,ダイアモンドライクカーボン(DLC),SiNx,SiOx,CNxがあげられる。
各層の成膜法としては、真空蒸着法、各種スパッタ法、分子線エピタキシー法、イオンビーム蒸着法、レーザーアブレーション法及び化学気相蒸着法を用いることができる。
本発明に係る情報を記録するための剛構成の磁気ディスク51はスピンドル52に装着されており、図示しないスピンドルモータによって一定回転数で回転駆動される。磁気ディスク51にアクセスして情報の記録を行う記録ヘッド及び情報の再生を行うためのMRヘッドを搭載したスライダー53は、薄板状の板ばねからなるサスペンション54の先端に取付けられている。サスペンション54は図示しない駆動コイルを保持するボビン部等を有するアーム55の一端側に接続されている。
アーム55の他端側には、リニアモータの一種であるボイスコイルモータ56が設けられている。ボイスコイルモータ56は、アーム55のボビン部に巻き上げられた図示しない駆動コイルと、それを挟み込むように対向して配置された永久磁石および対向ヨークにより構成される磁気回路とから構成されている。
アーム55は、固定軸57の上下2カ所に設けられた図示しないボールベアリングによって保持され、ボイスコイルモータ56によって回転揺動駆動される。すなわち、磁気ディスク51上におけるスライダー53の位置は、ボイスコイルモータ56によって制御される。なお、図2中、58は蓋体を示している。
(実施例1)
2.5インチハードディスク形状の非磁性ガラス基板(コニカミノルタガラステック社製MEL3)を、ANELVA社製c−3010型スパッタリング装置の真空チャンバー内に導入した。
スパッタリング装置の真空チャンバー内を1×10-5Pa以下に排気した後、軟磁性下地層としてCo90Zr5Nb5(添え字は原子比を表す。以下同様。)を100nm、非磁性下地層としてRuを20nm、補助層として(Co86−Ir14)−8モル%SiO2膜を5nm、非磁性中間層としてRuを1.2nm、主記録層として(Co78−Cr6−Pt16)−8モル%SiO2膜を15nm、保護層としてCを5nm、順次成膜した。成膜後、保護層表面にディップ法によりパーフルオロポリエーテル(PFPE)潤滑剤を13Åの厚さに塗布し、各々垂直磁気記録媒体を得た。
このほか、非磁性中間層としてRuの代わりにRh, Irを用いたものも同様に作製した。
比較例として、従来の垂直磁気記録媒体を、主記録層膜厚を20nmとし、補助層及び非磁性中間層を成膜しないこと以外は実施例1と同様の要領で作製した。
(比較例2)
比較例として、非磁性中間層を用いない以外は実施例1と同様の要領で垂直磁気記録媒体を作製した。
(比較例3)
比較例として、非磁性中間層としてRuの代わりにPdを1.2nm用いた以外は実施例1と同様の要領で垂直磁気記録媒体を作製した。
各垂直磁気記録媒体の垂直磁気記録層の膜垂直方向のヒステリシスループは、ネオアーク社製極Kerr効果評価装置BH−M800UV−HD−10にて、波長408nmのレーザ光源を用い、最大印加磁界20kOe、磁界掃引速度133 Oe/sの条件にて評価した。図6に、Rsが1未満である場合のヒステリシスループの一例と、保磁力Hc、角型比Rs、飽和磁界Hsを模式的に示す。
各垂直磁気記録媒体について、Philips社製 X線回折装置 X‘pert−MRDを用いて、Cu−Kα線を加速電圧45kV、フィラメント電流40mAの条件で発生させ、θ−2θ法により、結晶構造及び結晶面配向を評価した。
測定条件は、半径位置20mmと一定の位置で、ディスクを4200rpmで回転させて行った。
媒体SNRとして微分回路を通した後の微分波形の信号対ノイズ比(SNRm)(但し、Sは線記録密度119kfciの出力、Nmは716kfciでのrms(root mean square)値)の値を評価した。
媒体OW特性は、119kfci信号を記録した後、250kfci信号を上書きした前後の、119kfci信号の再生出力比(減衰率)で評価した。
媒体熱揺らぎ耐性は、温度70℃の環境下における、100kfci信号を一度記録した直後の100kfci信号の再生出力と、1000秒放置後の再生出力との比V1000/V0で評価した。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、実施例1、比較例2及び比較例3の垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子はいずれもhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。さらに、非磁性下地層のRuはいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
(平面TEM観察の結果)
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層も、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。磁性結晶粒子の平均粒径は7.8nmであった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo, Pt, Crが含有されていることが分かった。
また、実施例1、比較例2及び比較例3の垂直磁気記録媒体の補助層は、主記録層と同様に、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。磁性結晶粒子の平均粒径は7.5nmであった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、実施例1、比較例2及び比較例3の垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。
実施例1、比較例2及び比較例3の垂直磁気記録媒体の補助層のKuは負の値を示し、−1.3×106erg/ccであった。
表1に、ヒステリシスループから得られた各垂直磁気記録媒体のHc、Rs、Hsをそれぞれ示す。比較例1の媒体に比べて、実施例1、比較例2及び3の媒体のHc、Hsはいずれも低減していることがわかった。一方、実施例1と比較例1の媒体の角型比が1であるのに対し、比較例2及び3の媒体では1未満に劣化していることがわかった。
表2に各磁気記録媒体のSNRm、OW、V1000/V0の値を示す。
比較例1と比較して、実施例1、比較例2及び3の媒体では、OWが向上していることがわかる。これは、Hc及びHsの低減効果によるものであると考えられる。一方、熱揺らぎ耐性は、比較例1と比べると実施例1ではほぼ同等であるのに対し、比較例2及び3ではむしろ劣化していることがわかる。これは、角型比の劣化によるものであると考えられる。
補助層のCo−Ir中のIr組成を、0から45原子%の範囲で変化させた媒体を、以下の要領で作製した。
実施例1と同じ要領で、非磁性下地層まで成膜した後、補助層として(Co100-x−Irx)−8モル%SiO2を5nm成膜し、実施例1と同様の要領で非磁性中間層成膜、主記録層成膜、保護層成膜、潤滑剤塗布を順次行った。Co−Ir中のIr組成xは、0から40の範囲で変化させた。補助層(Co100-x−Irx)−8モル%SiO2の成膜は、成膜圧力4Pa下で、直径90mmのCo,Ir,SiO2ターゲットを用いた三元同時スパッタ法にて行い、各ターゲットへの投入電力を変化させることでIr組成を調節した。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。さらに、非磁性下地層のRuはいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
(平面TEM観察の結果)
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層も、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo, Pt, Crが含有されていることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層も、主記録層と同様に、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。
図7に、トルク磁力計によって評価した補助層のKuと、Ir組成の関係を示す。Ir組成が5原子%以上で、Kuが負の値を示し、かつその絶対値が105erg/cc以上となることが分かった。
図8乃至10に、各磁気記録媒体のSNRm、OW、V1000/V0とIr組成の関係を示す。Ir組成が5から40原子%の範囲で、SNRmが顕著に向上し、好ましいことが分かった。
主記録層及び補助層の粒界領域物質組成を変化させた媒体を、以下の要領で作製した。
実施例1と同様の要領で非磁性下地層まで形成させた後、補助層として(Co86−Ir14)−yモル%SiO2を5nm成膜し、実施例1と同様の要領で非磁性中間層成膜した後、主記録層として(Co78−Cr6−Pt16)−zモル%SiO2を成膜し、実施例1と同様の要領で、保護層成膜及び潤滑剤塗布を順次行った。補助層(Co86−Ir14)−yモル%SiO2の成膜は、成膜圧力4Pa下で、直径90mmのCo86Ir14,SiO2ターゲットを用いた二元同時スパッタ法にて行い、各ターゲットへの投入電力を変化させることでSiO2組成を調節した。主記録層(Co78−Cr6−Pt16)−zモル%SiO2の成膜は、成膜圧力4Pa下で、直径90mmのCo78−Cr6−Pt16,SiO2ターゲットを用いた二元同時スパッタ法にて行い、各ターゲットへの投入電力を変化させることでSiO2組成を調節した。この他、主記録層及び補助層の粒界領域物質として、SiO2の代わりに、TiO、TiO2,Cr2O3を用いた媒体も同様の要領で作製した。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。さらに、非磁性下地層のRuはいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
(平面TEM観察の結果)
zが5以上の主記録層は、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo, Pt, Crが含有されていることが分かった。また、yが5以上の補助層は、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。
図12に、補助層のSiO2組成yを8とし、補助層のSiO2組成zを0から30の範囲で変化させた場合の、zとSNRmの関係を示す。SiO2組成が5乃至20モル%の範囲でSNRmが顕著に向上し、好ましいことが分かった。同様の傾向は、SiO2をTiO、TiO2,Cr2O3に代えた媒体でも見られた。
非磁性中間層としてRuの代わりにRu−SiO2を用いた媒体を以下の要領で作製した。
実施例1と同様の要領で補助層まで形成した後、非磁性中間層としてRu−aモル%SiO2を1.2nm成膜し、実施例1と同様の要領で主記録層成膜、保護層成膜、潤滑剤塗布を順次行った。非磁性中間層Ru−aモル%SiO2の成膜は、成膜圧力4Pa下で、直径90mmのRu,SiO2ターゲットを用いた二元同時スパッタ法にて行い、各ターゲットへの投入電力を変化させることでSiO2組成を調節した。この他、非磁性中間層の粒界領域物質として、SiO2の代わりに、TiO、TiO2,Cr2O3を用いた媒体も同様の要領で作製した。
(XRD評価の結果)
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。さらに、非磁性下地層のRuはいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層も、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo, Pt, Crが含有されていることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層も、主記録層と同様に、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。さらに、aが5以上の非磁性中間層は、いずれも結晶粒子の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。
図13に、非磁性中間層のSiO2組成aと、SNRmの関係を示す。SiO2組成が1乃至20モル%の範囲でSNRmが顕著に向上し、好ましいことがわかった。同様の傾向は、SiO2をTiO、TiO2,Cr2O3に代えた媒体でも見られた。
非磁性中間層膜厚を変化させた媒体を、以下の要領で作製した。
実施例1と同様の要領で補助層まで形成した後、非磁性中間層としてRu−7モル%SiO2を0から2.5nmの膜厚範囲で成膜し、実施例1と同様の要領で主記録層成膜、保護層成膜、潤滑剤塗布を順次行った。非磁性中間層Ru−7モル%SiO2の成膜は、成膜圧力4Pa下で、直径164mmのRu−7モル%SiO2ターゲットを用いたDCスパッタリング法にて行った。この他、非磁性中間層をRu−7モル%SiO2の代わりに、Rh−7モル%SiO2、Ir−7モル%SiO2とした媒体に関しても同様に作製した。
比較例として、非磁性中間層を、Ru−7モル%SiO2の代わりにPd−7モル%SiO2に代えた媒体を、実施例5と同様の要領で作製した。
(XRD評価の結果)
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。さらに、非磁性下地層のRuはいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
(平面TEM観察の結果)
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層も、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo,Pt,Crが含有されていることが分かった。
また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層も、主記録層と同様に、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。
また、いずれの非磁性中間層も、結晶粒子の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。
図14、15から、非磁性中間層がRu−SiO2の場合、膜厚とともにHc及びHsが周期的に変化(振動)する特徴的な振る舞いをすることが分かった。同様の傾向は、Rh−SiO2,Ir−SiO2の場合にも見られた。一方、Pd−SiO2の場合にはそのような傾向は見られなかった。
図16から、非磁性中間層がRu−SiO2の場合、膜厚が0.3nmから2nmの範囲のとき、Rsが1に向上することが分かった。同様の傾向は、Rh−SiO2,Ir−SiO2の場合にも見られた。一方、Pd−SiO2では、そのようなRs向上効果は認められなかった。
図17から、Ru−SiO2の場合、膜厚が0.3nmから2nmの範囲のときSNRmが向上して好ましいことが分かった。同様の傾向は、Rh−SiO2,Ir−SiO2の場合にも見られた。一方、Pd−SiO2の場合にはSNRmの顕著な向上は見られなかった。
また、図18から、非磁性中間層がRu−SiO2の場合、膜厚が0.3nmから2nmの範囲のとき、V1000/V0が向上することが分かった。これは、Rsが向上したためであると考えられる。同様の傾向は、Rh−SiO2,Ir−SiO2の場合にも見られた。一方、Pd−SiO2の場合には膜厚とともにV1000/V0が劣化することが分かった。これは、Rsの劣化によるものであると考えられる。
非磁性中間層としてRuの代わりに、RuCr/Ru,PdW/Ru,PtCr/Ru、IrCr/Ru、IrTi/Ru二層を用いた媒体を、以下の要領で作製した。
実施例1と同様の要領で軟磁性下地層まで形成した後、非磁性下地層1としてPd60W40を10nm,非磁性下地層2としてRuを10nm成膜した後、実施例1と同様の要領で主記録層成膜、非磁性中間層成膜、補助層成膜、保護層成膜、潤滑剤塗布を順次行った。非磁性下地層1の成膜は、成膜圧力0.5Pa下で、直径164mmのPd60W40ターゲットを用いたDCスパッタリング法にて行った。非磁性下地層2の成膜は、成膜圧力4Pa下で、直径164mmのRuターゲットを用いたDCスパッタリング法にて行った。この他、非磁性下地層1としてPd60W40の代わりに、Pt60Cr40、Ir40Cr60,Ir80Ti20,Ru60Cr40を用いたものも同様の要領で作製した。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。さらに、非磁性下地層2のRu及び非磁性下地層1のRu60Cr40はいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
(XRD、In−Plane XRD及びTEM観察の結果)
非磁性下地層1のPd60W40、Pt60Cr40、Ir40Cr60、Ir80Ti20はいずれも(111)配向しており、層状不整格子を含むことが分かった。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層も、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo,Pt,Crが含有されていることが分かった。
また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層も、主記録層と同様に、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。
また、aが5以上の非磁性中間層は、いずれも結晶粒子の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。
表3に、SNRm、OW、V1000/V0をそれぞれ示す。非磁性下地層としてRuの代わりに、(0001)配向した、hcp構造のRu−Cr合金、または(111)配向した、層状不整格子を含む合金材料を用いた場合においても良好なSNRm、OW、V1000/V0が得られることが分かった。
軟磁性下地層をCo90Ir10に代えた媒体を、以下の要領で作製した。
軟磁性下地層としてCo90Ir10を100nm成膜した後、実施例6と同様の要領で、非磁性下地層成膜、補助層成膜、非磁性中間層成膜、主記録層成膜、保護層成膜、潤滑剤塗布を順次行った。軟磁性下地層Co90Ir10の成膜は、成膜圧力0.7Pa下で、直径164mmのCo90Ir10ターゲットを用いたDCスパッタリング法にて行った。
(XRD評価の結果)
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。
また、非磁性下地層のRuはいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。さらに、軟磁性下地層のCo90Ir10はいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層も、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo, Pt, Crが含有されていることが分かった。
また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層も、主記録層と同様に、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。
表4に、SNRm、OW、V1000/V0をそれぞれ示す。軟磁性下地層に負のKuを有する材料を用いた場合でも、軟磁性材料を用いた場合と同様に良好なR/W特性が得られることがわかった。
軟磁性層をCo90Ir10とし、非磁性下地層を省略した媒体を、以下の要領で作製した。
実施例6と同様の要領で軟磁性下地層を形成した後、補助層成膜、非磁性中間層成膜、主記録層成膜、保護層成膜、潤滑剤塗布を順次行った。
(XRD評価の結果)
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子もhcp構造をとり、(0001)面配向していることが分かった。さらに、軟磁性下地層のCo90Ir10はいずれもhcp構造をとり、(0001)配向していることが分かった。
いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層も、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。また、TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の主記録層の磁性結晶粒子にもCo, Pt, Crが含有されていることが分かった。
また、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層も、主記録層と同様に、磁性結晶粒の周りを粒界領域が取り囲むグラニュラ構造を取っていることが分かった。TEM−EDXによる組成分析の結果、いずれの垂直磁気記録媒体の補助層の磁性結晶粒子にもCo及びIrが含有されていることが分かった。
表5に、SNRm、OW、V1000/V0をそれぞれ示す。軟磁性下地層に負のKuを有する材料を用い、非磁性下地層を省略すると、R/W特性がさらに向上し好ましいことが分かった。
2 軟磁性下地層
3 垂直磁気記録層
3−1 補助層
3−2 非磁性中間層
3−3 主記録層
4 保護層
5 非磁性下地層
6 シード層
10、20、40 垂直磁気記録媒体
51 磁気ディスク
52 スピンドル
53 スライダー
54 サスペンション
55 アーム
56 ボイスコイルモータ
57 固定軸
58 蓋体
Claims (23)
- 基板と、該基板上に形成された少なくとも一層の軟磁性下地層と、
該軟磁性下地層上に形成された垂直磁気記録層と、
該垂直磁気記録層上に形成された保護層を具備し、
該垂直磁気記録層は、主記録層と非磁性中間層と補助層から構成されており、
該主記録層は、磁性結晶粒子とそれを取り囲む粒界領域を有し、かつ垂直磁気異方性を有しており、
該補助層は、負の結晶磁気異方性を有しており、
該非磁性中間層は、主記録層と補助層の間に形成され、Ru,Rh,Irから選択される少なくとも一種の金属または合金を含むことを特徴とする磁気記録媒体。 - 前記補助層の結晶磁気異方性の絶対値が、105 erg/cc以上であることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記補助層の厚さが0.5nm以上であることを特徴とする請求項1または2に記載の磁気記録媒体。
- 前記補助層の厚さが、前記主記録層の厚さの半分以下であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記補助層は、Co−Ir,Co−Fe,Mn−Sb,Fe−C,Fe−Ptの中から選択される少なくとも一種の合金を含むことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記補助層がCo−Irからなり、かつIr含有量が5〜40原子パーセントの範囲であることを特徴とする請求項5に記載の磁気記録媒体。
- 前記補助層が、請求項5または6に記載の合金を含む磁性結晶粒子と、それを取り囲む粒界領域を有していることを特徴とする請求項(1)乃至(6)のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記補助層の粒界領域が、Si,Ti,Cr,Al,Mg,Ta,Yのうち少なくとも一種の酸化物または窒化物または炭化物からなることを特徴とする請求項7に記載の磁気記録媒体。
- 前記補助層に含まれる前記酸化物または窒化物または炭化物の物質量の合計の割合が、1乃至20モル%の範囲にあることを特徴とする請求項8に記載の磁気記録媒体。
- 前記非磁性中間層膜厚が、0.3nm〜2nmの範囲内であることを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記非磁性中間層が、Ru、Rh、Irから選択される少なくとの一種の金属または合金からなる結晶粒と、それを取り囲む粒界領域を有することを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記非磁性中間層の粒界領域が、Si,Ti,Cr,Al,Mg,Ta,Yのうち少なくとも一種の酸化物または窒化物または炭化物からなることを特徴とする請求項11に記載の磁気記録媒体。
- 前記非磁性中間層に含まれる前記酸化物または窒化物または炭化物の物質量の合計の割合が、1乃至20モル%の範囲にあることを特徴とする請求項12に記載の磁気記録媒体。
- 前記主記録層の磁性結晶粒子が、Co及びPtを含み、六方最密充填(hcp)構造を有し、(0001)面配向していることを特徴とする請求項1乃至13のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記主記録層の粒界領域が、Si,Ti,Cr,Al,Mg,Ta,Yのうち少なくとも一種の酸化物または窒化物または炭化物からなることを特徴とする請求項1乃至14のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記主記録層に含まれる前記酸化物または窒化物または炭化物の物質量の合計の割合が、5乃至20モル%の範囲にあることを特徴とする請求項15に記載の磁気記録媒体。
- 前記軟磁性下地層が、Co−Zr−Nb,CoB, CoTaZr, FeSiAl,FeTaC,CoTaC,NiFe,Fe,FeCoB,FeCoN,FeTaN、CoIrの中から選択される少なくとも一種の合金を含むことを特徴とする請求項1乃至16のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記軟磁性下地層がCoIrからなり、かつIr含有量が5〜40原子パーセントの範囲であることを特徴とする請求項1乃至17のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
- 前記軟磁性下地層と前記垂直磁気記録層の間に、
(0001)面配向した、hcp構造、
または、(111)面配向した、面心立方(fcc)構造と体心立方(bcc)構造の混合による層状不整格子を含む構造、
または、(111)面配向した、fcc構造とhcp構造の混合による層状不整格子を含む構造、
を有する金属または合金からなる非磁性下地層を設けることを特徴とする請求項1乃至18のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。 - 前記非磁性下地層が、(0001)面配向したRu, Ti, Re、Ru−Cr,Ru−W、Ru−Co、(111)面配向したPt−Cr,Au−Cr,Pd−Cr,Ir−Cr,Pd−W,Pd−W−Cr、Ir−Tiから選択される少なくとも一種であることを特徴とする請求項19に記載の磁気記録媒体。
- 前記軟磁性下地層と前記非磁性下地層との間にシード層を設けることを特徴とする請求項19または20に記載の磁気記録媒体。
- 前記シード層が、Pd、Pt, Ta、Ni−Ta、Ni−Nb、Ni−Zr, Ni−Fe−Cr, Ni−Feから選択される少なくとも一種であることを特徴とする請求項21に記載の磁気記録媒体。
- 請求項1乃至22のいずれか一項に記載の磁気記録媒体と、記録再生ヘッドを具備することを特徴とする磁気記録再生装置。
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