JP2008277505A - 金属化フィルムコンデンサ - Google Patents

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Abstract

【課題】車載時等の過酷な温度サイクルに耐え得る金属化フィルムコンデンサを提供する。
【解決手段】少なくとも片面の蒸着電極を複数個のセグメントに分割し、セグメントをヒューズにより並列接続した金属化フィルムを巻回してなるコンデンサ素子8の端面にメタリコン電極引き出し部7が形成された金属化フィルムコンデンサであって、メタリコン電極引き出し部7にはんだ付けされる金属バー9の接合部が、はんだ接続範囲1箇所に対し複数個の凸部10を有し、凸部10間の間隔L1が、はんだ接続範囲1箇所の径方向長さの0.125〜0.625倍に設定されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、金属化フィルムコンデンサに関し、詳細には車載時等の過酷な温度サイクルに耐え得る乾式金属化フィルムコンデンサのメタリコン電極引き出し部の接合改善に関するものである。
周知のように、高周波、大電流を通電するインバータ回路に使用される乾式金属化フィルムコンデンサには、耐電圧・耐電流性等の高信頼性が要求される。
図5に示すように、従来の乾式金属化フィルムコンデンサのメタリコン引き出し電極部7と金属バー14の接合において、金属バー14にはんだ接続範囲1箇所に対して1個の凸部15を設け、この凸部15ではんだ接続することにより、コンデンサ素子8への熱の影響を少なくして信頼性の向上が図られている(特許文献1)。なお、図中11ははんだ接続範囲、12はケース、13はエポキシ樹脂である。
特開2004−349447号公報
上記特許文献1に係る金属化フィルムコンデンサを高周波、大電流を通電するインバータ回路に使用する場合、上記引き出し電極部と金属バーとの接続は、金属バーに上記の凸部を設け、この凸部ではんだ接合する方法により行っている。この方法によると、コンデンサ素子への熱影響を抑えた状態で、凸部によるはんだ付けが可能であり、上記引き出し電極部としてのメタリコンと金属化フィルムの蒸着電極との接合の劣化は少なくなり、通電時の耐電流性を改善することができる。
しかしながら、上記特許文献1に係る金属化フィルムコンデンサを車載用として使用した場合、−40〜+120℃、2000サイクルの温度サイクル条件が要求されるが、このとき、金属バーに上記の凸部を設けても、はんだ接続範囲に付加される熱ストレスは低減されず、はんだ接続範囲の中心部(凸部端部中央部)からはんだクラックが発生するため、これを改善する必要がある。
本発明は、上記技術的課題に鑑みなされたもので、車載時等の過酷な温度サイクルに耐え得る金属化フィルムコンデンサの提供を目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、少なくとも片面の蒸着電極を複数個のセグメントに分割し、該セグメントをヒューズ部により並列接続した金属化フィルムを巻回してなるコンデンサ素子の端面にメタリコン電極引き出し部が形成された金属化フィルムコンデンサであって、上記メタリコン電極引き出し部にはんだ付けされる金属バーの接合部が、はんだ接続範囲1箇所に対し複数個の凸部を有し、該凸部間の間隔が、上記はんだ接続範囲1箇所の径方向の長さの0.125〜0.625倍に設定されていることを特徴とする。
例えば、上記はんだ接続範囲の直径が8mmのときには、上記凸部間の間隔は1〜5mmとされる。
また、上記はんだ接続範囲1箇所における凸部の長さが、上記はんだ接続範囲1箇所の径方向の長さの1.25〜3.125倍に設定されていることを特徴とする。
例えば、上記はんだ接続範囲の直径が8mmのときには、上記凸部の長さは10〜25mmとされる。
ところで、上記凸部に角部が存在すると、その角部に熱的影響により発生する応力が集中するという問題がある。
そこで、上記各凸部の角部は、角落としされていることが好ましい。これは、例えば、凸部の先端部に丸味を持たせるなどして角ばった部分や尖った部分がないようにする、すなわち凸部の先端部を非尖状形状とすることを意味する。
温度サイクル試験でのはんだ接続範囲のクラック発生は、試験時のひずみ(熱ストレス)が最も集中する中央部が起点となるが、該中央部に金属バーが存在しないようにすることで、ひずみが緩和されてクラックが発生しにくくなる。また、凸部(はんだ接合部)を複数個として、その長さを長くすることにより、熱ストレスが吸収、緩和され、温度サイクル試験で、はんだ接合部が断線に至るまでの時間が長くなり、その結果、温度サイクル性の改善を図ることができる。よって、工業的かつ実用的に極めて大きな効果を奏する。
以下、本発明の実施例を添付図面に基づき詳細に説明する。
[実施例1]複数個の凸部(L1=2mm、L2=20mm、W1=2mm)
図1〜3において、1はポリプロピレンフィルム(以下、「PPフィルム」という)、2はアルミニウム蒸着電極、3は分割蒸着電極フィルム、4はマージン部、5はセグメント(分割蒸着電極)、6はヒューズ部、7はメタリコン引き出し電極部、8はコンデンサ素子、9は結線用金属バー、10は金属バー9の凸部、11ははんだ接続範囲、12は樹脂ケース、13はエポキシ樹脂である。
図3に示すように、分割蒸着電極フィルム3は、7μmのPPフィルム1に片側端部にマージン部4を残してアルミニウム蒸着電極2を形成し、複数個に分割したセグメント5をヒューズ部6で並列接続してなる。
図2に示すように、コンデンサ素子8は、上記の金属化フィルム(分割蒸着電極フィルム)3を巻回し、この端面に引き出し電極としてメタリコン7を形成してなる。
本実施例1に係る乾式金属化フィルムコンデンサは、定格750V、300μFであって、図1(a)に示すように、上記の3個の金属化フィルムコンデンサ素子8に金属バー9をはんだ付けし、その後、ケース12に収納しエポキシ樹脂13を充填・硬化させて作製される。
特に、本実施例1では、図1(b)に示すように、上記のメタリコン引き出し電極部7と金属バー9との接合部において、金属バー9にはんだ接続範囲1箇所に対し2つの凸部10が設けられている。このはんだ接続範囲1箇所の径方向の長さ(円形状のはんだバンプの直径)は、8mmに設定されている。
図1(c)に示すように、上記凸部10は、その長さL2が20mmに設定されていると共に、その間隔L1は2mmに設定されている。また、各凸部10の幅W1は、2mmに設定されている。
(従来例)単数個の凸部(L2=20mm、W=6mm)
従来例(特許文献1)では、図5(c)に示すように、上記のメタリコン引き出し電極部7に接合する金属バー14に、はんだ接続範囲1箇所に対し1個の凸部15を設け、この凸部15の長さL2=20mm、幅W=6mmとした以外は、実施例1と同様に、定格750V、300μFの乾式金属化フィルムコンデンサを作製した。
実施例1および従来例の金属化フィルムコンデンサを各5個、−40〜+120℃の温度サイクル試験(各温度保持時間:2時間、降温・昇温時間:各1時間、1サイクル:6時間、以下同じ)を2000サイクル行って、1kHzでのtanδを測定した結果を表1に示す。
Figure 2008277505
この結果、実施例1では、5個全数で1kHzでのtanδが小さく、安定しているが、従来例では、全数1kHzでのtanδが大きく、5個中3個は接合部はんだにクラックが生じ、これが進行したことにより断線している。これに対して、実施例1は、クラックの起点であるはんだ接続範囲の中央部に金属バー9が存在しないこと、および2つの凸部10を合せたはんだ接合長さ(1箇所のはんだ接続範囲内における2つの凸部10の全長の和)が、単一の凸部15のはんだ接合長さ(1箇所のはんだ接続範囲内における凸部15の全長)よりも長いことから、断線に至るまでの時間が長くなり、ヒートサイクル性が向上していることが分かる。
[実施例2]凸部間の間隔比較(L1=0.5〜7.0mm、L2=20mm、W1=2mm)
本実施例2では、上記のメタリコン引き出し電極部7に接合する金属バー9に設けた上記金属バー凸部10の長さL2を20mm、間隔L1を0.5〜7mmの範囲に設定した以外は、実施例1と同様にして、定格750V、300μFの乾式金属化フィルムコンデンサを作製した。
この実施例2の金属化フィルムコンデンサを各5個、−40〜+120℃の温度サイクル試験を2000サイクル行って、1kHzでのtanδを測定した結果を表2に示す。
Figure 2008277505
この結果、間隔L1が1〜5mmであれば、5個全数1kHzでのtanδが小さく、安定していることが分かる。
これに対し、凸部10の間隔L1が0.5mmの場合は、断線不良は発生していないが、1kHzでのtanδが大きく、−40〜+120℃の過酷な温度サイクル試験では好ましくない。他方、凸部10の間隔L1が7.0mmになると、はんだ接合面積も大きくなって、はんだ接合時の熱の影響によりメタリコン引き出し電極部7と金属化フィルム3との接合が弱くなり、tanδが大きくなる傾向にあり、好ましくない。
[実施例3]凸部の長さ比較(L1=2mm、L2=5〜30mm、W1=2mm)
本実施例3では、上記のメタリコン引き出し電極部7に接合する金属バー9に設けた上記2つの凸部10の長さL2を変化させて、各凸部10の長さL2を5〜30mmとした以外は、実施例1と同様にして、定格750V、300μFの乾式金属化フィルムコンデンサを作製した。
この実施例3の金属化フィルムコンデンサを各5個、−40〜+120℃の温度サイクル試験を2000サイクル行って1kHzでのtanδを測定した結果を表3に示す。
Figure 2008277505
この結果、金属バー9の凸部10の長さL2が10〜25mmであると、5個全数1kHzでのtanδが小さく、安定している。
これに対し、上記の凸部10の長さL2が5mmの場合、断線不良は発生していないが、1kHzでのtanδが大きく、−40〜+120℃の過酷な温度サイクル試験では好ましくない。他方、上記の凸部10の長さL2が30mmになると、はんだ接合面積も大きくなって、はんだ接合時の熱の影響によりメタリコンと金属化フィルムの接合が弱くなり、tanδが大きくなる傾向にあり、好ましくない。
[実施例4]凸部の角落としの比較(L1=2mm、L2=20mm、W=2mm)
本実施例4では、図4に示すように、上記金属バー9の凸部10の先端部がほぼ円弧状に丸味を帯びるようにその角部を角落としした(凸部10の先端部に角落とし部16を設けた)以外は、実施例1と同様に、乾式金属化フィルムコンデンサを作製した。この金属化フィルムコンデンサについて、上記の温度サイクル試験を行ったところ、凸部10に熱膨張・熱収縮により発生する応力が集中する角部がなくなることにより、角部がある、実施例1よりもさらに良好な結果が得られた。その結果を表4に示す。
Figure 2008277505
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本明細書に添付の特許請求の範囲内での種々の設計変更および修正を加え得ることは勿論である。
本発明では、−40〜+120℃のような過酷な温度サイクル性の改善が図れ、以って車載用途のインバータ回路の平滑用コンデンサとしての利用が可能となり、その工業的・実用的価値が大きいゆえ、金属化フィルムコンデンサ、特に乾式金属化フィルムコンデンサとして有用である。
(a)は本発明の実施例1に係る乾式金属化フィルムコンデンサのコンデンサ素子3個を金属バーではんだ接続してケースに収納してエポキシ樹脂を充填、硬化させた状態を示す正面内部構造図、(b)は同じく側面内部構造図、(c)は金属バーとその凸部の拡大図である。 金属化フィルムコンデンサ素子の構成を示す図である。 分割蒸着電極フィルムの構成を模式的に示す図である。 本発明の実施例4に係る乾式金属化フィルムコンデンサの金属バーとその凸部の拡大図である。 (a)は従来例に係る乾式金属化フィルムコンデンサのコンデンサ素子3個を金属バーではんだ接続してケースに収納してエポキシ樹脂を充填、硬化させた状態を示す正面内部構造図、(b)は同じく側面内部構造図、(c)は金属バーとその凸部の拡大図である。
符号の説明
1 PPフィルム
2 アルミニウム蒸着電極
3 分割蒸着電極フィルム(金属化フィルム)
4 マージン部
5 セグメント(分割蒸着電極)
6 ヒューズ部
7 メタリコン電極引き出し部
8 コンデンサ素子
9 金属バー
10 凸部
11 はんだ接続範囲
12 ケース
13 エポキシ樹脂
14 金属バー
15 凸部
16 角落とし部
L1 凸部間の間隔
L2 凸部の長さ
W1 凸部の幅
W 凸部の幅

Claims (3)

  1. 少なくとも片面の蒸着電極を複数個のセグメントに分割し、該セグメントをヒューズ部により並列接続した金属化フィルムを巻回してなるコンデンサ素子の端面にメタリコン電極引き出し部が形成された金属化フィルムコンデンサであって、
    上記メタリコン電極引き出し部にはんだ付けされる金属バーの接合部が、はんだ接続範囲1箇所に対し複数個の凸部を有し、
    該凸部間の間隔が、上記はんだ接続範囲1箇所の径方向長さの0.125〜0.625倍に設定されていることを特徴とする金属化フィルムコンデンサ。
  2. 上記はんだ接続範囲1箇所における凸部の長さが、上記はんだ接続範囲1箇所の径方向長さの1.25〜3.125倍に設定されていることを特徴とする請求項1記載の金属化フィルムコンデンサ。
  3. 上記凸部の角部が角落としされていることを特徴する請求項1または2に記載の金属化フィルムコンデンサ。
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