JP2008256632A5 - - Google Patents
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Claims (7)
- 複数のピンを有する半導体集積回路のピン間ショートを検出する半導体集積回路の試験方法において、
ＩＣテスタまたは前記半導体集積回路が、前記半導体集積回路の所望ピンにパルスまたはステップ信号を発生し、
前記ＩＣテスタが、前記所望ピンに隣接する前記半導体集積回路のピンからの波形によりピン間ショートの判定を行うことを特徴とする半導体集積回路の試験方法。 - ＩＣテスタが、判定タイミングで、波形が判定値より大きいとき、ピン間ショートと判定することを特徴とする請求項１記載の半導体集積回路の試験方法。
- 半導体集積回路は、液晶駆動ドライバであることを特徴とする請求項１または２記載の半導体集積回路の試験方法。
- 複数のピンを有する半導体集積回路を試験するＩＣテスタにおいて、
前記半導体集積回路の所望ピンにパルスまたはステップ信号を発生し、この所望ピンに隣接する隣接ピンの波形によりピン間ショートを判定する試験部を設けたことを特徴とするＩＣテスタ。 - 試験部が、判定タイミングで、波形が判定値より大きいとき、ピン間ショートと判定することを特徴とする請求項４記載のＩＣテスタ。
- 試験部は、
所望ピンにパルスまたはステップ信号を発生するパルス発生部と、
隣接ピンを測定する測定部と
を有する請求項４または５記載のＩＣテスタ。 - 半導体集積回路は、液晶駆動ドライバであることを特徴とする請求項４〜６のいずれかに記載のＩＣテスタ。
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