JP2008249638A - 赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法 - Google Patents

赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008249638A
JP2008249638A JP2007094131A JP2007094131A JP2008249638A JP 2008249638 A JP2008249638 A JP 2008249638A JP 2007094131 A JP2007094131 A JP 2007094131A JP 2007094131 A JP2007094131 A JP 2007094131A JP 2008249638 A JP2008249638 A JP 2008249638A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared radiation
radiation thermometer
pseudo
thermometer
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007094131A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4668229B2 (ja
Inventor
Yuichi Furukawa
雄一 古川
Shingo Nakamura
慎吾 中村
Yuji Okada
裕二 岡田
Fumio Kawahara
文雄 河原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Meiwa eTec Co Ltd
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Meiwa eTec Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2007094131A priority Critical patent/JP4668229B2/ja
Application filed by Toyota Motor Corp, Meiwa eTec Co Ltd filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to US12/593,541 priority patent/US8445847B2/en
Priority to BRPI0809203-6A2A priority patent/BRPI0809203A2/pt
Priority to PCT/JP2008/056283 priority patent/WO2008123487A1/ja
Priority to CN2008800107942A priority patent/CN101652644B/zh
Priority to EP08739397.1A priority patent/EP2133675A4/en
Publication of JP2008249638A publication Critical patent/JP2008249638A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4668229B2 publication Critical patent/JP4668229B2/ja
Priority to US13/567,866 priority patent/US9163992B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0003Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiant heat transfer of samples, e.g. emittance meter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0037Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the heat emitted by liquids
    • G01J5/004Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the heat emitted by liquids by molten metals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0044Furnaces, ovens, kilns
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/026Control of working procedures of a pyrometer, other than calibration; Bandwidth calculation; Gain control
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/04Casings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/05Means for preventing contamination of the components of the optical system; Means for preventing obstruction of the radiation path
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0803Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0846Optical arrangements having multiple detectors for performing different types of detection, e.g. using radiometry and reflectometry channels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0859Sighting arrangements, e.g. cameras
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/12Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/52Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
    • G01J5/53Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J2005/0077Imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/48Thermography; Techniques using wholly visual means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

【課題】サーモグラフィに用いられる前記赤外線放射温度計において、前記赤外線放射温度計の計測異常を検出し、対物レンズの汚れや、機構部の不具合などの計測異常の原因を推定できる技術を提案する。
【解決手段】赤外線放射温度計10の対物レンズ11の周囲に対物レンズ11よりも汚れやすい位置及び姿勢で配置される疑似レンズ21と、疑似レンズ21に投光するとともに疑似レンズ21にて反射した光を受光して、その受光量を測定するレーザー変位計22(受光量測定手段)と、受光量を取得してその減衰率に基づいて疑似レンズ21の汚れの度合いを推定し、疑似レンズ21の汚れの度合いに基づいて対物レンズ11汚れの警告の要否を判断する判断手段50とを備える。さらに、測定対象に疑似黒体を設定し、赤外線放射温度計10及び熱電温度計63でその温度を測定して、この測定温度差に基づいて赤外線放射温度計の測定異常の原因を判断する。
【選択図】図2

Description

本発明は、赤外線放射温度計を用いた温度測定において、測定不良を未然に防止するとともに測定異常を検出するための技術に関する。
従来、工学や医学をはじめ様々な分野において、非接触で計測対象の表面温度を測定するためにサーモグラフィが用いられる。サーモグラフィは、物体や生体の表面の温度分布を画像として表す方法であり、赤外線放射温度計で検出した温度を電気特性の変化として捉え、これを光の強弱に再変換して画像出力することで、計測対象表面の連続した温度分布を観察できるようになっている。
前記赤外線放射温度計は、例えば、計測対象から放射される赤外線をレンズで集光し、検出素子に焦点を結び、該検出素子から赤外線の強弱に応じた電気信号が得て、これを増幅し、リニアライズ補正と放射率補正を行ったのち表示出力するものである。
上記のようなサーモグラフィは、鋳造において鋳造金型のキャビティの温度を計測するためにも用いられる。
鋳造工程は、例えば、図1に示すステップS1〜ステップS4にて行われる。まず、鋳造金型30を型締めして(ステップS1)、キャビティ33に溶湯を射出して製品を成形したのち(ステップS2)、型開きして製品を前記鋳造金型30から取り出し(ステップS3)、キャビティ33に離型剤を吹き付けると共にこれをエアブローにて乾燥させ(S4)、再度前記鋳造金型30を型締めして(ステップS1)、鋳造の次サイクルに移行する。
上記鋳造工程において、鋳造金型の型開き時に赤外線放射温度計10を用いてキャビティの温度の計測が行われる。しかし、鋳造金型30の型開き時には、キャビティ33から煙や油ミスト、離型剤などが飛散するため、赤外線放射温度計10の対物レンズ11は油分や粉塵などが付着して汚れてしまう。このようにして赤外線放射温度計10の対物レンズ11に汚れが堆積すると、測定不良が生じるので、該対物レンズ11の表面を適時清掃する必要がある。
赤外線放射温度計のレンズを防汚するための技術として、特許文献1では、赤外線放射温度計において、油分や粉塵等の対物レンズへの付着を防止するとともに、汚れの点検及び清掃作業を迅速に行うために、対物レンズの前位置に保護用フィルタを着脱自由に設けている。
実用新案登録第3041996号公報
しかしながら、鋳造において鋳造金型のキャビティの温度を測定する際には、赤外線放射温度計の対物レンズは鋳造金型の上方や高温となる位置など作業者の視認し難い位置に設置されることがあり、この場合は、実際に対物レンズの汚れで測定異常が生じているのかが判断し難い。また、赤外線放射温度計の対物レンズの汚れによる測定異常を防止するために前記対物レンズの表面を常時清掃することも可能ではあるが、生産的ではない。
そこで本発明では、サーモグラフィに用いられる前記赤外線放射温度計において、前記赤外線放射温度計の計測異常を検出し、対物レンズの汚れや、赤外線放射温度計の機構部の不具合などの計測異常の原因を推定できる技術を提案する。
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
即ち、請求項1においては、赤外線放射温度計の対物レンズの周囲に前記対物レンズよりも汚れやすい位置及び姿勢で配置される疑似レンズと、所定時間毎或いは所定のタイミングで前記疑似レンズに投光するとともに前記疑似レンズにて反射した光を受光して、その受光量を測定する受光量測定手段と、前記受光量測定手段にて測定した受光量により投光した光の減衰率を算出し、算出した減衰率に基づいて前記疑似レンズの汚れの度合いを推定し、前記疑似レンズの汚れの度合いに基づいて対物レンズ汚れの警告の要否を判断する判断手段とを、備えるものである。
請求項2においては、赤外線放射温度計の対物レンズの周囲に前記対物レンズよりも汚れやすい位置及び姿勢で配置される疑似レンズと、受光量測定手段と、前記受光量測定手段に接続された判断手段とを備えて、前記受光量測定手段にて、所定時間毎或いは所定のタイミングで前記疑似レンズに投光するとともに前記疑似レンズにて反射した光を受光して、その受光量を測定するステップと、前記判断手段にて、測定した受光量により投光した光の減衰率を算出し、算出した減衰率に基づいて前記疑似レンズの汚れの度合いを推定し、前記疑似レンズの汚れの度合いに基づいて対物レンズ汚れの警告の要否を判断するステップとを、行うものである。
請求項3においては、赤外線放射温度計の計測対象において黒体とみなせる部位に設定された疑似黒体ポイントの温度を測定する熱電温度計と、前記熱電温度計による前記疑似黒体ポイントの測定温度と、前記赤外線放射温度計による前記疑似黒体ポイントの測定温度とを取得し、これらの測定温度の差に基づいて測定異常を検出するとともに、測定異常が検出された場合に、前記熱電温度計の測定温度と前記赤外線放射温度計の測定温度との関係に基づいて、前記赤外線放射温度計と前記熱電温度計とのうち何れに不具合があるかを判断する判断手段とを、備えるものである。
請求項4においては、赤外線放射温度計の計測対象において黒体とみなせる部位に設定された疑似黒体ポイントの温度を測定する熱電温度計と、前記赤外線放射温度計及び前記熱電温度計に接続された判断手段とを備えて、前記赤外線放射温度計及び前記熱電温度計にて、前記前記疑似黒体ポイントの温度を測定するステップと、前記判断手段にて、前記赤外線放射温度計及び前記熱電温度計の測定温度を取得し、これらの測定温度の差に基づいて測定異常を検出するとともに、測定異常が検出された場合に、前記熱電温度計の測定温度と前記赤外線放射温度計の測定温度との関係に基づいて、前記赤外線放射温度計と前記熱電温度計とのうち何れに不具合があるかを判断するステップとを、行うものである。
本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。
本発明によれば、予め任意に定めた閾値により赤外線放射温度計の計測異常の発生前に対物レンズの汚れを警告することができる。また、赤外線放射温度計の計測異常が、赤外線放射温度計の機構部の不具合に起因するものかを知り、効率的にメンテナンスを行うことができる。
次に、発明の実施の形態を説明する。
図1は鋳造工程の流れを説明する図である。
図2は本実施例に係る赤外線放射温度計及びこれに付帯された各装置の構成を示す図、図3はレンズ汚れ検出機構及び熱電温度計の配置を説明する図、図4はレンズ汚れ検出機構及び熱電温度計の配置を説明する図である。
図5はレーザー変位計の受光量と疑似レンズの汚れ度合いの関係を示す図、図6は赤外線放射温度計と熱電温度計との測定温度の関係を示す図である。
図7は判断手段による対物レンズ汚れ検出の流れ図、図8は判断手段による測定異常検出の流れ図である。
図2に示すように、本実施例に係る赤外線放射温度計10は、鋳造金型30のキャビティ33の表面温度を測定するためのものである。この赤外線放射温度計10には、レンズの汚れを検知するレンズ汚れ検出機構20と、赤外線放射温度計10の計測対象である鋳造金型30の温度を計測する熱電温度計63と、前記赤外線放射温度計10とレンズ汚れ検出機構20と熱電温度計63とに電気的に接続される判断手段50とで成る測定異常検出装置が付帯される。この測定異常検出装置では、前記赤外線放射温度計10の対物レンズ11の汚れが警告され、また、測定異常が生じたときに赤外線放射温度計10、測定異常検出装置の何れの不具合であるかが特定される。
なお、本実施例では、赤外線放射温度計10及び測定異常検出装置を鋳造金型30に備えているが、この用途に限定されるものではなく、例えば、プレス機に備えてプレス成形品の温度を測定するためなどにも用いることができる。
まず、前記赤外線放射温度計10及び前記測定異常検出装置が備えられる鋳造金型30について説明する。
図3及び図4に示すように、鋳造金型30には、固定型31と、該固定型31に対して進退移動可能な可動型32などが備えられる。鋳造金型30が型締めされた状態(固定型31と可動型32とが閉じ合わされた状態)で、固定型31と可動型32との合わせ面に、鋳造品を成形するキャビティ33が形成される。
前記キャビティ33の表面は反射率が小さい方が望ましい。そこで、キャビティ33の表面の反射率を低減するために、例えば、黒色物体であるフラーレン炭素を塗布する場合もある。フラーレン炭素は、鋳造金型30や鋳造製品に影響を与えず、また、鋳造しても鋳造金型30より剥がれにくく、さらに、剥がれたとしても簡易に再塗布できるので、キャビティ33に塗布する黒色物体として好適である。
上記のように反射率が小さい物体をキャビティ33に塗布することにより、赤外線放射温度計10を用いて鋳造金型30の温度測定を行う際の測定精度を向上させることができる。これは、新品の鋳造金型30のキャビティ33は光沢銀色で反射率が高いが、黒色物体を塗布することで反射率を低減させることができること、また、鋳造金型30のキャビティ33は使用状況により色ムラが生じるが、黒色物体を塗布することでこの色ムラを低減させることができること、などにより鋳造金型30の新古や使用状態に関わらずキャビティ33の表面状態を略一定とすることができるためである。
また、黒色物体をキャビティ33に塗布することにより、鋳造金型30の焼き付きを低減することができる。
[赤外線放射温度計10]
続いて、前記赤外線放射温度計10の構成について説明する。
前記赤外線放射温度計10は、鋳造金型30のキャビティ33の表面温度を非接触且つ非破壊で測定するために備えられる。
図2〜図4に示すように、前記赤外線放射温度計10は、対物レンズ11と、検出素子12と、演算部13と出力部14とを備えるものである。赤外線放射温度計10の対物レンズ11は、型開きされた状態(固定型31と可動型32とが離れた状態)の前記鋳造金型30において、固定型31及び可動型32の合わせ面に露出するキャビティ33を撮像可能な位置に配置される。
前記赤外線放射温度計10では、前記対物レンズ11にて計測対象から放射される赤外線が集光されてその焦点が前記検出素子12にて結ばれ、前記検出素子12にて前記赤外線の強弱に応じた電気信号に変換され、前記演算部13にて前記電気信号の増幅、リニアライズ補正並びに放射率補正などが行われたのち、前記出力部14にて表示出力される。
但し、赤外線放射温度計10の構成は上記に限定されるものではなく、一般に入手可能な赤外線放射温度計を用いることができる。
[レンズ汚れ検出機構20]
次に、前記レンズ汚れ検出機構20について説明する。
前記測定異常検出装置には、赤外線放射温度計10の対物レンズ11の汚れ度合いを検出するためのレンズ汚れ検出機構20として、疑似レンズ21とレーザー変位計22とが備えられる。
図2〜図4に示すように、前記疑似レンズ21は、前記赤外線放射温度計10の対物レンズ11の周囲に前記対物レンズ11よりも汚れやすい位置及び姿勢で配置される。詳細には、前記疑似レンズ21は、赤外線放射温度計10の対物レンズ11に近接し、且つ、鋳造金型30のキャビティ33より放出されるガスや飛散物などが付着し易く前記対物レンズ11と汚れ度合いが同等以上となる位置・姿勢で、配置される。
なお、前記疑似レンズ21として、透光性を有し、傷が付きにくく、且つ、鋳造金型30のキャビティ33から放出される気体や飛散物等で熱変形したり反応したりしないもの(例えば、ガラスレンズ等)が採用される。
そして、前記疑似レンズ21から所定距離だけ離れた位置に、前記レーザー変位計22が設けられる。前記レーザー変位計22として一般に入手可能なレーザー変位計を用いることができる。なお、疑似レンズ21とレーザー変位計22との距離は近い方が精度を向上させるうえで望ましい。
前記レーザー変位計22は、所定時間毎或いは所定のタイミングで前記疑似レンズ21に投光するとともに、前記疑似レンズ21にて反射した光を検出して、その受光量(強度)を測定する受光量測定手段の一例として、レンズ汚れ検出機構20に採用されるものである。
従って、疑似レンズ21に投光するとともに、前記疑似レンズ21にて反射した光の量(強度)を検出することのできるものを前記レーザー変位計22の代わりに採用することができ、例えば、光源及び輝度計を備えて、前記光源から疑似レンズ21に投光し、該疑似レンズ21にて反射された光の強度を前記輝度計にて測定する構成ともできる。
前記疑似レンズ21は透光性を有するため、該疑似レンズ21に投光されたレーザー光の一部は透過し、一部は吸収され、残部は反射することとなる。図5に示すように、疑似レンズ21の汚れ度合いが大きいほど、レーザー変位計22で検出される受光量は小さくなることがわかっている。そこで、前記レーザー変位計22は、レーザー変位計22から疑似レンズ21までの変位を計測するのではなく、レーザー変位計22から疑似レンズ21までの距離を略一定に保持した状態で、レーザー変位計22で検出した受光量の変化(減衰量)に基づいて、疑似レンズ21の汚れ度合いを測定するために設けられる。レンズ汚れ検出機構20では、この疑似レンズ21の汚れ度合いに基づいて、赤外線放射温度計10の対物レンズ11の汚れ度合いが推定されるのである。
前記レーザー変位計22には、発光素子23と光検出素子24と演算部25と出力部26とが備えられる。発光素子23から発光されたレーザー光は投光レンズ23aを通して集光され、疑似レンズ21に照射される。そして、疑似レンズ21にて拡散反射された光線の一部は、受光レンズ24aを通して光検出素子24で検出される。演算部25ではこの光検出素子24で検出される受光量(光の強度)が算出され、出力部26に表示出力されるとともに、後述する判断手段50に伝達される。
上記レンズ汚れ検出機構20では、赤外線放射温度計10の対物レンズ11ではなく、疑似レンズ21がレンズ汚れの測定対象とされている。よって、赤外線放射温度計10を別のものと交換してもレンズ汚れ検出機構20は継続して使用可能である。赤外線放射温度計10のレンズ汚れなどのメンテナンスは、専門家に外注して行われることもあり、レンズ汚れ検出機構20と赤外線放射温度計10とを独立させることは、赤外線放射温度計10のみを交換して鋳造を継続することができるという点で好適な構成である。
[熱電温度計63]
次に、熱電温度計63について説明する。
図2〜図4に示すように、前記赤外線放射温度計10の測定異常を検出するために、測定異常検出装置には鋳造金型30の温度を測定する熱電温度計63が備えられる。そして、この熱電温度計63並びに赤外線放射温度計10の双方にて、赤外線放射温度計10の計測対象である鋳造金型30において黒体とみなせる部位に設定された疑似黒体ポイント61の温度が測定される。
前記疑似黒体ポイント61は、鋳造金型30のキャビティ33又はその近傍において、赤外線が吸収される形状(望ましくは、円錐形状)を有する部位又は測定対象であるキャビティ33の形状特性上最も黒体に近い部位に設定される。このように疑似黒体ポイント61は赤外線放射温度計10の測定対象である鋳造金型30のキャビティ33又はその近傍に設けられるので、赤外線放射温度計10の測定異常を精度良く検出することが可能となる。
本実施例においては、前記鋳造金型30のキャビティ33又はその近傍に円錐形状穴62が設けられ、この穴62の奥部が疑似黒体ポイント61とされる。前記疑似黒体ポイント61は、キャビティ33の内周形状に存在する円錐形状穴を利用したり、キャビティ33近傍に新たに円錐形状穴を形成したりして、鋳造金型30に設けることができる。
なお、鋳造金型30に疑似黒体ポイント61を設けることが困難であるときには、熱電温度計63の熱電対64を保持するための治具を設け、該治具に疑似黒体ポイント61を設定することもできる。
前記熱電温度計63には、熱電対64と検出部65と演算部66と出力部67とが備えられ、前記熱電対64に生じた起電力が前記検出部65にて検出され、前記演算部66にて検出された起電力に基づいて温度が算出され、前記出力部67にて表示出力されるとともに、後述する判断手段50に伝達される。
前記熱電温度計63は、前記疑似黒体ポイント61の温度を測定するために設けられるものであるが、実際には、疑似黒体ポイント61そのものの温度を測定することは困難であるので、前記疑似黒体ポイント61の近傍に熱電対64が配置され、前記熱電温度計63では前記鋳造金型30の疑似黒体ポイント61の温度により近い温度が測定されることとなる。
[判断手段50]
次に、前記判断手段50の構成について説明する。
図2に示すように、前記判断手段50には、前記赤外線放射温度計10と、前記レンズ汚れ検出機構20と、前記判断手段50とが、情報の送受信可能に接続される。前記判断手段50はこれらより情報を取得して、前記赤外線放射温度計10の対物レンズ11の汚れを検知し、対物レンズ11の汚れの警告の要否を判断するとともに、赤外線放射温度計10の測定異常を判断するものである。
前記判断手段50は、いわゆる、電子計算機である。この電子計算機には、制御部51、演算部52、記憶部53、出入力部54、操作入力部55、並びに出力部56等が備えられ、これらはバスを介して相互に接続されており、前記制御部51による管理の下で相互にデータのやりとりを行うことができる。
前記制御部51は、判断手段50全体の動作制御を司るものである。前記演算部52は、前記記憶部53に格納されている各種のアプリケーションプログラムを読み出して実行し、判断手段50に判断手段としての機能を発揮させるためのものである。前記記憶部53は、上記各種のアプリケーションプログラムやデータを格納するものである。前記出入力部54は、例えば任意のネットワークを介して外部の装置とデータ送受信を行うためのものであり、赤外線放射温度計10、レンズ汚れ検出機構20並びに温度補正装置60から情報を取得したり、これらに制御信号を送信したりするためのものである。前記操作入力部55は、例えばキーボード、マウス等であり、判断手段50に情報を入力するためのものである。前記出力部56は、判断手段50での演算処理結果を出力するディスプレイやスピーカである。
ここで、前記レーザー変位計22の計測出力値を取得した判断手段50の処理について、図7に示す流れ図に基づいて説明する。
前記判断手段50では、レーザー変位計22にて疑似レンズ21に投光される光の量(強度)が設定される。そして、鋳造が開始されると、レーザー変位計22にて、所定時間毎或いは所定のタイミングで前記疑似レンズ21に投光するとともに前記疑似レンズ21にて反射した光を受光して、その受光量が測定される。
前記判断手段50にて、前記レーザー変位計22の出力値が取得されると(S21)、前記出力値(受光量)により投光した光の減衰率が算出される。続いて、判断手段50では、この減衰率が予め設定された閾値と比較され(S22)、前記疑似レンズの汚れの度合いが推定される。前記閾値は、赤外線放射温度計10の対物レンズ11が汚れて正確な測定値が得られないためにレンズの汚れを警告すべき状態となったときの減衰率であり、予め実験的に求められて判断手段50に設定される。
そして、前記判断手段50では、前記疑似レンズの汚れの度合いに基づいて対物レンズ汚れの警告の要否が判断される。つまり、前記閾値よりも前記減衰率が大きくなったときに(S22のYES)、前記対物レンズ汚れの警告が必要であると判断され(S23)、出力部56にて表示出力又は音声出力される(S24)。この警告が出力されたときが、赤外線放射温度計10の対物レンズ11の清掃を行うべき適時であり、作業者が赤外線放射温度計10の対物レンズ11の清掃又は交換を行ったり、或いは、ワイパー等の対物レンズ11及び疑似レンズ21の清掃手段を備えて自動的にこれらの清掃を行う構成としたりすることができる。
前述の通り、疑似レンズ21は、赤外線放射温度計10の対物レンズ11より汚れやすい位置に配置されているため該対物レンズ11よりも早く汚れ、その程度が大きい。従って、判断手段50にて赤外線放射温度計10の対物レンズ11の清掃を行うべき適時と判断される前に、前記対物レンズ11の汚れによる赤外線放射温度計10の測定不良が生じることはなく、測定不良を未然に防止することができるのである。
なお、上記レンズ汚れ検出機構20を、赤外線放射温度計10の対物レンズ11の汚れ以外にも、太陽光などの外乱要因を検出して、測定不良を未然に防ぐために用いることもできる。
続いて、前記熱電温度計63の計測温度及び赤外線放射温度計10の計測温度を取得した判断手段50の処理について、図8に示す流れ図に基づいて説明する。
図1に示す鋳造工程のうち、鋳造金型30が型開きされている状態(ステップS3及びステップS4)において、所定時間毎に或いは所定のタイミングで、赤外線放射温度計10と熱電温度計63との双方で略同時に疑似黒体ポイント61の温度が測定される。
前記判断手段50にて、熱電温度計63にて計測された疑似黒体ポイント61の温度と、赤外線放射温度計10で計測された疑似黒体ポイント61の温度とが取得されると(S31)、前記判断手段50では、これらの測定温度が比較演算され(S32)、この測定温度の差に基づいて測定異常が検出される。前記判断手段50では、赤外線放射温度計10と熱電温度計63との測定温度の差が所定の閾値より大きくなれば(S32のYES)、測定異常があるとされる。
そして、測定異常が検出された場合には、前記判断手段50にて、前記熱電温度計63の測定温度と前記赤外線放射温度計10の測定温度との関係に基づいて、前記赤外線放射温度計10の機能部(対物レンズ11以外の部分)と前記熱電温度計63とのうち何れに不具合があるかが判断される。
これに際し、前記判断手段50では、測定異常の傾向、つまり、赤外線放射温度計10の測定温度と熱電温度計63の測定温度との大小関係に基づき、下記NG領域1とNG領域2のうち何れに属するかが判断される。
図6の図表に示すように、赤外線放射温度計10の測定温度と熱電温度計63の測定温度との関係について、OK領域並びにNG領域が設定され、判断手段50の記憶部53に予め格納される。前記NG領域のうち、赤外線放射温度計10の測定温度が熱電温度計63の測定温度よりも大きいNG領域をNG領域1とし、逆に、赤外線放射温度計10の測定温度が熱電温度計63の測定温度よりも大きいNG領域をNG領域2とする。
判断手段50では、測定異常の傾向がNG領域1にある場合には(S33のYES)、赤外線放射温度計10の機能部に異常があると判断される(S34)。この測定異常の原因としては、例えば、赤外線放射温度計10の検出素子12や演算部13の不具合等が挙げられる。
一方、測定異常の傾向がNG領域2にある場合には(S33のNO)、熱電温度計63に異常があると判断される(S35)。この測定異常の原因としては、例えば、熱電対64の破断等が挙げられる。
そして、この判断手段50の判断結果は、測定異常の警告として出力部56にて表示出力又は音声出力される(S36)。
なお、本実施例に係る測定異常検出装置では、一つの判断手段50に対して、レーザー変位計22並びに熱電温度計63の両方から測定結果が出力される。この構成によれば、上記判断手段50におけるレーザー変位計22からの出力を得たときの処理と、赤外線放射温度計10及び熱電温度計63からの出力を得たときとの処理とを、判断手段50にて包括的に行って、赤外線放射温度計10の測定異常が、赤外線放射温度計10の対物レンズ11の汚れによるものか、赤外線放射温度計10の機能部の不具合によるものか、或いは、熱電温度計63の不具合によるものかを、判断することが可能である。
つまり、判断手段50では、レーザー変位計22からの得た出力値(受光量)の減衰率が所定の閾値以内であって、赤外線放射温度計10と熱電温度計63との測定温度差が所定の閾値を超えるときには、その測定異常の傾向がNG領域1とNG領域2との何れに属するかによって、赤外線放射温度計10の機能部又は熱電温度計63の不具合が警告され、一方、赤外線放射温度計10と熱電温度計63との測定温度差が所定の閾値以内であって、レーザー変位計22からの得た出力値(受光量)の減衰率が所定の閾値を超えるときには、赤外線放射温度計10の対物レンズ11の汚れが警告されるのである。
このように、判断手段50では赤外線放射温度計での測定異常を検出してその原因を推定できるので、赤外線放射温度計10の機能部或いは対物レンズ11、レンズ汚れ検出機構20又は熱電温度計63のメンテナンスを効率的に行うことができる。
鋳造工程の流れを説明する図。 本実施例に係る赤外線放射温度計及びこれに付帯された各装置の構成を示す図。 レンズ汚れ検出機構及び熱電温度計の配置を説明する図。 レンズ汚れ検出機構及び熱電温度計の配置を説明する図。 レーザー変位計の受光量と疑似レンズの汚れ度合いの関係を示す図。 赤外線放射温度計と熱電温度計との測定温度の関係を示す図。 判断手段による対物レンズ汚れ検出の流れ図。 判断手段による測定異常検出の流れ図。
符号の説明
10 赤外線放射温度計
11 対物レンズ
20 レンズ汚れ検出機構
21 疑似レンズ
22 レーザー変位計
30 鋳造金型
33 キャビティ
50 判断手段
61 疑似黒体ポイント
63 熱電温度計
64 熱電対

Claims (4)

  1. 赤外線放射温度計の対物レンズの周囲に前記対物レンズよりも汚れやすい位置及び姿勢で配置される疑似レンズと、
    所定時間毎或いは所定のタイミングで前記疑似レンズに投光するとともに前記疑似レンズにて反射した光を受光して、その受光量を測定する受光量測定手段と、
    前記受光量測定手段にて測定した受光量により投光した光の減衰率を算出し、算出した減衰率に基づいて前記疑似レンズの汚れの度合いを推定し、前記疑似レンズの汚れの度合いに基づいて対物レンズ汚れの警告の要否を判断する判断手段とを、
    備えることを特徴とする赤外線放射温度計の測定異常検出装置。
  2. 赤外線放射温度計の対物レンズの周囲に前記対物レンズよりも汚れやすい位置及び姿勢で配置される疑似レンズと、受光量測定手段と、前記受光量測定手段に接続された判断手段とを備えて、
    前記受光量測定手段にて、所定時間毎或いは所定のタイミングで前記疑似レンズに投光するとともに前記疑似レンズにて反射した光を受光して、その受光量を測定するステップと、
    前記判断手段にて、測定した受光量により投光した光の減衰率を算出し、算出した減衰率に基づいて前記疑似レンズの汚れの度合いを推定し、前記疑似レンズの汚れの度合いに基づいて対物レンズ汚れの警告の要否を判断するステップとを、
    行うことを特徴とする赤外線放射温度計の測定異常検出方法。
  3. 赤外線放射温度計の計測対象において黒体とみなせる部位に設定された疑似黒体ポイントの温度を測定する熱電温度計と、
    前記熱電温度計による前記疑似黒体ポイントの測定温度と、前記赤外線放射温度計による前記疑似黒体ポイントの測定温度とを取得し、これらの測定温度の差に基づいて測定異常を検出するとともに、測定異常が検出された場合に、前記熱電温度計の測定温度と前記赤外線放射温度計の測定温度との関係に基づいて、前記赤外線放射温度計と前記熱電温度計とのうち何れに不具合があるかを判断する判断手段とを、
    備えることを特徴とする、赤外線放射温度計の測定異常検出装置。
  4. 赤外線放射温度計の計測対象において黒体とみなせる部位に設定された疑似黒体ポイントの温度を測定する熱電温度計と、前記赤外線放射温度計及び前記熱電温度計に接続された判断手段とを備えて、
    前記赤外線放射温度計及び前記熱電温度計にて、前記前記疑似黒体ポイントの温度を測定するステップと、
    前記判断手段にて、前記赤外線放射温度計及び前記熱電温度計の測定温度を取得し、これらの測定温度の差に基づいて測定異常を検出するとともに、測定異常が検出された場合に、前記熱電温度計の測定温度と前記赤外線放射温度計の測定温度との関係に基づいて、前記赤外線放射温度計と前記熱電温度計とのうち何れに不具合があるかを判断するステップとを、
    行うことを特徴とする赤外線放射温度計の測定異常検出方法。
JP2007094131A 2007-03-30 2007-03-30 赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法 Active JP4668229B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007094131A JP4668229B2 (ja) 2007-03-30 2007-03-30 赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法
BRPI0809203-6A2A BRPI0809203A2 (pt) 2007-03-30 2008-03-25 Dispositivo e método de detecção de medição anormal para termômetro de radiação infravermelha
PCT/JP2008/056283 WO2008123487A1 (ja) 2007-03-30 2008-03-25 赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法
CN2008800107942A CN101652644B (zh) 2007-03-30 2008-03-25 红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法
US12/593,541 US8445847B2 (en) 2007-03-30 2008-03-25 Abnormal measurement detection device and method for infrared radiation thermometer
EP08739397.1A EP2133675A4 (en) 2007-03-30 2008-03-25 DEVICE AND METHOD FOR DETECTING ANOMALICAL MEASUREMENTS FOR A REFRIGERATIVE RADIATION THERMOMETER
US13/567,866 US9163992B2 (en) 2007-03-30 2012-08-06 Abnormal measurement detection device and method for infrared radiation thermometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007094131A JP4668229B2 (ja) 2007-03-30 2007-03-30 赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008249638A true JP2008249638A (ja) 2008-10-16
JP4668229B2 JP4668229B2 (ja) 2011-04-13

Family

ID=39830965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007094131A Active JP4668229B2 (ja) 2007-03-30 2007-03-30 赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US8445847B2 (ja)
EP (1) EP2133675A4 (ja)
JP (1) JP4668229B2 (ja)
CN (1) CN101652644B (ja)
BR (1) BRPI0809203A2 (ja)
WO (1) WO2008123487A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010286259A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Konica Minolta Business Technologies Inc 温度検出装置及び温度検出装置を備えた画像形成装置
JP2015041487A (ja) * 2013-08-21 2015-03-02 株式会社東芝 組電池モジュール

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9509923B2 (en) * 2012-01-10 2016-11-29 General Electric Company Continuous infrared thermography monitoring and life management system for heat recovery steam generators
CN102661799B (zh) * 2012-05-16 2014-11-19 广东电网公司珠海供电局 故障定位方法与系统
EP2778012B1 (en) * 2013-03-15 2019-07-24 Ecm S.P.A. Integrity verification of IR detectors for a rail vehicle
CN107543613B (zh) * 2017-08-23 2024-02-02 西安科技大学 一种井下红外测温精度影响因素测试装置及测试方法
JP7067315B2 (ja) * 2018-06-28 2022-05-16 コニカミノルタ株式会社 画像形成装置
TWI705235B (zh) 2019-07-19 2020-09-21 財團法人工業技術研究院 感測裝置
EP4143362A1 (en) * 2020-06-30 2023-03-08 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Method for controlling a flux distribution of evaporated source material, detector for measuring electromagnetic radiation reflected on a source surface and system for thermal evaporation with electromagnetic radiation

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59160723A (ja) * 1983-03-04 1984-09-11 Nippon Steel Corp 放射温度計の較正方法
JPH0491919A (ja) * 1990-08-08 1992-03-25 Chino Corp 金型温度測定装置
JPH05133816A (ja) * 1991-11-11 1993-05-28 Yamatake Honeywell Co Ltd 温度測定装置
JPH05146844A (ja) * 1991-11-27 1993-06-15 Shigehiro Murata シエル鋳型造型機の温度制御方法
JPH06174553A (ja) * 1992-12-08 1994-06-24 Sanyu Kogyo Kk 金型温度測定方法
JPH07333072A (ja) * 1994-06-08 1995-12-22 Chino Corp 熱電対出力比較装置
JP2000046656A (ja) * 1998-07-28 2000-02-18 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 受光損失補償機能を有する放射温度計とその温度計測方法
JP2002090224A (ja) * 2000-09-20 2002-03-27 Nkk Corp 温度計の異常検知方法および異常検知装置
JP2003130366A (ja) * 2001-10-25 2003-05-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 加熱調理器
JP2003296849A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Nohmi Bosai Ltd トンネル防災システムおよび炎検知器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4435093A (en) * 1981-12-08 1984-03-06 Bethlehem Steel Corporation Pyrometer with sighting window cleanliness monitor
CN1032979A (zh) 1987-10-31 1989-05-17 昆明物理研究所 中温黑体辐射源
JPH0341996U (ja) 1989-08-31 1991-04-22
JPH09210795A (ja) 1996-02-06 1997-08-15 Tokai Konetsu Kogyo Co Ltd 放射温度計の簡易温度校正機能を備えた黒鉛炉
JPH09264794A (ja) 1996-03-29 1997-10-07 N Ii C Medical Syst Kk 赤外線撮像装置
JP3041996U (ja) 1997-03-31 1997-10-03 株式会社浅野研究所 樹脂シート成形装置の放射温度計装置
US5812270A (en) * 1997-09-17 1998-09-22 Ircon, Inc. Window contamination detector
JP3939487B2 (ja) 2000-05-11 2007-07-04 独立行政法人科学技術振興機構 熱物性値測定システム

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59160723A (ja) * 1983-03-04 1984-09-11 Nippon Steel Corp 放射温度計の較正方法
JPH0491919A (ja) * 1990-08-08 1992-03-25 Chino Corp 金型温度測定装置
JPH05133816A (ja) * 1991-11-11 1993-05-28 Yamatake Honeywell Co Ltd 温度測定装置
JPH05146844A (ja) * 1991-11-27 1993-06-15 Shigehiro Murata シエル鋳型造型機の温度制御方法
JPH06174553A (ja) * 1992-12-08 1994-06-24 Sanyu Kogyo Kk 金型温度測定方法
JPH07333072A (ja) * 1994-06-08 1995-12-22 Chino Corp 熱電対出力比較装置
JP2000046656A (ja) * 1998-07-28 2000-02-18 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 受光損失補償機能を有する放射温度計とその温度計測方法
JP2002090224A (ja) * 2000-09-20 2002-03-27 Nkk Corp 温度計の異常検知方法および異常検知装置
JP2003130366A (ja) * 2001-10-25 2003-05-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 加熱調理器
JP2003296849A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Nohmi Bosai Ltd トンネル防災システムおよび炎検知器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010286259A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Konica Minolta Business Technologies Inc 温度検出装置及び温度検出装置を備えた画像形成装置
US8534913B2 (en) 2009-06-09 2013-09-17 Konica Minolta Business Technologies, Inc. Temperature detector, image forming device having temperature detector, and contamination detection method for temperature detector
JP2015041487A (ja) * 2013-08-21 2015-03-02 株式会社東芝 組電池モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
US9163992B2 (en) 2015-10-20
US20100073670A1 (en) 2010-03-25
CN101652644A (zh) 2010-02-17
EP2133675A4 (en) 2014-05-28
CN101652644B (zh) 2011-10-12
JP4668229B2 (ja) 2011-04-13
US20130021601A1 (en) 2013-01-24
WO2008123487A1 (ja) 2008-10-16
EP2133675A1 (en) 2009-12-16
BRPI0809203A2 (pt) 2014-09-23
US8445847B2 (en) 2013-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4668229B2 (ja) 赤外線放射温度計の測定異常検出装置及び測定異常検出方法
US10083589B2 (en) Method and device for monitoring a protective glass
KR101970035B1 (ko) 컨테이너의 무결성을 감시하기 위한 장치,방법 및 시스템
JP6992035B2 (ja) 撮像装置の測定範囲のミスアライメントを決定する方法と非一時的なコンピュータ可読媒体
US11022563B2 (en) Method for monitoring a protective glass
ITMI20072282A1 (it) Metodo per rivelare un'anomalia di un sensore di temperatura in una macchina utensile
JP2012187591A (ja) レーザ加工ヘッド
US20130343947A1 (en) Method and device for process monitoring
JP5770060B2 (ja) 射出成形機の成形監視装置
JPS58108428A (ja) コ−クス温度の測定装置
JP2007069217A (ja) 離型剤塗布状態検出方法及び離型剤塗布状態検出装置
CN103109153B (zh) 用于处理涡轮叶片的方法及其设备
JP2008249515A (ja) 温度分布測定システム及び温度分布測定方法
JP2007192579A (ja) 温度計測装置及び温度計測方法
KR100809059B1 (ko) 성형해석을 이용한 센서 장착 금형제어시스템
ITUD20100026A1 (it) Dispositivo per l'analisi e la determinazione delle caratteristiche di movimento di prodotti, in particolare in una linea di colata, e relativo procedimento
CN111537076B (zh) 一种抑制红外设备在启动阶段温度漂移的方法及系统
US6840671B2 (en) System and method for non-contact temperature sensing
KR20180032459A (ko) 공기중 부유입자 측정방법
JP2005172683A (ja) コンクリート点検システムの赤外線法による欠陥種類判定方法
US20210208003A1 (en) Thermal assembly emitter
KR102582749B1 (ko) Mct용 공작물 열처리를 위한 사각빔 형상의 레이저를 조사하는 레이저빔 쉐이핑 장치
CN117387775B (zh) 电气设备红外测温与无线测温监测系统
US20220283035A1 (en) Work measurement system, education system, and quality control system
US20240210165A1 (en) Strain measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101012

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101207

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110105

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110112

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4668229

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250