JP2008224473A - 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】断層画像Pにおける測定光L1の走査方向θ(図3中矢印θ方向)への周波数処理特性(高周波ゲイン)を断層画像Pにおける測定光L1の光軸方向zへの周波数処理特性(高周波ゲイン)よりも低く設定し空間周波数処理を施す。たとえば断層画像Pの走査方向θに対してのみ高周波成分を除去するような平滑化処理が施され、もしくは断層画像Pの光軸方向zに対してのみ高周波成分を強調する鮮鋭化処理が施される。あるいは、断層画像Pの走査方向θに対し高周波成分を除去するような平滑化処理が施され、断層画像Pの光軸方向zに対し高周波成分を強調する鮮鋭化処理が施される。
【選択図】図4
Description
3 光分割手段
4 合波手段
10、310 光源ユニット
30 光プローブ
40 干渉光検出手段
50、150、250 断層画像処理装置
51 断層情報取得手段
52 断層画像生成手段
53、153、253 画質補正手段
53a、153a 平滑化手段
53b、253b 鮮鋭化手段
54 画像出力手段
60 表示装置
153a 対数変換手段
253s 加算手段
253y 加算手段
253r 高周波抽出手段
IS 干渉信号
L 光
L1 測定光
L2 参照光
L3 反射光
L4 干渉光
P 断層画像
P 断層情報
r(z) 断層情報
S 測定対象
z 光軸方向
θ 走査方向
Claims (9)
- 光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、該測定光が測定対象において反射したときの反射光と前記参照光とを合波し、合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として検出し、前記測定光を前記測定対象に走査しながら照射したときに検出される複数の前記干渉信号から断層画像を生成し、生成した該断層画像に対し画像処理を施す断層画像処理方法であって、
前記断層画像における前記測定光の走査方向への高周波ゲインを前記断層画像における前記測定光の光軸方向への高周波ゲインよりも低く設定し空間周波数処理を施すことを特徴とする断層画像処理方法。 - 光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、該測定光が測定対象において反射したときの反射光と前記参照光とを合波し、合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として検出し、前記測定光を前記測定対象に走査しながら照射したときに検出される複数の前記干渉信号から断層画像を生成し、生成した該断層画像に対し画像処理を施す断層画像処理装置であって、
前記断層画像における前記測定光の走査方向への高周波ゲインを前記断層画像における前記測定光の光軸方向への高周波ゲインよりも低く設定し空間周波数処理を施す画質補正手段を備えたことを特徴とする断層画像処理装置。 - 前記画質補正手段が、前記断層画像における前記測定光の光軸方向に対してのみ鮮鋭化処理を施すものであることを特徴とする請求項2記載の断層画像処理装置。
- 前記画質補正手段が、前記断層画像における前記測定光の走査方向に対してのみ平滑化処理を施すものであることを特徴とする請求項2記載の断層画像処理装置。
- 前記画質補正手段が、前記断層画像における前記測定光の走査方向に対し平滑化処理を施し、前記断層画像における前記測定光の光軸方向に対し鮮鋭化処理を施すものであることを特徴とする請求項2記載の断層画像処理装置。
- 前記画質補正手段が、平滑化された前記断層画像における前記測定光の光軸方向に鮮鋭化処理を施すものであることを特徴とする請求項5記載の断層画像処理装置。
- 前記画質補正手段が、前記断層画像から高周波成分を抽出し、抽出した前記高周波成分を平滑化された前記断層画像に加算するものであることを特徴とする請求項5記載の断層画像処理装置。
- 前記画質補正手段が、前記測定光の走査方向に対して平滑化処理を行った後、前記断層画像に対し対数変換処理を施すものであることを特徴とする請求項4から7のいずれか1項記載の断層画像処理装置。
- 光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、該測定光が測定対象の各深さ位置において反射したときの反射光と前記参照光とを合波し、合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として検出したときに、
コンピュータに、
前記測定光を前記測定対象に走査しながら照射したときに検出される複数の前記干渉信号から断層画像を生成し、
生成した前記断層画像における前記測定光の走査方向への空間周波数処理の高周波ゲインを前記断層画像における前記測定光の光軸方向への空間周波数処理の高周波ゲインよりも低く設定し空間周波数処理を施す
ことを実行させるための断層画像処理プログラム。
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