JP2008128707A - 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム - Google Patents
断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008128707A JP2008128707A JP2006311284A JP2006311284A JP2008128707A JP 2008128707 A JP2008128707 A JP 2008128707A JP 2006311284 A JP2006311284 A JP 2006311284A JP 2006311284 A JP2006311284 A JP 2006311284A JP 2008128707 A JP2008128707 A JP 2008128707A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- tomographic
- information
- interference
- tomographic image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Abandoned
Links
Images
Landscapes
- Endoscopes (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】光源ユニット10から複数の波長帯域λ1、λ2を含む光束La、Lbが射出され光分割手段3に入射され各光束La、Lbは測定光L1a、L1bと参照光L2a、L2bとに光分割される。測定光L1a、L1bは測定対象Sに照射され測定対象Sの各深さ位置zにおいて反射した反射光L3が合波手段4に入射され参照光L2a、L2bと合波される。干渉光検出手段40において、反射光L3aと参照光L2aとの干渉光L4aおよび反射光L3bと参照光L2bとの干渉光L4bが干渉信号ISa、ISbとして検出される。各干渉信号ISa、ISbからそれぞれ中間断層情報ra(z)、rb(z)が取得され、中間断層情報ra(z)、rb(z)から断層情報r(z)が生成され、断層画像が生成される。
【選択図】図1
Description
断層画像処理手段50は、複数の干渉信号ISa、ISbから測定対象Sの各深さ位置における複数の中間断層情報(反射率)ra(z)、rb(z)を取得し、この複数の中間断層情報ra(z)、rb(z)を用いて測定対象Sの断層画像を生成する機能を有している。具体的には、断層画像処理手段50は、図3に示すように、異なる波長帯域の光La、Lbから検出された複数の干渉信号ISa、ISbをそれぞれ周波数解析することにより、各干渉信号ISa、ISb毎にそれぞれ測定対象Sの各深さ位置Zからの断層情報を中間断層情報ra(z)、rb(z)として取得する周波数解析手段51と、複数の干渉信号ISa、ISbをそれぞれ周波数解析することにより各深さ位置における複数の中間断層情報ra(z)、rb(z)を検出する周波数解析手段51と、周波数解析手段51により検出された複数の中間断層情報ra(z)、rb(z)から断層画像の生成に用いる断層情報r(z)を生成する断層情報処理手段52と、断層情報処理手段52により生成された断層情報r(z)を用いて断層画像を生成する断層画像生成手段53とを有している。
I(k)=∫0 ∞S(l)[1+cos(kl)]dl ・・・(1)
で表され、例えば図4に示すようなグラフで表される。ここで、kは波数、lは参照光L2aと反射光L3aとの光路長差である。式(1)は波数kを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。よって、周波数解析手段51aにおいて、干渉光検出手段40の検出による干渉信号ISaをフーリエ変換することにより、各光路長差lに対する光強度S(l)を決定することができ、図5に示すように各深さ位置における反射率を求めることができる。こうして得られた結果が中間断層情報ra(z)となる。同様に、周波数解析手段51bは干渉信号ISbをフーリエ変換することにより中間断層情報rb(z)を取得する。
この場合、重みw1(z),w2(z)は、正しい信号である可能性が高いほど大きな重みを割り当てる。例えば、次式のように重みを決定することができる。
w2(z)=exp(−b×(δθ2(z))2)
ここで、δθ1、δθ2はそれぞれra(z)、rb(z)の位相の理想位相からのずれ量であり、理想位相は波長域に基づいて算出できる。a、bは調整用のパラメータである。このように、周波数解析手段によって得られる中間断層情報の位相を考慮して断層情報を求めることにより、中間断層情報ra(z)、rb(z)それぞれに対する外乱による影響度合いを反映させることができるので、外乱の影響をより精度よく抑制することができる。
Ha・r=ra ・・・(4)
Hb・r=rb ・・・(5)
となる。
3 光分割手段
4 合波手段
10、410 光源ユニット
40、440 干渉光検出手段
50、450 断層画像処理手段(断層画像処理装置)
ISa、ISb 干渉信号
La、LSa 第1光束
Lb、LSb 第2光束
L1a、L1b 測定光
L2a、L2b 参照光
L3a、L3b 反射光
L4a、L4b 干渉光
S 測定対象
ra(z)、rb(z) 中間断層情報
r(z) 断層情報
Claims (10)
- 互いに離散した波長帯域内においてそれぞれ連続したスペクトルを有する複数の光束を射出し、
射出した前記複数の光束を測定光と参照光とにそれぞれ分割し、
分割した複数の前記測定光が測定対象の各深さ位置において反射したときの反射光と前記参照光とを前記各光束毎にそれぞれ合波し、
合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として前記各光束毎にそれぞれ検出し、
検出した複数の前記干渉信号をそれぞれ周波数解析することにより、前記各干渉信号毎にそれぞれ前記測定対象の各深さ位置からの断層情報を中間断層情報として取得し、
取得した複数の前記中間断層情報を用いて前記測定対象の断層情報を取得し、
生成した前記断層情報を用いて前記測定対象の断層画像を生成する
ことを特徴とする断層画像処理方法。 - 互いに離散した波長帯域内においてそれぞれ連続したスペクトルを有する複数の光束を射出し、射出した前記複数の光束を測定光と参照光とにそれぞれ分割し、分割した複数の前記測定光が測定対象の各深さ位置において反射したときの反射光と前記参照光とを前記各光束毎にそれぞれ合波し、合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として前記各光束毎にそれぞれ検出したときに、該干渉信号から断層画像を生成する断層画像処理装置であって、
前記各光束毎にそれぞれ検出された複数の前記干渉信号をそれぞれ周波数解析することにより、前記各干渉信号毎にそれぞれ前記測定対象の各深さ位置からの断層情報を中間断層情報として取得する周波数解析手段と、
該周波数解析手段により取得された複数の前記中間断層情報を用いて前記測定対象の断層情報を取得する断層情報処理手段と、
該断層情報処理手段により取得された前記断層情報を用いて前記測定対象の断層画像を生成する断層画像生成手段と
を備えたことを特徴とする断層画像処理装置。 - 前記断層情報処理手段が、前記各干渉信号毎に取得された前記測定対象の同一の深さ位置からの前記中間断層情報の平均値を算出することにより、前記断層情報を取得するものであることを特徴とする請求項2記載の断層画像処理装置。
- 前記断層情報処理手段が、前記各干渉信号毎に取得された前記測定対象の同一の深さ位置からの複数の前記中間断層情報の積を算出することにより、前記断層情報を取得するものであることを特徴とする請求項2記載の断層画像処理装置。
- 前記周波数解析手段が、前記断層情報として振幅情報と位相情報とを前記各干渉信号毎にそれぞれ取得するものであり、前記断層情報処理手段が、前記振幅情報と位相情報とを用いて前記断層情報を取得するものであることを特徴とする請求項2記載の断層画像処理装置。
- 前記断層情報処理手段が、前記各干渉光の検出に用いる各光束のスペクトル情報を有するものであり、前記スペクトル情報と前記中間断層情報とを用いて前記断層情報を取得するものであることを特徴とする請求項2記載の断層画像処理装置。
- 互いに離散した波長帯域内においてそれぞれ連続したスペクトルを有する複数の光束を射出し、射出した前記複数の光束を測定光と参照光とにそれぞれ分割し、分割した複数の前記測定光が測定対象の各深さ位置において反射したときの反射光と前記参照光とを前記各光束毎にそれぞれ合波し、合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として前記各光束毎にそれぞれ検出したときに、
コンピュータに、
前記各光束毎にそれぞれ検出した複数の前記干渉信号をそれぞれ周波数解析することにより、前記各干渉信号毎にそれぞれ前記測定対象の各深さ位置からの断層情報を中間断層情報として取得し、
取得した複数の前記中間断層情報を用いて前記測定対象の断層情報を取得し、
生成した前記断層情報を用いて前記測定対象の断層画像を生成する
ことを実行させるための断層画像処理プログラム。 - 互いに離散した波長帯域内においてそれぞれ連続したスペクトルを有する複数の光束を射出する光源ユニットと、
該光源ユニットから射出された前記複数の光束を測定光と参照光とにそれぞれ分割する光分割手段と、
該光分割手段により分割された複数の前記測定光が測定対象の各深さ位置において反射したときの反射光と前記参照光とを前記各光束毎にそれぞれ合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として前記各光束毎にそれぞれ検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された複数の前記干渉信号から断層画像を生成する断層画像処理手段と
を備え、
該断層画像処理手段が、
前記干渉光検出手段において前記各光束毎にそれぞれ検出された複数の前記干渉信号をそれぞれ周波数解析することにより、前記各干渉信号毎にそれぞれ前記測定対象の各深さ位置からの断層情報を中間断層情報として取得する周波数解析手段と、
該周波数解析手段により検出された複数の前記中間断層情報を用いて前記測定対象の断層情報を取得する断層情報処理手段と、
該断層情報処理手段において取得された前記断層情報を用いて前記測定対象の断層画像を生成する断層画像生成手段と
を有するものであることを特徴とする光断層画像化システム。 - 前記光源ユニットが異なる波長帯域を有する低コヒーレンス光からなる複数の光束を射出するものであることを特徴とする請求項8記載の光断層画像化システム。
- 前記光源ユニットが、異なる波長帯域内を一定の周期で掃引された複数のレーザ光を射出するものであることを特徴とする請求項8のいずれか1項記載の光断層画像化システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006311284A JP2008128707A (ja) | 2006-11-17 | 2006-11-17 | 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006311284A JP2008128707A (ja) | 2006-11-17 | 2006-11-17 | 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008128707A true JP2008128707A (ja) | 2008-06-05 |
Family
ID=39554694
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006311284A Abandoned JP2008128707A (ja) | 2006-11-17 | 2006-11-17 | 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008128707A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010223670A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Toyama Univ | 光断層画像表示システム |
WO2012105780A2 (ko) * | 2011-02-01 | 2012-08-09 | 고려대학교 산학협력단 | 듀얼 포커싱 광 결맞음 영상 장치 |
KR101242315B1 (ko) | 2011-02-01 | 2013-03-11 | 고려대학교 산학협력단 | 듀얼 포커싱 광 결맞음 영상 장치 |
KR101287289B1 (ko) | 2012-01-18 | 2013-07-17 | 고려대학교 산학협력단 | 듀얼 포커싱 광 결맞음 영상 장치 |
JP2017103498A (ja) * | 2011-07-22 | 2017-06-08 | インサイト フォトニック ソリューションズ,インコーポレイテッド | 波長連続及び規定された時間に対する波長掃引をレーザーから動的及び適応的に生成するシステム及び方法 |
-
2006
- 2006-11-17 JP JP2006311284A patent/JP2008128707A/ja not_active Abandoned
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010223670A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Toyama Univ | 光断層画像表示システム |
WO2012105780A2 (ko) * | 2011-02-01 | 2012-08-09 | 고려대학교 산학협력단 | 듀얼 포커싱 광 결맞음 영상 장치 |
WO2012105780A3 (ko) * | 2011-02-01 | 2012-12-13 | 고려대학교 산학협력단 | 듀얼 포커싱 광 결맞음 영상 장치 |
KR101242315B1 (ko) | 2011-02-01 | 2013-03-11 | 고려대학교 산학협력단 | 듀얼 포커싱 광 결맞음 영상 장치 |
US9492076B2 (en) | 2011-02-01 | 2016-11-15 | Korea University Research And Business Foundation | Dual focusing optical coherence imaging system |
JP2017103498A (ja) * | 2011-07-22 | 2017-06-08 | インサイト フォトニック ソリューションズ,インコーポレイテッド | 波長連続及び規定された時間に対する波長掃引をレーザーから動的及び適応的に生成するシステム及び方法 |
JP2019212935A (ja) * | 2011-07-22 | 2019-12-12 | インサイト フォトニック ソリューションズ,インコーポレイテッド | 波長連続及び規定された時間に対する波長掃引をレーザーから動的及び適応的に生成するシステム及び方法 |
KR101287289B1 (ko) | 2012-01-18 | 2013-07-17 | 고려대학교 산학협력단 | 듀얼 포커싱 광 결맞음 영상 장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4869877B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
US10800831B2 (en) | Systems and methods for obtaining information associated with an anatomical sample using optical microscopy | |
JP4895277B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP4869895B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP4986296B2 (ja) | 光断層画像化システム | |
JP4869896B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
US7751056B2 (en) | Optical coherence tomographic imaging apparatus | |
JP5541831B2 (ja) | 光断層画像化装置およびその作動方法 | |
JP2007101249A (ja) | 光断層画像化方法および装置 | |
US7940398B2 (en) | Optical coherence tomography apparatus | |
JP5406427B2 (ja) | 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム | |
JP5679686B2 (ja) | 光干渉断層撮像装置 | |
JP2007101250A (ja) | 光断層画像化方法 | |
JP2007101262A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007121262A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101268A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101263A (ja) | 光断層画像化装置 | |
WO2010067813A1 (ja) | 光立体構造像装置及びその光信号処理方法 | |
US7812961B2 (en) | Method, apparatus, and program for processing tomographic images | |
JP2006047264A (ja) | オプティカル・コヒーレント・トモグラフィー装置及びこれに用いる可変波長光発生装置並びに可変波長発光光源 | |
JP2007267927A (ja) | 光断層画像化方法および装置 | |
JP2008128707A (ja) | 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム | |
JP2008089349A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101264A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2008151734A (ja) | 光断層画像化方法、装置およびプログラムならびに光断層画像化システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090910 |
|
RD15 | Notification of revocation of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7435 Effective date: 20110204 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110607 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110608 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20110729 |