JP5129562B2 - 光断層画像化方法およびシステム - Google Patents
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Description
光ファイバFB2には光サーキュレータ21が接続されており、光サーキュレータ21には光ファイバFB4、FB5がそれぞれ接続されている。光ファイバFB4には測定光L1を測定対象Sまで導波する光プローブ10が接続されており、光分割手段3から射出した測定光L1は光ファイバFB2から光プローブ10へ導波され、測定対象Sに照射される。また、測定対象Sを反射した反射光L3は光ファイバFB4を介して光サーキュレータ21に入射され、光サーキュレータ21から光ファイバFB5側に射出される。なお、光ファイバFB4と光プローブ10とはAPC(Angled physical contact)コネクタを用いて接続されており、光コネクタ(光ファイバ)の接続端面からの反射戻り光を極限にまで低減し、断層画像Pの画質劣化を防止する。
断層画像処理手段100において、干渉信号変換手段102により1ライン分の干渉信号ISに波数kについて等間隔になるように信号変換処理が施される。その後、断層情報取得手段103により、干渉信号ISがスペクトル解析されることにより、干渉信号ISからそれぞれ光強度情報(反射率)が光強度情報r(z)として取得される(ステップST6)。断層画像生成手段105において、取得した光強度情報r(z)が測定光L1の走査方向(矢印R1方向)について間引きした波長掃引分だけ蓄積される。そして、回転クロック信号RCLKが検出したとき、蓄積した複数の光強度情報r(z)を用いて1枚の断層画像Pが生成・更新され図1の表示装置110に表示される(ステップST7)。そして、断層画像Pの表示終了の指示がなされるまで、干渉信号ISを間引きした断層画像Pの更新が繰り返される。
特に、回転クロック信号RCLKをM(たとえば5)だけ分割した分割クロック信号RCLKを出力したときに、分割クロック信号RCLKがM−2クロック(たとえば3クロック)だけ出力されるまでの間に断層画像処理を終了させるようにしたときには(図15参照)、結果として反時計回りに隣接する分割領域BRが更新されていくことになるため、画像更新の際の違和感が少ない動画を得ることができる。
2 光分岐手段
3 光分割手段
4 合波手段
10 光プローブ
20 干渉計
30 光源ユニット
70 干渉光検出手段
80 周期クロック生成手段
82 光学フィルタ
84 光検出部
90 A/D変換ユニット
91 A/D変換部
92 干渉信号記憶手段
93 間引領域設定手段
94 干渉信号間引手段
100 断層画像処理手段
101 干渉信号取得手段
102 干渉信号変換手段
103 断層情報取得手段
105 断層画像生成手段
191 領域分割手段
BR 分割領域
CR 間引領域
IS 干渉信号
L 光
L1 測定光
L2 参照光
L3 反射光
L4 干渉光
P 断層画像
r(z) 光強度情報
RCLK 回転クロック信号
S 測定対象
T0 周期
TCLK 周期クロック信号
Claims (5)
- 周期的に波長を掃引した光を射出し、
射出した前記光をそれぞれ測定光と参照光とに分割し、
前記測定光が測定対象に走査しながら照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波し、
前記反射光と前記参照光とが合波されたときの干渉光を波長掃引毎に干渉信号として検出し、
前記波長掃引毎に検出された前記干渉信号のうち前記断層画像の生成に用いる前記干渉信号の間引きを行う間引領域が設定されているときに、設定された該間引領域内において取得された複数の前記干渉信号の間引きを行い、
間引きした前記波長掃引の前記干渉信号から前記間引領域における前記測定対象の光強度情報を取得し、
取得した前記光強度情報を用いて前記間引領域における断層画像を生成する光断層画像化方法において、
前記測定光が走査する領域を前記走査方向に対し複数の分割領域に分割し、
前記測定光が1回走査する毎に回転クロック信号を出力し、
出力される前記回転クロック信号の周期の1/M(Mは前記分割領域の数)倍の周期からなる分割クロック信号を生成し、該分割クロック信号に基づいて前記複数の干渉信号を前記分割領域毎に区切り、
前記分割領域内の複数の前記干渉信号を用いて該分割領域毎に前記光強度情報を取得し、
取得された前記分割領域毎の前記光強度情報を用いて断層画像の更新を行うことを特徴とする光断層画像化方法。 - 周期的に波長を掃引した光を射出する光源ユニットと、
該光源ユニットから射出された前記光をそれぞれ測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
該光分割手段により分割された前記測定光が測定対象に走査しながら照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段において前記反射光と前記参照光とが合波されたときの干渉光を波長掃引毎に干渉信号として検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段において前記波長掃引毎に検出された前記干渉信号のうち前記断層画像の生成に用いる前記干渉信号の間引きを行う間引領域を設定する間引領域設定手段と、
該間引領域設定手段において設定された前記間引領域内の前記複数の干渉信号の間引きを行う干渉信号間引手段と、
該干渉信号間引手段により間引きされた前記波長掃引に対する前記干渉信号から前記間引領域における前記測定対象の光強度情報を取得する断層情報取得手段と、
該断層情報取得手段により取得された前記光強度情報を用いて前記間引領域における断層画像を生成する断層画像生成手段と、
前記測定光が走査する領域を前記走査方向に対し複数の分割領域に分割する領域分割手段と、
前記測定光が1回走査する毎に回転クロック信号を出力する回転クロック生成手段とを備え、
前記領域分割手段が、該回転クロック生成手段から出力される前記回転クロック信号の周期の1/M(Mは前記分割領域の数)倍の周期からなる分割クロック信号を生成し、該分割クロック信号に基づいて前記複数の干渉信号を前記分割領域毎に区切るものであり、
前記断層情報取得手段が、前記領域設定手段により設定された前記分割領域内の複数の前記干渉信号を用いて該分割領域毎に前記光強度情報を取得するものであり、
前記断層画像生成手段が、該断層情報取得手段において取得された前記分割領域毎の前記光強度情報を用いて断層画像の更新を行うものであることを特徴とする光断層画像化システム。 - 前記間引領域設定手段が前記測定光の全走査領域のうち特定の領域を前記間引領域として設定する機能を有するものであることを特徴とする請求項2記載の光断層画像化システム。
- 該光源ユニットにおいて波長が1周期分掃引されたときに周期クロック信号を出力する周期クロック生成手段をさらに備え、
前記干渉信号間引手段が、前記周期クロック生成手段から出力された前記周期クロック信号のクロック数を計数し、計数した該クロック数が予め設定された設定クロック数になったときの前記干渉信号を選択することにより間引きを行うものであることを特徴とする請求項2または3記載の光断層画像化システム。 - 前記領域分割手段が前記複数の分割領域のうち前記断層画像の更新を行う分割領域を指定する機能を有し、
前記断層情報取得手段が前記分割領域の前記干渉信号のみから前記光強度情報を取得するものであり、
前記断層画像生成手段が更新する前記分割領域の前記光強度情報のみを用いて前記断層画像を更新するものであることを特徴とする請求項2から4のいずれか1項記載の光断層画像化システム。
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