JP2008192280A - 開口フィルタ及び波長板機能付開口フィルタ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】波長板を形成する第1の水晶基板3の一方の表面上には、位相調整膜6と波長選択膜7とからなる開口フィルタ5が成膜されている。また、第1の水晶基板3の他方の面には、第1の水晶基板3の一方の面に成膜された開口フィルタ5により生ずる圧縮応力を打ち消すために所定の材質の矯正用光学薄膜8を成膜するようにした。
【選択図】図1
Description
波長板機能付開口フィルタを製造する際は、先ず、1/4波長板を構成する第1の水晶基板と、第2の水晶基板とを製造し、その後、第1の水晶基板の一方の表面上に、開口フィルタとなる多層の光学薄膜を成膜する。多層膜からなる光学薄膜は、イオンアシスト法やイオンプレーティング法やスパッタリング法等を用いて、前述したように、低屈折率材料(SiO2など)と高屈折率材料(Ta2O5など)とを交互に複数層蒸着することにより成膜されているが、成膜した光学薄膜の膜の密度が高いために圧縮応力が発生して第1の水晶基板に反りが生ずる。
これによれば、開口フィルタは、3波長のうち何れかの所定の波長の光線を所定の範囲に絞りこむことができる。
本発明においては、無機材料からなる基板の表面上に光学多層膜から構成される開口フィルタを形成しても反りが生じないように、基板の他方の表面上に、基板の反りを打ち消すよう所定の膜厚の矯正用光学薄膜を成膜した。前述したように、イオンアシスト法、イオンプレーティング法やスパッタリング法を用いて、基板の表面上に各種の誘電体材料を成膜すると、一般的に圧縮応力が発生して基板が反ることが知られているが、基板の反り量は、光学薄膜の厚さに比例し、基板の厚さの二乗に反比例する。
図2は、開口フィルタを水晶基板の一方の表面上に成膜する際の工程を示す図である。図2の工程図を説明すると、所定の形状に加工された複屈折性を備えている水晶基板10の一方の表面上にフォトレジスト11を塗布した後(ステップS1)、所定のマスクを介して露光し、現像することにより所望のパターンのフォトレジスト膜12を得る(ステップS2)。次に、所望のパターンのフォトレジスト膜12が形成された水晶基板10の表面上の全域に、入射する全ての波長の光線を透過する位相調整膜13を成膜する(ステップS3)。位相調整膜13は、誘電体多層膜であり、低屈折率材料と高屈折率材料の薄膜を交互に積層したものである。例えば、低屈折率材料としては、SiO2が、高屈折率材料としては、Ta2O5が使用される。そして、水晶基板10に形成されているフォトレジスト膜12を剥離すると、水晶基板10には、所望のパターンの位相調整膜14が形成される(ステップS4)。
テスト基板として、基板の板厚bが0.47mmのBK7(硼珪酸ガラス)を使用した。測定した薄膜の長さ(測定長)L=60mmに対するテスト基板の反り量を求めると、薄膜の膜厚d=0.450μmのSiO2膜の場合のテスト基板の反り量δは16.208μm、薄膜の膜厚d=0.750μmのTa2O5膜の場合のテスト基板の反り量δは7.296μmであった。
σ=Es×b2×δ/[{3×(1−Vs)}×d×L2]・・・・(1)
但し、Es=テスト基板のヤング率(BK7のEs=8.0×1010(N/m2))
Vs=テスト基板のポアソン比(BK7のVs=0.205)
b=テスト基板の厚み(0.47mm)
d=薄膜の厚み
L=測定長(薄膜の長さ)(60mm)
δ=テスト基板の反り量
とする。
σ=Es×b2×δ/[{3×(1−Vs)}×d×L2]=8.0×1010×(0.47×10-3)2/[{3×(1−0.205)}×(60×10-3)2]×(δ/d)=20.58×106×(δ/d)(Pa)
よって、圧縮応力σを、下式(2)のように表すことができる。
σ=20.58×δ/d(MPa)・・・・(2)
SiO2膜の場合、
膜厚d=0.450(μm)=0.450×10-6(mm)
テスト基板の反り量δ=16.208(μm)=16.208×10-6(mm)
を代入し、
Ta2O5膜の場合、
膜厚d=0.750(μm)=0.750×10-6(mm)
テスト基板の反り量δ=7.296(μm)=7.296×10-6(mm)
を代入すると、各薄膜の単位面積当たりの圧縮応力は、下記の通りとなる。
σ(SiO2)=20.58×(δ/d)
=20.58×16.208×10-6/0.450×10-6
=741.2458(MPa)
=741.2(MPa)
Ta2O5膜の圧縮応力σ(Ta2O5)
σ(Ta2O5)=20.58×(δ/d)
=20.58×7.296×10-6/0.750×10-6
=200.2022(MPa)
=200.2(MPa)
従って、薄膜材料としては、SiO2の圧縮応力が大きいことが分かる。
図3は、開口フィルタの構造例を示す図であり、図4は、開口フィルタの具体的な光学多層薄膜の数値データ例を示す図であって、図4は位相調整膜20の膜構成を示し、図5は波長選択膜21の膜構成を示す。図3に示すように、開口フィルタ18は、複屈折性を備えている水晶基板19の一方の表面上に積層して成膜され、位相調整膜20と、波長選択膜21とにより構成する。また、位相調整膜20は、低屈折率材料であるSiO2と高屈折率材料であるTa2O5とを交互に16層積層した構造であり、波長選択膜21は、低屈折率材料であるSiO2膜と高屈折率材料であるTa2O5膜とを交互に19層積層した構造である。
一方、波長選択膜21を構成するSiO2膜のトータルの膜厚は、1368.77nmであり、Ta2O5膜のトータルの膜厚は、811.02nmである。
尚、位相調整膜20の物理膜厚と波長選択膜21の物理膜厚とを比較すると膜厚に差が見られるが、光学膜厚に換算すると、位相調整膜20の光学膜厚(3760.70μm)と波長選択膜21の光学膜厚(3760.61μm)とはほぼ同等であるので光学特性上影響はない。
先ず、位相調整膜20と波長選択膜21のそれぞれに生ずる圧縮応力を算出する。
位相調整膜の圧縮応力は、SiO2膜とTa2O5膜のそれぞれのトータルの膜厚に単位面積当たりの圧縮応力を乗算することにより、下式のとおり求められる。
SiO2膜の圧縮応力=1265.56(トータルの膜厚)×741.2(単位面積当たりの圧縮応力)=938033.07(MPa)
Ta2O5膜の圧縮応力=880.07(トータルの膜厚)×200.2(単位面積当たりの圧縮応力)=176190.01(MPa)
従って、位相調整膜全体の圧縮応力σ1は、
圧縮応力σ1=938033.07+176190.01=1114223.08(MPa)
となる。
SiO2膜の圧縮応力=1368.77(トータルの膜厚)×741.2(単位面積当たりの圧縮応力)=1014532.32(MPa)
Ta2O5膜の圧縮応力=811.02(トータルの膜厚)×200.2(単位面積当たりの圧縮応力)=162366.20(MPa)
従って、波長選択膜の圧縮応力σ2は、
圧縮応力σ2=1014532.32+162366.20=1176898.52(MPa)
となる。
以上の計算結果により、水晶基板には、位相調整膜20の領域にσ1の圧縮応力が、また、波長選択膜21の領域にσ2の圧縮応力が加わることとなる。
ここで、図3において、位相調整膜20の領域に生じる圧縮応力σ1と波長選択膜21の領域に生じる圧縮応力σ2とにより生じる水晶基板19の圧縮応力について図7を用いて検討するにあたり、図7に示すように、波長板機能付開口フィルタ1の外形寸法を縦をL1、横をL2とし、開口部としてのA領域の直径をL3と定義する。
まず、波長板機能付開口フィルタ1において、L1=L2=3.50(mm)及びL3=2.50(mm)の場合を考えると、A領域の面積Sa1とB領域の面積Sb1は以下の通りとなる。
Sa1=(2.50/2)2×π=4.90873(mm2)
Sb1=3.502−(2.50/2)2×π=7.34127(mm2)
よって、Sa1とSb1の面積比を求めると、
Sa1:Sb1=4.90873:7.34127=2.00:2.99
となり、全体の面積を1とすると、
Sa1:Sb1=0.4:0.6
となる。
従って、位相調整膜20と波長選択膜21の面積比が0.4:0.6であるので、水晶基板全体に加わる圧縮応力σtは、下式により求めることができる。
σt=0.4×σ1+0.6×σ2
=0.4×1114223.08+0.6×1176898.52
=1151828.344MPa
s=σt/741.2
=1151828.344/741.2
=1554.00(nm)
Sa1=(2.79/2)2×π=6.11361(mm2)
Sb1=3.502−(2.79/2)2×π=6.136639(mm2)
よって、Sa1とSb1の面積比を求めると、
Sa1:Sb1=6.11361:6.136639=1.00:1.00となり、全体の面積を1とすると、
Sa1:Sb1=0.5:0.5
となる。
従って、位相調整膜20と波長選択膜21の面積比が0.5:0.5であるので、水晶基板全体に加わる圧縮応力σtは、下式により求めることができる。
σt=0.5×σ1+0.5×σ2
=0.5×1114223.08+0.5×1176898.52
=1145560.800MPa
s=σt/741.2
=1145560.800/741.2
=1545.54(nm)
従って、図3、図4及び図5に示した開口フィルタの例においては、水晶基板19の他方の面に、SiO2を薄膜材料として、前述の計算結果から1545.54〜1554.00(nm)の範囲における中心値に膜厚を設定すると、
s=(1554.00+1545.54)/2
=1549.77(nm)
となり、1549.77(nm)の膜厚の矯正用光学薄膜を成膜することにより、水晶基板の反りを生じることなく、405nm帯(BD)〜780nm帯(CD)の広帯域で光学的特性上の波面収差の規格等の厳格な仕様を満足することができた。従って、矯正用光学薄膜の膜厚を1550.0±5.0(nm)に設定すれば良いことが分る。
ゆえに、以上のことから、矯正用光学薄膜の膜厚を設計する場合、以下の条件式(3)〜(5)を満足するようにすれば良い。
Sa+Sb=1 ・・・(3)
σt=Sa×σ1+Sb×σ2 ・・・(4)
s=σt/σs ・・・(5)
尚、SaはA領域(位相調整膜)の面積、SbはB領域(波長選択膜)の面積Sb、σ1はA領域により生じる応力、σ2はB領域により生じる応力、σtは基板全体に加わる応力、σsは矯正用光学薄膜の応力、sは矯正用光学薄膜の膜厚である。
例えば、図6は樹脂波長板と開口フィルタとの組み合せた波長板機能付開口フィルタ23の構造図である。波長板機能付開口フィルタ23は、一方に開口フィルタ5が形成された白板ガラス24の他方の面にSiO2からなる矯正用光学薄膜8を形成し、矯正用光学薄膜8上にフィルム製波長板25を積層し、更に白板ガラス22を積層して構成される。
Claims (9)
- 透明基板の一方の主面上に互いに波長の異なる複数の光線のうち、全ての波長の光線を透過する第一の領域と所定の波長の光線の透過を阻止する第二の領域とを有した開口フィルタであって、前記第一の領域は低屈折率材料と高屈折率材料とを交互に複数積層してなる第一の光学多層薄膜からなり、前記第二の領域は低屈折率材料と高屈折率材料とを交互に複数積層してなる第二の光学多層薄膜からなり、前記透明基板の他方の主面上に所定の膜厚を有する単層の光学薄膜を形成したことを特徴とする開口フィルタ。
- 前記第一の光学多層薄膜及び前記第二の光学多層薄膜の少なくとも一方の光学多層薄膜の何れかの層に中間屈折率材料からなる薄膜を形成したことを特徴とする請求項1に記載の開口フィルタ。
- 複屈折性を有する第1の透明基板の一方の主面上に互いに波長の異なる複数の光線のうち、全ての波長の光線を透過する第一の領域と所定の波長の光線の透過を阻止する第二の領域とからなる開口フィルタを形成し、前記第一の領域は低屈折率材料と高屈折率材料とを交互に複数積層してなる第一の光学多層薄膜からなり、前記第二の領域は低屈折率材料と高屈折率材料とを交互に複数積層してなる第二の光学多層薄膜からなり、
前記第1の透明基板の他方の主面上に所定の膜厚を有する単層の光学薄膜を形成し、
前記第1の透明基板の前記単層の光学薄膜が形成された面側に複屈折性を有する第2の透明基板を積層したことを特徴とする波長板機能付開口フィルタ。 - 前記単層の光学薄膜の膜厚は、前記第1の透明基板に形成した開口フィルタにより生ずる応力に応じて決定されることを特徴とする請求項3に記載の波長板機能付開口フィルタ。
- 前記第一の光学多層薄膜及び前記第二の光学多層薄膜の少なくとも一方の光学多層薄膜の何れかの層に中間屈折率材料からなる薄膜を形成したことを特徴とする請求項3または請求項4に記載の波長板機能付開口フィルタ。
- 前記複数の光線の波長が夫々780nm帯、660nm帯、及び405nm帯であることを特徴とする請求項3〜5のいずれか一項に記載の波長板機能付開口フィルタ。
- 前記低屈折率材料は、SiO2、或いはMgF2であり、前記高屈折率材料は、Ta2O5、TiO2、或いはNb2O5であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の開口フィルタ。
- 前記低屈折率材料は、SiO2、或いはMgF2であり、前記高屈折率材料は、Ta2O5、TiO2、或いはNb2O5であることを特徴とする請求項3〜6のいずれか一項に記載の波長板機能付開口フィルタ。
- 前記中間屈折率材料は、Al2O3であることを特徴とする請求項3〜6、8のいずれか一項に記載の波長板機能付開口フィルタ。
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