JP2008181493A5 - - Google Patents
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- 第1の基板上に設けられた充電用回路を有する信号処理回路と、
前記信号処理回路上に重なって設けられたアンテナ回路および電気二重層コンデンサと、
前記アンテナ回路と前記電気二重層コンデンサ上に設けられた第2の基板と、を有し、
前記アンテナ回路は、前記信号処理回路と電気的に接続されており、
前記電気二重層コンデンサは、前記充電用回路と電気的に接続されており、
前記第1の基板及び前記第2の基板は、フレキシブル基板であることを特徴とする半導体装置。 - 第1の基板上に設けられた充電用回路を有する信号処理回路と、
前記信号処理回路上に設けられた絶縁膜と、
前記絶縁膜を介して、前記信号処理回路上に重なって設けられたアンテナ回路および電気二重層コンデンサと、
前記アンテナ回路と電気二重層コンデンサ上に設けられた第2の基板と、を有し、
前記アンテナ回路は、前記絶縁膜を介して前記信号処理回路と電気的に接続されており、
前記電気二重層コンデンサは、前記絶縁膜を介して前記充電用回路と電気的に接続されており、
前記第1の基板及び前記第2の基板は、フレキシブル基板であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1または2において、
前記電気二重層コンデンサは、少なくとも第1の電極と、第2の電極と、前記第1の電極および前記第2の電極の間に位置する電解液層と、を有し、前記第1の電極が前記充電用回路と電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3において、
前記第1の電極および前記第2の電極の少なくとも一方の前記電解液層側には、当該電極に接して活性炭、フラーレン、またはカーボンナノチューブからなる層が設けられていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3において、
前記第1の電極もしくは前記第2の電極の少なくとも一方は、活性炭、フラーレン、またはカーボンナノチューブから形成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3乃至請求項5のいずれか一項において、前記電気二重層コンデンサは、前記電解液層にセパレータを有することを特徴とする半導体装置。
- 請求項3乃至請求項6のいずれか一項において、
前記電解液層は、架橋剤を有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項7のいずれか一項において、
前記信号処理回路はトランジスタより構成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項8において、
前記トランジスタは薄膜トランジスタであることを特徴とする半導体装置。 - 第1の基板上に、剥離層を形成し、
前記剥離層上に、第1の絶縁膜を形成し、
前記第1の絶縁膜上に、充電回路を有する信号処理回路を形成し、
前記信号処理回路上に、第2の絶縁膜を形成し、
前記第2の絶縁膜に第1の開口部を形成し、
前記第2の絶縁膜上に、前記第1の開口部を介して、前記信号処理回路と接続する第1の導電膜を形成し、
前記第2の絶縁膜と第1の導電膜上に、第3の絶縁膜を形成し、
前記第3の絶縁膜に第2の開口部を形成し、
前記第3の絶縁膜上に、前記第2の開口部を介して、前記第1の導電膜と接続する第2の導電膜と、前記信号処理回路と重なる領域にアンテナ回路および第3の導電膜と、を形成し、
前記第1の絶縁膜と、前記第2の絶縁膜と、前記第3の絶縁膜と、が重なる領域に第3の開口部を形成し、
前記第3の開口部にエッチング剤を導入し、前記第1の基板を剥離し、前記第1の絶縁膜と、前記信号処理回路と、前記第2の絶縁膜と、前記第1の導電膜と、前記第3の絶縁層と、前記アンテナ回路と、前記第3の導電膜と、を有する素子形成層を形成し、
第2の基板上に、第4の導電膜とシール剤を形成し、
前記素子形成層と、前記第2の基板とを、前記第3の導電膜と前記第4の導電膜とが重なるように、接着することを特徴とする半導体装置の作製方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007320422A JP5210613B2 (ja) | 2006-12-27 | 2007-12-12 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006353336 | 2006-12-27 | ||
JP2006353336 | 2006-12-27 | ||
JP2007320422A JP5210613B2 (ja) | 2006-12-27 | 2007-12-12 | 半導体装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008181493A JP2008181493A (ja) | 2008-08-07 |
JP2008181493A5 true JP2008181493A5 (ja) | 2011-01-27 |
JP5210613B2 JP5210613B2 (ja) | 2013-06-12 |
Family
ID=39582459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007320422A Expired - Fee Related JP5210613B2 (ja) | 2006-12-27 | 2007-12-12 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8517275B2 (ja) |
JP (1) | JP5210613B2 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1962408B1 (en) * | 2006-11-16 | 2015-05-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Radio field intensity measurement device, and radio field intensity detector and game console using the same |
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US8716850B2 (en) * | 2007-05-18 | 2014-05-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
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EP2622618A4 (en) | 2010-09-28 | 2018-03-21 | Nokia Technologies Oy | An apparatus and associated methods |
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JP6362759B1 (ja) * | 2017-12-19 | 2018-07-25 | 誠敏 中野 | Icタグ |
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JP2005051223A (ja) | 2003-07-11 | 2005-02-24 | Nec Corp | 薄膜トランジスタ、tft基板、液晶表示装置、及び、薄膜トランジスタの製造方法 |
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JP2006024087A (ja) | 2004-07-09 | 2006-01-26 | Nec Corp | 無線デバイス、その製造方法、その検査方法及び検査装置並びに無線装置及びその製造方法 |
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TWI372413B (en) | 2004-09-24 | 2012-09-11 | Semiconductor Energy Lab | Semiconductor device and method for manufacturing the same, and electric appliance |
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EP2002383B1 (en) | 2006-03-15 | 2012-04-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
KR101433306B1 (ko) | 2006-03-15 | 2014-08-22 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 전력공급 시스템 및 자동차용 전력공급 시스템 |
WO2007108371A1 (en) | 2006-03-15 | 2007-09-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
-
2007
- 2007-12-12 JP JP2007320422A patent/JP5210613B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-12-20 US US12/003,147 patent/US8517275B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-08-20 US US13/970,814 patent/US9965713B2/en active Active
-
2018
- 2018-04-30 US US15/966,578 patent/US10380472B2/en not_active Expired - Fee Related
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