JP2008124486A5 - トンネル型磁気抵抗多層膜製造方法及び製造装置 - Google Patents

トンネル型磁気抵抗多層膜製造方法及び製造装置 Download PDF

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上記課題を解決するため、本願の請求項1記載の発明は、基板上に、反強磁性層と、該反強磁性層との結合により磁化の向きが固定されている磁化固定層と、非磁性スペーサ層と、磁化の向きが自由である磁化自由層とを順に積層することでトンネル型磁気抵抗多層膜を製造する方法であって、
反強磁性層の薄膜をスパッタリングにより作製する工程において、スパッタ用ガスとして、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを10%以上の流量で使用するという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項2記載の発明は、基板上に、反強磁性層と、該反強磁性層との結合により磁化の向きが固定されている磁化固定層と、非磁性スペーサ層と、磁化の向きが自由である磁化自由層とを順に積層することでトンネル型磁気抵抗多層膜を製造する方法であって、
反強磁性層の薄膜をスパッタリングにより作製する工程において、スパッタ用ガスとして、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを50%以上の流量で使用するという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項3記載の発明は、基板上に、反強磁性層と、該反強磁性層との結合により磁化の向きが固定されている磁化固定層と、非磁性スペーサ層と、磁化の向きが自由である磁化自由層とを順に積層することでトンネル型磁気抵抗多層膜を製造する方法であって、
反強磁性層の薄膜をスパッタリングにより作製する工程において、スパッタ用ガスとして、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを100%の流量で使用するという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項記載の発明は、排気系を接続した真空容器と、
前記真空容器内に設置した、反強磁性層からなる薄膜を堆積させるための基板を保持するための基板ホルダーと、
前記真空容器内に設置した、放電を生じさせるためのカソードと、
前記真空容器内にアルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを導入するためのガス導入系と、を有するという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項記載の発明は、排気系を接続した真空容器と、
前記真空容器内に設置した、反強磁性層からなる薄膜を堆積させるための基板を保持するための基板ホルダーと、
前記基板ホルダーを回転させるための回転機構と、
前記真空容器内に設置した、放電を生じさせるためのカソードであって、該カソード面を前記基板ホルダー面に対して傾斜させて配置したカソードと、
前記真空容器内にアルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを導入するためのガス導入系と、を有するという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項記載の発明は、前記請求項4又は5の構成において、さらに、前記アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを10%以上に流量調整するための流量調整器を有するという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項記載の発明は、前記請求項4又は5の構成において、さらに、前記アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを50%以上に流量調整するための流量調整器を有するという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項記載の発明は、前記請求項4又は5の構成において、前記ガス導入系は、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスが100%であるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項9記載の発明は、前記請求項1〜3のいずれかの構成において、前記反強磁性層が、PtMn膜又はIrMn膜であり、前記磁化固定層が、CoFe膜であり、前記非磁性スペーサ層が、アルミナであり、前記磁化自由層が、NiFe膜であるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項10記載の発明は、前記請求項1〜3のいずれかの構成において、スパッタリングに用いる前記ターゲットの材料が、白金(原子番号78)とマンガン(原子番号25)のように、原子番号に大きな差のある元素から成るものであるという構成を有する。

Claims (10)

  1. 基板上に、反強磁性層と、該反強磁性層との結合により磁化の向きが固定されている磁化固定層と、非磁性スペーサ層と、磁化の向きが自由である磁化自由層とを順に積層することでトンネル型磁気抵抗多層膜を製造する方法であって、
    反強磁性層の薄膜をスパッタリングにより作製する工程において、スパッタ用ガスとして、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを10%以上の流量で使用することを特徴とするトンネル型磁気抵抗多層膜製造方法。
  2. 基板上に、反強磁性層と、該反強磁性層との結合により磁化の向きが固定されている磁化固定層と、非磁性スペーサ層と、磁化の向きが自由である磁化自由層とを順に積層することでトンネル型磁気抵抗多層膜を製造する方法であって、
    反強磁性層の薄膜をスパッタリングにより作製する工程において、スパッタ用ガスとして、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを50%以上の流量で使用することを特徴とするトンネル型磁気抵抗多層膜製造方法。
  3. 基板上に、反強磁性層と、該反強磁性層との結合により磁化の向きが固定されている磁化固定層と、非磁性スペーサ層と、磁化の向きが自由である磁化自由層とを順に積層することでトンネル型磁気抵抗多層膜を製造する方法であって、
    反強磁性層の薄膜をスパッタリングにより作製する工程において、スパッタ用ガスとして、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを100%の流量で使用することを特徴とするトンネル型磁気抵抗多層膜製造方法。
  4. 排気系を接続した真空容器と、
    前記真空容器内に設置した、反強磁性層からなる薄膜を堆積させるための基板を保持するための基板ホルダーと、
    前記真空容器内に設置した、放電を生じさせるためのカソードと、
    前記真空容器内にアルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを導入するためのガス導入系と、を有することを特徴とするトンネル型磁気抵抗多層膜製造装置。
  5. 排気系を接続した真空容器と、
    前記真空容器内に設置した、反強磁性層からなる薄膜を堆積させるための基板を保持するための基板ホルダーと、
    前記基板ホルダーを回転させるための回転機構と、
    前記真空容器内に設置した、放電を生じさせるためのカソードであって、該カソード面を前記基板ホルダー面に対して傾斜させて配置したカソードと、
    前記真空容器内にアルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを導入するためのガス導入系と、を有することを特徴とするトンネル型磁気抵抗多層膜製造装置。
  6. さらに、前記アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを10%以上に流量調整するための流量調整器を有することを特徴とする、請求項4又は5記載のトンネル型磁気抵抗多層膜製造装置。
  7. さらに、前記アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスを50%以上に流量調整するための流量調整器を有することを特徴とする、請求項4又は5記載のトンネル型磁気抵抗多層膜製造装置。
  8. 前記ガス導入系は、アルゴンより原子番号の大きな元素のクリプトン(Kr)ガス又はキセノン(Xe)ガスが100%であることを特徴とする、請求項4又は5記載のトンネル型磁気抵抗多層膜製造装置。
  9. 前記反強磁性層が、PtMn膜又はIrMn膜であり、前記磁化固定層が、CoFe膜であり、前記非磁性スペーサ層が、アルミナであり、前記磁化自由層が、NiFe膜であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項記載のトンネル型磁気抵抗多層膜製造方法。
  10. スパッタリングに用いる前記ターゲットの材料が、白金(原子番号78)とマンガン(原子番号25)のように、原子番号に大きな差のある元素から成るものである請求項1から3のいずれか1項記載のトンネル型磁気抵抗多層膜製造方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9780299B2 (en) * 2015-11-23 2017-10-03 Headway Technologies, Inc. Multilayer structure for reducing film roughness in magnetic devices
US10115892B2 (en) 2015-11-23 2018-10-30 Headway Technologies, Inc. Multilayer structure for reducing film roughness in magnetic devices
US10475564B2 (en) * 2016-06-29 2019-11-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Perpendicularly magnetized ferromagnetic layers having an oxide interface allowing for improved control of oxidation
US10622047B2 (en) 2018-03-23 2020-04-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Free layer structure in magnetic random access memory (MRAM) for Mo or W perpendicular magnetic anisotropy (PMA) enhancing layer
US10522752B1 (en) 2018-08-22 2019-12-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Magnetic layer for magnetic random access memory (MRAM) by moment enhancement

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0752305B2 (ja) * 1985-12-11 1995-06-05 キヤノン株式会社 電子写真感光体の製造方法
JPH08129721A (ja) * 1994-09-08 1996-05-21 Sumitomo Metal Ind Ltd NiO反強磁性膜の製造方法並びに磁気抵抗効果素子の製造方法とその素子
JP3593761B2 (ja) * 1995-10-26 2004-11-24 富士通株式会社 酸化物磁性体及びその製造方法
JP3137580B2 (ja) * 1996-06-14 2001-02-26 ティーディーケイ株式会社 磁性多層膜、磁気抵抗効果素子および磁気変換素子
JP3761287B2 (ja) * 1997-05-29 2006-03-29 Tdk株式会社 光記録媒体およびその製造方法
JP2962415B2 (ja) * 1997-10-22 1999-10-12 アルプス電気株式会社 交換結合膜
JPH11296823A (ja) * 1998-04-09 1999-10-29 Nec Corp 磁気抵抗効果素子およびその製造方法、ならびに磁気抵抗効果センサ,磁気記録システム
JPH11330588A (ja) * 1998-05-20 1999-11-30 Sony Corp 磁気抵抗効果素子およびその製造方法、ならびに磁気記録再生装置
US6268036B1 (en) * 1998-06-26 2001-07-31 International Business Machines Corporation Thin film disk with highly faulted crystalline underlayer
US6201671B1 (en) * 1998-12-04 2001-03-13 International Business Machines Corporation Seed layer for a nickel oxide pinning layer for increasing the magnetoresistance of a spin valve sensor
JP3601690B2 (ja) * 1999-03-02 2004-12-15 松下電器産業株式会社 磁気抵抗効果素子とその製造方法、磁気抵抗効果型ヘッド、磁気記録装置、磁気抵抗効果メモリ素子
JP4403337B2 (ja) * 2000-05-30 2010-01-27 ソニー株式会社 トンネル磁気抵抗効果素子、及びトンネル磁気抵抗効果型磁気ヘッド
JP3839644B2 (ja) * 2000-07-11 2006-11-01 アルプス電気株式会社 交換結合膜と、この交換結合膜を用いた磁気抵抗効果素子、ならびに前記磁気抵抗効果素子を用いた薄膜磁気ヘッド
JP2002167661A (ja) * 2000-11-30 2002-06-11 Anelva Corp 磁性多層膜作製装置
US6721144B2 (en) * 2001-01-04 2004-04-13 International Business Machines Corporation Spin valves with co-ferrite pinning layer

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