JP2008123402A - 可変クロック発生回路および可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置 - Google Patents
可変クロック発生回路および可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】任意の分周クロックを生成するとともに任意のディーティ比で分周クロックを生成でき、分周クロックの分周周波数とデューティ比を動的に変更することができる可変クロック発生回路および可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置を提供する。
【解決手段】分周クロックS4を停止するアイドル状態を生成するアイドル状態デコード部110と分周状態デコード部111、112、113、11Nから構成され、入力した周波数選択信号S3および状態S5に基づいて次状態S6を生成する分周デコーダ11と、次状態S6を入力クロックS1でラッチし新たな状態S5を生成する状態記憶フリップフロップ12を備え、状態記憶フリップフロップ12の出力である状態S5の任意の1ビットを分周クロックS4とする。
【選択図】図1
【解決手段】分周クロックS4を停止するアイドル状態を生成するアイドル状態デコード部110と分周状態デコード部111、112、113、11Nから構成され、入力した周波数選択信号S3および状態S5に基づいて次状態S6を生成する分周デコーダ11と、次状態S6を入力クロックS1でラッチし新たな状態S5を生成する状態記憶フリップフロップ12を備え、状態記憶フリップフロップ12の出力である状態S5の任意の1ビットを分周クロックS4とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、ディジタル回路を駆動する可変クロック発生回路および可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置に関する。
例えば、サーボドライブ装置ではクロックの周波数を変更することにより消費電力の低減ができることから、従来、クロック周波数を可変できる可変クロック発生回路がいろいろ提案されてきた。
図11は、第1従来技術を示す可変クロック発生回路の構成図である。
図11において、1は可変クロック発生回路、4は計数回路、5は比較回路である。また、S1は入力クロック、S4は分周クロックである。
以下、図11を用いて第1従来技術における可変クロック発生回路の構成を説明する。
第1従来技術における可変クロック発生回路1は、計数回路4と比較回路5によって構成される。計数回路4は、予め定められたロード値を開始値として入力クロックS1を計数して比較回路5に出力する。比較回路5は、計数回路4の計数値が設定値と等しくなると再びロード値から計数が開始されるようにロード信号を計数回路4へと出力する(例えば、特許文献1参照)。
図11は、第1従来技術を示す可変クロック発生回路の構成図である。
図11において、1は可変クロック発生回路、4は計数回路、5は比較回路である。また、S1は入力クロック、S4は分周クロックである。
以下、図11を用いて第1従来技術における可変クロック発生回路の構成を説明する。
第1従来技術における可変クロック発生回路1は、計数回路4と比較回路5によって構成される。計数回路4は、予め定められたロード値を開始値として入力クロックS1を計数して比較回路5に出力する。比較回路5は、計数回路4の計数値が設定値と等しくなると再びロード値から計数が開始されるようにロード信号を計数回路4へと出力する(例えば、特許文献1参照)。
図12は、第2従来技術を示す可変クロック発生回路の構成図である。
図12において、1は可変クロック発生回路、4は計数回路、6はセレクタ、7はフリップフロップ(以下FFと記す)、8は論理ゲートである。また、S1は入力クロック、S3は周波数選択信号、S4は分周クロックである。
以下、図12を用いて第2従来技術における可変クロック発生回路の構成を説明する。
第2従来技術における可変クロック発生回路1は、分周クロックS4を生成する回路として、入力クロックS1で動作するバイナリアップカウンタである計数回路4と、その計数回路4のロード信号を周波数選択信号S3で選択するセレクタ6と、その計数回路4の出力ビットを入力クロックS1の逆相のクロックで保持するFF7と、その計数回路4の出力ビットとFF7の出力信号から分周クロックS4を生成する論理ゲート8を具備している(例えば、特許文献2参照)。
図12において、1は可変クロック発生回路、4は計数回路、6はセレクタ、7はフリップフロップ(以下FFと記す)、8は論理ゲートである。また、S1は入力クロック、S3は周波数選択信号、S4は分周クロックである。
以下、図12を用いて第2従来技術における可変クロック発生回路の構成を説明する。
第2従来技術における可変クロック発生回路1は、分周クロックS4を生成する回路として、入力クロックS1で動作するバイナリアップカウンタである計数回路4と、その計数回路4のロード信号を周波数選択信号S3で選択するセレクタ6と、その計数回路4の出力ビットを入力クロックS1の逆相のクロックで保持するFF7と、その計数回路4の出力ビットとFF7の出力信号から分周クロックS4を生成する論理ゲート8を具備している(例えば、特許文献2参照)。
図13は、第3従来技術を示す可変クロック発生回路の構成図である。
図13において、1は可変クロック発生回路、9はエッジトリガDラッチ、10はセレクタ、13aは1/1分周器、13bは1/2分周器、13cは1/4分周器、13dは1/64分周器、13eは1/128分周器、14は遅延素子である。また、S1は入力クロック、S3は周波数選択信号、S4は分周クロックである。
以下、図13を用いて第3従来技術における可変クロック発生回路の構成を説明する。
第3従来技術の可変クロック発生回路1において、セレクタ10は、エッジトリガDラッチ9からの選択信号に応じて複数の分周器13a〜13eから出力された複数の分周クロックから1つを選択する。遅延素子14は、可変クロック発生回路1の製造ばらつきや温度、電圧などの使用条件の変化等によって複数の分周クロックの位相がたとえ一致しないような場合であっても、1/1分周クロックが他の分周クロックよりもわずかに遅れてセレクタ10に到達するように、1/1分周クロックに所定の遅延を与えている(例えば、特許文献3参照)。
図13において、1は可変クロック発生回路、9はエッジトリガDラッチ、10はセレクタ、13aは1/1分周器、13bは1/2分周器、13cは1/4分周器、13dは1/64分周器、13eは1/128分周器、14は遅延素子である。また、S1は入力クロック、S3は周波数選択信号、S4は分周クロックである。
以下、図13を用いて第3従来技術における可変クロック発生回路の構成を説明する。
第3従来技術の可変クロック発生回路1において、セレクタ10は、エッジトリガDラッチ9からの選択信号に応じて複数の分周器13a〜13eから出力された複数の分周クロックから1つを選択する。遅延素子14は、可変クロック発生回路1の製造ばらつきや温度、電圧などの使用条件の変化等によって複数の分周クロックの位相がたとえ一致しないような場合であっても、1/1分周クロックが他の分周クロックよりもわずかに遅れてセレクタ10に到達するように、1/1分周クロックに所定の遅延を与えている(例えば、特許文献3参照)。
このように、従来の可変クロック発生回路は計数回路のロード値を周波数選択信号で切り替えて分周クロックを生成するか、複数の分周器を備えて、分周器の出力を周波数選択信号で切り替えて分周クロックを生成するのである。
特開2006−174098号公報(第1図)
特開2004−165757号公報(第1図)
特開2001−296937号公報(第1図)
しかしながら、従来の可変クロック発生回路は、分周回路の切り替え時に分周クロックにグリッジが発生するようになっているので、動的に周波数を変更することができないという問題があった。そのため、動的に周波数を変更できないことからサーボモータを駆動制御するサーボドライブ装置への適用に制限が生じていた。
また、グリッジが発生しない場合においても、周波数の切り替え時にはパルスの幅が決定できないため、指定以外の周波数を生成してしまうといった問題もある。
また、分周クロックのディレイ調整なしには利用できないというような問題もあった。また、分周クロックの周波数は変更できるが、デューティを任意に設定できないという問題もあった。
また、グリッジが発生しない場合においても、周波数の切り替え時にはパルスの幅が決定できないため、指定以外の周波数を生成してしまうといった問題もある。
また、分周クロックのディレイ調整なしには利用できないというような問題もあった。また、分周クロックの周波数は変更できるが、デューティを任意に設定できないという問題もあった。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、任意の分周クロックを生成するとともに任意のディーティ比で分周クロックを生成でき、グリッジを発生することなしに分周クロックの分周周波数やデューティ比を動的に変更することができる可変クロック発生回路を提供することを目的とする。また、指定された分周クロックのみ生成し、指定以外の周波数の生成を防止できる可変クロック発生回路を提供することを目的とする。
さらに、動的にクロック周波数を変更することができることから、より消費電力の低減化が図れる可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置を提供することを目的とする。
さらに、動的にクロック周波数を変更することができることから、より消費電力の低減化が図れる可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置を提供することを目的とする。
上記問題を解決するため、本発明は、次のように構成したのである。
請求項1に記載の発明は、入力クロックと分周周波数を選択する周波数選択信号に基づいて可変の分周クロックを生成する可変クロック発生回路において、状態と前記周波数選択信号を入力し、それらに基づいて前記状態をデコードして次状態を生成する分周デコーダと、前記次状態を前記入力クロックでラッチして新たな状態を生成する状態記憶フリップフロップと、を用いて複数の前記状態を持つ順序回路を構成し、前記状態記憶フリップフロップは、ラッチして生成した前記新たな状態の内の1ビットを前記分周クロックとして出力することを特徴としている。
請求項1に記載の発明は、入力クロックと分周周波数を選択する周波数選択信号に基づいて可変の分周クロックを生成する可変クロック発生回路において、状態と前記周波数選択信号を入力し、それらに基づいて前記状態をデコードして次状態を生成する分周デコーダと、前記次状態を前記入力クロックでラッチして新たな状態を生成する状態記憶フリップフロップと、を用いて複数の前記状態を持つ順序回路を構成し、前記状態記憶フリップフロップは、ラッチして生成した前記新たな状態の内の1ビットを前記分周クロックとして出力することを特徴としている。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の可変クロック発生回路において、前記分周デコーダは、前記分周クロックを停止するアイドル状態を生成するアイドル状態デコード部と、前記周波数選択信号および前記状態に基づいて次状態を生成する複数の分周状態デコード部と、から成ることを特徴としている。
また、請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の可変クロック発生回路において、前記新たな状態の内の1ビットとは、前記状態記憶フリップフロップでラッチした前記状態の最下位ビットであることを特徴としている。
また、請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の可変クロック発生回路において、前記分周デコーダは、前記分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで前記周波数選択信号を検査し、その結果に基づいて前記複数の分周状態デコード部のうちのどこに遷移するかを選択することを特徴としている。
また、請求項5に記載の発明は、請求項2に記載の可変クロック発生回路において、前記分周デコーダは、現在の選択と異なる前記分周状態デコード部へと状態遷移する場合には前記アイドル状態デコード部を通過する様にデコードすることを特徴としている。
また、請求項6に記載の発明は、請求項2に記載の可変クロック発生回路において、前記分周デコーダは、それぞれ前記分周クロックがとりうるディーティを生成するデューティ状態デコード部を前記分周状態デコード部に備えたことを特徴としている。
また、請求項7に記載の発明は、請求項6に記載の可変クロック発生回路において、前記分周デコーダは、前記分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで周波数選択信号およびデューティ選択信号を検査し、その結果に基づいて前記デューティ状態デコード部のうちのどこに遷移するかを選択し、現在の選択と異なる前記デューティ状態デコード部へと状態遷移する場合には前記分周クロックを停止するアイドル状態を通過する様にデコードすることを特徴としている。
また、請求項8に記載の発明は、クロックを有し、サーボモータを駆動制御するサーボドライブ装置において、請求項1から7のいずれか1項に記載の可変クロック発生回路を備え、前記クロックの周波数を可変としたことを特徴としている。
また、請求項9に記載の発明は、データバスを有するCPUを備え、サーボモータを駆動制御するサーボドライブ装置において、請求項1または2に記載の可変クロック発生回路を備え、前記CPUは、前記可変クロック発生回路で生成した前記分周クロックを入力クロックとし、前記データバスを通して前記周波数選択信号を設定することを特徴としている。
また、請求項10に記載の発明は、データバスを有するCPUを備え、サーボモータを駆動制御するサーボドライブ装置において、請求項7に記載の可変クロック発生回路を備え、前記CPUは、前記可変クロック発生回路で生成した前記分周クロックを入力クロックとし、前記データバスを通して前記周波数選択信号と前記デューティ選択信号を設定することを特徴としている。
また、請求項11に記載の発明は、請求項9または10に記載の可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置において、前記CPUは、前記CPUの負荷の大きさに応じて、前記CPUの入力クロックの周波数を前記可変クロック発生回路を用いて変更することを特徴としている。
また、請求項12に記載の発明は、請求項9または10に記載の可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置において、前記可変クロック発生回路と前記CPUは割込みの接続を有し、前記CPUは、前記CPUの入力クロックである前記分周クロックが停止、すなわちアイドル状態に遷移した後、前記割込みにより前記分周クロック停止状態を解除しアイドル状態を抜けてその他の状態に遷移させることを特徴としている。
請求項1乃至4に記載の発明によると、グリッジの発生なしに分周クロックの周波数を動的に変更することができ、接続する回路の負荷に適合させて動作周波数を変更することができる可変クロック発生回路を得られる。
また、請求項5に記載の発明によると、周波数選択信号の検査期間を限定し、アイドル状態を状態遷移にはさむようにしているので、周波数選択信号で指定した分周クロックのみ生成し、指定以外の周波数の生成を防止できる可変クロック発生回路が得られる。
また、請求項6に記載の発明によると、グリッジの発生なしに分周クロックの周波数やデューティ比を動的に変更することができるため、CPUや接続する回路の負荷に適合させて動作周波数を変更することができる可変クロック発生回路を得ることができる。さらに、グリッジの発生なしに分周クロックのデューティ比を変更できることで、クロック周波数だけでなくクロックイネーブル信号としても利用することができる可変クロック発生回路が得られる。
また、請求項7に記載の発明によると、周波数選択信号とデューティ選択信号の検査期間を限定し、アイドル状態を状態遷移にはさむようにしているので、デューティ選択信号で指定されたデューティで、周波数選択信号で指定した分周クロックのみ生成できる可変クロック発生回路が得られる。
また、請求項8乃至11に記載の発明によると、サーボドライブのCPUの負荷にあわせて動作周波数を変更することができ、消費電力を低減することができるサーボドライブ装置が得られる。
また、請求項12に記載の発明によると、クロック停止状態を割込みにより解除することができるため、CPUが無負荷時にはクロックを停止でき、消費電力を一層の低減することができるサーボドライブ装置が得られる。
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。
図1は、本発明の第1実施例を示す可変クロック発生回路の構成図である。
図1において、1は可変クロック発生回路、11は分周デコーダ、110はアイドル状態デコード部、111は1/2分周状態デコード部、112は1/3分周状態デコード部、113は1/4分周状態デコード部、11Nは1/(N+1)分周状態デコード部、12は状態記憶フリップフロップである。また、S1は入力クロック、S2はリセット、S3は周波数選択信号、S4は分周クロック、S5は状態、S6は次状態、n、mはビット数である。尚、N、n、mは正の整数である。
本発明が従来技術と異なる点は、可変クロック発生回路1を分周デコーダ11と状態記憶フリップフロップ12で構成し、分周クロックS4を順序回路で生成するようにしている点である。すなわち、図1において、分周デコーダ11を複数の分周クロックを生成する分周状態デコード部110、111、112、113、11Nで構成し、状態S5と周波数選択信号S3で次の状態S6を生成するようにしている点であり、また、状態記憶フリップフロップ12で次状態S6を入力クロックS1でラッチして新たに状態S5とし、この状態S5の任意に設定した1ビットを分周クロックS4としている点である。
図1において、1は可変クロック発生回路、11は分周デコーダ、110はアイドル状態デコード部、111は1/2分周状態デコード部、112は1/3分周状態デコード部、113は1/4分周状態デコード部、11Nは1/(N+1)分周状態デコード部、12は状態記憶フリップフロップである。また、S1は入力クロック、S2はリセット、S3は周波数選択信号、S4は分周クロック、S5は状態、S6は次状態、n、mはビット数である。尚、N、n、mは正の整数である。
本発明が従来技術と異なる点は、可変クロック発生回路1を分周デコーダ11と状態記憶フリップフロップ12で構成し、分周クロックS4を順序回路で生成するようにしている点である。すなわち、図1において、分周デコーダ11を複数の分周クロックを生成する分周状態デコード部110、111、112、113、11Nで構成し、状態S5と周波数選択信号S3で次の状態S6を生成するようにしている点であり、また、状態記憶フリップフロップ12で次状態S6を入力クロックS1でラッチして新たに状態S5とし、この状態S5の任意に設定した1ビットを分周クロックS4としている点である。
図2は、本発明の第1実施例を示す可変クロック発生回路の状態遷移図である。
以下、図2を用いて本実施例の可変クロック発生回路1の状態遷移について説明する。
先ず、リセットS2の後はアイドル状態に遷移する。
そして、周波数選択信号S3が0である間はアイドル状態に留まる。このアイドル状態ではクロック停止を行う。
そして、周波数選択信号S3が1になると1/2分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3が1である間はこの状態に留まり、1以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3が2になると1/3分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3が2である間はこの状態に留まり、2以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3が3になると1/4分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3が3である間はこの状態に留まり、3以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査され、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3がNになると1/(N+1)分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3がNである間はこの状態に留まり、N以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
なお、状態と周波数選択信号S3の割当ての一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
以下、図2を用いて本実施例の可変クロック発生回路1の状態遷移について説明する。
先ず、リセットS2の後はアイドル状態に遷移する。
そして、周波数選択信号S3が0である間はアイドル状態に留まる。このアイドル状態ではクロック停止を行う。
そして、周波数選択信号S3が1になると1/2分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3が1である間はこの状態に留まり、1以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3が2になると1/3分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3が2である間はこの状態に留まり、2以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3が3になると1/4分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3が3である間はこの状態に留まり、3以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査され、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3がNになると1/(N+1)分周を作る状態群に遷移する。周波数選択信号S3がNである間はこの状態に留まり、N以外になると分周クロックS4の立ち上がりを生成する入力クロックS1の一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
なお、状態と周波数選択信号S3の割当ての一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
図3は、本発明の第1実施例を示す可変クロック発生回路の状態遷移表である。
以下、図3を用いて本実施例の可変クロック発生回路1における分周クロックS4の生成について説明する。
図2で示したように、周波数選択信号S3に従い任意の分周を作る状態群に遷移する。各状態群では分周クロックS4を生成するため図3のような状態を取る。
その動作は、周波数選択信号S3が0の時はどのような状態S5であっても次状態S6は0000をデコードする。
周波数選択信号S3が1の時は1/2分周を作る状態群であり、状態S5が0000の時に次状態S6は0101をデコードし、状態S5が0101の時に次状態S6は0100をデコードし、状態S5が0100の時に次状態S6は0101をデコードする。状態0101の時に周波数選択信号を検査しており、周波数選択信号S3が1以外になると次状態S6として0000をデコードする。
周波数選択信号S3が2の時は1/3分周を作る状態群であり、状態S5が0000の時に次状態S6は1001をデコードし、状態S5が1001の時に次状態S6は1011をデコードし、状態S5が1011の時に次状態S6は1010をデコードし、状態S5が1010の時に次状態S6は1001をデコードする。状態S5が1011の時に周波数選択信号S3を検査しており、周波数選択信号S3が2以外になると次状態S6として0000をデコードする。
周波数選択信号S3が3の時は1/4分周を作る状態群であり、状態S5が0000の時に次状態S6は1101をデコードし、状態S5が1101の時に次状態S6は1111をデコードし、状態S5が1111の時に次状態S6は1110をデコードし、状態S5が1110の時に次状態S6は1100をデコードし、状態S5が1100の時に次状態S6は1101をデコードする。状態S5が1110の時に周波数選択信号S3を検査しており、周波数選択信号S3が3以外になると次状態S6として0000をデコードする。
なお、状態S5と周波数選択信号S3の割当ておよび状態S5、次状態S6の一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
以下、図3を用いて本実施例の可変クロック発生回路1における分周クロックS4の生成について説明する。
図2で示したように、周波数選択信号S3に従い任意の分周を作る状態群に遷移する。各状態群では分周クロックS4を生成するため図3のような状態を取る。
その動作は、周波数選択信号S3が0の時はどのような状態S5であっても次状態S6は0000をデコードする。
周波数選択信号S3が1の時は1/2分周を作る状態群であり、状態S5が0000の時に次状態S6は0101をデコードし、状態S5が0101の時に次状態S6は0100をデコードし、状態S5が0100の時に次状態S6は0101をデコードする。状態0101の時に周波数選択信号を検査しており、周波数選択信号S3が1以外になると次状態S6として0000をデコードする。
周波数選択信号S3が2の時は1/3分周を作る状態群であり、状態S5が0000の時に次状態S6は1001をデコードし、状態S5が1001の時に次状態S6は1011をデコードし、状態S5が1011の時に次状態S6は1010をデコードし、状態S5が1010の時に次状態S6は1001をデコードする。状態S5が1011の時に周波数選択信号S3を検査しており、周波数選択信号S3が2以外になると次状態S6として0000をデコードする。
周波数選択信号S3が3の時は1/4分周を作る状態群であり、状態S5が0000の時に次状態S6は1101をデコードし、状態S5が1101の時に次状態S6は1111をデコードし、状態S5が1111の時に次状態S6は1110をデコードし、状態S5が1110の時に次状態S6は1100をデコードし、状態S5が1100の時に次状態S6は1101をデコードする。状態S5が1110の時に周波数選択信号S3を検査しており、周波数選択信号S3が3以外になると次状態S6として0000をデコードする。
なお、状態S5と周波数選択信号S3の割当ておよび状態S5、次状態S6の一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
図4は、本発明の第1実施例を示す可変クロック発生回路のタイミングチャートである。
以下、図4を用いて1/2分周クロックから1/4分周クロックに、分周クロックS4を動的に変更する場合を例にしてその動作を説明する。
尚、本実施例では分周クロックS4は状態の最下位ビットを利用している。
その動作は、1/2分周を作る状態群は、状態を0100→0101→0100→0101と遷移させている。この状態の最下位ビットが1/2分周クロックとなる。
1/2分周を作る状態群のある時点において、周波数選択信号S3が1から3に変更され、1/4分周クロックの作成が指令される。1/2分周を作る状態群では0101の時に周波数選択信号S3の状態を検査するので、0101の次にアイドル状態0000に遷移後、1/4分周を作る状態群に遷移する。
1/4分周を作る状態群は、状態を1101→1111→1110→1100→1101→1111→1110→1100→・・・と遷移し、1/4分周クロックを生成する。
以下、図4を用いて1/2分周クロックから1/4分周クロックに、分周クロックS4を動的に変更する場合を例にしてその動作を説明する。
尚、本実施例では分周クロックS4は状態の最下位ビットを利用している。
その動作は、1/2分周を作る状態群は、状態を0100→0101→0100→0101と遷移させている。この状態の最下位ビットが1/2分周クロックとなる。
1/2分周を作る状態群のある時点において、周波数選択信号S3が1から3に変更され、1/4分周クロックの作成が指令される。1/2分周を作る状態群では0101の時に周波数選択信号S3の状態を検査するので、0101の次にアイドル状態0000に遷移後、1/4分周を作る状態群に遷移する。
1/4分周を作る状態群は、状態を1101→1111→1110→1100→1101→1111→1110→1100→・・・と遷移し、1/4分周クロックを生成する。
以上述べたように、本実施例に係わる可変クロック発生回路1は、分周クロックS4を停止するアイドル状態を生成するアイドル状態デコード部110と分周状態デコード部111、112、113、11Nから構成され、入力した周波数選択信号S3および状態S5に基づいて次状態S6を生成する分周デコーダ11と、次状態S6を入力クロックS1でラッチし新たな状態S5を生成する状態記憶フリップフロップ12を備え、状態S5の任意の1ビットを分周クロックS4とするようにしている、すなわち、分周デコーダ11と状態記憶フリップフロップ12を任意の分周クロックS4を生成する順序回路とし、そして状態のデコードは状態記憶フィリップフロップ12の入力段で行うようにしているのでグリッジのない分周クロックS4を生成できる。
また、周波数選択信号S3の検査期間を限定し、アイドル状態を状態遷移にはさむようにしているので、周波数選択信号S3で指定された分周クロックS4のみ生成できる。
また、周波数選択信号S3の検査期間を限定し、アイドル状態を状態遷移にはさむようにしているので、周波数選択信号S3で指定された分周クロックS4のみ生成できる。
図5は、本発明の第2実施例を示す可変クロック発生回路における分周デコーダ11のブロック図である。
図5において、1111は50%デューティ状態デコード部、1121は33%デューティ状態デコード部、1122は66%デューティ状態デコード部、11N1は50%デューティ状態デコード部、11N2は33%デューティ状態デコード部、11NNはX%デューティ状態デコード部である。また、S7はデューティ選択信号である。なお、図1と同じ説明符号のものは図1と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
本実施例における分周デコーダ11が第1実施例と異なる点は、本実施例の分周デコーダ11は任意のデューティ比を生成するため、デューティ状態デコード部1111〜11NNを備えるようにしている点である。すなわち、分周デコーダ11の各分周状態デコード部111〜11Nはその分周クロックがとりうるディーティを生成するディーティ状態デコード部1111〜11NNから構成され、状態S5と周波数選択信号S3に加えてデューティ選択信号S7にも基づいて次の状態S6を生成するようにしている点である。
図5において、1111は50%デューティ状態デコード部、1121は33%デューティ状態デコード部、1122は66%デューティ状態デコード部、11N1は50%デューティ状態デコード部、11N2は33%デューティ状態デコード部、11NNはX%デューティ状態デコード部である。また、S7はデューティ選択信号である。なお、図1と同じ説明符号のものは図1と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
本実施例における分周デコーダ11が第1実施例と異なる点は、本実施例の分周デコーダ11は任意のデューティ比を生成するため、デューティ状態デコード部1111〜11NNを備えるようにしている点である。すなわち、分周デコーダ11の各分周状態デコード部111〜11Nはその分周クロックがとりうるディーティを生成するディーティ状態デコード部1111〜11NNから構成され、状態S5と周波数選択信号S3に加えてデューティ選択信号S7にも基づいて次の状態S6を生成するようにしている点である。
図6は、本発明の第2実施例を示す可変クロック発生回路の状態遷移図である。
以下、図6を用いて本実施例の可変クロック発生回路1の状態遷移について説明する。
先ず、リセットS2の後はアイドル状態に遷移する。そして、デューティ選択信号S7にかかわらず、周波数選択信号S3が0である間はアイドル状態に留まる。このアイドル状態ではクロック停止を行う。
そして、周波数選択信号S3が1になると1/2分周を作る状態群に遷移する。1/2分周の場合は50%のデューティしかないためデューティ選択信号S7にかかわらず、50%デューティの分周クロックを生成する。周波数選択信号S3が1である間はこの状態に留まり、1以外になると分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3が2になると1/3分周を作る状態群に遷移する。1/3分周クロックは33%と66%のデューティをとりうるため、33%デューティを作る状態群と66%デューティを作る状態群の2つの状態群を持ち、デューティ選択信号S7によりデューティが選択される。周波数選択信号S3が2である間はこの状態に留まり、2以外になると分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3がNになると1/(N+1)分周を作る状態群に遷移する。1/(N+1)分周クロックは33%と50%、・・・、X%のデューティをとりうるため、複数のデューティを作る状態群を持ち、デューティ選択信号S7によりデューティが選択される。周波数選択信号S3がNである間はこの状態に留まり、N以外になると分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
なお、状態S5とデューティ選択信号S7、周波数選択信号S3の割当ての一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
以下、図6を用いて本実施例の可変クロック発生回路1の状態遷移について説明する。
先ず、リセットS2の後はアイドル状態に遷移する。そして、デューティ選択信号S7にかかわらず、周波数選択信号S3が0である間はアイドル状態に留まる。このアイドル状態ではクロック停止を行う。
そして、周波数選択信号S3が1になると1/2分周を作る状態群に遷移する。1/2分周の場合は50%のデューティしかないためデューティ選択信号S7にかかわらず、50%デューティの分周クロックを生成する。周波数選択信号S3が1である間はこの状態に留まり、1以外になると分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3が2になると1/3分周を作る状態群に遷移する。1/3分周クロックは33%と66%のデューティをとりうるため、33%デューティを作る状態群と66%デューティを作る状態群の2つの状態群を持ち、デューティ選択信号S7によりデューティが選択される。周波数選択信号S3が2である間はこの状態に留まり、2以外になると分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
同じように、周波数選択信号S3がNになると1/(N+1)分周を作る状態群に遷移する。1/(N+1)分周クロックは33%と50%、・・・、X%のデューティをとりうるため、複数のデューティを作る状態群を持ち、デューティ選択信号S7によりデューティが選択される。周波数選択信号S3がNである間はこの状態に留まり、N以外になると分周クロックの立ち上がりを生成する入力クロックの一つ前の入力クロックで状態遷移の要因を検査し、アイドル状態に遷移後、周波数選択信号S3が示す状態に遷移する。
なお、状態S5とデューティ選択信号S7、周波数選択信号S3の割当ての一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
図7は、本発明の第2実施例を示す可変クロック発生回路の状態遷移表である。尚、図7において、状態S5欄およびデューティ選択信号S7欄のx印はドントケアを示すものとする。
以下、図7を用いて1/3分周を作る状態群について、33%と66%デューティの分周クロックを作成する場合を例として説明する。
周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7に従い任意の分周を作る状態群の任意のデューティを作る状態群に遷移する。各状態群では分周クロックを生成するため図7のような状態を取る。
デューティ選択信号S7にかかわらず周波数選択信号S3が0の時はどのような状態であっても次状態は0000をデコードする。周波数選択信号S3が2の時は1/3分周を作る状態群であり、デューティ選択信号S7により33 %デューティを作る状態群か66%デューティを作る状態群に遷移する。
先ず、デューティ選択信号S7が0の時、状態S5が0000の時に次状態S6は1001をデコードし、状態S5が1001の時に次状態S6は1000をデコードし、状態S5が1000の時に次状態S6は1010をデコードし、状態S5が1010の時に次状態S6は1001をデコードする。状態S5が1000の時に周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7を検査している。
次に、デューティ選択信号S7が1になると、次状態S6として0000をデコードし、また、デューティ選択信号S7にかかわらず周波数選択信号S3が2以外になると次状態S6として0000をデコードする。
デューティ選択信号S7が1の時、状態S5が0000の時に次状態S6は0101をデコードし、状態S5が0101の時に次状態S6は0111をデコードし、状態S5が0111の時に次状態S6は0110をデコードし、状態S5が0110の時に次状態S6は0101をデコードする。状態S5が0111の時に周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7を検査している。
次に、デューティ選択信号S7が0になると、次状態S6として0000をデコードし、また、デューティ選択信号S7にかかわらず周波数選択信号S3が2以外になると次状態として0000をデコードする。
なお、デューティ選択信号S7、周波数選択信号S3の割当ての一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
以下、図7を用いて1/3分周を作る状態群について、33%と66%デューティの分周クロックを作成する場合を例として説明する。
周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7に従い任意の分周を作る状態群の任意のデューティを作る状態群に遷移する。各状態群では分周クロックを生成するため図7のような状態を取る。
デューティ選択信号S7にかかわらず周波数選択信号S3が0の時はどのような状態であっても次状態は0000をデコードする。周波数選択信号S3が2の時は1/3分周を作る状態群であり、デューティ選択信号S7により33 %デューティを作る状態群か66%デューティを作る状態群に遷移する。
先ず、デューティ選択信号S7が0の時、状態S5が0000の時に次状態S6は1001をデコードし、状態S5が1001の時に次状態S6は1000をデコードし、状態S5が1000の時に次状態S6は1010をデコードし、状態S5が1010の時に次状態S6は1001をデコードする。状態S5が1000の時に周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7を検査している。
次に、デューティ選択信号S7が1になると、次状態S6として0000をデコードし、また、デューティ選択信号S7にかかわらず周波数選択信号S3が2以外になると次状態S6として0000をデコードする。
デューティ選択信号S7が1の時、状態S5が0000の時に次状態S6は0101をデコードし、状態S5が0101の時に次状態S6は0111をデコードし、状態S5が0111の時に次状態S6は0110をデコードし、状態S5が0110の時に次状態S6は0101をデコードする。状態S5が0111の時に周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7を検査している。
次に、デューティ選択信号S7が0になると、次状態S6として0000をデコードし、また、デューティ選択信号S7にかかわらず周波数選択信号S3が2以外になると次状態として0000をデコードする。
なお、デューティ選択信号S7、周波数選択信号S3の割当ての一例を本実施例は示しており、所定の動作をする限り自由にしてよい。
図8は、本発明の第2実施例を示す可変クロック発生回路のタイミングチャートである。
以下図8を用いて、66%デューティから33%デューティの1/3分周クロックに、分周クロックを動的に変更する場合を例にして動作を説明する。
本実施例では分周クロックは状態の最下位ビットを利用している。その動作は、66%デューティを作る状態群は、状態を0101→0111→0110→・・・→0101→0111と遷移させている。この状態の最下位ビットが66%デューティの1/3分周クロックとなる。66%デューティを作る状態群のある時点において、デューティ選択信号S7が1から0に変更され、33%デューティの1/3分周クロック作成が指令される。66%デューティを作る状態群では0111の時に周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7を検査するので、0111の次にアイドル状態0000に遷移後、33%デューティを作る状態群に遷移する。33%デューティを作る状態群は、状態を1001→1000→1010→1001→1000→1010→・・・と遷移し、33%デューティの1/3分周クロックを生成する。
以下図8を用いて、66%デューティから33%デューティの1/3分周クロックに、分周クロックを動的に変更する場合を例にして動作を説明する。
本実施例では分周クロックは状態の最下位ビットを利用している。その動作は、66%デューティを作る状態群は、状態を0101→0111→0110→・・・→0101→0111と遷移させている。この状態の最下位ビットが66%デューティの1/3分周クロックとなる。66%デューティを作る状態群のある時点において、デューティ選択信号S7が1から0に変更され、33%デューティの1/3分周クロック作成が指令される。66%デューティを作る状態群では0111の時に周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7を検査するので、0111の次にアイドル状態0000に遷移後、33%デューティを作る状態群に遷移する。33%デューティを作る状態群は、状態を1001→1000→1010→1001→1000→1010→・・・と遷移し、33%デューティの1/3分周クロックを生成する。
以上述べたように、本実施例に係わる可変クロック発生回路1は、分周デコーダ11と状態記憶フリップフロップ12を任意の分周クロックS4を生成する順序回路としていること、そして状態のデコードは状態記憶フィリップフロップ12の入力段で行われていることにより、出力にグリッジのない分周クロックS4を生成できる。また、周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7の検査期間を限定し、アイドル状態を状態遷移にはさむことで、デューティ選択信号S7で指定されたデューティで、周波数選択信号S3で指定された分周クロックS4のみ生成できる。
図9は、本発明の第3実施例を示す可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置のブロック図である。尚、図9には本発明に係わる部分のみ記述している。
図9において、1は可変クロック発生回路、2はCPU、3はサーボドライブ装置である。また、S1は入力クロック、S2はリセット、S3は周波数選択信号、S4は分周クロック、S7はデューティ選択信号、S8はデータバス、m、Mはビット数である。
本発明の特徴とする点は、本発明のサーボドライブ装置は、第1実施例または第2実施例で述べた可変クロック発生回路1を備え、CPU2で制御された周波数とデューティをもつ分周クロックS4をCPU2の入力クロックとしている点である。すなわち、サーボドライブ3のCPU2のクロック端子には可変クロック発生回路1の出力である分周クロックS4が接続され、周波数とデューティを選択するために、CPU2のデータバスS8を可変クロック発生回路1の周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7に接続するようにしている点である。
図9において、1は可変クロック発生回路、2はCPU、3はサーボドライブ装置である。また、S1は入力クロック、S2はリセット、S3は周波数選択信号、S4は分周クロック、S7はデューティ選択信号、S8はデータバス、m、Mはビット数である。
本発明の特徴とする点は、本発明のサーボドライブ装置は、第1実施例または第2実施例で述べた可変クロック発生回路1を備え、CPU2で制御された周波数とデューティをもつ分周クロックS4をCPU2の入力クロックとしている点である。すなわち、サーボドライブ3のCPU2のクロック端子には可変クロック発生回路1の出力である分周クロックS4が接続され、周波数とデューティを選択するために、CPU2のデータバスS8を可変クロック発生回路1の周波数選択信号S3とデューティ選択信号S7に接続するようにしている点である。
以上述べたように、本実施例に係わる可変クロック発生回路1を備えたサーボドライブ装置は、アイドル状態デコード部110と任意の分周状態デコード部111、112、113、11Nから構成され次の状態S6を生成する分周デコーダ11と、次状態S6を入力クロックS1でラッチし状態を生成する状態記憶フリップフロップ12を備え、状態S5の任意の1ビットを分周クロックS4とするようにし、CPU2の負荷に適合させて分周クロックS4の周波数を変更できるので、サーボドライブ装置3の消費電力を低減することができる。
図10は、本発明の第4実施例を示す可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置のブロック図である。
図10において、S9は割込みである。なお、図9と同じ説明符号のものは図9と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
本実施例が第3実施例のサーボドライブ3と異なる点は、本実施例のサーボドライブ装置3は、割込みS9を利用してアイドル状態から別の状態に遷移するようにしている点である。
すなわち、割込みS9を可変クロック発生回路1とCPU2に接続し、CPU2によりクロック停止、すなわちアイドル状態に遷移した後、アイドル状態を抜けてその他の状態に遷移するために割込みS9を利用している点である。
図10において、S9は割込みである。なお、図9と同じ説明符号のものは図9と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
本実施例が第3実施例のサーボドライブ3と異なる点は、本実施例のサーボドライブ装置3は、割込みS9を利用してアイドル状態から別の状態に遷移するようにしている点である。
すなわち、割込みS9を可変クロック発生回路1とCPU2に接続し、CPU2によりクロック停止、すなわちアイドル状態に遷移した後、アイドル状態を抜けてその他の状態に遷移するために割込みS9を利用している点である。
以上述べたように、本実施例に係わる可変クロック発生回路1を備えたサーボドライブ装置は、アイドル状態デコード部110と任意の分周状態デコード部111、112、113、11Nから構成され次の状態S6を生成する分周デコーダ11と、次状態S6を入力クロックS1でラッチし状態を生成する状態記憶フリップフロップ12を備え、状態S5の任意の1ビットを分周クロックS4とするようにし、CPU2の負荷に適合させて分周クロックS4の周波数変更に加えてクロックの停止もできるので、サーボドライブ装置3の消費電力をさらに低減することができる。
1 可変クロック発生回路
2 CPU
3 サーボドライブ装置
4 計数回路
5 比較回路
6、10 セレクタ
7 FF
8 論理ゲート
9 エッジトリガDラッチ
11 分周デコーダ
12 状態記憶フリップフロップ
13a1/1分周器
13b 1/2分周器
13c 1/4分周器
13d 1/64分周器
13e 1/128分周器
14 遅延素子
110 アイドル状態デコード部
111 1/2分周状態デコード部
112 1/3分周状態デコード部
113 1/4分周状態デコード部
11N 1/(N+1)分周状態デコード部
1111 50%デューティ状態デコード部
1121 33%デューティ状態デコード部
1122 66%デューティ状態デコード部
11N1 50%デューティ状態デコード部
11N2 33%デューティ状態デコード部
11NN X%デューティ状態デコード部
S1 入力クロック
S2 リセット
S3 周波数選択信号
S4 分周クロック
S5 状態
S6 次状態
S7 デューティ選択信号
S8 データバス
S9 割込み
2 CPU
3 サーボドライブ装置
4 計数回路
5 比較回路
6、10 セレクタ
7 FF
8 論理ゲート
9 エッジトリガDラッチ
11 分周デコーダ
12 状態記憶フリップフロップ
13a1/1分周器
13b 1/2分周器
13c 1/4分周器
13d 1/64分周器
13e 1/128分周器
14 遅延素子
110 アイドル状態デコード部
111 1/2分周状態デコード部
112 1/3分周状態デコード部
113 1/4分周状態デコード部
11N 1/(N+1)分周状態デコード部
1111 50%デューティ状態デコード部
1121 33%デューティ状態デコード部
1122 66%デューティ状態デコード部
11N1 50%デューティ状態デコード部
11N2 33%デューティ状態デコード部
11NN X%デューティ状態デコード部
S1 入力クロック
S2 リセット
S3 周波数選択信号
S4 分周クロック
S5 状態
S6 次状態
S7 デューティ選択信号
S8 データバス
S9 割込み
Claims (12)
- 入力クロック(S1)と分周周波数を選択する周波数選択信号(S3)に基づいて可変の分周クロック(S4)を生成する可変クロック発生回路(1)において、
状態(S5)と前記周波数選択信号(S3)を入力し、それらに基づいて前記状態(S5)をデコードして次状態(S6)を生成する分周デコーダ(11)と、前記次状態(S6)を前記入力クロック(S1)でラッチして新たな状態(S5)を生成する状態記憶フリップフロップ(12)と、を用いて複数の前記状態(S5)を持つ順序回路を構成し、
前記状態記憶フリップフロップ(12)は、ラッチして生成した前記新たな状態(S5)の内の1ビットを前記分周クロック(S4)として出力することを特徴とする可変クロック発生回路。 - 前記分周デコーダ(11)は、前記分周クロック(S4)を停止するアイドル状態を生成するアイドル状態デコード部(110)と、前記周波数選択信号(S3)および前記状態(S5)に基づいて次状態(S6)を生成する複数の分周状態デコード部(111、112、113、11N)と、から成ることを特徴とする請求項1に記載の可変クロック発生回路。
- 前記新たな状態(S5)の内の1ビットとは、前記状態記憶フリップフロップ(12)でラッチした前記状態(S5)の最下位ビットであることを特徴とする請求項1に記載の可変クロック発生回路。
- 前記分周デコーダ(11)は、
前記分周クロック(S4)の立ち上がりを生成する入力クロック(S1)の一つ前の入力クロックで前記周波数選択信号(S3)を検査し、その結果に基づいて前記複数の分周状態デコード部(111、112、113、11N)のうちのどこに遷移するかを選択することを特徴とする請求項2に記載の可変クロック発生回路。 - 前記分周デコーダ(11)は、
現在の選択と異なる前記分周状態デコード部(111、112、113、11N)へと状態遷移する場合には前記アイドル状態デコード部(110)を通過する様にデコードすることを特徴とする請求項2に記載の可変クロック発生回路。 - 前記分周デコーダ(11)は、それぞれ前記分周クロック(S4)がとりうるディーティを生成するデューティ状態デコード部(1111〜11NN)を前記分周状態デコード部(111、112、113、11N)に備えたことを特徴とする請求項2に記載の可変クロック発生回路。
- 前記分周デコーダ(11)は、
前記分周クロック(S4)の立ち上がりを生成する入力クロック(S1)の一つ前の入力クロックで周波数選択信号(S3)およびデューティ選択信号(S7)を検査し、その結果に基づいて前記デューティ状態デコード部(1111〜11NN)のうちのどこに遷移するかを選択し、現在の選択と異なる前記デューティ状態デコード部(1111〜11NN)へと状態遷移する場合には前記分周クロック(S4)を停止するアイドル状態を通過する様にデコードすることを特徴とする請求項6に記載の可変クロック発生回路。 - クロックを有し、サーボモータを駆動制御するサーボドライブ(3)において、
請求項1から7のいずれか1項に記載の可変クロック発生回路(1)を備え、
前記クロックの周波数を可変としたことを特徴とする可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ。 - データバス(S8)を有するCPU(2)を備え、サーボモータを駆動制御するサーボドライブ装置(3)において、
請求項1または2に記載の可変クロック発生回路(1)を備え、
前記CPU(2)は、
前記可変クロック発生回路(1)で生成した前記分周クロック(S4)を入力クロックとし、前記データバス(S8)を通して前記周波数選択信号(S3)を設定することを特徴とする可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置。 - データバス(S8)を有するCPU(2)を備え、サーボモータを駆動制御するサーボドライブ装置(3)において、
請求項7に記載の可変クロック発生回路(1)を備え、
前記CPU(2)は、
前記可変クロック発生回路(1)で生成した前記分周クロック(S4)を入力クロックとし、前記データバス(S8)を通して前記周波数選択信号(S3)と前記デューティ選択信号(S7)を設定することを特徴とする可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置。 - 前記CPU(2)は、
前記CPU(2)の負荷の大きさに応じて、前記CPU(2)の入力クロックの周波数を前記可変クロック発生回路(1)を用いて変更することを特徴とする請求項9または10に記載の可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置。 - 前記可変クロック発生回路(1)と前記CPU(2)は割込み(S9)の接続を有し、
前記CPU(2)は、前記CPU(2)の入力クロックである前記分周クロック(S4)が停止、すなわちアイドル状態に遷移した後、前記割込み(S9)により前記分周クロック停止状態を解除しアイドル状態を抜けてその他の状態に遷移させることを特徴とする請求項9または10に記載の可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006308795A JP2008123402A (ja) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | 可変クロック発生回路および可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006308795A JP2008123402A (ja) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | 可変クロック発生回路および可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2008123402A true JP2008123402A (ja) | 2008-05-29 |
Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006308795A Pending JP2008123402A (ja) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | 可変クロック発生回路および可変クロック発生回路を備えたサーボドライブ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2008123402A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8253449B2 (en) | 2009-06-04 | 2012-08-28 | Renesas Electronics Corporation | Clock switch circuit and clock switch method of the same |
US8928385B2 (en) | 2011-12-12 | 2015-01-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of controlling clocks in system on chip including function blocks, systems on chips and semiconductor systems including the same |
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2006
- 2006-11-15 JP JP2006308795A patent/JP2008123402A/ja active Pending
Cited By (3)
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US8253449B2 (en) | 2009-06-04 | 2012-08-28 | Renesas Electronics Corporation | Clock switch circuit and clock switch method of the same |
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US9054680B2 (en) | 2011-12-12 | 2015-06-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of controlling clocks in system on chip including function blocks, systems on chips and semiconductor systems including the same |
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