JP5100801B2 - クロック制御回路 - Google Patents

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Description

この発明はクロック制御回路に関し、特に、リセットなどの負荷の重い信号や遅延時間の大きな信号があっても消費電力や回路規模の増加を抑えて所望の性能を達成できるクロック制御回路に関する。
リセット信号は1度に多くのラッチをセットするため、非常にファンアウトが大きくなる。そのため、リセット回路からラッチまでリセット信号が伝搬するのに時間がかかり、特に動作周波数が速いと、外部からのリセット解除信号を受けてすべてのラッチをリセット状態から解除するのに時間がかかってしまい、誤動作の原因になる。
たとえば、図20に示す回路の場合、図21(b)に示すリセット信号がバッファ20を介してDタイプフリップフロップ21〜25のリセット端子(R1〜R5)に与えられている。バッファ20の出力には5個のDタイプフリップフロップ21〜25が負荷となっているため、図21(c)に示すようにDタイプフリップフロップ21のリセット信号R1と、図21(d)に示すDタイプフリップフロップ25のリセット信号R5の伝搬する時間が図21(a)に示すクロック信号の1サイクル分ずれてしまう可能性がある。その場合、リセット信号R1でリセットされるDタイプフリップフロップ21と、リセット信号R5でリセットされるDタイプフリップフロップ25のリセット解除タイミングがクロックサイクルでずれてしまい、誤動作の原因となる。
システムの最高周波数は最も遅いパスで決まるが、これではリセット解除のパス遅延がLSIの動作周波数を引き下げてしまい、全体の性能を下げてしまう。
これを解決するために、図22に示すようにバッファ30の出力にバッファ31〜34をツリー構造で接続したり、図23に示すように出力の大きなバッファ40でリセット信号を伝搬させる方法があるが、回路規模や消費電力の面で不利である。
また、リセット信号以外でも、多くのブロックに供給されるような遅延時間の大きい信号源では同様の問題が起こる可能性がある。
たとえば、図24に示すようにバッファ40の出力に多数のバッファ41〜46が接続されているようにファンアウトの大きなノードを含むA→Bのパスの場合、図25(b)に示す信号Aの立ち上がりタイミングからから図25(c)に示す信号Bの立ち上がりタイミングまでの遅延時間が図25(a)に示すクロックサイクルより長くなると、誤動作を起こす。
これらを解決する方法として、リセット信号の場合と同じくツリー構造を組んだり、大きなバッファでリセット信号を伝搬させる方式があるが、同じく回路規模や消費電力の面で不利である。
それゆえに、この発明の主たる目的は、リセット信号などの遅延時間の大きな信号の状態が変化した後または前後で、クロック周波数を低くする、またはクロック信号を停止することで上記問題を解決するクロック制御回路を提供することである。
この発明に係るクロック制御回路は、クロック信号の供給を停止するゲート回路と、第1の信号に応答して、ゲート回路によってクロック信号の供給を停止させるとともに、第1の信号に応答して論理レベルが変化する第2の信号を生成し、第2の信号の論理レベルが変化する前後でクロック信号の供給を停止させるゲート制御回路とを備えたものである。
また、この発明に係る他のクロック制御回路は、クロック信号の周波数を変更するクロック変換回路と、第1の信号に応答してクロック変換回路によってクロック信号の周波数を低くさせ、第1の信号が第1の状態から第2の状態へ変化したときに常に一定の期間だけクロック信号の周波数を低くさせるクロック切換回路とを備えたものである。
また、この発明に係るさらに他のクロック制御回路は、クロック信号の周波数を変更するクロック変換回路と、第1の信号に応答して、クロック変換回路によってクロック変換回路から周波数を低くしたクロック信号を出力させるとともに、第1の信号に応答して論理レベルが変化する第2の信号を生成し、第2の信号の論理レベルが変化する前後でクロック信号の周波数を低くさせるクロック切換回路とを備えたものである。
この発明によれば、リセット信号などの遅延時間の大きな信号の状態が変化した後または前後で、クロック周波数を低くする、またはクロック信号を停止するため、誤動作することがない。その結果、遅延時間の大きなノードに対して、大きなバッファを使用したり、ツリー構造を取る必要がなく、確実に動作する回路を構成でき、消費電力や面積の小さい回路を実現できる。
この発明の第1の実施形態のクロック制御回路を示すブロック図である。 図1に示したクロック制御回路のタイミング図である。 図1に示したゲート制御回路の一例を示す図である。 図1に示したゲート制御回路の他の例を示す図である。 この発明の第2の実施形態を示すブロック図である。 図5の動作を説明するためのタイミング図である。 図5に示したゲート制御回路の一例を示す図である。 図5に示したゲート制御回路の他の例を示す図である。 この発明の第3の実施形態のクロック制御回路を示すブロック図である。 図9に示したクロック変換器の具体例を示す回路図である。 図9に示した実施形態の動作を説明するためのタイミング図である。 この発明の第4の実施形態のクロック制御回路を示すブロック図である。 この発明の第5の実施形態のクロック制御回路を示すブロック図である。 図13に示した実施形態のタイミング図である。 図13に示したゲート制御回路の一例を示す図である。 図13に示したゲート制御回路の他の例を示す図である。 この発明の第6の実施形態のクロック制御回路を示すブロック図である。 図17に示した実施形態のタイミング図である。 この発明の第7の実施形態のクロック制御回路を示すブロック図である。 バッファに5個のDタイプフリップフロップが接続された従来例の回路図である。 図20に示した従来例のタイミング図である。 バッファ回路をツリー構造にした従来例を示す回路図である。 出力の大きなバッファ回路でDタイプフリップフロップを駆動する従来例の回路図である。 ファンアウトの大きなノードを含むパスを有する回路図である。 図24の回路のタイミング図である。
(実施の形態1)
図1はこの発明の第1の実施形態のクロック制御回路を示すブロック図である。
図1において、この実施形態のクロック制御回路は2入力のゲート回路1とゲート制御回路12とから構成されている。クロック発振器11はクロック信号(以下、図示ではCLOCKと記す)を発生してゲート回路1の一方入力に与える。外部端子10にはリセット信号が入力され、このリセット信号はゲート制御回路12に与えられるとともに内部回路2に与えられる。ゲート制御回路12はリセット信号に応答してクロック制御信号(以下、図示ではCLOCK_CNTと記す)を出力し、その反転信号をゲート回路1の他方入力に与える。ゲート回路1はクロック信号とクロック制御信号の反転信号とのAND論理を演算するAND論理ゲートであり、その出力の内部クロック信号(以下、図示ではICLKと記す)は内部回路2に与えられる。
内部回路2は、この半導体チップに形成された集積回路の主要な機能を実現する回路であり、図20と同様にして構成され、バッファ回路20と複数のDタイプフリップフロップ21〜25とを含むとともに、さらにゲート回路1から出力される内部クロック信号を受けるバッファ回路26を含む。リセット信号はバッファ回路20を介して各Dタイプフリップフロップ21〜25のリセット端子に共通に与えられ、その記憶内容をリッセットする。内部クロック信号はバッファ回路20を介して各Dタイプフリップフロップ21〜25のクロック端子に共通に与えられ、内部クロック信号ICLKの立上り(または立下り)エッジに同期してD端子に与えられたデータを記憶保持する。
ゲート制御回路12はリセット信号に応答して、ゲート回路1によってクロック信号の供給を停止させ、特にリセット信号のレベル変化した直後にクロック信号の供給を停止させる。ゲート制御回路12はリセット信号が特に「H」レベルから「L」レベルヘ変化するごとに同じ期間だけクロック信号の供給を停止させ、リセット信号が「L」レベルから「H」レベルに変化する際には、クロック信号の供給を停止させない。その具体的構成の第1の例は図3の回路であり、その第2の例が図4の回路である。
なお、図1に示したクロック発振器11と、ゲート制御回路12と、ゲート回路1と、内部回路2は、共通の半導体チップ上に形成される。ただし、クロック発振器11をチップ上に設けず、チップの外部からクロック信号を与えるようにしてもよい。
図2は図1に示したクロック制御回路のタイミング図である。
ゲート回路1にクロック信号が与えられ、図2(b)に示すリセット信号(RESET)が「H」レベルの期間はクロック制御信号が図2(e)に示すように、「L」レベルとなり、その期間は図2(a)に示すように内部クロック信号が出力される。しかし、リセット信号が「L」レベルになってクロック制御信号が「H」レベルになると、その期間はクロック信号の出力が停止され、ゲート回路1の出力は「L」レベルになる。
したがって、図2(b)示すリセット信号に基づいて内部回路に与えられるリセット信号R1(図2(c)),R5(図2(d))の遅延差がクロック信号の1サイクルよりも大きくてもリセット信号R1,R5の両方が伝搬して十分な時間が経過してからゲート回路1の出力からクロック信号が再供給されるため、誤動作することがない。その結果、遅延時間の大きなノードに対して、図24に示すような大きなバッファを使用したり、また図22に示すようなツリー構造を取る必要がなく、消費電力や面積の小さい回路を実現できる。
次に、図3に示したゲート制御回路は、リセット信号を遅延させる遅延素子3と、リセット信号の論理反転信号を一方入力に受け、遅延素子3の出力信号を他方入力に受け、そのAND論理を演算するAND回路4とを含む。なお、遅延素子3は複数のバッファ素子を直列接続して構成され、遅延時間はクロック信号の供給を停止する期間の時間に一致するように設定されている。
図2(b)に示したリセット信号が遅延素子3で遅延された後AND回路4に入力され、リセット信号から遅延された図2(e)に示すクロック制御信号が出力される。
図4に示した例は、複数のDタイプフリップフロップを直列接続して遅延回路5を構成し、リセット信号をクロック信号により順次シフトし、リセット信号から所定時間遅延されたクロック制御信号をAND回路6にリセット信号とともに与えるものであり、入力するリセット信号を計数する手段を構成している。この例においても、遅延回路5での計数時間がクロック信号の供給を停止する期間の時間に一致するように設定されている。
(実施の形態2)
図5はこの発明の第2の実施形態を示すブロック図であり、図6は図5の動作を説明するためのタイミング図である。
図5において、この実施形態のクロック制御回路は、2入力のゲート回路1とゲート制御回路13とから構成されている。ゲート制御回路13は図1と同様にして、図6(c)に示すリセット信号に応答してゲート回路1によって図6(b)に示すようにクロック信号の供給を停止させるとともに、リセット信号のレベル変化を遅延させた内部リセット信号を図6(d)に示すように生成し、内部リセット信号の論理レベルが変化する前後でクロック信号の内部回路2への供給を停止させる。
内部回路2では図1と同様にして複数のDタイプフリップフロップ21〜25が設けられているが、各Dタイプフリップフロップ21〜25のリセット端子にはゲート制御回路13から出力される内部リセット信号が共通に与えられる。その他の構成および動作は図1と同じである。このようにゲート制御回路13を設けることにより誤動作の起こり難い安全な回路を構成できる。
図7および図8は、図5に示したゲート制御回路の各例を示す。図7は前述の図3と同一の回路において、複数のバッファ素子を直列接続した遅延素子3のうち、最終段以外の所定のバッファ素子から出力される信号を内部リセット信号として出力する回路である。図8は図4と同一の回路において、複数のDタイプフリップフロップからなる遅延回路5のうちの最終段以外の所定のフリップフロップから出力される信号を内部リセット信号として出力する回路である。図7および図8ではともに、リセット信号に対してたとえば遅延素子3,遅延回路5によるそれぞれ遅延時間の1/2に相当する遅延量を有した内部リセット信号が生成される。
(実施の形態3)
図9はこの発明の第3の実施形態を示すブロック図である。この実施形態のクロック制御回路はゲート回路1とクロック切換回路32とから構成されており、図1に示したゲート回路1とゲート制御回路12に代えてクロック変換器7とクロック切換回路32とを設けたものである。クロック切換回路32は、リセット信号に応答して、ある期間だけクロック変換器7によって内部回路2に与えるべき内部クロック信号の周波数を低くさせる制御信号を生成して出力するとともに、リセット信号のレベル変化を遅延させた内部リセット信号を生成し、内部リセット信号の論理レベルが変化する前後で内部回路2に与えるクロック信号の周波数を低くしている。
より具体的には、クロック切換回路32は、図7または図8の回路と同一の回路で構成できる。よって、クロック切換回路32はリセット信号が「H」レベルから「L」レベルに変化するときにのみ応答してクロック信号の周波数を低下させ、かつリセット信号に応答するごとに同じ期間だけクロック信号の周波数を低下させる。
クロック変換器7は、制御信号にしたがい、クロック信号の周波数を一定期間低下させる。内部回路2には、図1と同様に複数のDタイプフリップフロップ21〜25が設けられ、各Dタイプフリップフロップ21〜25のクロック端子にはクロック変換器7から出力されるクロック信号が共通に与えられるが、リセット端子にはクロック制御回路から出力させる内部リセット信号が共通に与えられる。
図9の内部回路2と、クロック変換器7と、クロック切換回路32と、クロック発振器11は同一の半導体チップ上に集積して形成される。ただし、クロック発振器11をチップ上に設けず、クロック信号を外部から与えるようにしてもよい。
図10は図9に示したクロック変換器7の具体例を示す回路図である。図10において、クロック変換器7はクロック分周器71とマルチプレクサ72とから構成される。クロック分周器71はカウンタによって構成されており、クロック信号を所定の分周比で分周し、その分周信号をマルチプレクサ72に与える。マルチプレクサ72はクロック制御信号によって、クロック信号と分周信号とを切換えて内部クロック信号として出力する。
クロック変換器7としてはその他に、たとえばクロック信号を逓倍した信号とクロック信号を選択する方法や、分周回路や逓倍回路を内部に持っていてその分周比または逓倍比を制御する方法などが考えられる。
図11は図9に示した実施形態の動作を説明するためのタイミング図である。図10に示したマルチプレクサ72は、図11(f)に示すクロック制御信号が「L」レベルの期間に図11(a)に示すようにクロック信号を内部クロック信号として出力し、クロック制御信号が「H」レベルの期間は分周信号を内部クロック信号として出力する。そして、周波数を低くした際の内部クロック信号の1クロックサイクルが信号R1,R5の間のレベル変化の遅延時間(図11のΔt)より長くなるように、内部クロックの周波数が設定される。したがって、この実施形態では、図11(b)に示すリセット信号が「L」レベルに立ち下がる数サイクル間の内部クロック信号の周波数が低くなるのでR1〜R5の遅延がクロック信号の1サイクルより大きくても、周波数の低くなった内部クロック信号の1サイクル以内であれば誤動作することはない。
よって、図22や図23のように、遅延時間の大きなノードに対して、大きなバッファを使用したり、またツリー構造を採用する必要がなく、消費電力や面積の小さい回路を実現できる。
(実施の形態4)
図12はこの発明の第4の実施形態を示すブロック図である。図12において、クロック制御回路はクロック変換器7とクロック切換回路42とから構成されている。クロック発振器11とクロック変換器7は図9と同一の構成であり、クロック切換回路42はリセット信号に応答してクロック変換器7に内部回路2に与えるべきクロック信号の周波数を低くする制御信号を生成する。リセット信号は内部回路2内の複数のDタイプフリップフロップ21〜25の各リセット端子に与えられる。クロック切換回路42は、具体的には図3または図4と同一の回路で構成される。したがって、内部回路2内の各Dタイプフリップフロップ21〜25に与えられるリセット信号が「H」レベルから「L」レベルに変化した直後にクロック信号の周波数が低下する。低下後の周波数は、図9の例と同様にクロック信号の1クロックサイクルが信号R1,R5の間にレベル変化の遅延時間より長くなるように設定される。
(実施の形態5)
図13はこの発明の第5の実施形態を示すブロック図である。この実施形態は、従来例の図24に改良を加えたものであり、クロック制御回路はゲート回路1とゲート制御回路48とから構成されている。クロック発振器11と、ゲート回路1は図1と同一の構成であり、ゲート回路1の出力信号は内部クロック信号としてDタイプフリップフロップ53,54のクロック端子に与えられる。なお、この図13に示した回路は単一の半導体チップ上に形成される。
ゲート制御回路48はノードAの「L」レベルから「H」レベルへの変化および「H」レベルから「L」レベルへの変化のいずれにも応答して、ゲート回路1に内部クロック信号の供給を一定期間停止させるための制御信号を生成する。
Dタイプフリップフロップ53,54はクロック信号の立上り(または立下り)エッジでD端子のデータを記憶保持する。たとえば、組合せ回路からなるロジック回路51はDタイプフリップフロップ回路53の出力するデータ(ノードAの信号)に対して所定の論理演算をしてバッファ40に出力する。ロジック回路52はバッファ41から受けたデータに対して所定の論理演算してDタイプフリップフロップ54のD端子(ノードB)に出力する。
この例では、ノードAの信号がレベル変化したことに応じて、必ずノードBのレベル変化する回路を想定したものである。なお、ノードBは必ずしもノードAと同じレベル変化する必要はない。この実施形態では、バッファ40の出力に多数のバッファ41〜46の入力が共通に接続され、そのファンアウトが大きいという利点がある。
図14は図13に示した実施形態のタイミング図である。図1に示したクロック制御回路を用いて遅延時間の大きなノードを含む制御信号Aが図14(b)に示すように、「H」レベルから「L」レベルに変化するときに図14(a)に示すように一定期間(期間A)内部クロック信号の供給停止を指示するために制御信号をアサートするとともに、ノードAにおける「L」レベルから「H」レベルへの変化に応答しても、一定期間(期間B)クロック信号の供給停止を指示するために制御信号をアサートする。
この実施形態では、ノードAで「H」レベルから「L」レベルに応答する度に、クロック信号の供給停止期間(期間A)は常に同じ時間になり、ノードAで「L」レベルから「H」レベルに応答する度に、クロック信号の供給停止期間(期間A)は常に同じ時間となっている。その結果、A→Bのパスが伝搬してから十分な時間が経過してから内部クロック信号を再供給するので、誤動作は起こらない。
また、したがって、遅延時間の大きなノードに対して、大きなバッファを使用したり、またツリー構造を採用する必要がなく、消費電力や面積の小さい回路を実現できる。
図15および図16は図13に示すクロック制御回路におけるゲート制御回路48の例を示す図である。特に、図15は遅延素子を用いたゲート制御回路であり、図3に示したゲート回路4に代えて排他的論理和(EXOR)ゲート50に置き換えたものであり、図15はフリップフロップを用いたゲート制御回路であり、図4に示したゲート回路6に代えてEXORゲート56に置き換えたものである。この実施形態において、期間A,Bは図15であれば複数個の遅延素子3による遅延時間とほぼ一致し、図16であれば複数個のフリップフロップ5による遅延時間とほぼ一致している。
なお、図13では、クロック信号の供給停止の例を示したが、ゲート回路1に代えて図10に示すクロック変換器7を用いて、図12の例のようにクロック制御信号がアクティブのときクロック信号の周波数を下げるようにしてもよい。
また、図13に示した例では、ノードAのレベルの立上りおよび立下りの双方に応じてクロック制御信号をアクティブにするようにしたが、たとえばノードAの立上り(または立下り)に応答したノードBのレベル変化の遅延が大きく、ノードAの立下り(または立上り)に応答したノードBのレベル変化の遅延は、特にクリティカルにならない程度に小さい場合もあり得る。そのときは、クロック制御回路はノードAの立上り(または立下り)のみに応答して一定期間クロック信号を停止または周波数を低下させてもよい。ゲート制御回路として図3または図4の回路を採用すればよい。
(実施の形態6)
図17はこの発明の第6の実施形態を示すブロック図である。この実施形態は図13の回路の改良例であり、クロック制御回路はゲート回路1とゲート制御回路48とから構成されている。ノードA´の信号がロジック回路55に与えられる。ロジック回路55はたとえばその信号伝搬経路に信号を記憶できる順序回路を含み、所定の論理演算を行ない、演算結果を出力する。ロジック回路55も図13の他の回路と同一チップ上に形成されている。ここではロジック回路55はノードA´の論理レベルの変化に応答して必ずノードAがレベル変化するように設計されている。
ただし、ノードA´,Aが同一のレベル変化をさせる必要はないものとする。Dタイプフリップフロップ53が内部クロック信号に同期し、ロジック回路55の出力であるノードAにはノードA´の論理レベルが変化してから所定の期間遅延してレベル変化する信号が現われる。
ゲート制御回路48は図13と同一の構成を採用できるが、ノードAではなくノードA´の信号を受ける。その他の構成は、図13と同じである。
図18は図17に示した実施形態のタイミング図である。図1に示したクロック制御回路を用いて遅延時間の大きなノードA´が図18(d)に示すように、「H」レベルから「L」レベルに変化するときに図18(a)に示すように一定期間(期間C)クロック信号の周波数低下を指示するために制御信号をアサートするとともに、ノードA´における「L」レベルから「H」レベルへの変化に応答しても、一定期間(期間D)クロック信号の周波数低下を指示するために制御信号をアサートする。
この実施形態では、図18(b)に示すようにノードAで「H」レベルから「L」レベルに応答する際に、クロック信号の周波数低下期間(期間D)は常に同じ時間になっている。
ノードA´のレベル変化に応答して、ロジック回路55およびフリップフロップ53を介してノードAでは期間Xだけ遅延して論理レベルが変化する。そして、ノードAのレベル変化に応答して、ロジック回路51,ドライバ40,41およびロジック回路52を介して図18(c)に示すノードBでは期間Yだけ遅延して論理レベルが変化する。ノードA,Bのそれぞれ論理レベルの変化の前後は、必ずクロック信号の周波数が低下するように、期間C,D、すなわち図15の遅延素子3あるいは図16のフリップフロップ回路5による遅延時間が設定される。
この実施形態において、クロック信号の周波数を下げる以外にも図1などのようにクロック信号の供給を停止させるようにしてもよい。また、場合によってはノードA´のレベルの立上りまたは立下りのみに応答して、一定期間クロック信号の周波数低下または供給停止を行うようにしてもよい。
(実施の形態7)
図19はこの発明の第7の実施形態を示すブロック図である。この実施形態のクロック制御回路は、ゲート回路1とANDゲート回路94とゲート制御回路12とレジスタ92と比較器91とから構成されており、クロック信号の周波数が一定周波数以上の場合にのみクロック信号の供給を停止するための機構を追加したものであり、図1と異なる構成についてのみ説明する。ここでは、クロック発振器90として出力するクロック信号の周波数を可変にすることのできる発振器を使用する場合について説明する。クロック発振器90はレジスタ93に指定された周波数で発振するクロック信号を出力する。レジスタ93には、内部回路2を動作させる周波数を設定する値を保持する。
一方、レジスタ92は、ある所定の周波数を指定する値を保持する。なお、レジスタ92,93にはチップ内のCPU(あるいは外部のCPU)から値が予め設定されている。
比較器91はレジスタ92,93のそれぞれ値を比較し、レジスタ92で指定された周波数がレジスタ93で指定された周波数以上か否かを判定し、「以上」のときには「H」レベルを出力し、それでないときは「L」レベルを出力する。レジスタ92と比較器91はクロック信号の周波数がある所定の周波数以上であるか否かを判定する判別回路を構成している。ゲート制御回路12は、図1と同じである。ANDゲート94は、ゲート制御回路12の出力と比較器91の出力とのAND論理を演算し、その演算結果である出力をクロック制御信号としてゲート回路1の一方入力に与える。
したがって、ゲート制御回路12がたとえ「H」レベルを出力しても比較器91が「L」レベル、すなわちクロック発振器90の出力するクロック信号の周波数がレジスタ92で指定される周波数より小さいときには、クロック制御信号は「L」レベルとなり、内部クロック信号は、クロック発振器90の出力するクロック信号をそのまま出力する。一方、比較器91が「H」レベルを出力する場合、すなわちクロック発振器90の出力するクロック信号の周波数がレジスタ92で指定される周波数以上の場合には、ゲート制御回路12の出力がそのままクロック制御信号となり、図1と同様にクロック信号の供給停止を行う。
クロック信号が図19に示す用にクロック発振器90で生成されるのでなく、チップの外部から与えられる場合、レジスタ92および93と、比較器91とを削除し、代わりに外部からのクロック信号を入力して、そのクロック信号が所定の周波数以上であるか否かを判別する判別回路を設け、判別回路の出力をANDゲート94の一方入力に与えるようにしてもよい。
なお、図5,図9,図12,図13および図17に示した回路においても、図19の回路を採用することにより、クロック信号がある所定の周波数以上のときのみ、クロック信号を停止し、あるいはクロック信号の周波数低下を行うことができる。
なお、以上の説明では、停止または周波数を低くするクロック信号を供給する回路が、同一の半導体チップ内に形成された内部回路2である場合について説明したが、これに限らず、この発明のクロック制御回路が形成されたチップとともに、複数個の半導体チップ上にそれぞれ形成された集積回路がマザーボード上に搭載されたシステムにおいて、クロック制御回路が形成されたチップとは別チップ上に形成された集積回路の全てまたは一部に対して、クロック制御回路が停止しまたは周波数を低くするクロック信号を供給しても構わない。
また、クロック信号を内部回路2に供給するにしても内部回路2を構成する複数のブロックに与えてもよいし、その一部のブロックにも与えてもよい。さらに、内部回路2に供給するクロックのみを停止あるいは周波数を低下させ、チップ外部にある集積回路に供給するクロック信号は変化させないようにしてもよい。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1,94 ゲート回路、2 内部回路、3 遅延素子、4,6 AND回路、5 遅延回路、7 クロック変換器、11,90 クロック発振器、12,13,48 ゲート制御回路、20,26 バッファ、32,42 クロック切換回路、21〜25,53,54 Dタイプフリップフロップ、51,52,55 ロジック回路、50,56 EXORゲート、71 クロック分周器、72 マルチプレクサ、91 比較器、92,93 レジスタ。

Claims (12)

  1. クロック信号の周波数を変更するクロック変換回路と、
    第1の信号に応答して前記クロック変換回路によって前記クロック信号の周波数を低くさせ、前記第1の信号が第1の状態から第2の状態へ変化したときに常に一定の期間だけ前記クロック信号の周波数を低くさせるクロック切換回路とを備え
    前記クロック切換回路は、前記第1の信号と、該第1の信号を遅延させた遅延信号とを演算し、前記クロック信号の周波数の変更を指示する第2の信号を前記クロック変換回路に出力する、クロック制御回路。
  2. クロック信号の周波数を変更するクロック変換回路と、
    第1の信号に応答して前記クロック変換回路によって前記クロック信号の周波数を低くさせ、前記第1の信号が第1の状態から第2の状態へ変化したときに常に一定の期間だけ前記クロック信号の周波数を低くさせるクロック切換回路とを備え、
    前記クロック切換回路は、前記第1の信号と、該第1の信号を計数した計数信号とを演算し、前記クロック信号の周波数の変更を指示する第2の信号を前記クロック変換回路に出力する、クロック制御回路。
  3. 前記第1の信号は、記憶素子の記憶内容をリセットするリセット信号である、請求項1または2に記載のクロック制御回路。
  4. クロック信号の周波数を変更するクロック変換回路と、
    第1の信号に応答して前記クロック変換回路によって前記クロック信号の周波数を低くさせ、前記第1の信号が第1の状態から第2の状態へ変化したときに常に一定の期間だけ前記クロック信号の周波数を低くさせるクロック切換回路とを備え、
    前記クロック切換回路は、前記第1の信号に応答して論理レベルが変化する第2の信号を生成し、前記第2の信号の論理レベルが変化する前後で前記クロック信号の周波数を低くさせる、クロック制御回路。
  5. 前記クロック切換回路は、前記第1の信号を遅延させた信号を前記第2の信号とし、前記第1の信号と前記第2の信号をさらに遅延させた遅延信号とを演算し、前記クロック信号の周波数の変更を指示する第3の信号を前記クロック変換回路に出力する、請求項に記載のクロック制御回路。
  6. 前記クロック切換回路は、前記第1の信号を計数した信号を前記第2の信号とし、前記第1の信号と前記第2の信号をさらに計数した計数信号とを演算し、前記クロック信号の周波数の変更を指示する第3の信号を前記クロック変換回路に出力する、請求項に記載のクロック制御回路。
  7. クロック信号の周波数を変更するクロック変換回路と、
    第1の信号に応答して、前記クロック変換回路によって前記クロック変換回路から周波数を低くしたクロック信号を出力させるとともに、前記第1の信号に応答して論理レベルが変化する第2の信号を生成し、前記第2の信号の論理レベルが変化する前後で前記クロック信号の周波数を低くさせるクロック切換回路とを備えた、クロック制御回路。
  8. 前記第2の信号は、記憶素子の記憶内容をリセットするリセット信号である、請求項ないしのいずれかに記載のクロック制御回路。
  9. 前記クロック信号の周波数が所定の周波数以上か否かを判断する判断回路を備え、
    前記クロック切換回路は、前記クロック信号の周波数が前記所定の周波数以上であると判断されたとき前記クロック信号の周波数を低くする、請求項ないしのいずれかに記載のクロック制御回路。
  10. クロック信号の周波数を変更するクロック変換回路と、
    前記クロック信号の周波数が所定の周波数以上か否かを判断する判断回路と、
    前記判断回路によって前記クロック信号の周波数が前記所定の周波数以上であると判断されたときに第1の信号に応答して前記クロック変換回路によって前記クロック信号の周波数を低くさせ、前記第1の信号が第1の状態から第2の状態へ変化したときに常に一定の期間だけ前記クロック信号の周波数を低くさせるクロック切換回路とを備える、クロック制御回路。
  11. 前記クロック変換回路は、前記クロック制御回路と同一の半導体チップ上に形成された内部回路の一部または全部に対して前記クロック信号の周波数を低くする、請求項ないし1のいずれかに記載のクロック制御回路。
  12. 前記クロック変換回路は、前記クロック制御回路とは別の半導体チップ上に形成された回路の一部または全部に対して前記クロック信号の周波数を低くする、請求項ないし1のいずれかに記載のクロック制御回路。
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