JP2008091719A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2008091719A5
JP2008091719A5 JP2006272183A JP2006272183A JP2008091719A5 JP 2008091719 A5 JP2008091719 A5 JP 2008091719A5 JP 2006272183 A JP2006272183 A JP 2006272183A JP 2006272183 A JP2006272183 A JP 2006272183A JP 2008091719 A5 JP2008091719 A5 JP 2008091719A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin member
semiconductor device
external connection
electrode pads
low
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006272183A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008091719A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2006272183A priority Critical patent/JP2008091719A/ja
Priority claimed from JP2006272183A external-priority patent/JP2008091719A/ja
Priority to KR1020070095687A priority patent/KR20080031107A/ko
Priority to US11/860,855 priority patent/US7768140B2/en
Priority to TW096136848A priority patent/TW200822312A/zh
Publication of JP2008091719A publication Critical patent/JP2008091719A/ja
Publication of JP2008091719A5 publication Critical patent/JP2008091719A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (9)

  1. 複数の電極パッドを有する半導体チップと、前記複数の電極パッドに設けられた内部接続端子と、前記内部接続端子を介して、前記電極パッドと電気的に接続された外部接続用パッドと、アンダーフィル樹脂と、を備えた半導体装置であって、
    前記複数の電極パッドが形成された側の前記半導体チップの面と対向する低弾性樹脂部材と、
    前記低弾性樹脂部材に形成され、前記外部接続用パッドが配設される貫通部と、を設け、
    前記半導体チップと前記低弾性樹脂部材との第1の間隔を、前記電極パッドと前記外部接続用パッドとの第2の間隔よりも狭くすると共に、前記半導体チップと前記低弾性樹脂部材との間に前記アンダーフィル樹脂を充填したことを特徴とする半導体装置。
  2. 前記低弾性樹脂部材の弾性率は、0.1MPa〜100MPaであることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  3. 前記外部接続用パッドの厚さは、前記低弾性樹脂部材の厚さよりも薄いことを特徴とする請求項1または2記載の半導体装置。
  4. 前記低弾性樹脂部材に、複数の前記外部接続用パッド間を電気的に接続する配線を設けたことを特徴とする請求項1ないし3のうち、いずれか一項記載の半導体装置。
  5. 前記半導体チップと対向する側の前記配線の面は、前記低弾性樹脂部材に覆われていることを特徴とする請求項4記載の半導体装置。
  6. 複数の電極パッドを有する半導体チップと、前記複数の電極パッドに設けられた内部接続端子と、前記内部接続端子を介して、前記電極パッドと電気的に接続された外部接続用パッドと、アンダーフィル樹脂と、を備えた半導体装置であって、
    前記複数の電極パッドが形成された側の前記半導体チップの面に配置された低弾性樹脂部材と、
    前記低弾性樹脂部材に形成され、前記内部接続端子、前記アンダーフィル樹脂、及び前記外部接続用パッドが配置される貫通部と、を設け、
    前記電極パッドと前記外部接続用パッドとの間に位置する部分の前記貫通部に、前記内部接続端子及び前記アンダーフィル樹脂を配置したことを特徴とする半導体装置。
  7. 前記低弾性樹脂部材の弾性率は、0.1MPa〜100MPaであることを特徴とする請求項6記載の半導体装置。
  8. 前記低弾性樹脂部材に、複数の前記外部接続用パッド間を電気的に接続する配線を設けたことを特徴とする請求項6または7記載の半導体装置。
  9. 前記半導体チップと対向する側の前記配線の面は、前記低弾性樹脂部材に覆われていることを特徴とする請求項記載の半導体装置。
JP2006272183A 2006-10-03 2006-10-03 半導体装置 Pending JP2008091719A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006272183A JP2008091719A (ja) 2006-10-03 2006-10-03 半導体装置
KR1020070095687A KR20080031107A (ko) 2006-10-03 2007-09-20 반도체 장치
US11/860,855 US7768140B2 (en) 2006-10-03 2007-09-25 Semiconductor device
TW096136848A TW200822312A (en) 2006-10-03 2007-10-02 Semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006272183A JP2008091719A (ja) 2006-10-03 2006-10-03 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008091719A JP2008091719A (ja) 2008-04-17
JP2008091719A5 true JP2008091719A5 (ja) 2009-10-22

Family

ID=39375548

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006272183A Pending JP2008091719A (ja) 2006-10-03 2006-10-03 半導体装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7768140B2 (ja)
JP (1) JP2008091719A (ja)
KR (1) KR20080031107A (ja)
TW (1) TW200822312A (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101911845B (zh) * 2007-12-26 2013-05-22 株式会社藤仓 安装基板及其制造方法
JP2009302427A (ja) * 2008-06-17 2009-12-24 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
KR20120039464A (ko) * 2010-10-15 2012-04-25 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 패키지
US8519522B2 (en) * 2010-10-15 2013-08-27 SK Hynix Inc. Semiconductor package
KR102403960B1 (ko) * 2014-12-25 2022-05-30 오쿠치 마테리얼스 가부시키가이샤 반도체 장치용 기판, 반도체 장치용 배선부재 및 그 제조 방법 및 반도체 장치용 기판을 이용한 반도체 장치의 제조 방법
US10170341B1 (en) * 2017-06-30 2019-01-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Release film as isolation film in package
DE102017126028B4 (de) 2017-06-30 2020-12-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Gehäuse und Herstellungsverfahren mit einem Trennfilm als Isolierfilm
US11710672B2 (en) * 2019-07-08 2023-07-25 Intel Corporation Microelectronic package with underfilled sealant

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6169328B1 (en) * 1994-09-20 2001-01-02 Tessera, Inc Semiconductor chip assembly
JPH11265967A (ja) 1998-03-17 1999-09-28 Nec Corp Lsi実装基板の構造及びその製造方法
GB9917099D0 (en) * 1999-07-22 1999-09-22 Koninkl Philips Electronics Nv Cellular trench-gate field-effect transistors
JP2003007921A (ja) * 2001-06-19 2003-01-10 Sanyo Electric Co Ltd 回路装置およびその製造方法
JP2003100809A (ja) * 2001-09-27 2003-04-04 Harima Chem Inc フリップチップ実装方法
TW557521B (en) * 2002-01-16 2003-10-11 Via Tech Inc Integrated circuit package and its manufacturing process
JP3591524B2 (ja) * 2002-05-27 2004-11-24 日本電気株式会社 半導体装置搭載基板とその製造方法およびその基板検査法、並びに半導体パッケージ
US7294879B2 (en) * 2003-07-18 2007-11-13 International Business Machines Corporation Vertical MOSFET with dual work function materials

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008091719A5 (ja)
JP2009141169A5 (ja)
TW200627563A (en) Bump-less chip package
JP2009044160A5 (ja)
JP2007251159A5 (ja)
JP2008016519A5 (ja)
TW200707676A (en) Thin IC package for improving heat dissipation from chip backside
JP2009130196A5 (ja)
WO2008153043A1 (ja) 半導体発光装置
TW200713609A (en) Chip structure, chip package structure and manufacturing thereof
JP2006093189A5 (ja)
JP2012028429A5 (ja) 半導体装置
JP2011003715A5 (ja)
WO2011142581A3 (ko) 적층형 반도체 패키지
JP2007294488A5 (ja)
JP2005286126A5 (ja)
JP2011003764A5 (ja) 半導体装置
TW200743198A (en) COB type IC package for improving bonding of bumps embedded in substrate and method for fabricating the same
TW200629439A (en) Chip structure and wafer structure
JP2007324506A5 (ja)
JP2009147106A5 (ja)
JP2009188328A5 (ja)
JP2007165836A5 (ja)
JP2008311347A5 (ja)
TW200719487A (en) Flip chip package structure