JP2008091358A - 固体電解コンデンサおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】漏れ電流が小さく、かつ、高耐電圧を有する固体電解コンデンサを提供する。
【解決手段】この固体電解コンデンサ1は、表面に酸化皮膜2aが形成された陽極箔2と、陰極箔3とをセパレータ4を介して巻回された構造であって、陽極箔2と陰極箔3との間に導電性高分子からなる固体電解質5が形成されているコンデンサ素子10を有している。陽極箔2は、粗面化されたエッチド箔をリン酸アンモニウム水溶液中に浸漬させた後、電圧を印加することにより作成され、その陽極箔2の表面に形成された酸化皮膜2a中には、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物が含有されている。
【選択図】図2
【解決手段】この固体電解コンデンサ1は、表面に酸化皮膜2aが形成された陽極箔2と、陰極箔3とをセパレータ4を介して巻回された構造であって、陽極箔2と陰極箔3との間に導電性高分子からなる固体電解質5が形成されているコンデンサ素子10を有している。陽極箔2は、粗面化されたエッチド箔をリン酸アンモニウム水溶液中に浸漬させた後、電圧を印加することにより作成され、その陽極箔2の表面に形成された酸化皮膜2a中には、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物が含有されている。
【選択図】図2
Description
本発明は、固体電解コンデンサに関し、特に、導電性高分子からなる固体電解質を用いた固体電解コンデンサおよびその製造方法に関する。
電解コンデンサは、アルミニウム、タンタル、または、ニオブ等の弁作用金属からなる陽極電極を備え、この陽極電極には、多数のエッチングピットや微細孔が形成されている。また、この陽極電極の表面には誘電体となる酸化皮膜が形成され、酸化皮膜からは電極が引き出されている。
具体的には、酸化皮膜には、電解質が接触しており、酸化皮膜からの電極の引き出しは、導電性を有するこの電解質により行われ、この電解質が電解コンデンサにおいて真の陰極として機能する。ここで、この真の陰極としての電解質は、電解コンデンサの電気特性に大きな影響を及ぼすことから、従来、様々な種類の電解質が採用された電解コンデンサが提案されている。
その中でも、固体電解コンデンサは、電子導電性を有する固体の電解質が用いられているため、イオン伝導性で、液状の電解質を用いる電解コンデンサとは異なり、高周波領域でのインピーダンス特性に優れている。
また、固体電解質としては、導電性高分子であるポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)が広く知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、固体電解質としては、導電性高分子であるポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)が広く知られている(例えば、特許文献1参照)。
近年、デジタル化が進むに伴い、高周波領域での低インピーダンス特性、静電容量増加および小形化に対する要求が高まってきているが、これらの要求を満たすコンデンサとして、巻回型の固体電解コンデンサがある。
この巻回型の固体電解コンデンサは、表面に酸化皮膜が形成されている陽極箔と陰極箔とがセパレータを介して巻回され、セパレータに導電性高分子からなる固体電解質が保持された構造を有する。
この巻回型の固体電解コンデンサは、表面に酸化皮膜が形成されている陽極箔と陰極箔とがセパレータを介して巻回され、セパレータに導電性高分子からなる固体電解質が保持された構造を有する。
しかしながら、巻回型の固体電解コンデンサの陽極箔に形成される酸化皮膜に接する導電性高分子は、化成性が乏しく、陽極箔の酸化皮膜の修復性が弱いという不都合があった。そのため、耐電圧特性が不十分で、漏れ電流特性が規格外のものが発生しやすいという問題点があった。
そこで、上記問題点を解決する方法として、酸化皮膜が形成された電極をリン酸またはリン酸塩水溶液に浸漬させた後、電解重合を行う方法が知られている(例えば、特許文献2参照)。
しかしながら、上記特許文献2に開示された方法では、酸化皮膜の表面にしかリン酸化合物が付着しておらず、酸化皮膜内部の欠陥や深いクラックに対しては修復性が弱いという不都合がある。そのため、耐電圧特性を改善できず、漏れ電流特性を十分に改善できなかった。
また、陽極箔に酸化皮膜を形成する方法として、シュウ酸、アジピン酸、ホウ酸、リン酸、ケイ酸およびその塩からなる群から選ばれた少なくとも1種を含む電解液で一次化成する工程と、該一次化成電解液とは異なる組成の電解液で二次化成する工程とを含む固体電解コンデンサ用陽極箔の製造方法が開示され(例えば、特許文献3)、リン酸(塩)による一次化成を行った後、アジピン酸(塩)による二次化成を行うことも示唆されている。
しかしながら、上記特許文献3に開示された方法では、陽極箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を精度良く含有させる制御ができないため、リン酸またはリン酸化合物の含有量が少ない場合、酸化皮膜の内部にリン酸化合物が付着せず、酸化皮膜内部の欠陥や深いクラックに対しては修復性が弱いという不都合があり、耐電圧特性および漏れ電流特性を十分に改善できないという問題があった。
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、漏れ電流が小さく、かつ、高耐電圧を有する固体電解コンデンサおよびその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、この発明の固体電解コンデンサは、表面に酸化皮膜が形成された陽極体と、陰極体とをセパレータを介して巻回して形成され、かつ、前記陽極体の表面に形成された酸化皮膜上に導電性高分子からなる固体電解質が形成されたコンデンサ素子を有する固体電解コンデンサであって、陽極体の表面に形成された酸化皮膜中には、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物が含有されていることを特徴とする。
上記固体電解コンデンサにおいて、好ましくは、固体電解質は、ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、およびポリエチレンジオキシチオフェンからなるグループより選択されることを特徴とする。
また、この発明の固体電解コンデンサの製造方法は、表面に酸化皮膜が形成された陽極体と、陰極体とをセパレータを介して巻回して形成され、かつ、前記陽極体の表面に形成された酸化皮膜上に導電性高分子からなる固体電解質が形成されたコンデンサ素子を有する固体電解コンデンサの製造方法であって、準備した陽極体をリン酸および/またはリン酸塩水溶液中に浸漬させて、電圧を印加することにより、その陽極体の表面に200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程と、前記リン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜が形成された陽極体と、陰極体とをセパレータを介して巻回する工程と、巻回された前記陽極体、前記陰極体および前記セパレータを、モノマーを溶解させた溶液に含浸させた後、重合槽内で所定の温度で一定時間保持することによりモノマーを化学重合させて、前記陽極体および前記陰極体とセパレータとのそれぞれの間に、導電性高分子からなる固体電解質を形成する工程とを含むコンデンサ素子の製造工程を備えたことを特徴とする。
そして、この発明の固体電解コンデンサの製造方法は、前記のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸および/またはリン酸塩を含む化成液で化成する工程であることを特徴とする。
さらに、この発明の固体電解コンデンサの製造方法は、前記のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が、アジピン酸および/またはアジピン酸塩を含む化成液で一次化成する工程と、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸および/またはリン酸塩を含む化成液で二次化成する工程とからなることを特徴とする。
また、この発明の固体電解コンデンサの製造方法は、前記のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が化成工程中に、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程、または、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程と熱処理する工程とを備えていることを特徴とする。
そして、この発明の固体電解コンデンサの製造方法は、前記のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が、アジピン酸および/またはアジピン酸塩を含む化成液で化成する工程と、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程、または、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程と熱処理する工程とを含むことを特徴とする。
この発明による固体電解コンデンサでは、上記のように、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物を含有した酸化皮膜を有する陽極体を用いることにより、酸化皮膜の表面だけでなく、酸化皮膜の内部での修復性を有するコンデンサ素子を作製することができる。
これにより、酸化皮膜内部の欠陥や深いクラックが生じた場合でも、耐電圧特性が不十分で漏れ電流特性が規格外になるのを抑制することができる。その結果、漏れ電流が小さく、かつ、高耐電圧を有する固体電解コンデンサを得ることができる。
これにより、酸化皮膜内部の欠陥や深いクラックが生じた場合でも、耐電圧特性が不十分で漏れ電流特性が規格外になるのを抑制することができる。その結果、漏れ電流が小さく、かつ、高耐電圧を有する固体電解コンデンサを得ることができる。
また、この発明による固体電解コンデンサの製造方法を用いれば、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物を含有した酸化皮膜を、陽極箔の表面に精度良く含有させる制御ができ、かつ酸化皮膜の内部にリン酸またはリン酸化合物を均一に付着させることができるため、酸化皮膜内部の欠陥や深いクラックに対する修復性を改善することができ、耐電圧特性および漏れ電流特性を十分に改善することができる。
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
まず、図1に示すように、本実施形態の固体電解コンデンサ1のコンデンサ素子10は、陽極箔2と陰極箔3とを備えており、これら陽極箔2と陰極箔3とがセパレータ4を介して巻回された構造を有する。
陽極箔2は、アルミニウム等の弁作用金属で形成されている。この陽極箔2の表面は、図2に示すように、エッチング処理により粗面化されるとともに、陽極酸化(化成)により酸化皮膜2aが形成されている。
ここで、本実施形態では、陽極箔2の表面に形成される酸化皮膜2a中には、含有量が200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物が含有されている。なお、陽極箔2の表面に形成される酸化皮膜2a中のリン酸またはリン酸化合物の含有量は、当該陽極箔2を10%塩酸に溶解して、モリブデン試薬により発色させて、吸光光度法によりリン酸として定量している。
また、陰極箔3も陽極箔2と同様に、アルミニウム等で形成されており、その表面は粗面化されるとともに、自然酸化皮膜3aが形成されている。
また、セパレータ4の両面には、導電性高分子からなる固体電解質5が保持されている。つまり、陽極箔2および陰極箔3とセパレータ4とのそれぞれの間に固体電解質5が狭持されている。
固体電解質5を構成する導電性高分子としては、ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、または、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)等を使用でき、これらはモノマーの化学重合により生成される。
図1および図2に示すように、陽極箔2および陰極箔3には、それぞれ樹脂コーティングされたリードタブが接続されており、各リードタブを介して陽極箔2および陰極箔3からリード線6がそれぞれ引き出されている。
固体電解質5を構成する導電性高分子としては、ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、または、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)等を使用でき、これらはモノマーの化学重合により生成される。
図1および図2に示すように、陽極箔2および陰極箔3には、それぞれ樹脂コーティングされたリードタブが接続されており、各リードタブを介して陽極箔2および陰極箔3からリード線6がそれぞれ引き出されている。
そして、図2に示すように、コンデンサ素子10の表面には、コンデンサ素子10を被覆するように樹脂層12が形成されている。樹脂層12に被覆されたコンデンサ素子10は、有底筒状の外装ケース11内に収納されている。そして、外装ケース11の開口部には、封口ゴム13が接着されている。
次に、固体電解コンデンサ1の製造方法について、図3を参照して説明する。
まず、電極の実効表面積を大きくするために、陽極箔2および陰極箔3の表面にエッチング処理を施して粗面化する。
ここで、本実施形態では、粗面化された陽極箔2を濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸アンモニウム水溶液中に浸漬して、電圧印加し、その陽極箔2の表面に化成処理を施して、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜2aを形成する。
または、アジピン酸アンモニウム水溶液中で一次化成し、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸アンモニウム水溶液中で二次化成する。
前記化成工程後に、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程、または、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程と熱処理する工程を設けると好適である。
または、アジピン酸アンモニウム水溶液中で一次化成し、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸アンモニウム水溶液中で二次化成する。
前記化成工程後に、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程、または、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程と熱処理する工程を設けると好適である。
そして、陰極箔3には、耐水性処理および/または熱処理を施して自然酸化皮膜3aを形成する。なお、陰極箔3にも、化成処理を施して酸化皮膜を形成してもよい。そして、陽極箔2、陰極箔3の粗面化は、エッチング処理に替えて、塗布または蒸着によって行ってもよい。
前記の酸化皮膜2aが形成された陽極箔2と、自然酸化皮膜3aが形成された陰極箔3とを所定の寸法に裁断後、陽極箔2および陰極箔3の各々に、樹脂コーティングが施されたリードタブを介してリード線6を接続する。
そして、これら陽極箔2と陰極箔3とをセパレータ4を介して巻回して、アジピン酸アンモニウム水溶液中で、電圧を印加して素子化成(切口化成)を行う。その後、セパレータ4の炭化処理を行う。
そして、これら陽極箔2と陰極箔3とをセパレータ4を介して巻回して、アジピン酸アンモニウム水溶液中で、電圧を印加して素子化成(切口化成)を行う。その後、セパレータ4の炭化処理を行う。
次に、この円筒形に巻回された陽極箔2、陰極箔3およびセパレータ4に、モノマーおよび酸化剤を溶解させた溶液を含浸させた後、重合槽内で所定の温度で一定時間保持することによりモノマーを化学重合させて、陽極箔2および陰極箔3とセパレータ4とのそれぞれの間に、導電性高分子からなる固体電解質5を形成する(コンデンサ素子形成工程)。
このようにして、図1に示すようなコンデンサ素子10を作製する。
このようにして、図1に示すようなコンデンサ素子10を作製する。
具体的には、円筒形に巻回された陽極箔2、陰極箔3およびセパレータ4を、p−トルエンスルホン酸鉄のi−プロパノール溶液に浸漬させて、150℃にて10分間加熱した後、i−プロパノールを取り除く。
そして、3,4−エチレンジオキシチオフェンのエタノール溶液に浸漬させた後、100℃にて60分間加熱することにより、電極箔2および3とセパレータ4とのそれぞれの間に化学重合によるPEDOTが形成される。
そして、3,4−エチレンジオキシチオフェンのエタノール溶液に浸漬させた後、100℃にて60分間加熱することにより、電極箔2および3とセパレータ4とのそれぞれの間に化学重合によるPEDOTが形成される。
続いて、コンデンサ素子10の表面に、溶剤可溶性樹脂(溶質)を溶剤(溶媒)で溶解した樹脂溶液を厚さが均一になるように塗布する(塗布工程)。
そして、樹脂溶液が塗布されたコンデンサ素子10を所定の温度で一定時間加熱し、コンデンサ素子10の表面に塗布された樹脂溶液に含まれる溶剤を十分に揮発させて、溶剤可溶性樹脂を固化させる。これにより、コンデンサ素子10の表面に樹脂層12が形成される(樹脂層形成工程)。
そして、コンデンサ素子10を外装ケース11内に収納する。収納後、外装ケース11の開口部に封口ゴム13を嵌合し、外装ケース11の開口端部を加締めて外装ケース11を封止する。
最後にエージングを行って製造工程を完了する。
そして、樹脂溶液が塗布されたコンデンサ素子10を所定の温度で一定時間加熱し、コンデンサ素子10の表面に塗布された樹脂溶液に含まれる溶剤を十分に揮発させて、溶剤可溶性樹脂を固化させる。これにより、コンデンサ素子10の表面に樹脂層12が形成される(樹脂層形成工程)。
そして、コンデンサ素子10を外装ケース11内に収納する。収納後、外装ケース11の開口部に封口ゴム13を嵌合し、外装ケース11の開口端部を加締めて外装ケース11を封止する。
最後にエージングを行って製造工程を完了する。
本実施形態では、上記のように、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物を含有した酸化皮膜2aを有する陽極箔2を用いることにより、酸化皮膜2aの表面だけでなく、酸化皮膜2aの内部での修復性を有するコンデンサ素子10を作製することができる。
これにより、酸化皮膜2a内部の欠陥や深いクラックが生じた場合でも、耐電圧特性が不十分で漏れ電流特性が規格外になるのを抑制することができる。その結果、漏れ電流が小さく、かつ、高耐電圧を有する固体電解コンデンサ1を得ることができる。
これにより、酸化皮膜2a内部の欠陥や深いクラックが生じた場合でも、耐電圧特性が不十分で漏れ電流特性が規格外になるのを抑制することができる。その結果、漏れ電流が小さく、かつ、高耐電圧を有する固体電解コンデンサ1を得ることができる。
次に、本発明の実施例1−1〜1−3について説明する。なお、実施例2−1〜2−4、3−1〜3−3、および比較例1、2では、陽極箔の作製以外は実施例1−1〜1−3と同様であるので、その説明を省略する。
[実施例1−1〜1−3]リン酸化成による制御
表1に記載のとおり、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、当該水溶液中にエッチド箔(エッチング処理が行われた電極箔)を浸漬し、電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を60分間行い、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を各々3000mg/m2、1000mg/m2、600mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、リン酸アンモニウム濃度で制御するものとし、約3000mg/m2に設定する場合は濃度10.0g/L(実施例1−1)、約1000mg/m2に設定する場合は濃度2.0g/L(実施例1−2)、約600mg/m2に設定する場合は濃度1.0g/L(実施例1−3)の水溶液を使用した。
なお、リン酸アンモニウム濃度が1.0g/m2未満の場合、濃度が薄くなるので、化成ができなくなる。
表1に記載のとおり、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、当該水溶液中にエッチド箔(エッチング処理が行われた電極箔)を浸漬し、電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を60分間行い、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を各々3000mg/m2、1000mg/m2、600mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、リン酸アンモニウム濃度で制御するものとし、約3000mg/m2に設定する場合は濃度10.0g/L(実施例1−1)、約1000mg/m2に設定する場合は濃度2.0g/L(実施例1−2)、約600mg/m2に設定する場合は濃度1.0g/L(実施例1−3)の水溶液を使用した。
なお、リン酸アンモニウム濃度が1.0g/m2未満の場合、濃度が薄くなるので、化成ができなくなる。
陽極箔および陰極箔から、各電極箔に接続されたリードタブを介してリード線を引き出して、当該陽極箔と陰極箔とをセパレータを介して巻回する。
そして、巻回された円筒形の陽極箔、陰極箔およびセパレータを、250℃、30分間熱処理を施した後、p−トルエンスルホン酸鉄(III)(以下PTS)のi−プロパノール溶液(PTSとi−プロパノールのモル比1:1)に30秒間浸漬し、150℃にて10分間加熱して、i−プロパノールを取り除いた。
その後、3,4−エチレンジオキシチオフェンのエタノール溶液(3,4−エチレンジオキシチオフェンとエタノールのモル比1:3)に浸漬後、100℃にて60分間加熱して化学重合によりPEDOTを形成させた。
このようにして得られたコンデンサ素子を有底筒状の外装ケースに収納して、開口部を封口ゴム等により密封した後、100℃、定格電圧にて60分間エージングを行った。
以上のようにして、実施例1に係る固体電解コンデンサを作製した。
そして、巻回された円筒形の陽極箔、陰極箔およびセパレータを、250℃、30分間熱処理を施した後、p−トルエンスルホン酸鉄(III)(以下PTS)のi−プロパノール溶液(PTSとi−プロパノールのモル比1:1)に30秒間浸漬し、150℃にて10分間加熱して、i−プロパノールを取り除いた。
その後、3,4−エチレンジオキシチオフェンのエタノール溶液(3,4−エチレンジオキシチオフェンとエタノールのモル比1:3)に浸漬後、100℃にて60分間加熱して化学重合によりPEDOTを形成させた。
このようにして得られたコンデンサ素子を有底筒状の外装ケースに収納して、開口部を封口ゴム等により密封した後、100℃、定格電圧にて60分間エージングを行った。
以上のようにして、実施例1に係る固体電解コンデンサを作製した。
[実施例2−1〜2−4]アジピン酸化成およびリン酸減極処理による制御
表1に記載のとおり、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、該水溶液中にエッチド箔を浸漬し、表1に示すとおり、電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を60分間行った後、表1に示すリン酸系処理液を用いて減極処理(25℃、5分)を行った。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、減極処理に用いたリン酸(濃度0.3〜3.0g/L)もしくはリン酸(濃度0.3〜3.0g/L)とリン酸水素二ナトリウム(濃度20.0g/L以下)で制御するものとし、約1000mg/m2に設定する場合は、リン酸3.0g/Lおよびリン酸水素二ナトリウム20.0g/Lの混合溶液(実施例2−1)を、約600mg/m2に設定する場合は、リン酸0.6g/Lおよびリン酸水素二ナトリウム20.0g/Lの混合溶液(実施例2−2)を、約400mg/m2に設定する場合は、リン酸0.6g/Lの溶液(実施例2−3)を、約200mg/m2に設定する場合は、リン酸0.3g/Lの溶液(実施例2−4)を使用した。
なお、リン酸の濃度が3.0g/L、リン酸化合物の濃度が20.0g/Lを超えると、精度の高い含有量制御ができなくなるので、不適である。
上記減極処理の後、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保存し、電圧60V、電流密度50mA/cm2として化成処理を60分間行った後、450℃、5分間の熱処理を行い、さらに、上記のアジピン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行って、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を200〜1000mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
表1に記載のとおり、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、該水溶液中にエッチド箔を浸漬し、表1に示すとおり、電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を60分間行った後、表1に示すリン酸系処理液を用いて減極処理(25℃、5分)を行った。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、減極処理に用いたリン酸(濃度0.3〜3.0g/L)もしくはリン酸(濃度0.3〜3.0g/L)とリン酸水素二ナトリウム(濃度20.0g/L以下)で制御するものとし、約1000mg/m2に設定する場合は、リン酸3.0g/Lおよびリン酸水素二ナトリウム20.0g/Lの混合溶液(実施例2−1)を、約600mg/m2に設定する場合は、リン酸0.6g/Lおよびリン酸水素二ナトリウム20.0g/Lの混合溶液(実施例2−2)を、約400mg/m2に設定する場合は、リン酸0.6g/Lの溶液(実施例2−3)を、約200mg/m2に設定する場合は、リン酸0.3g/Lの溶液(実施例2−4)を使用した。
なお、リン酸の濃度が3.0g/L、リン酸化合物の濃度が20.0g/Lを超えると、精度の高い含有量制御ができなくなるので、不適である。
上記減極処理の後、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保存し、電圧60V、電流密度50mA/cm2として化成処理を60分間行った後、450℃、5分間の熱処理を行い、さらに、上記のアジピン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行って、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を200〜1000mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
(比較例)アジピン酸化成およびリン酸減極処理による制御
表1に記載のとおり、実施例2−1〜2−4と同様に、アジピン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行った後、表1に示すリン酸系処理液を用いて減極処理(25℃、5分)を行い、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を約100mg/m2(比較例)、含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、減極処理に用いたリン酸(濃度0.06g/L)で制御した。
上記減極処理の後、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保存し、電圧60V、電流密度50mA/cm2として化成処理を60分間行った後、450℃、5分間の熱処理を行い、さらに、上記のアジピン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行って、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を約100mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
表1に記載のとおり、実施例2−1〜2−4と同様に、アジピン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行った後、表1に示すリン酸系処理液を用いて減極処理(25℃、5分)を行い、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を約100mg/m2(比較例)、含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、減極処理に用いたリン酸(濃度0.06g/L)で制御した。
上記減極処理の後、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保存し、電圧60V、電流密度50mA/cm2として化成処理を60分間行った後、450℃、5分間の熱処理を行い、さらに、上記のアジピン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行って、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を約100mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
[実施例3−1〜3−6]アジピン酸化成、リン酸化成、およびリン酸減極処理・熱処理による制御
表1に記載のとおり、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、該水溶液中にエッチド箔を浸漬し、表1に示すとおり、電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を30分間行った後、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、当該水溶液中にエッチド箔を浸漬し電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を30分間行い、その後、表1に示すリン酸系処理液を用いて減極処理(25℃、5分)を行い、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を各々3000mg/m2、1000mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、化成に使用したリン酸アンモニウム水溶液(濃度1.0〜10.0g/L)、および減極処理に用いたリン酸水溶液(濃度0.3〜3.0g/L)、またはリン酸(濃度0.3〜3.0g/L)とリン酸二水素ナトリウム(濃度20.0g/L以下)の水溶液の濃度で制御するものとし、約3000mg/m2に設定する場合は化成液(濃度3.0〜9.8g/L)、減極処理液(リン酸0.3〜3.0g/L、またはリン酸0.3〜3.0g/Lとリン酸水素二ナトリウム20.0g/L以下)、約1000mg/m2に設定する場合は化成液(濃度1.0g/L、または1.6g/L)、減極処理液(リン酸0.3g/L、またはリン酸0.6g/Lとリン酸水素二ナトリウム10.0g/L)を使用した。
なお、リン酸アンモニウム水溶液の濃度は1.0g/L未満では化成ができず、10.0g/Lを超える場合、精度の高い含有量制御ができなくなる。また、減極処理に用いたリン酸水溶液の濃度が3.0g/Lを超える場合、リン酸二水素ナトリウム水溶液の濃度が20.0g/Lを超える場合は、精度の高い含有量制御ができなくなる。また、リン酸濃度が0.3g/L未満では十分な減極処理ができない。
上記減極処理の後、上記と同様にリン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行い、450℃、5分間の熱処理を行った後、さらに、リン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行い、リン酸またはリン酸化合物を1000mg/m2、または、3000mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
表1に記載のとおり、濃度80.0g/Lのアジピン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、該水溶液中にエッチド箔を浸漬し、表1に示すとおり、電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を30分間行った後、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸アンモニウム水溶液を75℃に保持し、当該水溶液中にエッチド箔を浸漬し電圧60V、電流密度50mA/cm2として該エッチド箔に化成処理を30分間行い、その後、表1に示すリン酸系処理液を用いて減極処理(25℃、5分)を行い、エッチド箔の表面にリン酸またはリン酸化合物を各々3000mg/m2、1000mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
このとき、前記リン酸またはリン酸化合物の含有量は表1に示すとおり、化成に使用したリン酸アンモニウム水溶液(濃度1.0〜10.0g/L)、および減極処理に用いたリン酸水溶液(濃度0.3〜3.0g/L)、またはリン酸(濃度0.3〜3.0g/L)とリン酸二水素ナトリウム(濃度20.0g/L以下)の水溶液の濃度で制御するものとし、約3000mg/m2に設定する場合は化成液(濃度3.0〜9.8g/L)、減極処理液(リン酸0.3〜3.0g/L、またはリン酸0.3〜3.0g/Lとリン酸水素二ナトリウム20.0g/L以下)、約1000mg/m2に設定する場合は化成液(濃度1.0g/L、または1.6g/L)、減極処理液(リン酸0.3g/L、またはリン酸0.6g/Lとリン酸水素二ナトリウム10.0g/L)を使用した。
なお、リン酸アンモニウム水溶液の濃度は1.0g/L未満では化成ができず、10.0g/Lを超える場合、精度の高い含有量制御ができなくなる。また、減極処理に用いたリン酸水溶液の濃度が3.0g/Lを超える場合、リン酸二水素ナトリウム水溶液の濃度が20.0g/Lを超える場合は、精度の高い含有量制御ができなくなる。また、リン酸濃度が0.3g/L未満では十分な減極処理ができない。
上記減極処理の後、上記と同様にリン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行い、450℃、5分間の熱処理を行った後、さらに、リン酸アンモニウム水溶液による化成処理を行い、リン酸またはリン酸化合物を1000mg/m2、または、3000mg/m2含有する酸化皮膜を形成し、陽極箔を作製した。
上記の実施例1−1〜1−3、2−1〜2−4、3−1〜3−6、および比較例において、コンデンサ素子の作製のために用いた陽極箔、陰極箔は全て同じ幅、長さであり、その幅は3mm、長さは180mmである。また、それぞれの定格電圧は20Vである。
上記の実施例1−1〜1−3、2−1〜2−4、3−1〜3−6、および比較例に係る固体電解コンデンサ用陽極箔の化成条件と酸化皮膜中のリン酸またはリン酸化合物の含有量との関係を表1に、固体電解コンデンサの電気特性(静電容量、tanδ(損失角の正接)、ESR(等価直列抵抗)、漏れ電流)とショート発生率とを測定した結果を表2に示す。
なお、ショート発生率は、電気特性測定後の固体電解コンデンサに対し、105℃中で定格電圧の1.5倍の電圧を30分間印加して測定した。
なお、ショート発生率は、電気特性測定後の固体電解コンデンサに対し、105℃中で定格電圧の1.5倍の電圧を30分間印加して測定した。
表2から明らかなように、実施例1−1〜1−3、2−1〜2−4、3−1〜3−6による固体電解コンデンサは、比較例の固体電解コンデンサに比べて、漏れ電流が小さいことが分かる。また、上記実施例による固体電解コンデンサは、比較例の固体電解コンデンサに比べて、ショート発生率が低いことが分かり、高耐電圧であることが分かる。
なお、酸化皮膜中のリン酸またはリン酸化合物が3000mg/m2を超えた場合でも
電気特性、ショート発生率は変わらないが、3500mg/m2以上になると陽極箔作製工程が複雑になり、工数面、コスト面から好ましくない。
なお、酸化皮膜中のリン酸またはリン酸化合物が3000mg/m2を超えた場合でも
電気特性、ショート発生率は変わらないが、3500mg/m2以上になると陽極箔作製工程が複雑になり、工数面、コスト面から好ましくない。
なお、今回開示された実施形態および実施例は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。
本発明の範囲は、上記した実施形態および実施例の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
本発明の範囲は、上記した実施形態および実施例の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
例えば、本実施形態および実施例では、固体電解質としてPEDOTを用いる例を示したが、本発明はこれに限らず、PEDOT以外の公知の導電性高分子(例えば、ポリアニリン、ポリピロール、またはポリチオフェン)を固体電解質として用いることができる。この場合でも、同様の効果を得ることができる。
1 固体電解コンデンサ
2 陽極箔
2a 酸化皮膜
3 陰極箔
3a 自然酸化皮膜
4 セパレータ
5 固体電解質
6 リード線
10 コンデンサ素子
11 外装ケース
12 樹脂層
13 封止ゴム
2 陽極箔
2a 酸化皮膜
3 陰極箔
3a 自然酸化皮膜
4 セパレータ
5 固体電解質
6 リード線
10 コンデンサ素子
11 外装ケース
12 樹脂層
13 封止ゴム
Claims (7)
- 表面に酸化皮膜が形成された陽極体と、陰極体とをセパレータを介して巻回して形成され、かつ、前記陽極体の表面に形成された酸化皮膜上に導電性高分子からなる固体電解質が形成されたコンデンサ素子を有する固体電解コンデンサであって、
前記陽極体の表面に形成された酸化皮膜中に、200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物が含有されていることを特徴とする固体電解コンデンサ。 - 前記固体電解質が、ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、およびポリエチレンジオキシチオフェンからなるグループより選択されることを特徴とする請求項1に記載の固体電解コンデンサ。
- 表面に酸化皮膜が形成された陽極体と、陰極体とをセパレータを介して巻回して形成され、かつ、前記陽極体の表面に形成された酸化皮膜上に導電性高分子からなる固体電解質が形成されたコンデンサ素子を有する固体電解コンデンサの製造方法であって、
準備した陽極体をリン酸および/またはリン酸塩水溶液中に浸漬させて、電圧を印加することにより、その陽極体の表面に200〜3000mg/m2のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程と、
前記リン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜が形成された陽極体と、陰極体とをセパレータを介して巻回する工程と、
巻回された前記陽極体、前記陰極体および前記セパレータを、モノマーを溶解させた溶液に含浸させた後、重合槽内で所定の温度で一定時間保持することによりモノマーを化学重合させて、前記陽極体および前記陰極体とセパレータとのそれぞれの間に、導電性高分子からなる固体電解質を形成する工程とを含むコンデンサ素子の製造工程を備えたことを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。 - 請求項3記載のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸および/またはリン酸塩を含む化成液で化成する工程であることを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
- 請求項3記載のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が、アジピン酸および/またはアジピン酸塩を含む化成液で一次化成する工程と、濃度1.0〜10.0g/Lのリン酸および/またはリン酸塩を含む化成液で二次化成する工程とからなることを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
- 上記のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が、化成工程中に、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程、または、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程と熱処理する工程とを備えていることを特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 請求項3記載のリン酸またはリン酸化合物を含有する酸化皮膜を形成する工程が、アジピン酸および/またはアジピン酸塩を含む化成液で化成する工程と、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程、または、濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸もしくは濃度0.3〜3.0g/Lのリン酸と濃度20.0g/L以下のリン酸塩を含む溶液中で減極処理する工程と熱処理する工程とを含むことを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130279080A1 (en) * | 2011-02-18 | 2013-10-24 | Panasonic Corporation | Electrolytic capacitor and method for manufacturing same |
CN114703526A (zh) * | 2022-06-07 | 2022-07-05 | 南通海星电子股份有限公司 | 一种汽车电子用高比容低压电极箔的制备方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6170712A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-04-11 | スプラグ・エレクトリツク・カンパニー | 電解キヤパシタ電極用の低電圧アルミニウム箔の製法 |
JPH0364907A (ja) * | 1989-08-03 | 1991-03-20 | Rubikon Kk | アルミニウム電解コンデンサ |
JP2003124068A (ja) * | 2001-10-10 | 2003-04-25 | Showa Denko Kk | コンデンサ用陽極箔、該陽極箔の製造方法及び該陽極箔を用いた固体電解コンデンサ |
JP2005142343A (ja) * | 2003-11-06 | 2005-06-02 | Nichicon Corp | アルミニウム電解コンデンサ用電極箔の製造方法 |
JP2006210837A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Nichicon Corp | 固体電解コンデンサおよびその製造方法。 |
-
2006
- 2006-09-29 JP JP2006266888A patent/JP2008091358A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6170712A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-04-11 | スプラグ・エレクトリツク・カンパニー | 電解キヤパシタ電極用の低電圧アルミニウム箔の製法 |
JPH0364907A (ja) * | 1989-08-03 | 1991-03-20 | Rubikon Kk | アルミニウム電解コンデンサ |
JP2003124068A (ja) * | 2001-10-10 | 2003-04-25 | Showa Denko Kk | コンデンサ用陽極箔、該陽極箔の製造方法及び該陽極箔を用いた固体電解コンデンサ |
JP2005142343A (ja) * | 2003-11-06 | 2005-06-02 | Nichicon Corp | アルミニウム電解コンデンサ用電極箔の製造方法 |
JP2006210837A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Nichicon Corp | 固体電解コンデンサおよびその製造方法。 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130279080A1 (en) * | 2011-02-18 | 2013-10-24 | Panasonic Corporation | Electrolytic capacitor and method for manufacturing same |
CN103392214A (zh) * | 2011-02-18 | 2013-11-13 | 松下电器产业株式会社 | 电解电容器及其制造方法 |
US9287051B2 (en) * | 2011-02-18 | 2016-03-15 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Electrolytic capacitor and method for manufacturing same |
CN103392214B (zh) * | 2011-02-18 | 2016-08-17 | 松下知识产权经营株式会社 | 电解电容器及其制造方法 |
CN114703526A (zh) * | 2022-06-07 | 2022-07-05 | 南通海星电子股份有限公司 | 一种汽车电子用高比容低压电极箔的制备方法 |
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