JP2008089564A - 腐食試験方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電解質の水溶液を霧化して電解質を含む霧粒子を生成し、電解質を含む霧粒子を加熱して電解質を含む水蒸気を生成し、電解質を含む水蒸気に試験試料を暴露し、試験試料の耐腐食性を評価する。これにより、実際の大気と同様の、表面吸着水と大気浮遊塩とが共存する試験環境を容易に実現することができる。これにより、大気腐食環境を十分に反映した腐食試験を行うことができる。
【選択図】図1
Description
JIS Z 2371、「塩水噴霧試験方法」、平成12年2月20日改正 JIS K 2246、「さび止め油」、平成6年7月1日改正 JIS K 5600−7−2、「塗料一般試験方法 ― 第7部:塗膜の長期耐久性 ― 第2節:耐湿性(連続結露法)」、平成11年4月20日制定 JIS Z 2382、「大気環境の腐食性を評価するための環境汚染因子の測定」、平成10年6月20日制定
本発明の第1実施形態による腐食試験方法及び装置について図1乃至図3を用いて説明する。
本発明の第2実施形態による腐食試験方法及び装置について図4及び図5を用いて説明する。なお、図1乃至図3に示す第1実施形態による腐食試験方法及び装置と同様の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略し或いは簡潔にする。
本発明は上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成し、
前記電解質を含む水蒸気に試験試料を暴露し、前記試験試料の耐腐食性を評価する
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記試験試料を温度及び湿度が一定の試験槽内に設置し、前記電解質を含む前記水蒸気を前記試験槽内に導入する
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記試験槽内の温度は、50±1℃であり、
前記試験層内の相対湿度は、95%以上である
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記電解質の水溶液の温度を25℃以下に制御する
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記電解質を含む水蒸気の温度における飽和水蒸気量が、前記電解質を含む霧粒子が内在する空気の加熱前の温度における飽和水蒸気量の3.6倍以上になるように、前記電解質の水溶液の温度を制御する
ことを特徴とする腐食試験方法。
液体循環式の温度調節器により、温度前記電解質の水溶液の温度を制御する
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記電解質を含む水蒸気の温度が50℃以下になるように、前記電解質を含む霧粒子を加熱する際の温度を制御する
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記電解質は、NaClである
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記電解質を含む霧粒子の粒径が1μm以下になるように、前記電解質を含む霧粒子を加熱する
ことを特徴とする腐食試験方法。
前記電解質の水溶液は、超音波法又はディスクアトマイズ法により霧化する
ことを特徴とする腐食試験方法。
電解質の水溶液を霧化して前記電解質を含む霧粒子を生成する霧化器と、
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成し、前記試験槽に導入する加熱器と
を有することを特徴とする腐食試験装置。
前記霧化器は、前記電解質の水溶液の温度を制御する温度調節器を有する
ことを特徴とする腐食試験装置。
前記温度調節器は、液体循環式の温度調節器である
ことを特徴とする腐食試験装置。
前記温度調節器は、前記電解質の水溶液の温度を25℃以下に制御する
ことを特徴とする腐食試験装置。
前記温度調節器は、前記電解質を含む水蒸気の温度における飽和水蒸気量が、前記電解質を含む霧粒子が内在する空気の加熱前の温度における飽和水蒸気量の3.6倍以上になるように、前記電解質の水溶液の温度を制御する
ことを特徴とする腐食試験装置。
前記加熱器は、前記電解質を含む水蒸気の温度が50℃以下になるように、前記電解質を含む霧粒子を加熱する
ことを特徴とする腐食試験装置。
前記試験槽内の温度及び湿度を測定する測定装置と、
前記測定装置の測定結果に応じて前記試験槽内の温度及び湿度を一定に保つ制御装置と
を更に有することを特徴とする腐食試験装置。
前記試験槽は、前記試験試料を設置する第1の空間と、前記試験槽内の温度及び湿度を調整する第2の空間とを有する
ことを特徴とする腐食試験装置。
電解質の水溶液を霧化して前記電解質を含む霧粒子を生成し、
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成する
ことを特徴とする試験雰囲気の形成方法。
電解質の水溶液を霧化して前記電解質を含む霧粒子を生成する霧化器と、
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成する加熱器と
を有することを特徴とする試験雰囲気形成装置。
12…断熱壁
14…調温/調湿室
16…除湿/冷却器
17…加湿器
18,36…加熱器
20…乾球温度センサ
22…湿球温度センサ
24…湿布
26…純水タンク
30…試験環境形成装置
32…試験水タンク
34…霧化器
38,40,46…電磁弁
42,44…ドレイン
48,50,52…水位センサ
60…霧粒子
62…水蒸気
64…電解質を含む水蒸気
70…試験水槽
72,76,86…温度計
74,84…温度調節器
80…石英ガラス管
82…ヒータ
Claims (8)
- 電解質の水溶液を霧化して前記電解質を含む霧粒子を生成し、
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成し、
前記電解質を含む水蒸気に試験試料を暴露し、前記試験試料の耐腐食性を評価する
ことを特徴とする腐食試験方法。 - 請求項1記載の腐食試験方法において、
前記試験試料を温度及び湿度が一定の試験槽内に設置し、前記電解質を含む前記水蒸気を前記試験槽内に導入する
ことを特徴とする腐食試験方法。 - 請求項1又は2記載の腐食試験方法において、
前記電解質を含む水蒸気の温度における飽和水蒸気量が、前記電解質を含む霧粒子が内在する空気の加熱前の温度における飽和水蒸気量の3.6倍以上になるように、前記電解質の水溶液の温度を制御する
ことを特徴とする腐食試験方法。 - 試験試料を設置する試験槽と、
電解質の水溶液を霧化して前記電解質を含む霧粒子を生成する霧化器と、
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成し、前記試験槽に導入する加熱器と
を有することを特徴とする腐食試験装置。 - 請求項4記載の腐食試験装置において、
前記霧化器は、前記電解質の水溶液の温度を制御する温度調節器を有する
ことを特徴とする腐食試験装置。 - 請求項4又は5記載の腐食試験装置において、
前記試験槽内の温度及び湿度を測定する測定装置と、
前記測定装置の測定結果に応じて前記試験槽内の温度及び湿度を一定に保つ制御装置と
を更に有することを特徴とする腐食試験装置。 - 電解質を含む水蒸気が存在する試験雰囲気の形成方法であって、
電解質の水溶液を霧化して前記電解質を含む霧粒子を生成し、
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成する
ことを特徴とする試験雰囲気の形成方法。 - 電解質を含む水蒸気が存在する試験雰囲気を形成する試験雰囲気形成装置であって、
電解質の水溶液を霧化して前記電解質を含む霧粒子を生成する霧化器と、
前記電解質を含む霧粒子を加熱して前記電解質を含む水蒸気を生成する加熱器と
を有することを特徴とする試験雰囲気形成装置。
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