JP2009294176A - 環境試験装置における試料表面への水膜形成方法及び環境試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電源スイッチ54をオンして室加熱器26へ通電することにより試験室12の温度を試料Sの表面に生成された水膜を蒸発させる試験上部温度にまで上昇させると共に、電源スイッチ54をオフして室加熱器26への通電を停止することにより試験室12の温度を試料Sの表面に結露により水膜を生成する露点温度である試験下部温度にまで低下させ、試験室12の温度をこれら試験下部温度と試験上部温度とに交互に繰り返し変動させることにより試料Sの表面に環境試験に適した所定の水膜を持続的に生成させる。
【選択図】図1
Description
12 試験室
14 空調室
16 試験槽
26 室加熱器
28 加湿水
32 水加熱器
66 室温度制御部
70 水温度制御部
82 空気流通路(放熱性能可変部)
84 排熱ファン(放熱性能可変部)
S 試料
Tr 露点温度
Td 試験下部温度
Tu 試験上部温度
Claims (14)
- 試験室に収納した試料の表面に加湿水の蒸発により水膜を付着させた状態で環境試験を実施する環境試験装置における試料表面への水膜形成方法であって、前記加湿水を加熱する水加熱器への供給電力を制御することにより前記試験室に含まれる蒸発水分が所定量となるようにすることで前記試験室の露点温度を所定値に維持する一方、
前記試験室を加熱する室加熱器への通電を停止することにより前記露点温度を超える温度にあった試料を前記露点温度である第1の温度に低下させることで表面に水膜を生成させ、前記室加熱器へ通電することにより前記露点温度である第1の温度にあった試料を前記露点温度を超える第2の温度に上昇させることで前記表面の水膜を減少させ、前記室加熱器への通電と通電の停止とを交互に繰り返すことで前記表面に所定の水膜を持続させることを特徴とする環境試験装置における試料表面への水膜形成方法。 - 前記室加熱器へ通電することで前記試験室が前記第2の温度以上の所定温度に達したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室を前記露点温度にまで降下させることで試料を前記第1の温度にし、前記試験室が前記露点温度に達したのちに前記室加熱器へ通電して前記試験室を前記第2の温度以上の所定温度にまで上昇させることで試料を前記第2の温度にすることを特徴とする請求項1記載の環境試験装置における試料表面への水膜形成方法。
- 前記室加熱器へ通電することで前記試験室の温度が上昇して試料が前記第2の温度に達したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室の温度を降下させることで試料を前記第1の温度にし、試料が前記第1の温度に達したのちに前記室加熱器へ通電して前記試験室の温度を上昇させることで試料を前記第2の温度にすることを特徴とする請求項1記載の環境試験装置における試料表面への水膜形成方法。
- 前記室加熱器へ通電してから所定時間が経過したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室の温度を降下させることで試料を前記第1の温度にし、前記室加熱器への通電を停止してから所定時間が経過したときに前記室加熱器へ通電して前記試験室の温度を上昇させることで試料を前記第2の温度にすることを特徴とする請求項1記載の環境試験装置における試料表面への水膜形成方法。
- 前記室加熱器へ通電することで前記試験室の温度が上昇して試料の表面に生成されている水膜の試料表面に対する面積割合が前記第1の温度のときよりも小さい所定値にまで減少したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室の温度を降下させることで試料を前記第1の温度にし、前記面積割合が前記第2の温度のときよりも大きい所定値にまで増大したときに前記室加熱器へ通電して前記試験室の温度を上昇させることで試料を前記第2の温度にすることを特徴とする請求項1記載の環境試験装置における試料表面への水膜形成方法。
- 前記第1の温度及び前記第2の温度は、前記水膜が0.5〜5.0μmの範囲内の厚みに維持されるように設定されるものであることを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の環境試験装置における試料表面への水膜形成方法。
- 試験室に収納した試料の表面に加湿水の蒸発により水膜を付着させた状態で環境試験を実施する環境試験装置であって、前記加湿水を加熱する水加熱器と、前記試験室を加熱する室加熱器と、前記水加熱器への供給電力を制御することにより前記試験室に含まれる蒸発水分が所定量となるようにすることで前記試験室の露点温度を所定値に維持する水温度制御部と、前記室加熱器への通電を停止することにより前記露点温度を超える温度にあった試料を前記露点温度である第1の温度に低下させることで表面に水膜を生成させ、前記室加熱器へ通電することにより前記露点温度である第1の温度にあった試料を前記露点温度を超える第2の温度に上昇させることで前記表面の水膜を減少させ、前記室加熱器への通電と通電の停止とを交互に繰り返すことで前記表面に所定の水膜を持続させる室温度制御部とを備えたことを特徴とする環境試験装置。
- 前記室温度制御部は、前記室加熱器へ通電することで前記試験室が前記第2の温度以上の所定温度に達したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室を前記露点温度にまで降下させることで試料を前記第1の温度にし、前記試験室が前記露点温度に達したのちに前記室加熱器へ通電して前記試験室を前記第2の温度以上の所定温度にまで上昇させることで試料を前記第2の温度にするものであることを特徴とする請求項7記載の環境試験装置。
- 前記室温度制御部は、前記室加熱器へ通電することで前記試験室の温度が上昇して試料が前記第2の温度に達したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室の温度を降下させることで試料を前記第1の温度にし、試料が前記第1の温度に達したのちに前記室加熱器へ通電して前記試験室の温度を上昇させることで試料を前記第2の温度にするものであることを特徴とする請求項7記載の環境試験装置。
- 前記室温度制御部は、前記室加熱器へ通電してから所定時間が経過したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室の温度を降下させることで試料を前記第1の温度にし、前記室加熱器への通電を停止してから所定時間が経過したときに前記室加熱器へ通電して前記試験室の温度を上昇させることで試料を前記第2の温度にするものであることを特徴とする請求項7記載の環境試験装置。
- 前記室温度制御部は、前記室加熱器へ通電することで前記試験室の温度が上昇して試料の表面に生成されている水膜の試料表面に対する面積割合が前記第1の温度のときよりも小さい所定値にまで減少したときに前記室加熱器への通電を停止して前記試験室の温度を降下させることで試料を前記第1の温度にし、前記面積割合が前記第2の温度のときよりも大きい所定値にまで増大したときに前記室加熱器へ通電して前記試験室の温度を上昇させることで試料を前記第2の温度にするものであることを特徴とする請求項7記載の環境試験装置。
- 前記第1の温度及び前記第2の温度は、前記水膜が0.5〜5.0μmの範囲内の厚みに維持されるように設定されるものであることを特徴とする請求項7乃至11の何れかに記載の環境試験装置。
- 前記試験室は、前記第2の温度にあった試料を前記第1の温度に低下させるときに当該試験室の放熱性能を高める一方、前記第1の温度にあった試料を前記第2の温度に上昇させるときに当該試験室の放熱性能を元の状態に復帰させる放熱性能可変部を備えていることを特徴とする請求項7乃至12の何れかに記載の環境試験装置。
- 前記放熱性能可変部は、前記試験室の周囲に設けられた空気流通路と、前記第2の温度にあった試料を前記第1の温度に低下させるときに回転駆動させることで前記空気流通路内の空気を外部に強制排出する一方、前記第1の温度にあった試料を前記第2の温度に上昇させるときに回転停止させることで前記空気流通路内の空気の強制排出を停止する排熱ファンとを備えたものであることを特徴とする請求項13記載の環境試験装置。
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