JP2001183328A - 塗膜交流インピーダンス測定装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定方法 - Google Patents
塗膜交流インピーダンス測定装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定方法Info
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- JP2001183328A JP2001183328A JP36872099A JP36872099A JP2001183328A JP 2001183328 A JP2001183328 A JP 2001183328A JP 36872099 A JP36872099 A JP 36872099A JP 36872099 A JP36872099 A JP 36872099A JP 2001183328 A JP2001183328 A JP 2001183328A
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- coating
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- impedance measuring
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 気象条件に左右されずに所望の乾燥条件や温
度条件で調整された塗膜の測定が可能な塗膜交流インピ
ーダンス測定装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定
方法を提供する。 【解決手段】 第1電極2を含む塗膜Pの近傍箇所を被
覆する被覆体7と、被覆体7の内部の空気の温度又は湿
度を制御する温度湿度制御部10を備えた。
度条件で調整された塗膜の測定が可能な塗膜交流インピ
ーダンス測定装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定
方法を提供する。 【解決手段】 第1電極2を含む塗膜Pの近傍箇所を被
覆する被覆体7と、被覆体7の内部の空気の温度又は湿
度を制御する温度湿度制御部10を備えた。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗装塗膜の経年変
化を評価するための塗膜交流インピーダンス測定装置、
及びこの装置を用いた塗膜の交流インピーダンス測定方
法に関するものである。
化を評価するための塗膜交流インピーダンス測定装置、
及びこの装置を用いた塗膜の交流インピーダンス測定方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】鋼等の金属により構成された構造物や機
器の金属部分の腐食等を防止するために施される塗装の
塗膜は、使用環境において経年変化し、防食機能が低下
し、最終的には塗膜下部の金属が腐食する。このため、
塗装後の適切な時期に塗り替え塗装を行い、金属部分の
防食機能が継続して発揮されるように処置する必要があ
る。
器の金属部分の腐食等を防止するために施される塗装の
塗膜は、使用環境において経年変化し、防食機能が低下
し、最終的には塗膜下部の金属が腐食する。このため、
塗装後の適切な時期に塗り替え塗装を行い、金属部分の
防食機能が継続して発揮されるように処置する必要があ
る。
【0003】塗り替え時期の判断方法の一つに、「目視
観察法」がある。目視観察法では、塗膜の外観を目視に
よって観察し、塗膜表面に変状等が現われているかどう
かを検討する方法である。しかし、目視観察法では、観
察者の主観に頼ることになり、厳密さに欠ける、という
問題があった。
観察法」がある。目視観察法では、塗膜の外観を目視に
よって観察し、塗膜表面に変状等が現われているかどう
かを検討する方法である。しかし、目視観察法では、観
察者の主観に頼ることになり、厳密さに欠ける、という
問題があった。
【0004】塗り替え時期を判断する他の方法として、
「塗膜の交流インピーダンス測定法」がある。この方法
は、図6(A)に示すように、対象となる塗膜Pの交流
インピーダンスを塗膜交流インピーダンス測定装置20
0によって所定期間(例えば1年又は数年)ごとに測定
し、この交流インピーダンス値により塗膜Pの経年変化
の程度を評価する方法である。
「塗膜の交流インピーダンス測定法」がある。この方法
は、図6(A)に示すように、対象となる塗膜Pの交流
インピーダンスを塗膜交流インピーダンス測定装置20
0によって所定期間(例えば1年又は数年)ごとに測定
し、この交流インピーダンス値により塗膜Pの経年変化
の程度を評価する方法である。
【0005】塗膜の交流インピーダンス測定法では、塗
膜Pの表面の箇所(以下、「第1箇所」という。)に電
解質液体を含浸等により保持した当接部材1を当接す
る。当接部材1としては、スポンジのように多孔性で液
体を含浸できる部材、あるいは糊やゼリーのように内部
に液体(電解質液体)を含むゲル状の部材が用いられ
る。また、電解質液体としては、塩化ナトリウム(Na
Cl)水溶液などの塩化物水溶液等が用いられる。当接
部材1の塗膜Pとは逆の側には、第1電極2が電気的に
接続され、第1電極2には導線5の一端が電気的に接続
される。
膜Pの表面の箇所(以下、「第1箇所」という。)に電
解質液体を含浸等により保持した当接部材1を当接す
る。当接部材1としては、スポンジのように多孔性で液
体を含浸できる部材、あるいは糊やゼリーのように内部
に液体(電解質液体)を含むゲル状の部材が用いられ
る。また、電解質液体としては、塩化ナトリウム(Na
Cl)水溶液などの塩化物水溶液等が用いられる。当接
部材1の塗膜Pとは逆の側には、第1電極2が電気的に
接続され、第1電極2には導線5の一端が電気的に接続
される。
【0006】また、第1箇所とは異なる付近の箇所(以
下、「第2箇所」という。)の塗膜を剥離させて塗膜の
下部の金属Mを露出させ、金属Mの表面に第2電極3を
当接する。また、第2電極3には導線6の一端が電気的
に接続される。導線5、6の他端には、交流インピーダ
ンス測定部4が電気的に接続される。交流インピーダン
ス測定部4内には、図示はしていないが、交流電源と交
流インピーダンス測定器が設けられている。
下、「第2箇所」という。)の塗膜を剥離させて塗膜の
下部の金属Mを露出させ、金属Mの表面に第2電極3を
当接する。また、第2電極3には導線6の一端が電気的
に接続される。導線5、6の他端には、交流インピーダ
ンス測定部4が電気的に接続される。交流インピーダン
ス測定部4内には、図示はしていないが、交流電源と交
流インピーダンス測定器が設けられている。
【0007】当接部材1を塗膜Pの表面に当接すると、
電解質液体の水分が塗膜Pの内部に徐々に浸透する。塗
膜内への水分浸透の途中の段階では、塗膜内の水分含有
状態が変動し、塗膜の静電容量値が変化するため、測定
される塗膜の交流インピーダンス値が変動する。このこ
とから、塗膜の交流インピーダンス測定においては、塗
膜の交流インピーダンス値の変化が小さくなった状態で
安定した測定値を得るため、当接部材1と第1電極2を
塗膜Pの表面に設置した後、ある程度の時間だけ放置
し、その後に交流インピーダンス測定を行う必要があ
る。従来は、過去の実験等の実績や経験等から、20分
程度より長く放置すれば測定値が安定する、との考えが
定説となっていた。そのため、従来の塗膜の交流インピ
ーダンス測定では、当接部材を塗膜表面に接触させた
後、20分から1時間程度放置した時点で測定を行うの
が一般的であった。
電解質液体の水分が塗膜Pの内部に徐々に浸透する。塗
膜内への水分浸透の途中の段階では、塗膜内の水分含有
状態が変動し、塗膜の静電容量値が変化するため、測定
される塗膜の交流インピーダンス値が変動する。このこ
とから、塗膜の交流インピーダンス測定においては、塗
膜の交流インピーダンス値の変化が小さくなった状態で
安定した測定値を得るため、当接部材1と第1電極2を
塗膜Pの表面に設置した後、ある程度の時間だけ放置
し、その後に交流インピーダンス測定を行う必要があ
る。従来は、過去の実験等の実績や経験等から、20分
程度より長く放置すれば測定値が安定する、との考えが
定説となっていた。そのため、従来の塗膜の交流インピ
ーダンス測定では、当接部材を塗膜表面に接触させた
後、20分から1時間程度放置した時点で測定を行うの
が一般的であった。
【0008】塗膜Pと金属Mからなる塗装金属体のイン
ピーダンスは、図6(B)に図示した回路と等価である
と考えられる。図6(B)において、RSは当接部材1
の電解質液体の抵抗を、Cは塗装金属体のインピーダン
スのうちの容量成分を、Rは塗装金属体のインピーダン
スのうちの抵抗成分を、Sは交流インピーダンス測定部
4内の交流電源を、Tは交流インピーダンス測定部4内
の交流インピーダンス測定器を、それぞれ示している。
電解質液体の抵抗RSは、塗装金属体のインピーダンス
の抵抗成分Rに比べ非常に小さい値となっている。
ピーダンスは、図6(B)に図示した回路と等価である
と考えられる。図6(B)において、RSは当接部材1
の電解質液体の抵抗を、Cは塗装金属体のインピーダン
スのうちの容量成分を、Rは塗装金属体のインピーダン
スのうちの抵抗成分を、Sは交流インピーダンス測定部
4内の交流電源を、Tは交流インピーダンス測定部4内
の交流インピーダンス測定器を、それぞれ示している。
電解質液体の抵抗RSは、塗装金属体のインピーダンス
の抵抗成分Rに比べ非常に小さい値となっている。
【0009】交流インピーダンス測定器Tは、この回路
の交流電流値、交流電圧値、交流抵抗値(交流インピー
ダンス値)|Z|、電流と電圧の位相差を測定する。こ
れらの値から、|Z|の容量成分Cと、|Z|の抵抗成
分Rの値が計算によって求められる。また、交流周波数
をfとしたとき、損失係数tanδが下式 tanδ=(1/2)×π×f×C×R によって算出される。
の交流電流値、交流電圧値、交流抵抗値(交流インピー
ダンス値)|Z|、電流と電圧の位相差を測定する。こ
れらの値から、|Z|の容量成分Cと、|Z|の抵抗成
分Rの値が計算によって求められる。また、交流周波数
をfとしたとき、損失係数tanδが下式 tanδ=(1/2)×π×f×C×R によって算出される。
【0010】交流周波数fを変えて複数回測定した交流
インピーダンス値|Z|から算出される容量成分Cと抵
抗成分Rから、塗膜Pに微細な孔(ピンホール)が存在
するか否か、塗膜Pに剥離した部分が存在するか否かな
どを定量的に評価することができる。
インピーダンス値|Z|から算出される容量成分Cと抵
抗成分Rから、塗膜Pに微細な孔(ピンホール)が存在
するか否か、塗膜Pに剥離した部分が存在するか否かな
どを定量的に評価することができる。
【0011】また、前回の測定時に測定した損失係数t
anδと今回測定した損失係数との比較から、塗膜の防
食機能の一つであるイオン等の環境遮断性能がどのよう
に変化したかについて定量的評価を行うことができる。
anδと今回測定した損失係数との比較から、塗膜の防
食機能の一つであるイオン等の環境遮断性能がどのよう
に変化したかについて定量的評価を行うことができる。
【0012】また、前回の測定時に測定した容量成分C
0と、今回測定した容量成分C1の比(C1/C0)から、
塗膜の経年変化の評価を定量的に行うことができる。
0と、今回測定した容量成分C1の比(C1/C0)から、
塗膜の経年変化の評価を定量的に行うことができる。
【0013】また、交流インピーダンス値|Z|の経年
変化から、塗膜の経年変化傾向を追跡し、定量的な評価
を行うことができる。
変化から、塗膜の経年変化傾向を追跡し、定量的な評価
を行うことができる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、塗装が
施された構造物等は、屋外等に設置されている場合があ
り、上記した従来の塗膜の交流インピーダンス測定法で
は、測定する塗膜Pの温度、湿度等が降雨や晴天等の気
象条件に左右される。このため、測定時の条件を、過去
に行った測定時の条件と同じ条件に再現することは困難
であり、正しい塗膜経年変化傾向を評価することができ
ない、という問題があり、所望の乾燥条件、温度条件等
で調整された塗膜の交流インピーダンス測定法が要請さ
れていた。
施された構造物等は、屋外等に設置されている場合があ
り、上記した従来の塗膜の交流インピーダンス測定法で
は、測定する塗膜Pの温度、湿度等が降雨や晴天等の気
象条件に左右される。このため、測定時の条件を、過去
に行った測定時の条件と同じ条件に再現することは困難
であり、正しい塗膜経年変化傾向を評価することができ
ない、という問題があり、所望の乾燥条件、温度条件等
で調整された塗膜の交流インピーダンス測定法が要請さ
れていた。
【0015】さらに、塗膜の交流インピーダンス測定値
の変化から、塗膜の経年変化に伴う塗膜の吸水し易さの
変化を評価することができるが、このためには、測定前
に塗膜を相対湿度の低い環境に維持する必要があり、こ
れまでの測定方法では実現が困難である、という問題も
あった。
の変化から、塗膜の経年変化に伴う塗膜の吸水し易さの
変化を評価することができるが、このためには、測定前
に塗膜を相対湿度の低い環境に維持する必要があり、こ
れまでの測定方法では実現が困難である、という問題も
あった。
【0016】本発明は上記の問題を解決するためになさ
れたものであり、本発明の解決しようとする課題は、気
象条件に左右されずに所望の乾燥条件や温度条件で調整
された塗膜の測定が可能な塗膜交流インピーダンス測定
装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定方法を提供す
ることにある。
れたものであり、本発明の解決しようとする課題は、気
象条件に左右されずに所望の乾燥条件や温度条件で調整
された塗膜の測定が可能な塗膜交流インピーダンス測定
装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定方法を提供す
ることにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係る塗膜交流インピーダンス測定装置は、
電解質液体を保持するとともに塗膜の表面の第1箇所に
当接される当接部材と、前記当接部材の前記塗膜とは逆
側に電気的に接続される第1電極と、前記第1箇所とは
異なる第2箇所の前記塗膜の下部の金属表面に当接され
る第2電極と、交流電源と交流インピーダンス測定器を
有し前記第1電極と前記第2電極に電気的に接続される
交流インピーダンス測定部を備え、前記塗膜の交流イン
ピーダンスを測定する塗膜交流インピーダンス測定装置
において、前記第1電極を含む塗膜の近傍箇所を被覆す
る被覆体と、前記被覆体の内部の空気の温度又は湿度を
制御する温度湿度制御手段を備えることを特徴とする。
め、本発明に係る塗膜交流インピーダンス測定装置は、
電解質液体を保持するとともに塗膜の表面の第1箇所に
当接される当接部材と、前記当接部材の前記塗膜とは逆
側に電気的に接続される第1電極と、前記第1箇所とは
異なる第2箇所の前記塗膜の下部の金属表面に当接され
る第2電極と、交流電源と交流インピーダンス測定器を
有し前記第1電極と前記第2電極に電気的に接続される
交流インピーダンス測定部を備え、前記塗膜の交流イン
ピーダンスを測定する塗膜交流インピーダンス測定装置
において、前記第1電極を含む塗膜の近傍箇所を被覆す
る被覆体と、前記被覆体の内部の空気の温度又は湿度を
制御する温度湿度制御手段を備えることを特徴とする。
【0018】上記の塗膜交流インピーダンス測定装置に
おいて、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、前記被
覆体の内部の空気を加熱する加熱手段を有する。
おいて、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、前記被
覆体の内部の空気を加熱する加熱手段を有する。
【0019】また、上記の塗膜交流インピーダンス測定
装置において、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、
前記被覆体の内部の空気を冷却する冷却手段を有する。
装置において、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、
前記被覆体の内部の空気を冷却する冷却手段を有する。
【0020】また、上記の塗膜交流インピーダンス測定
装置において、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、
前記被覆体の内部の空気に水分を加える加湿手段を有す
る。
装置において、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、
前記被覆体の内部の空気に水分を加える加湿手段を有す
る。
【0021】また、上記の塗膜交流インピーダンス測定
装置において、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、
前記被覆体の内部の空気から水分を除去する除湿手段を
有する。
装置において、好ましくは、前記温度湿度制御手段は、
前記被覆体の内部の空気から水分を除去する除湿手段を
有する。
【0022】また、上記の塗膜交流インピーダンス測定
装置において、好ましくは、前記除湿手段は、前記被覆
体の内部に配設される乾燥剤である。
装置において、好ましくは、前記除湿手段は、前記被覆
体の内部に配設される乾燥剤である。
【0023】また、上記の塗膜交流インピーダンス測定
装置において、好ましくは、前記被覆体の内部の空気の
温度又は湿度を検出する温度湿度検出手段を備える。
装置において、好ましくは、前記被覆体の内部の空気の
温度又は湿度を検出する温度湿度検出手段を備える。
【0024】また、上記の塗膜交流インピーダンス測定
装置において、好ましくは、前記第1電極に接続された
導線は、前記被覆体の外部の前記交流インピーダンス測
定部に電気的に接続可能な接続コネクタを有する。
装置において、好ましくは、前記第1電極に接続された
導線は、前記被覆体の外部の前記交流インピーダンス測
定部に電気的に接続可能な接続コネクタを有する。
【0025】また、上記の塗膜交流インピーダンス測定
装置において、好ましくは、前記当接部材に前記電解質
液体を供給する電解質液体供給手段を備える。
装置において、好ましくは、前記当接部材に前記電解質
液体を供給する電解質液体供給手段を備える。
【0026】また、本発明に係る塗膜の交流インピーダ
ンス測定方法は、電解質液体を保持するとともに塗膜の
表面の第1箇所に当接される当接部材と、前記当接部材
の前記塗膜とは逆側に電気的に接続される第1電極と、
前記第1箇所とは異なる第2箇所の前記塗膜の下部の金
属表面に当接される第2電極と、交流電源と交流インピ
ーダンス測定器を有し前記第1電極と前記第2電極に電
気的に接続される交流インピーダンス測定部を備えた塗
膜交流インピーダンス測定装置を用い、前記塗膜の交流
インピーダンスを測定する塗膜の交流インピーダンス測
定方法において、前記第1電極を含む塗膜の近傍箇所を
被覆体によって被覆し、前記被覆体の内部の空気の温度
又は湿度を制御することを特徴とする。
ンス測定方法は、電解質液体を保持するとともに塗膜の
表面の第1箇所に当接される当接部材と、前記当接部材
の前記塗膜とは逆側に電気的に接続される第1電極と、
前記第1箇所とは異なる第2箇所の前記塗膜の下部の金
属表面に当接される第2電極と、交流電源と交流インピ
ーダンス測定器を有し前記第1電極と前記第2電極に電
気的に接続される交流インピーダンス測定部を備えた塗
膜交流インピーダンス測定装置を用い、前記塗膜の交流
インピーダンスを測定する塗膜の交流インピーダンス測
定方法において、前記第1電極を含む塗膜の近傍箇所を
被覆体によって被覆し、前記被覆体の内部の空気の温度
又は湿度を制御することを特徴とする。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。
て、図面を参照しながら詳細に説明する。
【0028】(1)第1実施形態 まず、本発明の第1実施形態について説明する。図1
は、本発明の第1実施形態である塗膜交流インピーダン
ス測定装置の構成を示す図である。また、図2は、図1
に示す塗膜交流インピーダンス測定装置における温度湿
度制御部の構成を示す図である。
は、本発明の第1実施形態である塗膜交流インピーダン
ス測定装置の構成を示す図である。また、図2は、図1
に示す塗膜交流インピーダンス測定装置における温度湿
度制御部の構成を示す図である。
【0029】図1に示すように、この塗膜交流インピー
ダンス測定装置101は、交流インピーダンス測定系6
1と、温度湿度制御系62と、データ処理系63と、温
度湿度測定系64を備えて構成されている。
ダンス測定装置101は、交流インピーダンス測定系6
1と、温度湿度制御系62と、データ処理系63と、温
度湿度測定系64を備えて構成されている。
【0030】交流インピーダンス測定系61は、当接部
材1と、第1電極2と、第2電極3と、交流インピーダ
ンス測定部4と、導線5A及び5B及び6と、接続コネ
クタ31及び32を有している。
材1と、第1電極2と、第2電極3と、交流インピーダ
ンス測定部4と、導線5A及び5B及び6と、接続コネ
クタ31及び32を有している。
【0031】交流インピーダンス測定系61のうち、当
接部材1と、第1電極2と、第2電極3と、交流インピ
ーダンス測定部4と、導線6の構成及び作用は、図6に
示した従来例と同様であり、その説明は省略する。第1
実施形態の塗膜交流インピーダンス測定装置101で
は、従来例の導線5のかわりに導線5A及び5Bと接続
コネクタ31及び32を有している点が異なっている。
接部材1と、第1電極2と、第2電極3と、交流インピ
ーダンス測定部4と、導線6の構成及び作用は、図6に
示した従来例と同様であり、その説明は省略する。第1
実施形態の塗膜交流インピーダンス測定装置101で
は、従来例の導線5のかわりに導線5A及び5Bと接続
コネクタ31及び32を有している点が異なっている。
【0032】第1電極2には導線5Aの一端が電気的に
接続され、導線5Aの他端には接続コネクタ31が電気
的に接続される。接続コネクタ31と接続コネクタ32
は、凸部と凹部の嵌合等により互いに着脱可能な構成と
なっており、互いに接合した場合には電気的に導通し、
互いに離脱した場合には電気的に不導通となるように構
成されている。また、接続コネクタ32には導線5Bの
一端が電気的に接続され、導線5Bの他端には交流イン
ピーダンス測定部4が電気的に接続される。
接続され、導線5Aの他端には接続コネクタ31が電気
的に接続される。接続コネクタ31と接続コネクタ32
は、凸部と凹部の嵌合等により互いに着脱可能な構成と
なっており、互いに接合した場合には電気的に導通し、
互いに離脱した場合には電気的に不導通となるように構
成されている。また、接続コネクタ32には導線5Bの
一端が電気的に接続され、導線5Bの他端には交流イン
ピーダンス測定部4が電気的に接続される。
【0033】温度湿度制御系62は、被覆体7と、温度
湿度制御手段である温度湿度制御部10と、排気管8A
及び8Bと、排気ポンプ51と、送気管9A及び9B
と、送気ポンプ52を有している。
湿度制御手段である温度湿度制御部10と、排気管8A
及び8Bと、排気ポンプ51と、送気管9A及び9B
と、送気ポンプ52を有している。
【0034】被覆体7は、耐候性を有し、塗膜Pと化学
反応又は電食反応等を生じない材料、例えばプラスチッ
ク、FRP(繊維強化プラスチック)、金属(塗装金
属、樹脂フィルム被覆金属等を含む)等からなり、底部
が開放された中空箱状に形成されている。被覆体7は、
第1電極2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆する。被覆体
7は、接着用テープ等の接着部材19により、塗膜P上
に固定される。
反応又は電食反応等を生じない材料、例えばプラスチッ
ク、FRP(繊維強化プラスチック)、金属(塗装金
属、樹脂フィルム被覆金属等を含む)等からなり、底部
が開放された中空箱状に形成されている。被覆体7は、
第1電極2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆する。被覆体
7は、接着用テープ等の接着部材19により、塗膜P上
に固定される。
【0035】また、被覆体7には、排気孔7aと、送気
孔7bと、導線5A、15A、16Aを挿通するための
微小孔7c、7d、7eが形成されている。排気孔7a
には排気管8Aが着脱可能となっており、送気孔7bに
は送気管9Bが着脱可能となっている。これらの微小孔
7c、7d、7eには、導線の周囲から空気や水分が被
覆体7の内外に出入しないようにシール部材41、4
2、43がそれぞれ設けられている。シール部材41、
42、43としては、軟質プラスチック、ゴム系材料等
からなる筒状部材などが用いられる。
孔7bと、導線5A、15A、16Aを挿通するための
微小孔7c、7d、7eが形成されている。排気孔7a
には排気管8Aが着脱可能となっており、送気孔7bに
は送気管9Bが着脱可能となっている。これらの微小孔
7c、7d、7eには、導線の周囲から空気や水分が被
覆体7の内外に出入しないようにシール部材41、4
2、43がそれぞれ設けられている。シール部材41、
42、43としては、軟質プラスチック、ゴム系材料等
からなる筒状部材などが用いられる。
【0036】排気ポンプ51は、排気管8Aと8Bの中
間に設けられ、被覆体7内の空気を排気管8Aを介して
吸い込み、排気管8Bを介して温度湿度制御部10に送
るポンプである。
間に設けられ、被覆体7内の空気を排気管8Aを介して
吸い込み、排気管8Bを介して温度湿度制御部10に送
るポンプである。
【0037】また、送気ポンプ52は、送気管9Aと9
Bの中間に設けられ、温度湿度制御部10から送られる
空気を送気管9Aを介して吸い込み、送気管9Bを介し
て被覆体7へ送るポンプである。
Bの中間に設けられ、温度湿度制御部10から送られる
空気を送気管9Aを介して吸い込み、送気管9Bを介し
て被覆体7へ送るポンプである。
【0038】温度湿度制御部10は、図2に示すよう
に、加熱手段である加熱部21と、冷却手段である冷却
部22と、加湿手段である加湿部23と、除湿手段であ
る除湿部24と、コントローラ25と、導線26及び2
7及び28及び29を有している。
に、加熱手段である加熱部21と、冷却手段である冷却
部22と、加湿手段である加湿部23と、除湿手段であ
る除湿部24と、コントローラ25と、導線26及び2
7及び28及び29を有している。
【0039】加熱部21は、排気管8Bから送られてき
た被覆体7の内部の空気を加熱する部分である。加熱部
21としては、図示はしていないが、ニクロム線等を有
し通電により発熱する電熱ヒーター等が用いられる。通
電する電気の電流値、電圧値等は、導線26により加熱
部21に電気的に接続されているコントローラ25が制
御し、これによって加熱量、到達する温度が制御され
る。
た被覆体7の内部の空気を加熱する部分である。加熱部
21としては、図示はしていないが、ニクロム線等を有
し通電により発熱する電熱ヒーター等が用いられる。通
電する電気の電流値、電圧値等は、導線26により加熱
部21に電気的に接続されているコントローラ25が制
御し、これによって加熱量、到達する温度が制御され
る。
【0040】冷却部22は、加熱部21から送られてき
た空気を冷却する部分である。冷却部22としては、図
示はしていないが、フロンやアンモニア等の冷媒ガス
と、圧縮器、凝縮器、毛細管、蒸発器等を有し、通電に
より冷却を行うガス圧縮式冷却装置などが用いられる。
通電する電気の電流値、電圧値等は、導線27により冷
却部22に電気的に接続されているコントローラ25が
制御し、これによって冷却量、到達する温度が制御され
る。
た空気を冷却する部分である。冷却部22としては、図
示はしていないが、フロンやアンモニア等の冷媒ガス
と、圧縮器、凝縮器、毛細管、蒸発器等を有し、通電に
より冷却を行うガス圧縮式冷却装置などが用いられる。
通電する電気の電流値、電圧値等は、導線27により冷
却部22に電気的に接続されているコントローラ25が
制御し、これによって冷却量、到達する温度が制御され
る。
【0041】加湿部23は、冷却部22から送られてき
た空気に水分を加える部分である。加湿部23として
は、図示はしていないが、電気を用いて水に超音波振動
を加えて微細な水滴として空気中に混入させる加湿装置
などが用いられる。通電する電気の電流値、電圧値等
は、導線28により加湿部23に電気的に接続されてい
るコントローラ25が制御し、これによって加えられる
空気中水分量、到達する湿度が制御される。
た空気に水分を加える部分である。加湿部23として
は、図示はしていないが、電気を用いて水に超音波振動
を加えて微細な水滴として空気中に混入させる加湿装置
などが用いられる。通電する電気の電流値、電圧値等
は、導線28により加湿部23に電気的に接続されてい
るコントローラ25が制御し、これによって加えられる
空気中水分量、到達する湿度が制御される。
【0042】除湿部24は、加湿部23から送られてき
た空気から水分を除去して送気管9Bに送る部分であ
る。除湿部24としては、図示はしていないが、上記の
ガス圧縮式冷却装置を利用して空気温度を下げ、空気中
の水分を凝縮させて除去する乾燥装置などが用いられ
る。通電する電気の電流値、電圧値等は、導線29によ
り加熱部21に電気的に接続されているコントローラ2
5が制御し、これによって除去される空気中水分量、到
達する湿度が制御される。
た空気から水分を除去して送気管9Bに送る部分であ
る。除湿部24としては、図示はしていないが、上記の
ガス圧縮式冷却装置を利用して空気温度を下げ、空気中
の水分を凝縮させて除去する乾燥装置などが用いられ
る。通電する電気の電流値、電圧値等は、導線29によ
り加熱部21に電気的に接続されているコントローラ2
5が制御し、これによって除去される空気中水分量、到
達する湿度が制御される。
【0043】コントローラ25には、図示しないCPU
(Central Processing Unit:
中央演算処理装置)と、図示しないROM(Read
Only Memory:読出し専用メモリ)と、図示
しないRAM(RandomAccess Memor
y:随時書込み読出しメモリ)が設けられている。
(Central Processing Unit:
中央演算処理装置)と、図示しないROM(Read
Only Memory:読出し専用メモリ)と、図示
しないRAM(RandomAccess Memor
y:随時書込み読出しメモリ)が設けられている。
【0044】CPUは、データの演算、信号の制御等を
統括する。また、ROMは、CPUの実行するプログラ
ム等を格納した記憶装置である。このROMのかわりに
ハードディスク又は他の形式の記憶装置を用いてもよ
く、これらの記憶装置は読出し専用のものだけでなく1
回又は複数回書込み可能なものであってもよい。また、
RAMは、CPUにより演算されたデータ等を一時記憶
する記憶装置である。このRAMのかわりにハードディ
スク又は他の形式の記憶装置を用いてもよい。
統括する。また、ROMは、CPUの実行するプログラ
ム等を格納した記憶装置である。このROMのかわりに
ハードディスク又は他の形式の記憶装置を用いてもよ
く、これらの記憶装置は読出し専用のものだけでなく1
回又は複数回書込み可能なものであってもよい。また、
RAMは、CPUにより演算されたデータ等を一時記憶
する記憶装置である。このRAMのかわりにハードディ
スク又は他の形式の記憶装置を用いてもよい。
【0045】データ処理系63は、データ処理部11と
導線14を有している。データ処理部11は、導線14
により交流インピーダンス測定部に電気的に接続され
る。
導線14を有している。データ処理部11は、導線14
により交流インピーダンス測定部に電気的に接続され
る。
【0046】温度湿度測定系64は、温度センサ12
と、湿度センサ13と、導線15A及び15B及び16
A及び16Bと、接続コネクタ33及び34及び35及
び36を有している。
と、湿度センサ13と、導線15A及び15B及び16
A及び16Bと、接続コネクタ33及び34及び35及
び36を有している。
【0047】温度センサ12には導線15Aの一端が電
気的に接続され、導線15Aの他端には接続コネクタ3
3が電気的に接続される。接続コネクタ33と接続コネ
クタ34は、凸部と凹部の嵌合等により互いに着脱可能
な構成となっており、互いに接合した場合には電気的に
導通し、互いに離脱した場合には電気的に不導通となる
ように構成されている。また、接続コネクタ34には導
線15Bの一端が電気的に接続され、導線15Bの他端
にはデータ処理部11が電気的に接続される。
気的に接続され、導線15Aの他端には接続コネクタ3
3が電気的に接続される。接続コネクタ33と接続コネ
クタ34は、凸部と凹部の嵌合等により互いに着脱可能
な構成となっており、互いに接合した場合には電気的に
導通し、互いに離脱した場合には電気的に不導通となる
ように構成されている。また、接続コネクタ34には導
線15Bの一端が電気的に接続され、導線15Bの他端
にはデータ処理部11が電気的に接続される。
【0048】湿度センサ13には導線16Aの一端が電
気的に接続され、導線16Aの他端には接続コネクタ3
5が電気的に接続される。接続コネクタ35と接続コネ
クタ36は、凸部と凹部の嵌合等により互いに着脱可能
な構成となっており、互いに接合した場合には電気的に
導通し、互いに離脱した場合には電気的に不導通となる
ように構成されている。また、接続コネクタ36には導
線16Bの一端が電気的に接続され、導線16Bの他端
にはデータ処理部11が電気的に接続される。
気的に接続され、導線16Aの他端には接続コネクタ3
5が電気的に接続される。接続コネクタ35と接続コネ
クタ36は、凸部と凹部の嵌合等により互いに着脱可能
な構成となっており、互いに接合した場合には電気的に
導通し、互いに離脱した場合には電気的に不導通となる
ように構成されている。また、接続コネクタ36には導
線16Bの一端が電気的に接続され、導線16Bの他端
にはデータ処理部11が電気的に接続される。
【0049】データ処理部11は、例えば、コントロー
ラ25と同様な構成のマイクロコンピュータ等(図示せ
ず)を有しており、内蔵されたCPU(図示せず)が、
第1電極2と第2電極3の間の塗膜Pの交流インピーダ
ンス値|Z|、上記した容量成分値C、抵抗成分値R、
損失係数tanδ、容量成分C1の比(C1/C0)、交
流インピーダンス値|Z|の経年変化傾向等を算出し、
交流インピーダンス測定時の温度、湿度を併せて記録、
解析等を行うことができる。
ラ25と同様な構成のマイクロコンピュータ等(図示せ
ず)を有しており、内蔵されたCPU(図示せず)が、
第1電極2と第2電極3の間の塗膜Pの交流インピーダ
ンス値|Z|、上記した容量成分値C、抵抗成分値R、
損失係数tanδ、容量成分C1の比(C1/C0)、交
流インピーダンス値|Z|の経年変化傾向等を算出し、
交流インピーダンス測定時の温度、湿度を併せて記録、
解析等を行うことができる。
【0050】また、第1実施形態の塗膜交流インピーダ
ンス測定装置101は、上記の構成要素に加え、図3に
示すように、電解質液体供給系65を備えている。この
電解質液体供給系65は、電解質液体貯留槽71と、供
給ポンプ72と、供給調節弁73と、供給管74と、供
給制御部75と、導線76と、接続コネクタ77及び7
8を有している。
ンス測定装置101は、上記の構成要素に加え、図3に
示すように、電解質液体供給系65を備えている。この
電解質液体供給系65は、電解質液体貯留槽71と、供
給ポンプ72と、供給調節弁73と、供給管74と、供
給制御部75と、導線76と、接続コネクタ77及び7
8を有している。
【0051】電解質液体貯留槽71は、電解質液体を収
容し貯留する容器である。電解質液体貯留槽71には、
供給管74の一端側の開口部が取り付けられており、供
給管74の他端側の開口部は当接部材1に取り付けられ
ている。接続コネクタ77と接続コネクタ78は、凸部
と凹部の嵌合等により互いに着脱可能な構成となってお
り、互いに接合した場合には開通して電解質液体が当接
部材1に注入され、互いに離脱した場合には当接部材1
への電解質液体の供給が不能となるように構成されてい
る。電解質液体は、供給管74の途中に配設された供給
ポンプ72により圧送され供給調節弁73を経て当接部
材1に供給される。供給調節弁73には、電気信号によ
り精密駆動されるアクチュエータ(図示せず)が設けら
れている。このアクチュエータは、導線76により供給
制御部75に電気的に接続されている。
容し貯留する容器である。電解質液体貯留槽71には、
供給管74の一端側の開口部が取り付けられており、供
給管74の他端側の開口部は当接部材1に取り付けられ
ている。接続コネクタ77と接続コネクタ78は、凸部
と凹部の嵌合等により互いに着脱可能な構成となってお
り、互いに接合した場合には開通して電解質液体が当接
部材1に注入され、互いに離脱した場合には当接部材1
への電解質液体の供給が不能となるように構成されてい
る。電解質液体は、供給管74の途中に配設された供給
ポンプ72により圧送され供給調節弁73を経て当接部
材1に供給される。供給調節弁73には、電気信号によ
り精密駆動されるアクチュエータ(図示せず)が設けら
れている。このアクチュエータは、導線76により供給
制御部75に電気的に接続されている。
【0052】供給制御部75は、例えば、コントローラ
25内の図示しないCPUと同様な構成及び作用を有す
るMPU(Micro Processing Uni
t:超小型演算処理装置)等(図示せず)を有してお
り、このMPU等が、供給調節弁73のアクチュエータ
(図示せず)に制御指令信号を出力し、供給制御弁73
の開放、閉鎖、あるいは開放の場合の開放度合等を精密
に制御することができる。
25内の図示しないCPUと同様な構成及び作用を有す
るMPU(Micro Processing Uni
t:超小型演算処理装置)等(図示せず)を有してお
り、このMPU等が、供給調節弁73のアクチュエータ
(図示せず)に制御指令信号を出力し、供給制御弁73
の開放、閉鎖、あるいは開放の場合の開放度合等を精密
に制御することができる。
【0053】上記のような構成を有することから、この
塗膜交流インピーダンス測定装置101では、第1電極
2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆体7で被覆し、温度湿
度制御部10により被覆体7の内部の空気Aの温度又は
湿度を制御し、所望の温度又は湿度に調整した空気A´
として供給することができる。また、塗膜交流インピー
ダンス測定時以外には、接続コネクタ31及び32を外
しておき、測定時に接続するようにしてもよい。
塗膜交流インピーダンス測定装置101では、第1電極
2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆体7で被覆し、温度湿
度制御部10により被覆体7の内部の空気Aの温度又は
湿度を制御し、所望の温度又は湿度に調整した空気A´
として供給することができる。また、塗膜交流インピー
ダンス測定時以外には、接続コネクタ31及び32を外
しておき、測定時に接続するようにしてもよい。
【0054】したがって、塗装が施された構造物等が屋
外等に設置されている場合であっても、測定する塗膜P
の温度又は湿度を一定に保つことができる。このため、
測定時の条件を、過去に行った測定時の条件と同じ条件
に再現することができ、正しい塗膜経年変化傾向を評価
することができる。
外等に設置されている場合であっても、測定する塗膜P
の温度又は湿度を一定に保つことができる。このため、
測定時の条件を、過去に行った測定時の条件と同じ条件
に再現することができ、正しい塗膜経年変化傾向を評価
することができる。
【0055】また、この塗膜交流インピーダンス測定装
置101では、電解質液体供給系65により当接部材1
への電解質液体の供給を自在に制御することができる。
また、塗膜交流インピーダンス測定時以外には、接続コ
ネクタ77及び78を外しておき、測定時に接続するよ
うにしてもよい。したがって、例えば、塗膜交流インピ
ーダンス測定前には当接部材1へ電解質液体を供給せ
ず、当接部材1を乾燥状態としておき、塗膜交流インピ
ーダンス測定時点にはじめて当接部材1へ電解質液体を
注入し、測定値の変化を観察する、というような測定も
行うことができる。
置101では、電解質液体供給系65により当接部材1
への電解質液体の供給を自在に制御することができる。
また、塗膜交流インピーダンス測定時以外には、接続コ
ネクタ77及び78を外しておき、測定時に接続するよ
うにしてもよい。したがって、例えば、塗膜交流インピ
ーダンス測定前には当接部材1へ電解質液体を供給せ
ず、当接部材1を乾燥状態としておき、塗膜交流インピ
ーダンス測定時点にはじめて当接部材1へ電解質液体を
注入し、測定値の変化を観察する、というような測定も
行うことができる。
【0056】図4は、塗膜交流インピーダンス測定値に
与える塗膜湿度条件の影響を示す特性グラフ図である。
この特性グラフは、従来の方法では得ることはできず、
上記の塗膜交流インピーダンス測定装置101を用いる
ことにより初めて得ることができたものである。図4に
示すように、相対湿度が30%以下の雰囲気中に4日間
放置した塗膜に電解質液体を保持した当接部材を接触さ
せ、この当接部材を介して塗膜に電極を接続して交流イ
ンピーダンス値を測定した場合には、図において黒丸点
の実線で示すように、電解質液体の接触開始から略30
時間経過するまでの期間中は、交流インピーダンス値が
変化(降下)する。特に、電解質液体の接触開始から5
時間程度経過した時点までの期間中は、交流インピーダ
ンス値の変化(降下)度合いが急激であることがわか
る。
与える塗膜湿度条件の影響を示す特性グラフ図である。
この特性グラフは、従来の方法では得ることはできず、
上記の塗膜交流インピーダンス測定装置101を用いる
ことにより初めて得ることができたものである。図4に
示すように、相対湿度が30%以下の雰囲気中に4日間
放置した塗膜に電解質液体を保持した当接部材を接触さ
せ、この当接部材を介して塗膜に電極を接続して交流イ
ンピーダンス値を測定した場合には、図において黒丸点
の実線で示すように、電解質液体の接触開始から略30
時間経過するまでの期間中は、交流インピーダンス値が
変化(降下)する。特に、電解質液体の接触開始から5
時間程度経過した時点までの期間中は、交流インピーダ
ンス値の変化(降下)度合いが急激であることがわか
る。
【0057】一方、相対湿度が95%以上の雰囲気中に
5日間放置した塗膜に電解質液体を保持した当接部材を
接触させ、この当接部材を介して塗膜に電極を接続して
交流インピーダンス値を測定した場合には、図4におい
て白丸点の破線で示すように、交流インピーダンス値
は、電解質液体の接触直後からほぼ一定であり、交流イ
ンピーダンス値の経時変化(降下)は小さい。したがっ
て、このような塗膜湿度条件の場合には、塗膜に当接し
た当接部材に電解質液体を供給した直後から、安定した
塗膜交流インピーダンス値を測定できることがわかる。
5日間放置した塗膜に電解質液体を保持した当接部材を
接触させ、この当接部材を介して塗膜に電極を接続して
交流インピーダンス値を測定した場合には、図4におい
て白丸点の破線で示すように、交流インピーダンス値
は、電解質液体の接触直後からほぼ一定であり、交流イ
ンピーダンス値の経時変化(降下)は小さい。したがっ
て、このような塗膜湿度条件の場合には、塗膜に当接し
た当接部材に電解質液体を供給した直後から、安定した
塗膜交流インピーダンス値を測定できることがわかる。
【0058】上記のことから、第1実施形態の塗膜交流
インピーダンス測定装置101では、温度湿度制御部1
0により被覆体7の内部の空気Aの湿度を制御し、被覆
体7の内部の相対湿度が95%以上の雰囲気となるよう
に調整し、5日間以上の放置時間を確保しておけば、電
解質液体供給系65によって塗膜Pに当接した当接部材
1に電解質液体を供給した直後から、安定した塗膜交流
インピーダンス値を測定することができ、従来のように
当接部材を塗膜表面に接触させた後から一律に20分か
ら1時間程度放置する必要はなくなる。このため、この
ような湿度条件(相対湿度が95%以上)の場合には迅
速な塗膜交流インピーダンス測定を行うことができる、
という利点も有している。
インピーダンス測定装置101では、温度湿度制御部1
0により被覆体7の内部の空気Aの湿度を制御し、被覆
体7の内部の相対湿度が95%以上の雰囲気となるよう
に調整し、5日間以上の放置時間を確保しておけば、電
解質液体供給系65によって塗膜Pに当接した当接部材
1に電解質液体を供給した直後から、安定した塗膜交流
インピーダンス値を測定することができ、従来のように
当接部材を塗膜表面に接触させた後から一律に20分か
ら1時間程度放置する必要はなくなる。このため、この
ような湿度条件(相対湿度が95%以上)の場合には迅
速な塗膜交流インピーダンス測定を行うことができる、
という利点も有している。
【0059】また、塗膜交流インピーダンス測定装置1
01では、電解質液体供給系65により、当接部材1へ
の電解質液体の供給を自在に制御することができ、塗膜
交流インピーダンス測定前には当接部材1へ電解質液体
を供給せず、当接部材1を乾燥状態としておき、塗膜交
流インピーダンス測定の直前に当接部材1へ電解質液体
を注入することができる。この測定方法によって得られ
た塗膜の交流インピーダンス測定値の変化(図4におけ
る黒丸点の曲線を参照。)から、塗膜の経年変化に伴う
塗膜の吸水し易さの変化を評価することができる。
01では、電解質液体供給系65により、当接部材1へ
の電解質液体の供給を自在に制御することができ、塗膜
交流インピーダンス測定前には当接部材1へ電解質液体
を供給せず、当接部材1を乾燥状態としておき、塗膜交
流インピーダンス測定の直前に当接部材1へ電解質液体
を注入することができる。この測定方法によって得られ
た塗膜の交流インピーダンス測定値の変化(図4におけ
る黒丸点の曲線を参照。)から、塗膜の経年変化に伴う
塗膜の吸水し易さの変化を評価することができる。
【0060】また、塗膜交流インピーダンス測定の直前
にはじめて当接部材1へ電解質液体を供給するようにす
れば、電解質液体(例えば塩化ナトリウム水溶液)中に
存在する塩化物イオン、ナトリウムイオン等が塗膜Pの
内部へ浸透・拡散することを抑制することも可能にな
る。特に、塩化物イオンの塗膜内への拡散は、塗膜の下
方の金属の腐食を促進する要因の一つであり、塗膜交流
インピーダンス測定後の測定箇所の塗膜性能変化に与え
る影響を最小限に抑えることができる。
にはじめて当接部材1へ電解質液体を供給するようにす
れば、電解質液体(例えば塩化ナトリウム水溶液)中に
存在する塩化物イオン、ナトリウムイオン等が塗膜Pの
内部へ浸透・拡散することを抑制することも可能にな
る。特に、塩化物イオンの塗膜内への拡散は、塗膜の下
方の金属の腐食を促進する要因の一つであり、塗膜交流
インピーダンス測定後の測定箇所の塗膜性能変化に与え
る影響を最小限に抑えることができる。
【0061】また、温度センサ12又は湿度センサ13
により、被覆体7の内部の空気の温度又は湿度を検出
し、温度湿度制御部10における温度又は湿度の設定に
利用してもよい。温度センサ12又は湿度センサ13
は、測定時以外には、接続コネクタ33及び34、又は
接続コネクタ35及び36を外しておき、測定時に接続
すればよい。
により、被覆体7の内部の空気の温度又は湿度を検出
し、温度湿度制御部10における温度又は湿度の設定に
利用してもよい。温度センサ12又は湿度センサ13
は、測定時以外には、接続コネクタ33及び34、又は
接続コネクタ35及び36を外しておき、測定時に接続
すればよい。
【0062】また、排気管8A及び送気管9Bは、測定
時以外には、それぞれ排気孔7a及び送気孔7bから外
しておき、交流インピーダンス値の測定の前に接続して
温度や湿度を所定条件に設定するようにしてもよい。こ
の場合には、排気管8A、送気管9Bが外された排気孔
7a、送気孔7bには、閉塞用の蓋(図示せず)を装着
しておき、外部から空気や水分等が流入することを防止
するように構成すればよい。
時以外には、それぞれ排気孔7a及び送気孔7bから外
しておき、交流インピーダンス値の測定の前に接続して
温度や湿度を所定条件に設定するようにしてもよい。こ
の場合には、排気管8A、送気管9Bが外された排気孔
7a、送気孔7bには、閉塞用の蓋(図示せず)を装着
しておき、外部から空気や水分等が流入することを防止
するように構成すればよい。
【0063】上記の第1実施形態において、温度センサ
12、又は湿度センサ13は、温度湿度検出手段に相当
している。また、電解質液体供給系65は、電解質液体
供給手段に相当している。
12、又は湿度センサ13は、温度湿度検出手段に相当
している。また、電解質液体供給系65は、電解質液体
供給手段に相当している。
【0064】(2)第2実施形態 次に、本発明の第2実施形態について説明する。図5
は、本発明の第2実施形態である塗膜交流インピーダン
ス測定装置の構成を示す図である。
は、本発明の第2実施形態である塗膜交流インピーダン
ス測定装置の構成を示す図である。
【0065】図5に示すように、この塗膜交流インピー
ダンス測定装置102は、当接部材1と、第1電極2
と、第2電極3と、交流インピーダンス測定部4と、導
線5A及び5B及び6と、接続コネクタ31及び32
と、被覆体17と、乾燥剤18を備えて構成されてい
る。また、図示はしていないが、この塗膜交流インピー
ダンス測定装置102は、第1実施形態101の場合と
同様の構成及び作用を持つ電解質液体供給系65を付加
することもできる。
ダンス測定装置102は、当接部材1と、第1電極2
と、第2電極3と、交流インピーダンス測定部4と、導
線5A及び5B及び6と、接続コネクタ31及び32
と、被覆体17と、乾燥剤18を備えて構成されてい
る。また、図示はしていないが、この塗膜交流インピー
ダンス測定装置102は、第1実施形態101の場合と
同様の構成及び作用を持つ電解質液体供給系65を付加
することもできる。
【0066】これらの構成要素のうち、当接部材1と、
第1電極2と、第2電極3と、交流インピーダンス測定
部4と、導線6の構成及び作用は、図6に示した従来例
と同様であり、また、接続コネクタ31及び32の構成
及び作用は、第1実施形態の場合と同様であるため、そ
の説明は省略する。第2実施形態の塗膜交流インピーダ
ンス測定装置102においては、異なる被覆体17と、
被覆体17の内部に新たな構成要素である乾燥剤18を
有している点が特徴である。
第1電極2と、第2電極3と、交流インピーダンス測定
部4と、導線6の構成及び作用は、図6に示した従来例
と同様であり、また、接続コネクタ31及び32の構成
及び作用は、第1実施形態の場合と同様であるため、そ
の説明は省略する。第2実施形態の塗膜交流インピーダ
ンス測定装置102においては、異なる被覆体17と、
被覆体17の内部に新たな構成要素である乾燥剤18を
有している点が特徴である。
【0067】被覆体17は、耐候性を有し、塗膜Pと化
学反応又は電食反応等を生じない材料、例えばプラスチ
ック、FRP(繊維強化プラスチック)、金属(塗装金
属、樹脂フィルム被覆金属等を含む)等からなり、可撓
性や変形性を有するシート状に形成されている。被覆体
17は、第1電極2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆す
る。被覆体17は、接着用テープ等の接着部材20によ
り、塗膜P上に固定される。
学反応又は電食反応等を生じない材料、例えばプラスチ
ック、FRP(繊維強化プラスチック)、金属(塗装金
属、樹脂フィルム被覆金属等を含む)等からなり、可撓
性や変形性を有するシート状に形成されている。被覆体
17は、第1電極2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆す
る。被覆体17は、接着用テープ等の接着部材20によ
り、塗膜P上に固定される。
【0068】また、被覆体17には、導線5Aを挿通す
るための微小孔7fが形成されている。微小孔7fに
は、導線の周囲から空気や水分が被覆体7の内外に出入
しないようにシール部材44が設けられている。シール
部材44としては、軟質プラスチック、ゴム系材料等か
らなる筒状部材などが用いられる。
るための微小孔7fが形成されている。微小孔7fに
は、導線の周囲から空気や水分が被覆体7の内外に出入
しないようにシール部材44が設けられている。シール
部材44としては、軟質プラスチック、ゴム系材料等か
らなる筒状部材などが用いられる。
【0069】乾燥剤18としては、水分除去性能を有す
るシリカゲル、無水塩化カルシウム、五酸化二リン等が
用いられる。乾燥剤18は、被覆体17の内部に充填さ
れている。
るシリカゲル、無水塩化カルシウム、五酸化二リン等が
用いられる。乾燥剤18は、被覆体17の内部に充填さ
れている。
【0070】上記のような構成を有することから、この
塗膜交流インピーダンス測定装置102では、第1電極
2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆体17で被覆すること
により、被覆体17の内部の空気の温度をほぼ一定化
し、乾燥剤18により被覆体17の内部の空気の湿度を
ほぼ一定化することができる。特に、被覆体17を金属
膜で形成すれば、被覆体17の表面が金属光沢となるた
め、太陽光線を反射し、温度上昇を抑えることができ
る。
塗膜交流インピーダンス測定装置102では、第1電極
2を含む塗膜Pの近傍箇所を被覆体17で被覆すること
により、被覆体17の内部の空気の温度をほぼ一定化
し、乾燥剤18により被覆体17の内部の空気の湿度を
ほぼ一定化することができる。特に、被覆体17を金属
膜で形成すれば、被覆体17の表面が金属光沢となるた
め、太陽光線を反射し、温度上昇を抑えることができ
る。
【0071】したがって、塗装が施された構造物等が屋
外等に設置されている場合であっても、測定する塗膜P
の温度又は湿度をほぼ一定に保つことができる。このた
め、測定時の条件を、過去に行った測定時の条件とほぼ
同じ条件に再現することができ、正しい塗膜経年変化傾
向を評価することができる。
外等に設置されている場合であっても、測定する塗膜P
の温度又は湿度をほぼ一定に保つことができる。このた
め、測定時の条件を、過去に行った測定時の条件とほぼ
同じ条件に再現することができ、正しい塗膜経年変化傾
向を評価することができる。
【0072】また、塗膜交流インピーダンス測定装置1
02では、電解質液体供給系(第1実施形態における図
3の65を参照。)により、当接部材1への電解質液体
の供給を自在に制御することができ、塗膜交流インピー
ダンス測定前には当接部材1へ電解質液体を供給せず、
当接部材1を乾燥状態としておき、塗膜交流インピーダ
ンス測定の直前に当接部材1へ電解質液体を注入するこ
とができる。この測定方法によって得られた塗膜の交流
インピーダンス測定値の変化(図4における黒丸点の曲
線を参照。)から、塗膜の経年変化に伴う塗膜の吸水し
易さの変化を評価することができる。
02では、電解質液体供給系(第1実施形態における図
3の65を参照。)により、当接部材1への電解質液体
の供給を自在に制御することができ、塗膜交流インピー
ダンス測定前には当接部材1へ電解質液体を供給せず、
当接部材1を乾燥状態としておき、塗膜交流インピーダ
ンス測定の直前に当接部材1へ電解質液体を注入するこ
とができる。この測定方法によって得られた塗膜の交流
インピーダンス測定値の変化(図4における黒丸点の曲
線を参照。)から、塗膜の経年変化に伴う塗膜の吸水し
易さの変化を評価することができる。
【0073】また、塗膜交流インピーダンス測定の直前
にはじめて当接部材1へ電解質液体を供給するようにす
れば、電解質液体(例えば塩化ナトリウム水溶液)中に
存在する塩化物イオン、ナトリウムイオン等が塗膜Pの
内部へ浸透・拡散することを抑制することも可能にな
り、塩化物イオンの塗膜内への拡散を抑制することによ
り、塗膜交流インピーダンス測定後の測定箇所の塗膜性
能変化に与える影響を最小限に抑えることができる。
にはじめて当接部材1へ電解質液体を供給するようにす
れば、電解質液体(例えば塩化ナトリウム水溶液)中に
存在する塩化物イオン、ナトリウムイオン等が塗膜Pの
内部へ浸透・拡散することを抑制することも可能にな
り、塩化物イオンの塗膜内への拡散を抑制することによ
り、塗膜交流インピーダンス測定後の測定箇所の塗膜性
能変化に与える影響を最小限に抑えることができる。
【0074】上記の第2実施形態において、乾燥剤18
は、温度湿度制御手段及び除湿手段に相当している。ま
た、電解質液体供給系65は、電解質液体供給手段に相
当している。
は、温度湿度制御手段及び除湿手段に相当している。ま
た、電解質液体供給系65は、電解質液体供給手段に相
当している。
【0075】なお、本発明は、上記各実施形態に限定さ
れるものではない。上記各実施形態は、例示であり、本
発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的
に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、
いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含され
る。
れるものではない。上記各実施形態は、例示であり、本
発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的
に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、
いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含され
る。
【0076】例えば、上記した第1実施形態において
は、温度湿度制御手段(例えば温度湿度制御部10)が
図2に示す構成を有する場合を例に挙げて説明したが、
本発明はこれには限定されず、他の構成の温度湿度制御
手段、例えば、加熱手段(例えば加熱部21)のみを有
するもの、冷却手段(例えば冷却部22)のみを有する
もの、加湿手段(例えば加湿部23)のみを有するも
の、除湿手段(例えば除湿部24)のみを有するもの、
あるいは、ポンプのみで送風機能のみを有するもの等で
あってもよい。これらの単一の機能のみでも、被覆体の
内部の温度又は湿度の制御に一定の効果がある。
は、温度湿度制御手段(例えば温度湿度制御部10)が
図2に示す構成を有する場合を例に挙げて説明したが、
本発明はこれには限定されず、他の構成の温度湿度制御
手段、例えば、加熱手段(例えば加熱部21)のみを有
するもの、冷却手段(例えば冷却部22)のみを有する
もの、加湿手段(例えば加湿部23)のみを有するも
の、除湿手段(例えば除湿部24)のみを有するもの、
あるいは、ポンプのみで送風機能のみを有するもの等で
あってもよい。これらの単一の機能のみでも、被覆体の
内部の温度又は湿度の制御に一定の効果がある。
【0077】また、上記した第2実施形態において、被
覆体(例えば17)の内部に第1実施形態の場合と同様
な温度湿度検出手段(例えば、温度センサ12、又は湿
度センサ13)を設け、導線15A、16Aとシール部
材42、43と接続コネクタ33、35等によって、被
覆体の外部に出力可能な構成としてもよい。このように
すれば、被覆体の内部の温度又は湿度の状態を把握する
ことができ、塗膜の経年変化の評価をさらに正確に行う
ことができる。
覆体(例えば17)の内部に第1実施形態の場合と同様
な温度湿度検出手段(例えば、温度センサ12、又は湿
度センサ13)を設け、導線15A、16Aとシール部
材42、43と接続コネクタ33、35等によって、被
覆体の外部に出力可能な構成としてもよい。このように
すれば、被覆体の内部の温度又は湿度の状態を把握する
ことができ、塗膜の経年変化の評価をさらに正確に行う
ことができる。
【0078】また、上記した第1実施形態においては、
被覆体7が接着用テープ等の接着部材19により塗膜P
上に固定される例について説明し、第2実施形態におい
ては、被覆体17が接着用テープ等の接着部材20によ
り塗膜P上に固定される例について説明したが、本発明
はこれには限定されず、塗膜が形成された金属が鋼等の
磁性体の場合には、他の構成、例えば、水等の出入を防
止し得るOリング等のシール機能手段を有する磁石を用
いて被覆体を磁力により金属に着脱するように構成して
もよい。
被覆体7が接着用テープ等の接着部材19により塗膜P
上に固定される例について説明し、第2実施形態におい
ては、被覆体17が接着用テープ等の接着部材20によ
り塗膜P上に固定される例について説明したが、本発明
はこれには限定されず、塗膜が形成された金属が鋼等の
磁性体の場合には、他の構成、例えば、水等の出入を防
止し得るOリング等のシール機能手段を有する磁石を用
いて被覆体を磁力により金属に着脱するように構成して
もよい。
【0079】また、上記した各実施形態における温度湿
度制御部10内のコントローラ25(内部の図示しない
CPU)と、データ処理部11内のマイクロコンピュー
タ等(図示せず)と、供給制御部75内のMPU(図示
せず)の機能は、1つのコンピュータや半導体チップ等
に兼用させるように構成してもよい。
度制御部10内のコントローラ25(内部の図示しない
CPU)と、データ処理部11内のマイクロコンピュー
タ等(図示せず)と、供給制御部75内のMPU(図示
せず)の機能は、1つのコンピュータや半導体チップ等
に兼用させるように構成してもよい。
【0080】また、上記した第2実施形態における被覆
体17の内部に、乾燥剤18のかわりに湿潤部材(図示
せず)を充填し、被覆体17の内部の雰囲気の相対湿度
が95%以上となるように構成してもよい。湿潤部材と
しては、スポンジのように多孔性で液体を含浸できる部
材に水を含浸させたもの、あるいは糊やゼリーのような
ゲル状の部材に水を含浸させたものなどが使用可能であ
る。このように構成すれば、多湿状態での塗膜交流イン
ピーダンス値測定が可能となる。このような構成におい
ては、湿潤部材は、温度湿度制御手段及び加湿手段に相
当する。
体17の内部に、乾燥剤18のかわりに湿潤部材(図示
せず)を充填し、被覆体17の内部の雰囲気の相対湿度
が95%以上となるように構成してもよい。湿潤部材と
しては、スポンジのように多孔性で液体を含浸できる部
材に水を含浸させたもの、あるいは糊やゼリーのような
ゲル状の部材に水を含浸させたものなどが使用可能であ
る。このように構成すれば、多湿状態での塗膜交流イン
ピーダンス値測定が可能となる。このような構成におい
ては、湿潤部材は、温度湿度制御手段及び加湿手段に相
当する。
【0081】また、上記各実施形態においては、電解質
液体供給手段(例えば電解質液体供給系65)が供給ポ
ンプ72を有し、電解質液体が供給ポンプ72によって
圧送され当接部材(例えば1)に供給される例について
説明したが、本発明はこれには限定されず、他の構成、
例えば、電解質液体供給手段に供給ポンプを設けず、重
力を利用して自然に電解質液体を当接部材へ向けて流下
させるように構成してもよい。
液体供給手段(例えば電解質液体供給系65)が供給ポ
ンプ72を有し、電解質液体が供給ポンプ72によって
圧送され当接部材(例えば1)に供給される例について
説明したが、本発明はこれには限定されず、他の構成、
例えば、電解質液体供給手段に供給ポンプを設けず、重
力を利用して自然に電解質液体を当接部材へ向けて流下
させるように構成してもよい。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る塗膜
交流インピーダンス測定装置、又は塗膜の交流インピー
ダンス測定方法によれば、第1電極を含む塗膜の近傍箇
所を被覆する被覆体と、被覆体の内部の空気の温度又は
湿度を制御する温度湿度制御手段を備えたので、塗膜の
交流インピーダンス値の測定箇所の気象条件に左右され
ず、塗膜の交流インピーダンス値を迅速に測定すること
が可能となる、等の利点を有している。
交流インピーダンス測定装置、又は塗膜の交流インピー
ダンス測定方法によれば、第1電極を含む塗膜の近傍箇
所を被覆する被覆体と、被覆体の内部の空気の温度又は
湿度を制御する温度湿度制御手段を備えたので、塗膜の
交流インピーダンス値の測定箇所の気象条件に左右され
ず、塗膜の交流インピーダンス値を迅速に測定すること
が可能となる、等の利点を有している。
【図1】本発明の第1実施形態である塗膜交流インピー
ダンス測定装置の構成を示す図である。
ダンス測定装置の構成を示す図である。
【図2】図1に示す塗膜交流インピーダンス測定装置に
おける温度湿度制御部の構成を示す図である。
おける温度湿度制御部の構成を示す図である。
【図3】図1に示す塗膜交流インピーダンス測定装置に
おける電解質液体供給系の構成を示す図である。
おける電解質液体供給系の構成を示す図である。
【図4】塗膜交流インピーダンス測定値に与える塗膜湿
度条件の影響を示す特性グラフ図である。
度条件の影響を示す特性グラフ図である。
【図5】本発明の第2実施形態である塗膜交流インピー
ダンス測定装置の構成を示す図である。
ダンス測定装置の構成を示す図である。
【図6】従来の塗膜交流インピーダンス測定装置を説明
する図である。
する図である。
1 当接部材 2 第1電極 3 第2電極 4 交流インピーダンス測定部 5、5A、5B、6 導線 7 被覆体 7a 排気孔 7b 送気孔 7c〜7f 微小孔 8A、8B 排気管 9A、9B 送気管 10 温度湿度制御部 11 データ処理部 12 温度センサ 13 湿度センサ 14、15A、15B、16A、16B 導線 17 被覆体 18 乾燥剤 19、20 接着部材 21 加熱部 22 冷却部 23 加湿部 24 除湿部 25 コントローラ 26〜29 導線 31〜36 接続コネクタ 41〜44 シール部材 51 排気ポンプ 52 送気ポンプ 61 交流インピーダンス測定系 62 温度湿度制御系 63 データ処理系 64 温度湿度測定系 65 電解質液体供給系 71 電解質液体貯留槽 72 供給ポンプ 73 供給調節弁 74 供給管 75 供給制御部 76 導線 77、78 接続コネクタ 101、102 塗膜交流インピーダンス測定装置 200 塗膜交流インピーダンス測定装置 A、A´ 空気 M 金属 P 塗膜 S 交流電源 T 交流インピーダンス測定器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01R 27/02 G01R 27/02 A Fターム(参考) 2G028 AA02 BC02 CG07 CG08 CG10 DH05 DH21 HN09 LR07 2G050 AA01 AA04 BA01 BA05 BA06 BA10 CA02 DA01 EA01 EA02 EA05 EB06 EC01 EC03 2G060 AA11 AD05 AE29 AF03 AF06 AG03 EA02 EA08 EB05 EB06 GA01 HA02 HC02 HC04 HC08 HC13 HC19 HC21 HE03 KA11
Claims (10)
- 【請求項1】 電解質液体を保持するとともに塗膜の表
面の第1箇所に当接される当接部材と、前記当接部材の
前記塗膜とは逆側に電気的に接続される第1電極と、前
記第1箇所とは異なる第2箇所の前記塗膜の下部の金属
表面に当接される第2電極と、交流電源と交流インピー
ダンス測定器を有し前記第1電極と前記第2電極に電気
的に接続される交流インピーダンス測定部を備え、前記
塗膜の交流インピーダンスを測定する塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記第1電極を含む塗膜の近傍箇所を被覆する被覆体
と、 前記被覆体の内部の空気の温度又は湿度を制御する温度
湿度制御手段を備えることを特徴とする塗膜交流インピ
ーダンス測定装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記温度湿度制御手段は、前記被覆体の内部の空気を加
熱する加熱手段を有することを特徴とする塗膜交流イン
ピーダンス測定装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記温度湿度制御手段は、前記被覆体の内部の空気を冷
却する冷却手段を有することを特徴とする塗膜交流イン
ピーダンス測定装置。 - 【請求項4】 請求項1に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記温度湿度制御手段は、前記被覆体の内部の空気に水
分を加える加湿手段を有することを特徴とする塗膜交流
インピーダンス測定装置。 - 【請求項5】 請求項1に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記温度湿度制御手段は、前記被覆体の内部の空気から
水分を除去する除湿手段を有することを特徴とする塗膜
交流インピーダンス測定装置。 - 【請求項6】 請求項5に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記除湿手段は、前記被覆体の内部に配設される乾燥剤
であることを特徴とする塗膜交流インピーダンス測定装
置。 - 【請求項7】 請求項1に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記被覆体の内部の空気の温度又は湿度を検出する温度
湿度検出手段を備えることを特徴とする塗膜交流インピ
ーダンス測定装置。 - 【請求項8】 請求項1に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記第1電極に接続された導線は、前記被覆体の外部の
前記交流インピーダンス測定部に電気的に接続可能な接
続コネクタを有することを特徴とする塗膜交流インピー
ダンス測定装置。 - 【請求項9】 請求項1に記載された塗膜交流インピー
ダンス測定装置において、 前記当接部材に前記電解質液体を供給する電解質液体供
給手段を備えることを特徴とする塗膜交流インピーダン
ス測定装置。 - 【請求項10】 電解質液体を保持するとともに塗膜の
表面の第1箇所に当接される当接部材と、前記当接部材
の前記塗膜とは逆側に電気的に接続される第1電極と、
前記第1箇所とは異なる第2箇所の前記塗膜の下部の金
属表面に当接される第2電極と、交流電源と交流インピ
ーダンス測定器を有し前記第1電極と前記第2電極に電
気的に接続される交流インピーダンス測定部を備えた塗
膜交流インピーダンス測定装置を用い、前記塗膜の交流
インピーダンスを測定する塗膜の交流インピーダンス測
定方法において、 前記第1電極を含む塗膜の近傍箇所を被覆体によって被
覆し、前記被覆体の内部の空気の温度又は湿度を制御す
ることを特徴とする塗膜の交流インピーダンス測定方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36872099A JP2001183328A (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | 塗膜交流インピーダンス測定装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36872099A JP2001183328A (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | 塗膜交流インピーダンス測定装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001183328A true JP2001183328A (ja) | 2001-07-06 |
Family
ID=18492571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36872099A Pending JP2001183328A (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | 塗膜交流インピーダンス測定装置、及び塗膜の交流インピーダンス測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001183328A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007225508A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Dainippon Toryo Co Ltd | 塗膜下金属腐食診断装置の測定セル |
JP2014020815A (ja) * | 2012-07-13 | 2014-02-03 | Hioki Ee Corp | 基板検査装置および基板検査方法 |
JP2016151466A (ja) * | 2015-02-17 | 2016-08-22 | 富士電機株式会社 | 絶縁特性測定装置、及びそれを用いた絶縁特性の測定方法、並びに、余寿命診断方法 |
JP2022063073A (ja) * | 2020-10-09 | 2022-04-21 | 株式会社豊田中央研究所 | 塗膜評価システム |
WO2023110665A1 (en) * | 2021-12-15 | 2023-06-22 | Isenspro Nv | Device and method for measuring a conduit in a submerged or subterraneous environment |
CN118348436A (zh) * | 2024-06-18 | 2024-07-16 | 青岛艾诺仪器有限公司 | 交流阻抗测量的激励源装置及控制方法 |
-
1999
- 1999-12-27 JP JP36872099A patent/JP2001183328A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2022063073A (ja) * | 2020-10-09 | 2022-04-21 | 株式会社豊田中央研究所 | 塗膜評価システム |
JP7307713B2 (ja) | 2020-10-09 | 2023-07-12 | 株式会社豊田中央研究所 | 塗膜評価システム |
WO2023110665A1 (en) * | 2021-12-15 | 2023-06-22 | Isenspro Nv | Device and method for measuring a conduit in a submerged or subterraneous environment |
NL2030136B1 (en) * | 2021-12-15 | 2023-06-27 | Isenspro Nv | Device and method for measuring a conduit in a submerged or subterraneous environment |
CN118348436A (zh) * | 2024-06-18 | 2024-07-16 | 青岛艾诺仪器有限公司 | 交流阻抗测量的激励源装置及控制方法 |
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