JP2008047565A - ダイオード - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1導電型(N−)半導体基板1の第1面1S側における表層部に、第2導電型(P)不純物領域2が形成され、基板面内の第2導電型不純物領域2が形成された領域内に、深さの揃った複数の絶縁埋め込みトレンチTが、基板断面において先端が第2導電型不純物領域2から突出するようにして形成され、第1面1S側の電極4が、第2導電型不純物領域2に接続されてなるダイオード100とする。
【選択図】図1
Description
1 N導電型(N−)半導体基板
2 P導電型(P)不純物領域
2a,2c,2e,2g 高濃度(P+)不純物領域
2b,2d,2f,2h 低濃度(P−)不純物領域
3 N導電型高濃度(N+)層
4 (アノード)電極
T,Ta〜Tc 絶縁埋め込みトレンチ
Claims (13)
- 第1導電型半導体基板の第1面側と第2面側とで対となる電極を有した、縦型のダイオードであって、
前記半導体基板の第1面側における表層部に、第2導電型不純物領域が形成され、
基板面内の前記第2導電型不純物領域が形成された領域内に、深さの揃った複数の絶縁埋め込みトレンチが、基板断面において先端が前記第2導電型不純物領域から突出するようにして形成され、
前記第1面側の電極が、前記第2導電型不純物領域に接続されてなることを特徴とするダイオード。 - 前記絶縁埋め込みトレンチの基板面内形状が、円形状であることを特徴とする請求項1に記載のダイオード。
- 前記絶縁埋め込みトレンチの基板面内形状が、直線形状であることを特徴とする請求項1に記載のダイオード。
- 前記絶縁埋め込みトレンチの基板面内形状が、リング形状であることを特徴とする請求項1に記載のダイオード。
- 前記複数の絶縁埋め込みトレンチが、等間隔に配置されてなることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか一項に記載のダイオード。
- 前記絶縁埋め込みトレンチによる基板面内パターンが、格子状パターンまたはハニカム状パターンであることを特徴とする請求項1に記載のダイオード。
- 前記第2導電型不純物領域が、低濃度不純物領域と高濃度不純物領域からなることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のダイオード。
- 前記低濃度不純物領域が、前記高濃度不純物領域より浅く形成されてなることを特徴とする請求項7に記載のダイオード。
- 前記第1導電型が、N導電型であり、前記第2導電型が、P導電型であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載のダイオード。
- 前記ダイオードが、インバータ回路のフリーホイールダイオードとして用いられることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載のダイオード。
- 前記ダイオードが、前記半導体基板に形成されるIGBTと共に、ダイオード内蔵IGBTとして構成されることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載のダイオード。
- 前記ダイオードが、前記半導体基板に形成されるMOSFETと共に、ダイオード内蔵MOSFETとして構成されることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載のダイオード。
- 前記ダイオードが、車載用の半導体装置に用いられることを特徴とする請求項1乃至12のいずれか一項に記載のダイオード。
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