JP2008020372A - プリント配線基板検査用治具 - Google Patents

プリント配線基板検査用治具 Download PDF

Info

Publication number
JP2008020372A
JP2008020372A JP2006193424A JP2006193424A JP2008020372A JP 2008020372 A JP2008020372 A JP 2008020372A JP 2006193424 A JP2006193424 A JP 2006193424A JP 2006193424 A JP2006193424 A JP 2006193424A JP 2008020372 A JP2008020372 A JP 2008020372A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
outer plate
probe pin
holding
holding hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006193424A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiaki Shigeta
芳昭 重田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOKUSO RIKEN KK
Original Assignee
TOKUSO RIKEN KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOKUSO RIKEN KK filed Critical TOKUSO RIKEN KK
Priority to JP2006193424A priority Critical patent/JP2008020372A/ja
Publication of JP2008020372A publication Critical patent/JP2008020372A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

【課題】被検査基板の配線パターンのファインピッチ化に容易に対応でき且つ低コストで製造可能な検査用治具を実現する。
【解決手段】プローブピン31を保持するために保持板10に従来設けられていたスリーブを省略し、その機能を保持板10の保持孔20に持たせた。スリーブを省略したことにより、プローブユニット30の構造を簡素化してプローブピン31を細密に配置することが可能になるとともに、部品点数を削減することができる。また、予めリード線32をプローブユニット30に接合させておくことで、細密化された配線作業を容易に行えるようにした。また、リード線32に半田ボール34を接合させておくことにより、コイルスプリング33との電気的導通性に優れた球面状の接触面を形成するとともに、リード線32の抜けを確実に防止できるようにした。
【選択図】図1

Description

この発明は、プリント配線基板上に形成された回路の導通を検査するために用いられる検査用治具に関するものである。
図3は従来のプリント配線基板検査用治具(以下、単に検査用治具と記す。)の構造を示す断面図である。図4は図3の検査用治具の要部を拡大して示した断面図である。この従来の検査用治具40は、絶縁性の保持板41に複数個のプローブユニット42を保持させてなる。各プローブユニット42は被検査基板43上の各電極44の位置と対応する位置に配置されている。各プローブユニット42は保持板41に埋め込まれた状態で固定された金属製のスリーブ45と、スリーブ45の先端部に挿入されたプローブピン(プランジャ)46とを備えている。プローブピン46は、その先端部46aをスリーブ45から突出させた状態でスリーブ45の軸方向に移動可能に保持されている。スリーブ45内にはプローブピン46を弾力的に保持すべくスプリング47が設けられている。スプリング47は、その一端がプローブピン46に固定され、他端がスリーブ45に固定されている。各スリーブ45の基端部には、図示しない測定器に接続されたリード線48が半田付けによって各々接合されている。
プリント配線基板の配線パターンのファインピッチ化に対応するためには、プローブユニット42の構造を簡素化し、プローブピン46を細密に配置する必要がある。しかし、従来の検査用治具40のプローブユニット42はスリーブ45を備えているため、プローブピン46の相互の間隔Pを小さくすることが困難である。また、各スリーブ45にリード線48を半田付けする必要があるため、その配線作業が繁雑である。
本発明が解決しようとする課題は、スリーブを省略してプローブユニットの構造を簡素化することにより、プリント配線基板の配線パターンのファインピッチ化への対応を容易にするとともに、部品点数を削減し且つ配線作業を容易化して低コストで製造可能な検査用治具を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明の検査用治具は、被検査基板上の電極にプローブを当接させて当該被検査基板に形成されている回路の導通を検査するための検査用治具であって、第1の外板と第2の外板との間に内板を挟んで一体化してなる絶縁性の保持板と、前記電極の位置に対応させて且つ板の積層方向に貫通させて前記保持板に形成された複数の保持孔と、前記保持孔内に収容された状態で保持されたプローブユニットとを備え、前記プローブユニットは、前記第1の外板の表面からそのプローブ部の先端を突出させた状態で前記保持孔の軸方向に移動可能に保持されているプローブピンと、一端が前記第2の外板内に配置されるとともに当該一端に導体球が固定され且つ他端が前記第2の外板の外側に延びるリード線と、前記プローブピンを前記第1の外板の表面から突出させる方向に付勢するべく前記プローブピンと前記導体球との間に設けられたスプリングと、を備え、前記プローブピンは、前記保持孔の内面と摺接する胴部と当該胴部の先端面中央部から突出した前記プローブ部とを有し、前記第1の外板の前記保持孔の部分には、前記プローブピンの抜けを防止すべく前記プローブピンの前記胴部の先端面周縁部と係合する段部が形成され、前記第2の外板の前記保持孔の部分には、前記導体球の抜けを防止すべく前記導体球と係合する段部が形成されているものである。
本発明の検査用治具において、前記導体球は、前記リード線に半田付けにより接合された半田ボールであることが望ましい。
上記のように構成された本発明の検査用治具は、従来プローブピンを保持するために保持板に設けられていたスリーブを省略し、そのスリーブの機能を保持板に形成した保持孔に持たせたものである。スリーブを省略したことにより、プローブユニットの構造を簡素化してプローブピンを細密に配置することが可能になるとともに、部品点数を削減することができる。また、予めリード線がプローブユニットに接合されているので、細密化された配線作業が容易になる。
本発明によれば、プリント配線基板の配線パターンのファインピッチ化に容易に対応できるとともに、部品点数を削減し且つ配線作業を容易化して低コストで製造可能な検査用治具を実現できる。
次に、本発明の実施形態について説明する。
図1は本発明に係る検査用治具の構造を例示する部分断面図である。この検査用治具1は、第1の外板11と第2の外板12との間に内板13を挟んで一体化してなる絶縁性の保持板10を備えている。保持板10には、外板11、12及び内板13の積層方向に貫通した複数の保持孔20が形成されている。保持孔20は、図示しない被検査回路基板の電極の位置に対応させて設けられている。各保持孔20にはプローブユニット30が保持されている。プローブユニット30は、プローブピン31とコイルスプリング33とを備えている。プローブピン31は、保持孔20の内面と摺接する胴部31aとその胴部31aの先端面中央部から突出したプローブ部31bとを有し、第1の外板11の表面11aからプローブ部31bの先端(上端)を突出させた状態で軸方向(上下方向)に移動可能に保持孔20内に保持されている。リード線32の一端32aは第2の外板12内に配置され、他端32bは第2の外板12の外側に延びている。リード線32の一端32aには、半田付けにより半田ボール(導体球)34が固定されている。コイルスプリング33は、プローブピン31を第1の外板11の表面11aから突出させる方向に付勢すべくプローブピン31と半田ボール34との間に設けられている。リード線32の一端32aに半田ボール34を接合したことにより、コイルスプリング33との電気的導通性に優れた球面状の接触面が形成される。第1の外板11の保持孔20の部分には、プローブピン31の抜けを防止するために、プローブピン31の胴部31aの先端面周縁部31cと係合する段部20aが形成されている。第2の外板12の保持孔20の部分には、半田ボール34の抜けを防止すべく、半田ボール34と係合する段部20bが形成されている。
図2(a)〜(d)は図1の検査用治具1の一連の組み立て工程を示す部分断面図である。検査用治具1を組み立てる際、まずリード線32を第2の外板12に取り付ける(図2(a))。リード線32の一端32aには、予め半田ボール34を半田付けしておく。つぎに第2の外板12の上に内板13を重ねて(図2(b))、半田ボール34の上にコイルスプリング33とプローブピン31を取り付ける(図2(c))。最後に内板13の上に第1の外板11を取り付けて検査用治具1が完成する(図2(d))。
上記のように構成された検査用治具1は、従来プローブピン31を保持するために保持板10に設けられていたスリーブを省略し、そのスリーブの機能を保持板10に形成した保持孔20に持たせたものである。スリーブを省略したことにより、プローブユニット30の構造を簡素化してプローブピン31を細密に配置することが可能になるとともに、部品点数を削減することができる。また、予めリード線32がプローブユニット30に接合されているので、細密化された配線作業が容易になる。また、第1の外板11を取り外すことにより、プローブピン31あるいはコイルスプリング33を容易に交換することができるので、検査装置のメインテナンス作業を能率良く行うことができる。
なお、上記の例ではスプリングとしてコイルスプリング33を使用しているがその他のスプリングを使用してもよい。また、上記の例では導体球として半田ボール34を使用しているが、その他の導体球を使用してもよい。
本発明に係る検査用治具の構造を例示する部分断面図 (a)〜(d)は図1の検査用治具1の一連の組み立て工程を示す部分断面図 従来の検査用治具の構造を示す断面図 図3の検査用治具の要部を拡大して示した断面図
符号の説明
1 検査用治具
10 保持板
11 第1の外板
11a 表面
12 第2の外板
13 内板
20 保持孔
20a 段部
20b 段部
30 プローブユニット
31 プローブピン
31a 胴部
31b プローブ部
31c 先端面周縁部
32 リード線
32a 一端
32b 他端
33 コイルスプリング
34 半田ボール(導体球)

Claims (2)

  1. 被検査基板上の電極にプローブを当接させて当該被検査基板に形成されている回路の導通を検査するための検査用治具であって、
    第1の外板と第2の外板との間に内板を挟んで一体化してなる絶縁性の保持板と、
    前記電極の位置に対応させて且つ板の積層方向に貫通させて前記保持板に形成された複数の保持孔と、
    前記保持孔内に収容された状態で保持されたプローブユニットとを備え、
    前記プローブユニットは、
    前記第1の外板の表面からそのプローブ部の先端を突出させた状態で前記保持孔の軸方向に移動可能に保持されているプローブピンと、
    一端が前記第2の外板内に配置されるとともに当該一端に導体球が固定され且つ他端が前記第2の外板の外側に延びるリード線と、
    前記プローブピンを前記第1の外板の表面から突出させる方向に付勢するべく前記プローブピンと前記導体球との間に設けられたスプリングと、
    を備え、
    前記プローブピンは、前記保持孔の内面と摺接する胴部と当該胴部の先端面中央部から突出した前記プローブ部とを有し、
    前記第1の外板の前記保持孔の部分には、前記プローブピンの抜けを防止すべく前記プローブピンの前記胴部の先端面周縁部と係合する段部が形成され、
    前記第2の外板の前記保持孔の部分には、前記導体球の抜けを防止すべく前記導体球と係合する段部が形成されていることを特徴とするプリント配線基板検査用治具。
  2. 前記導体球は、前記リード線に半田付けにより接合された半田ボールである請求項1記載のプリント配線基板検査用治具。
JP2006193424A 2006-07-13 2006-07-13 プリント配線基板検査用治具 Pending JP2008020372A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006193424A JP2008020372A (ja) 2006-07-13 2006-07-13 プリント配線基板検査用治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006193424A JP2008020372A (ja) 2006-07-13 2006-07-13 プリント配線基板検査用治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008020372A true JP2008020372A (ja) 2008-01-31

Family

ID=39076414

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006193424A Pending JP2008020372A (ja) 2006-07-13 2006-07-13 プリント配線基板検査用治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008020372A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100985498B1 (ko) * 2008-05-30 2010-10-13 리노공업주식회사 반도체 칩 패키지 검사용 소켓
TWI454717B (zh) * 2008-09-05 2014-10-01 Yokowo Seisakusho Kk 電子零件的檢查單元

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100985498B1 (ko) * 2008-05-30 2010-10-13 리노공업주식회사 반도체 칩 패키지 검사용 소켓
TWI454717B (zh) * 2008-09-05 2014-10-01 Yokowo Seisakusho Kk 電子零件的檢查單元

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2011162362A1 (ja) コンタクトプローブおよびプローブユニット
JP2019015542A (ja) 接触端子、検査治具、及び検査装置
JP5982372B2 (ja) 接触構造体ユニット
WO2017212814A1 (ja) 検査治具、及び検査装置
JP2007194187A (ja) コンタクトピン、及び電気部品用ソケット
JPWO2013018809A1 (ja) プローブユニット
JP2006324228A (ja) Icソケット
JP4861860B2 (ja) プリント基板検査用治具及びプリント基板検査装置
JP4917007B2 (ja) 検査用ソケット
JP2008020372A (ja) プリント配線基板検査用治具
JP4625480B2 (ja) 検査治具
JP4667253B2 (ja) 四探針測定用同軸プローブ及びこれを備えたプローブ治具
JP2000065892A (ja) 導通検査用治具
JP3154264U (ja) プローブピン及び基板検査用プローブユニット
JP2007033101A (ja) Ic試験装置
JP2009014480A (ja) 検査冶具
JP2019053002A (ja) 接触端子、検査治具、及び検査装置
JP2013224891A (ja) 検査装置
JP2007064841A (ja) 電子部品試験装置用のキャリブレーションボード
JP2005292060A (ja) プリント配線基板の検査治具
WO2002103373A1 (fr) Contacteur conducteur et ensemble de sondes electriques
JP2004198412A (ja) プリント配線基板の検査治具
JP2005241426A (ja) 電子部品検査装置
JP2010156594A (ja) プローブ及びプローブカード
JP2010216991A (ja) プローブカード