JP2007511083A - パワーモジュール - Google Patents

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Abstract

電気的に並列に接続され、端子接点(5、5´)を有する、複数の回路ユニット(20、21)を含んだパワーモジュールを開示する。端子接点は、少なくとも1つの導電板(26)を介して電気的、機械的に互いに接続されている。簡単に製造でき、導電板(26)の所要面積が小さいパワーモジュールを形成するために、導電板(26)は、その結合素子(25)の影響を受けずに、回路ユニット(20)の端子接点(5)にしっかりと接続される接続素子(12)を含んでいると共に、複数部分から形成されている。導電板(26)の結合素子(25)は、接続素子(12)に電気的に接続されていると共に、回路ユニット(20)から間隔のあいた面に延びている。

Description

発明の詳細な説明
本発明は、パワーエレクトロニクス、特にパワー半導体エレクトロニクスの分野に関するものであり、少なくとも1つの導電板(current-carrying strap)を介して互いに電気的に接続されている端子接点を有する複数の回路ユニットを備えたパワーモジュールに関するものである。
このようなパワーモジュールは、通電容量を増やすために、並列接続された複数の回路ユニットを備えていることが多い。これらの回路ユニットは、例えば、配線(conductor tracks)と端子接点(いわゆる接触パッド)とを介して電気的に接続されたパワー素子(power components)を配置した基板上に、実装される。回路ユニットを並列に接続するために、これらの回路ユニットは、導電板を介して互いに接続されている。
DE 197 21 061 A1には、複数の電子素子を収容するための筺体と、電気的な内部接続用および/または外部接続用の複数の端子接点とを有するパワーモジュールが開示されている。このパワーモジュールは、複数のセラミック基板を含んでいる。これらのセラミック基板には、回路ユニットを形成するために、半導体素子がそれぞれ配置・接続されている。これらの回路ユニットは、当該回路ユニットをも互いに接続している接続ブロックを介して、外部に接続されている。この接続ブロックは、比較的高価であり、かつ複雑である。回路ユニットの接続に関する詳細な説明については、DE 197 21 061 A1から読み取ることはできない。
本発明の目的は、導電板の所要面積が少なく、パワーモジュールの残りの素子に損傷を与えずに、通常の接続技術を用いて回路ユニットに簡単に接続できる、パワーモジュールおよびその製造方法を提示することにある。
本発明では、この目的を、請求項1の特徴部分を有するパワーモジュールと、請求項4の特徴部分を有する方法とによって達成する。本発明の有効な形態および他の形態については、従属請求項に示す。
本発明の基本理念は、導電板を複数部分からなるように形成することである。ここで、第1部分は、残りの部分とは別個に独立して、回路ユニット、または該ユニットに備えられた配線もしくはパッド(一般的には端子接点と呼ばれている)と永続的に電気的に接続される。
上記第1部分は、下端領域と頚部領域とを備えている。下端領域は、端子接点に接続されている。頚部領域は、回路ユニットに対してほぼ垂直に延びていることが好ましく、当該頚部領域の端部において、上記第1部分を導電板の第2部分に簡単に実装でき、または当該第2部分と電気的に接続できる。これに関して、本発明の好ましい実施形態では、第1部分はL字型に形成されており、その下端領域は回路ユニットの端子接点に接続されている。
第2部分は、低誘導性(low-inductance)の配線または条導体(strip conductor)として形成されていることが好ましく、回路ユニットの面に対してほぼ平行に延びていることが好ましい。上記第2部分は、当該第2部分に複数の回路ユニットの第1部分が接続されることにより、2つまたは複数の回路ユニットを並列に接続することが好ましい。さらに、第2部分は、外部端子にも接続されている。
これにより、導電板の第1部分が、パワーモジュールの残りの素子を介さずに、設けられた端子接点と予め接続され得る。これが、本発明の主な利点である。この製造工程は、前実装工程として行われ得る。つまりは、あらゆる所で端子接点またはそれに相当する第1部分の(下端)領域に容易にアクセスできる時点で、この製造工程を行うことができる。これにより、コストのあまりかからない、実証済みであり、信頼性のある接続技術(例えば、ボンディング、はんだ付け、または、レーザ溶接)を用いることができる。
本発明の他の利点は、これ以上実装する前に、第1部分と端子接点との電気的接続を試験できる点である。
導電板の第2部分を、回路ユニットの面に対してほぼ平行に配置することにより、面積を非常に縮小した、小型のパワーモジュールの形態が得られる。
本発明の方法の製造技術的に好ましい形態では、初めに、複数の回路ユニットを、当該回路ユニットの導電板の第1部分とそれぞれ接続し、当該回路ユニットを共通キャリア上に配置し、次いで、各第1部分を共通の第2部分に接続することにより、導電板を形成する。
回路ユニットは、例えば、はんだ付けによって、共通の底板に接続され得る。これらの回路ユニットは、実装型(mounting template)を介して配置されることが好ましい。この実装型は、導電板の第2部分の面の実装中に配置されているとともに、開口部を有している。当該開口部は、例えば第1部分の自由端部を貫通するために備えられている。
以下では、本発明を、図示した実施形態を参照しながら詳述する。
図1は、第1実装順序における回路ユニットの前実装を示す図である。
図2は、異なる実装順序における回路ユニットの前実装を示す図である。
図3は、本発明のパワーモジュールを形成するための、複数の回路ユニットの実装を示す図である。
図4は、本発明のパワーモジュールにおいて、並列接続するために備えられた、同一に形成された2つのハーフブリッジを示す回路図である。
図5は、同一に形成され、電気的に互いに並列接続された3つのハーフブリッジを備える、ハーフブリッジモジュールの回路図である。
図6は、筺体を除去した場合の、導電板によって電気的に並列接続された複数の回路ユニットを備えた、ハーフブリッジモジュールとして形成されたパワーモジュールの透視図を示す。
図7は、図6のハーフブリッジモジュールの断面を示す側面図である。
図1の実装工程a)、b)、c)に示した回路ユニットの前実装では、基板3の配線2上に、好ましくははんだ付けによってパワー素子1(例えば、パワー半導体)の形成を開始する(実装工程a)。基板上には、他の配線または端子接点4、5、6が備えられる。次の実装工程b)では、ボンディングワイヤ7、8によって、パワー半導体1を接続する。
次いで、端子接点4、5と、第1部分12、14のそれぞれの下端部10、11とを、はんだ付け、レーザ溶接、または、超音波溶接によって電気的に接続する(実装工程c)。これらの第1部分12、14はL字型に形成されており、当該第1部分のL(頚部領域)16、17の自由端部領域は、回路ユニットの面18に対してほぼ垂直に上に向かって突き出している。実装をさらに行う前に、第1部分12、14と共に導電板を構成している他の部分25、27(図3)とは独立して、第1部分12、14が接続される。この段階では、第1部分12、14と端子接点4、5との接続を、予め試験できる。これにより、製造品質および信頼性を著しく上昇させ得る。
図2では、実装工程a´)、b´)、およびc´)に、本発明のパワーモジュールの製造における前実装工程の他の実施形態を示す。ここで、同じ構成には、図1と同じ参照符号を付している。当該実施形態では、まず、例えばレーザ溶接によって、第1部分12、14を基板3上の端子接点4、5と接続する。その直後に、基板3上にパワー半導体1を配置し、当該パワー半導体1を、はんだ付けによって、ボンディングワイヤ7、8を介して接続する。この利点は、第1部分12、14をレーザ溶接することにより、パワー半導体1に損傷を与えることが無く、しかもレーザ溶接のための移動範囲が制限されないという点にある。
図3は、図1または図2において前実装された2つの回路ユニット20、21を示している。これらの回路ユニットは、共通の底板24上に配置されている。第1部分12、12´のそれぞれの自由端部領域16、16´は、導電板26を形成するために、第2部分25に接続されている。なお、当該接続は、例えば、圧入、圧縮、圧搾、ボンディング、圧着、リベット固定、はんだ付け(特に誘導式硬ろう付け(inductive hard soldering))、溶接(特に冷間圧接)、超音波溶接、レーザ溶接、誘導式溶接(inductive welding)、または、抵抗溶接によって行われる。同様に、第1部分14、14´のそれぞれの自由端部領域17,17´は、導電板28を形成するために、第2部分27に接続されている。
これらの部分12、12´と、14、14´と、25、27とは、回路ユニット20、21の端子接点(例えば5、5´)を並列に接続する導電板26、28を形成するために、補完しあっている。第2部分25、27は、互いに平行に間隔をあけて配置されているか、または、面平行に配置されている。このようにして形成されたパワーモジュールは、公知の方法によって、筺体中に埋設されているか、場合によってはポッティングされている。
回路ユニット20、21を共通の底板24上に実装するとき、正確に位置決めするために、初めに、実装型を用いる。当該実装型は、開口部を有している。この開口部には、後に、第1部分の端部領域16、16´、17、17´が配置され、これらの端部領域が第2部分を完全に貫通する。これにより、回路ユニットは、型にしたがって配列される。
したがって、本発明のパワーモジュールは、非常に簡単に実装される。第1部分12、14とそれらの端子接点との接続を早い段階で試みることにより、よりよい品質を保証することができる。また、導電板を形成することにより、非常に小さく、面積を縮小したパワーモジュールを設計できる。
本発明の好ましい実施形態では、本発明のパワーモジュールは、ハーフブリッジモジュールとして形成されている。このようなハーフブリッジモジュールは、基板上に配置された複数のハーフブリッジを含んでいることが好ましい。各ハーフブリッジは、1つの回路ユニットを形成している。
このような2つの回路ユニット31、32を備えた回路図を、図4に示す。これらの回路ユニット31、32は、それぞれ、2つのパワー半導体1、1´を含んでいる。当該パワー半導体1、1´の負荷経路(load path)は、直列に接続されている。これらのパワー半導体1、1´は、例えば、トランジスタ、サイリスタ、トライアック、FET、MOSFET、またはIGBTとして形成され得る。さらに、パワー半導体1、1´の各負荷経路に対して反平行に、フリーホイルダイオード9、9´が接続されている。
回路ユニット31、32は、それぞれ、基板上に実装されている。回路ユニット31、32のパワー半導体1、1´とフリーホイルダイオード9、9´とは、互いに接続されているとともに、各基板面では配線によって端子接点に接続されている。これらの配線は、それぞれ、インダクタンスを備えている。図4に、配線のインダクタンスに相当する等価インダクタンスL1〜L5を示す。
本発明のパワーモジュールのスイッチング容量を増やすために、2つ以上の回路ユニット31、32を並列接続してもよい。このために、回路ユニット31、32の各端子接点4、5、6同士を、互いに電気的に導通接続する。このために、端子接点6、4が負または正の電源電圧用であり、かつ端子接点5が位相出力部用である場合、図3の導電板26、28に相当する、複数部分からなるそれぞれ一つの導電板を用いることが好ましい。
これに加えて、回路ユニット31、32は、それぞれ、負の電源電圧用、位相出力部用、および正の電源電圧用の端子接点に接続される第1部分121、131、141を備えている。第1部分121、131、141は、図1〜図3の第1部分12、12´、14、14´にしたがって形成されることが好ましい。
第1部分121、131、141は、それぞれ、図4に等価インダクタンスL6、L8、L7と示したインダクタンスを備えている。第1部分121、131、141のインダクタンスL6、L8、L7は、5nH〜100nHであることが好ましく、特に約20nHであることが好ましい。これに対して、インダクタンスL1〜L5は、それぞれ5nH未満と著しく低いことが好ましい。
図5は、複数の回路ユニット31、32、33を示している。これらの回路ユニットの構造は、図4の回路ユニット31、32に基づいたものであり、同一に形成されていることが好ましい。回路ユニット31、32、33の各第1部分は、第2部分29、27、25を介して電気的に導通するように接続されている。これらの回路ユニット31、32、33の各第1部分は、当該第1部分に接続されている第2部分29、27、25とともに、それぞれ1つの導電板を構成している。
この場合、互いに隣接している回路ユニット31、32,33の第1部分に接続されている第2部分29、27、25は、部分290、270、250を備えている。これらの部分290、270、250は、図5に等価インダクタンスL9、L10、L11と示したインダクタンスを備えている。上記等価インダクタンスL9、L10、L11の値は、10nHよりも小さいことが好ましく、特に5nHよりも小さいことが好ましい。
図6aは、6つの回路ユニット20を備えた、パワーモジュール40の透視図を示している。これらの回路ユニット20は、ハーフブリッジをそれぞれ1つずつ備え、基板と、パワー素子と、配線2とを含んでいる。回路ユニット20は、底板24上に配置されており、本発明の導電板25、27、29によって電気的に並列接続されている。回路ユニット20は、同一に形成されており、rの方向に連なって接続されており、互いに等間隔をあけて配置されていることが好ましい。また、基板3を、ドイツ特許出願DE 10 2004 042 367の形態にしたがって配置することが有効である。
本発明の好ましい実施形態では、回路ユニット20は、それぞれ、図4および図5のハーフブリッジ31、32、33に相当するハーフブリッジを含んでいる。
回路ユニット20は、それぞれ、負の電源電圧を供給するための第1部分121と、正の電源電圧を供給するための第1部分141と、位相出力部用の第1部分131とを備えている。第2部分25、27、29によって互いに接続されている第1部分131、141、121は、r方向に接続されて、一列に並んで配置されていることが好ましい。本発明の特に好ましい実施形態では、負および正の電源電圧を供給するために、第1部分121、141は、r方向に接続されて一列になっており、極性が交互になって連なって配置されている。
第2部分25、27、29は、ほぼ平坦に形成されており、回路ユニット25の面と底板24とに対して平行に配置されていることが好ましい。
また、第2部分25、27、29は、接続突出部251、271、291を備えていてもよい。これらの接続突出部251、271、291は、それぞれ、第2部分25、27、29と一体成形されていることが好ましい。したがって、これらの接続突出部251、271、291を、穴抜き機を用いて、平坦な金属薄板から簡単に穿孔され、所望の形状に曲げられ得る。接続突出部251、271、291は、上記第2部分25、29、27に対して、底板24とは反対側に配置されていることが好ましい。好ましい実施形態では、同じ電位のそれぞれ2つの接続突出部251、271、291は、接続方向rに対して横方向に対になって互いに向かい合って配置されている。この場合、異なる極性+/−を有する接続突出部271、291が、接続方向rに沿って、交互に並んで配置されていることが、有効である。
第1部分は、下端部122、142、および、下端部132(参照:図6b)を有している。これらの下端部122、142、132は、その端子接点6、4、および、5(参照:図6b)に接続されている。これらの下端部を、DE 10 2004 027 185の形態にしたがって互いに配置できることが有効である。
通電容量を増やすために、位相出力部を接続するための接続突出部251は、正または負の電源電圧用の接続突出部271、291よりも多くの通電容量のために設計されていることが好ましい。このことは、特に、接続方向rに沿った位相出力部用の接続突出部251の寸法を、正または負の電源電圧の接続用の接続突出部271、291の寸法よりも大きく選択することによって達成され得る。
本発明の他の好ましい実施形態では、ハーフブリッジモジュールは、接続方向rに沿って、部分45を備えている。この部分45では、第2部分25、27、29のいずれにも、接続突出部251、271、291は備えられていない。これにより、第2部分25、27、29の上には、電気的な主要接続(electrical main connections)が無く、例えば、駆動回路またはセンサを収容するために用いられ得る領域が形成される。
図6bは、図6aを180度回転させたパワーモジュール40の図を示している。この図では、位相出力部を接続するための端子接点5に接続された第1部分131を見ることができる。この第1部分131は、第1部分121、141の反対側に、接続方向rに対して横方向に配置されている。
図7では、パワーモジュール40の断面の側面図を示している。このパワーモジュール40は、図6aおよび図6bのパワーモジュール40に相当し、さらに筺体を備えている。この断面は、接続方向rとは逆方向に接続板271を見た場合の、接続板271とそれに隣接している接続板291との間における、接続方向rに対して横方向の断面である。
筺体40は、ハウジングボディ41および底板24を含んでいる。底板24には、回路ユニット20を含む基板が接続されている。この回路ユニット20は、詳述していないパワー半導体に加えて、配線2を有している。
第1部分121は、回路ユニット20を第2部分27に接続する。同様に、他の第1部分131は、回路ユニット20を第2部分25に接続する。
全体として、この構造は、3つの第2部分25、27、29を含んでいる。当該第2部分25、27、29は、互いに平行に延びており、絶縁膜51、52を用いて互いに電気的に絶縁されている。図6aおよび図6bに示すように、第2部分25、27、29は、接続突出部251、271、291を備えている。これらの接続突出部251、271、291の中で、図7では、接続突出部271のみを確認できる。確認できない接続突出部251、291と同様に接続突出部271は、開口部44を通ってハウジングボディ41から外に延びている。パワーモジュールを実装する場合、初めに、開口部44を通って接続突出部を挿入し、続いて、当該接続突出部を最終的な位置に曲げることができる。
第2部分25、27、29は、それぞれ、連続的な、好ましくは下部の部分252、272、292を有している。この下部部分252、272、292は、互いに接続されている回路ユニット20から間隔をあけている。これらの連続的な部分252、272、292は、互いに接続されている電気的に並列な回路ユニット20の各第1部分同士を接続するために備えられており、初めの回路ユニット20から最後の回路ユニット20に向かう接続方向rの方向に延びていることが好ましい。この場合、連続した部分252、272、292は、底板24の面に対して面平行であると共に、互いに面平行であることが好ましい。さらに、第2部分25、27、29の連続的な部分252、272,292は、筺体内に配置されており、特に好ましくはハウジングボディ41内に配置されている。
この筺体を、ポッティング樹脂(potting compound)によってポッティングしてもよい。このポッティング樹脂は、底板24から、当該底板24から最も遠い第2部分25の連続的な部分252を越えて広がっていることが好ましい。したがって、これらの連続的な部分252、272、292は、ポッティング樹脂によって取り囲まれている。この場合、第2部分の接続突出部は、ポッティング樹脂から突き出ている。
a)〜c)は、第1実装順序における回路ユニットの前実装を示す図である。 a´)〜c´)は、別の実装順序における回路ユニットの前実装を示す図である。 本発明のパワーモジュールを形成するための、複数の回路ユニットの実装を示す図である。 本発明のパワーモジュールにおいて並列接続するために備えられた、同一に形成された2つのハーフブリッジを示す回路図である。 同一に形成されて電気的に互いに並列接続された3つのハーフブリッジを備えた、ハーフブリッジモジュールの回路図を示す。 a)、b)は、筺体を除去した場合の、導電板によって電気的に並列接続された複数の回路ユニットを備えた、ハーフブリッジモジュールとして形成されたパワーモジュールの、透視図を示す。 図6のハーフブリッジモジュールの断面を示す側面図である。
符号の説明
a)・b)・c) 実装工程
a´)・b´)・c´) 実装工程
1・1´ パワー半導体
2 配線
3 基板
4・5・5´・6 端子接点
7・8 ボンディングワイヤ
9・9´ フリーホイルダイオード
10・11 下端部
12・12´ 第1部分
14・14´ 第1部分
16・16´ 端部領域
17・17´ 端部領域
18 面
20・21 回路ユニット
24 底板
25 第2部分(位相出力部)
26 導電板
27 第2部分(正の電源電圧)
28 導電板
29 第2部分(負の電源電圧)
31・32・33 回路ユニット
40 パワーモジュール
41 ハウジングボディ
44 開口部
45 パワーモジュールの部分
51・52 絶縁膜
121 第1部分(負の電源電圧)
122 下端部
131 第1部分(位相出力部)
122 下端部
141 第1部分(正の電源電圧)
142 下端部
250 第2部分の部分
251 接続突出部(位相出力部)
252 連続的な部分
270 第2部分の部分
271 接続突出部(正の電源電圧)
272 連続的な部分
290 第2部分の部分
291 接続突出部(負の電源電圧)
292 続的な部分
L1...L11 等価インダクタンス
r 接続方向

Claims (13)

  1. 並列に接続された複数の回路ユニット(20、21)と、導電板(26)とを備えたパワーモジュールであって、
    上記回路ユニット(20、21)は、それぞれ、接続を形成するための端子接点(5、5´)を備え、
    上記端子接点は、導電板(26)を介して、他の回路ユニット(20´)の端子接点(5´)に電気的に並列接続されている、パワーモジュールにおいて、
    上記導電板(26)は、間隔のあいた複数の接続素子(12、12´)と、結合素子(25)とを備え、
    上記接続素子(12)は、それぞれ、回路ユニット(20、21)のうちの1つの、端子接点(5)に割り当てられており、
    上記接続素子(12、12´)は、結合素子(25)とパワーモジュール(40)の他の接続素子(12´)とは独立して、それぞれ、上記各接続素子に割り当てられた端子接点(5、5´)にしっかりと接続されることができ、
    上記結合素子(25)は、上記間隔のあいた接続素子(5、5´)と接続することにより、回路ユニット(20)を並列接続することを特徴とするパワーモジュール。
  2. 上記接続素子(12、12´)の少なくとも1つが、L字型であることを特徴とする請求項1に記載のパワーモジュール。
  3. 上記接続素子(12)の少なくとも1つが、下端領域(10)を備え、
    上記下端領域(10)が、回路ユニットの接続素子(5)に接続されていることを特徴とする請求項1または2に記載のパワーモジュール。
  4. 上記接続素子(12、12´)の少なくとも1つが、ボンディング、はんだ付け、またはレーザ溶接によって、回路ユニット(20、21)の端子接点(5、5´)に接続されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のパワーモジュール。
  5. 上記結合素子(25、27、29)は、連続的な部分(252、272、292)を有し、
    上記連続的な部分(252、272、292)は、間隔のあいた接続素子(12)同士を電気的に接続していることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のパワーモジュール。
  6. 上記結合素子(25、27、29)の連続的な部分(252、272、292)は、筺体(40)中に配置されていることを特徴とする請求項5に記載のパワーモジュール。
  7. 上記連続的な部分(252、272、292)は、結合素子(25、27、29)の、共通キャリア(24)と向かい合う側面上に配置されていることを特徴とする請求項5または6に記載のパワーモジュール。
  8. パワーモジュールの少なくとも2つの回路ユニット(20、21)の接続方法であって、
    上記回路ユニット(20、21)は、それぞれ、端子接点(5、5´)を備えているとともに、上記端子接点(5、5´)は、他の回路ユニット(21、20)の端子接点(5´、5)に接続されており、
    初めに、上記端子節点(5、5´)を、パワーモジュール(40)の他の部分とは独立して、それぞれ回路ユニット(20、21)の中の1つだけに割り当てられた、間隔のあいた接続素子(12、12´)に、しっかりと電気的に接続し、
    上記回路ユニット(20、21)を、共通キャリア(24)上に配置し、
    次いで、上記間隔のあいた接続素子(12、12´)を、結合素子(25)に接続することにより、回路ユニット(20、21)の端子接点(5、5´)同士を並列接続することを特徴とする方法。
  9. 複数の回路ユニット(20、21)を、初めに導電板(26、28)の少なくとも1つの接続素子(12、12´、14、14´)に接続し、
    上記接続素子(12、12´、14、14´)同士を、次いで結合素子(25、27、29)を介して接続することにより、導電板(26、28)を形成することを特徴とする請求項8に記載の方法。
  10. 上記複数の導電板(26、28)は、回路ユニット(20、21)を接続するために設けられることを特徴とする請求項8または9に記載の方法。
  11. 上記導電板(26、28)の結合素子(25、27)のうちの少なくとも1つは、回路ユニット(20、21)に対してほぼ平行に配置されることを特徴とする請求項8〜10のいずれか1項に記載の方法。
  12. 上記結合素子(25、27、29)の連続的な部分(252、272、292)は、上記間隔のあいた接続素子(12)を電気的に接続するために備えられ、
    上記連続的な部分(252、272、292)は、結合素子(25、27、29)の、共通キャリア(24)と向かい合う側面上に配置されることを特徴とする請求項8〜11のいずれか1項に記載の方法。
  13. 上記間隔のあいた接続素子(12)を電気的に接続するために備えられた、結合素子(25、27、29)の連続的な部分(252、272、292)は、パワーモジュールの筺体(40)中に配置されることを特徴とする請求項8〜12のいずれか1項に記載の方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017163016A (ja) * 2016-03-10 2017-09-14 富士電機株式会社 半導体装置及び半導体装置の製造方法

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005039278A1 (de) * 2005-08-19 2007-02-22 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit Leitungselement
JP2007335632A (ja) 2006-06-15 2007-12-27 Toyota Industries Corp 半導体装置
DE102006057248B4 (de) * 2006-12-05 2009-07-16 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Halbleitermodul
JP2008205058A (ja) * 2007-02-19 2008-09-04 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 半導体装置
US7791208B2 (en) * 2007-09-27 2010-09-07 Infineon Technologies Ag Power semiconductor arrangement
JP5702988B2 (ja) * 2010-01-29 2015-04-15 株式会社 日立パワーデバイス 半導体パワーモジュール及びそれが搭載される電力変換装置並びに半導体パワーモジュール搭載用水路形成体の製造方法
JP5512377B2 (ja) * 2010-04-28 2014-06-04 本田技研工業株式会社 回路基板
EP2416168B1 (fr) * 2010-07-26 2013-05-15 Semikron Banc de test pour blocs de puissance électroniques.
US8586420B2 (en) 2011-09-29 2013-11-19 Infineon Technologies Ag Power semiconductor arrangement and method for producing a power semiconductor arrangement
US8563364B2 (en) 2011-09-29 2013-10-22 Infineon Technologies Ag Method for producing a power semiconductor arrangement
WO2015121900A1 (ja) 2014-02-11 2015-08-20 三菱電機株式会社 電力用半導体モジュール
DE102014110617B4 (de) * 2014-07-28 2023-05-04 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleitermodulsystem mit hoher Isolationsfestigkeit und Verfahren zur Herstellung einer Leistungshalbleitermodulanordnung mit einer hohen Isolationsfestigkeit
JP6245377B2 (ja) * 2014-10-10 2017-12-13 富士電機株式会社 半導体装置及びバスバー
EP3392908B1 (de) * 2017-04-20 2019-07-24 Infineon Technologies AG Leistungshalbleiteranordnung mit einem stapel von eine verbesserte geometrie aufweisenden anschlussplatten zur gemeinsamen elektrischen kontaktierungen mehrerer, gleichartiger leistungshalbleiter-schaltelemente
US11056860B2 (en) 2019-10-11 2021-07-06 Eaton Intelligent Power Limited Bus structure for parallel connected power switches
US12009758B2 (en) * 2020-10-01 2024-06-11 Zf Friedrichshafen Ag Half-bridge for an electric drive of an electric vehicle or a hybrid vehicle, power module for an inverter and inverter

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54161335A (en) 1978-06-09 1979-12-20 Konishiroku Photo Ind Co Ltd Treatment of color photographic photosensitive material of silver halide
JPS59195857A (ja) 1983-04-21 1984-11-07 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置
JP2882143B2 (ja) * 1991-12-10 1999-04-12 富士電機株式会社 半導体装置の内部配線構造
EP0584668B1 (de) * 1992-08-26 1996-12-18 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG Leistungshalbleiter-Modul
JPH0786498A (ja) * 1993-09-14 1995-03-31 Matsushita Electron Corp インテリジェントパワーモジュール
DE4417405A1 (de) * 1994-05-18 1995-11-23 Inst Neue Mat Gemein Gmbh Verfahren zur Herstellung von strukturierten anorganischen Schichten
DE19530264A1 (de) 1995-08-17 1997-02-20 Abb Management Ag Leistungshalbleitermodul
JPH09312357A (ja) 1996-05-21 1997-12-02 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置
JPH10200048A (ja) 1997-01-13 1998-07-31 Hitachi Ltd 電力用半導体モジュール
JP3349416B2 (ja) 1997-11-11 2002-11-25 株式会社三社電機製作所 電力半導体装置
EP0924845A3 (en) * 1997-12-22 2001-05-23 Omnirel LLC Power semiconductor module
US6078501A (en) * 1997-12-22 2000-06-20 Omnirel Llc Power semiconductor module
US6359331B1 (en) * 1997-12-23 2002-03-19 Ford Global Technologies, Inc. High power switching module
JP3386360B2 (ja) * 1998-01-22 2003-03-17 株式会社三社電機製作所 電力用半導体モジュール
JP2000082772A (ja) 1998-09-04 2000-03-21 Toshiba Corp 半導体モジュール接続装置
US6760227B2 (en) * 2000-11-02 2004-07-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer ceramic electronic component and manufacturing method thereof
DE10103084B4 (de) 2001-01-24 2006-08-03 Infineon Technologies Ag Halbleitermodul und Verfahren zu seiner Herstellung
KR100428773B1 (ko) * 2002-01-21 2004-04-28 삼성전자주식회사 라우터 시스템과 이를 이용한 포워딩 엔진 이중화 방법
JP4265463B2 (ja) * 2004-03-31 2009-05-20 アンデン株式会社 電気回路装置
DE102004027185B4 (de) 2004-06-03 2008-08-28 Infineon Technologies Ag Niederinduktives Halbleiterbauelement mit Halbbrückenkonfiguration
DE102004042367B4 (de) 2004-09-01 2008-07-10 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleitermodul

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017163016A (ja) * 2016-03-10 2017-09-14 富士電機株式会社 半導体装置及び半導体装置の製造方法

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