JPH0786498A - インテリジェントパワーモジュール - Google Patents

インテリジェントパワーモジュール

Info

Publication number
JPH0786498A
JPH0786498A JP5228575A JP22857593A JPH0786498A JP H0786498 A JPH0786498 A JP H0786498A JP 5228575 A JP5228575 A JP 5228575A JP 22857593 A JP22857593 A JP 22857593A JP H0786498 A JPH0786498 A JP H0786498A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal thin
metal
thin film
power module
power device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5228575A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideki Takehara
秀樹 竹原
Yoshiaki Takeoka
嘉昭 竹岡
Kazuhiro Ishikawa
和弘 石川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP5228575A priority Critical patent/JPH0786498A/ja
Publication of JPH0786498A publication Critical patent/JPH0786498A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/2612Auxiliary members for layer connectors, e.g. spacers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Abstract

(57)【要約】 【目的】 組み立て工程中の金属細線の変形や歩留まり
低下を抑制することができ、大電流に対応した高性能、
小型パッケージを実現できる電極構造を有したインテリ
ジェントパワーモジュールを提供する。 【構成】 パワーデバイスチップ5上の電極と金属細線
6で接続した金属薄膜4と他の端子7とを配線するため
に、板状の金属端子10を設けた。これによって、組立
工程での工数削減や配線の断線や接触による歩留まりの
低下、信頼性の低下などを抑制できる。また、板状の金
属端子10自体は抵抗成分が低いので、大電流を扱える
比較的長い立体的配線回路を容易に形成でき、高密度実
装を可能とした大電流対応高性能・小型パッケージのイ
ンテリジェントパワーモジュールが実現できた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電極配線構造に特徴を
有するインテリジェントパワーモジュールに関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来のインテリジェントパワーモジュー
ルについて、以下、図面を参照しながら説明する。図5
および図6に従来のインテリジェントパワーモジュール
の断面図を示し、電極配線構造について説明する。
【0003】図5に示す第1の従来の技術においては、
金属基板1上に形成した有機絶縁膜2上に部分的に配線
用の金属薄膜3,4を配置し、金属薄膜3上の目的とす
る箇所にパワーチップデバイス5を搭載し、目的とする
金属薄膜4とパワーチップデバイス5の電極部とを金属
細線6で接続する。そして、金属薄膜4と外部リード端
子7のボンド部とを金属細線6で接続する。
【0004】また、図6に示す第2の従来の技術におい
ては、金属基板1上に形成した有機絶縁膜2上に部分的
に配線用の金属薄膜3,4,8,9を配置し、金属薄膜
3上の目的とする箇所にパワーチップデバイス5を搭載
し、金属薄膜4上のボンド部とパワーチップデバイス5
の電極部とを金属細線6で接続する。そして、金属薄膜
4と、それとはかなり離れた位置にある外部リード端子
7のボンド部とを金属細線6で接続するのであるが、第
1の従来の技術と異なる点は、部分的に配線した金属薄
膜3,4,8,9の配置構造が異なり、金属薄膜4と外
部リード7のボンド部との距離が離れている場合、すな
わち金属薄膜4と外部リード7との間に配線目的としな
い金属薄膜8,9が存在する場合でも金属細線6で配線
していることである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記従来
の構成では、以下のような課題がある。まず、従来の技
術においては、インテリジェントパワーモジュールの組
み立ては容易であるが、大電流を流すために配線用の金
属薄膜の幅を広くすると、配線のための面積を多く必要
とし、実装密度を高めることができなくなる。そのた
め、大電流に対応した高性能、小型パッケージを製造す
ることはむずかしい。
【0006】また、目的とする金属薄膜と外部リードの
ボンド部との距離が離れすぎている場合の金属細線の配
線が長い場合や、複数の金属細線を配線した場合などに
は、金属細線自体の抵抗成分の増大が起こり、電流容量
の制限が必要となる。また、配線した金属細線の長さが
長いゆえに、金属細線のループ形状の変形によって断線
や接触が発生してしまう。そのため、組み立て歩留まり
の低下や製品の信頼性の低下という問題が発生する。
【0007】本発明は、前記従来の課題を解決するもの
で、組立工程中の金属細線の変形や歩留まり低下を抑制
することができ、大電流に対応した高性能、小型パッケ
ージを実現できる電極構造を有したインテリジェントパ
ワーモジュールを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記従来の課題を解決す
るために、本発明は、基板上の絶縁された領域にパワー
デバイスチップを搭載したインテリジェントパワーモジ
ュールにおいて、パワーデバイスチップ上の電極と金属
細線で接続された金属薄膜同士もしくは他の金属薄膜と
を配線するために板状の金属端子を設け、金属端子の架
橋形状を変えることにより、金属薄膜設計の自由度を大
幅に高めたことを特徴とする。
【0009】
【作用】前記構成によって、金属端子を設けているの
で、配線の断線や接触による歩留まりの低下を防止し、
信頼性の低下を抑制することができ、抵抗成分は非常に
少なく、一枚の板状の金属端子で大電流を扱うことがで
きる。また特に前記金属端子が板状であり、後工程の樹
脂封止の際の応力に耐性があり、強度設計ができる。そ
して前記金属端子での配線は半田付けするボンド部以外
は基板とは離れているので、基板面積を小さくして実装
密度を高めることができると同時に、金属端子の架橋形
状を変えることにより、金属薄膜設計の自由度を大幅に
高めることができる。
【0010】
【実施例】本発明にかかるインテリジェントパワーモジ
ュールの一実施例について、以下、図面を参照しながら
説明する。
【0011】図1は第1の実施例の断面図であり、以
下、その電極配線構造について説明する。
【0012】第1の実施例においては、銅材の金属基板
1上に形成したエポキシ樹脂またはポリイミド樹脂より
なる有機絶縁膜2上に、配線用の銅よりなる金属薄膜
3,4,8,9とを選択的に配置し、金属薄膜3上の目
的とする箇所にパワーチップデバイス5を半田で接着搭
載し、金属薄膜4上のボンド部とパワーチップデバイス
5の電極部とを金属細線6で接続した。そして、金属細
線6で接続した金属薄膜4と外部リード端子7のボンド
部とを金属端子10で接続した。すなわち、パワーデバ
イスチップ5と金属薄膜4との間を、アルミニウム細線
や金細線などの金属細線6で超音波接合により接続した
後、金属薄膜4と外部リード7のボンド部とを金属細線
6ではなく、板状の金属端子10で半田付けにより架橋
接続した。
【0013】本実施例は、板状の金属端子で金属薄膜4
と外部リード端子7とを接続したので、大電流を扱う動
作時でも、抵抗成分の増大を起こさず機能し、電流容量
の制限が広げることができる。また、大電流を流すため
に配線用の金属薄膜の幅を広げる必要がなくまた、配線
のための面積を多く必要としないため、実装密度を高め
ることができる。そのため、大電流に対応した高性能、
小型パッケージを製造することができる。また、金属薄
膜4と外部リード端子7のボンド部との距離が離れすぎ
ている場合でも、従来のように金属細線を使用しないの
で、金属細線のループ形状の変形などの問題も解消でき
る。
【0014】また、組立工程時においても金属端子10
を設けているので、配線の断線や接触による歩留まりの
低下を防止し、信頼性の低下を抑制することができる。
つまりは、金属端子10は配線の機能と、断線、変形な
どの信頼性低下を防止するプロテクトの機能とを有する
ものである。
【0015】図2は第2の実施例のインテリジェントパ
ワーモジュールの断面図であり、以下、その電極配線構
造について説明する。これは、複数のパワーデバイスチ
ップが存在する場合の一例として、2個のパワーデバイ
スチップが存在する場合の電極構造を示す。
【0016】第2の実施例は、金属基板1上に形成した
有機絶縁膜2上に、配線用の金属薄膜3,4,11,1
2,13を配置し、金属薄膜3,11上の目的とする箇
所にパワーチップデバイス5およびパワーチップデバイ
ス14を半田を介して接着搭載し、前記金属薄膜4(1
2)上のボンド部とパワーチップデバイス5(14)の
電極部とを金属細線6で接続した。そして、金属細線6
で接続した金属薄膜4と金属薄膜12のボンド部とを金
属端子10で接続した。すなわち、パワーデバイスチッ
プ5,14と金属薄膜4,12とをアルミニウム細線や
金細線などの金属細線6で超音波接合により接続した
後、金属薄膜4と金属薄膜12との間を板状の金属端子
10で半田付けにより架橋接続したものである。
【0017】本実施例は、前記第1の実施例と同様に、
板状の金属端子で金属薄膜4と外部リード端子7とを接
続しているので、大電流を扱う動作時でも、抵抗成分の
増大を起こさず機能し、電流容量の制限が広げることが
できる。また、大電流を流すために配線用の金属薄膜の
幅を広くしなくてもよく、また、配線のための面積を多
く必要としないため、実装密度を高めることができる。
そのため大電流に対応した高性能、小型パッケージを製
造することができる。
【0018】なお、本実施例の金属薄膜3,4,8,
9,11,12,13の厚さは105μm程度であり、
有機絶縁膜2の厚さは120μm程度である。
【0019】また、本実施例における金属端子10は、
銅製板状の厚みが0.5mmのものであり、それ自体は
抵抗成分が低いので、大電流を扱える。また、後工程の
樹脂封止の際の応力に耐性があり、強度設計ができると
いう効果を得るため、金属端子10を板状としており、
加工面においても、金属板のプレス加工やエッチング加
工によって、自由な板形状の金属端子10が得られる。
金属端子10は銅で形成することに限定するものではな
く、鉄などの金属に銅メッキを施した金属端子でもよ
い。強度を大きくする目的であれば、チタン(Ti)を
含有した硬質金属板を用いてもよい。
【0020】金属端子10の形状は、本実施例において
は、強度を考慮して断面形状を直角に折れ曲がった角状
コ型の形状としているが、この形状に限定されるもので
はなく、強度に加えてインテリジェントパワーモジュー
ルのトータル厚みも考慮した場合には、第3の実施例と
して図3に示すように、直角に折り曲げずに台形角状
(テーパー状)の形状としてもよい。
【0021】金属端子10の材料に硬質金属板を用いた
場合には、角状コ型もしくはテーパー状にしなくても十
分な強度が得られるので、第4の実施例として、図4に
示すように角型ではなく円弧状(半円状)としても、強
度、厚さの問題はないので適用できる。前述のように金
属端子10の架橋形状を変えることにより、金属薄膜設
計の自由度を大幅に高めることができる。
【0022】
【発明の効果】本発明によれば、板状の金属端子を用い
たので、組立工程での工数削減や配線の断線や接触によ
る歩留まりの低下、信頼性の低下などを抑制できる。ま
た板状の金属端子自体は抵抗成分が低いことによって、
大電流を扱える比較的長い立体的配線回路を容易に形成
でき、金属基板上での実装設計の自由度を大幅に向上さ
せることができ、高密度実装を可能とした大電流対応高
性能・小型パッケージのインテリジェントパワーモジュ
ールが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例のインテリジェントパワ
ーモジュールの断面図
【図2】本発明の第2の実施例のインテリジェントパワ
ーモジュールの断面図
【図3】本発明の第3の実施例のインテリジェントパワ
ーモジュールの断面図
【図4】本発明の第4の実施例のインテリジェントパワ
ーモジュールの断面図
【図5】従来の第1のインテリジェントパワーモジュー
ルの断面図
【図6】従来の第2のインテリジェントパワーモジュー
ルの断面図
【符号の説明】
1 金属基板 2 有機絶縁膜 3,4 金属薄膜 5 パワーチップデバイス 6 金属細線 7 外部リード端子 8,9 金属薄膜 10 金属端子 11〜13 金属薄膜 14 パワーチップデバイス

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上の絶縁された領域上に搭載された
    パワーデバイスチップと、前記パワーデバイスチップに
    近接して絶縁設置された金属薄膜と、前記パワーデバイ
    スチップ上の電極と前記パワーデバイスチップに近接し
    て絶縁設置された金属薄膜とを接続した金属細線と、前
    記金属細線で接続された金属薄膜と他の端子とを架橋接
    続した金属端子とを有することを特徴とするインテリジ
    ェントパワーモジュール。
  2. 【請求項2】 基板上の絶縁された領域上に搭載された
    複数個のパワーデバイスチップと、前記複数個のパワー
    デバイスチップの各々のパワーデバイスチップに近接し
    て絶縁設置された金属薄膜と、前記各々のパワーデバイ
    スチップ上の電極と前記金属薄膜とを接続した金属細線
    と、前記各々のパワーデバイスチップと前記金属細線で
    接続された金属薄膜同士を架橋接続した金属端子とを有
    することを特徴とするインテリジェントパワーモジュー
    ル。
  3. 【請求項3】 金属端子が板状の金属端子であることを
    特徴とする請求項1または請求項2記載のインテリジェ
    ントパワーモジュール。
  4. 【請求項4】 パワーデバイスチップと金属細線で接続
    された金属薄膜同士あるいは他の金属薄膜とを架橋接続
    した金属端子の配線架橋形状が、角状の形状であること
    を特徴とする請求項1または請求項2記載のインテリジ
    ェントパワーモジュール。
  5. 【請求項5】 パワーデバイスチップと金属細線で接続
    された金属薄膜同士あるいは他の金属薄膜とを架橋接続
    した金属端子の配線架橋形状が、台形角状の形状である
    ことを特徴とする請求項1または請求項2記載のインテ
    リジェントパワーモジュール。
  6. 【請求項6】 パワーデバイスチップと金属細線で接続
    された金属薄膜同士あるいは他の金属薄膜とを架橋接続
    した金属端子の配線架橋形状が、円弧状の形状であるこ
    とを特徴とする請求項1または請求項2記載のインテリ
    ジェントパワーモジュール。
JP5228575A 1993-09-14 1993-09-14 インテリジェントパワーモジュール Pending JPH0786498A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5228575A JPH0786498A (ja) 1993-09-14 1993-09-14 インテリジェントパワーモジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5228575A JPH0786498A (ja) 1993-09-14 1993-09-14 インテリジェントパワーモジュール

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0786498A true JPH0786498A (ja) 1995-03-31

Family

ID=16878519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5228575A Pending JPH0786498A (ja) 1993-09-14 1993-09-14 インテリジェントパワーモジュール

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0786498A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10352671A1 (de) * 2003-11-11 2005-06-23 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH Leistungsmodul

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10352671A1 (de) * 2003-11-11 2005-06-23 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH Leistungsmodul
US7656672B2 (en) 2003-11-11 2010-02-02 Infineon Technologies Ag Power module

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5227662A (en) Composite lead frame and semiconductor device using the same
US7012323B2 (en) Microelectronic assemblies incorporating inductors
US4937656A (en) Semiconductor device
US5596231A (en) High power dissipation plastic encapsulated package for integrated circuit die
US5841183A (en) Chip resistor having insulating body with a continuous resistance layer and semiconductor device
JPH06302653A (ja) 半導体装置
US5296737A (en) Semiconductor device with a plurality of face to face chips
JPH0817870A (ja) 半導体装置
JPH0786498A (ja) インテリジェントパワーモジュール
EP0474224B1 (en) Semiconductor device comprising a plurality of semiconductor chips
JP3297959B2 (ja) 半導体装置
JP3454192B2 (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JPH08148647A (ja) 半導体装置
JP3063713B2 (ja) 半導体装置
US20030052416A1 (en) Thick film circuit connection
JPH06104369A (ja) 多層リードフレーム
JP4175339B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPS63107126A (ja) 半導体装置
JPH0341475Y2 (ja)
JPH03276737A (ja) 半導体装置
JP2636808B2 (ja) 半導体装置
JPH03238865A (ja) 半導体素子
JPS60206156A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH05326814A (ja) 電子回路素子搭載用リードフレーム
JPH03142862A (ja) リードフレーム