JP2007286043A5 - - Google Patents
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Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102006017705.3 | 2006-04-15 | ||
| DE102006017705A DE102006017705B4 (de) | 2006-04-15 | 2006-04-15 | Spektralanalytische Einheit mit einem Beugungsgitter und Laserscanning-Mikroskop |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007286043A JP2007286043A (ja) | 2007-11-01 |
| JP2007286043A5 true JP2007286043A5 (enExample) | 2010-02-25 |
| JP5189777B2 JP5189777B2 (ja) | 2013-04-24 |
Family
ID=38175821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007047506A Expired - Fee Related JP5189777B2 (ja) | 2006-04-15 | 2007-02-27 | 回折格子を備えるスペクトル分析ユニット |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7852474B2 (enExample) |
| EP (1) | EP1845349B1 (enExample) |
| JP (1) | JP5189777B2 (enExample) |
| AT (1) | ATE395580T1 (enExample) |
| DE (2) | DE102006017705B4 (enExample) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2211154B1 (en) * | 2009-01-22 | 2017-03-15 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Monochromator having a tunable grating |
| JP5335729B2 (ja) * | 2010-04-01 | 2013-11-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光モジュール |
| JP5325829B2 (ja) | 2010-04-01 | 2013-10-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光モジュール |
| JP5567887B2 (ja) * | 2010-04-23 | 2014-08-06 | オリンパス株式会社 | 分光装置 |
| DE102010046107A1 (de) | 2010-09-21 | 2012-03-22 | Carl Zeiss Ag | Spektrometer |
| JP5988691B2 (ja) | 2012-05-18 | 2016-09-07 | オリンパス株式会社 | 分光装置、及び、それを備えた共焦点走査型顕微鏡 |
| DE112014007080B4 (de) | 2014-12-22 | 2021-09-09 | Spectro Analytical Instruments Gmbh | Gitterspektrometer mit umschaltbarem Lichtweg |
| WO2016154261A1 (en) * | 2015-03-24 | 2016-09-29 | Samtec, Inc. | Optical block with textured surface |
| CN114599946B (zh) * | 2019-08-23 | 2025-07-22 | 安斯威雷有限公司 | 光谱仪和成像装置 |
| EP3819612B1 (en) | 2019-11-05 | 2023-07-26 | Hitachi High-Tech Analytical Science GmbH | Optical system for spectrometers |
| EP4414671A1 (en) * | 2023-02-07 | 2024-08-14 | Hitachi High-Tech Analytical Science GmbH | An optical spectrometer assembly |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD292078A5 (de) | 1990-02-15 | 1991-07-18 | ���k���������������@����@�����@���@�������������k�� | Fchelle-polychromator |
| DE19622359B4 (de) * | 1996-06-04 | 2007-11-22 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Vorrichtung zur Einkopplung der Strahlung von Kurzpulslasern in einem mikroskopischen Strahlengang |
| DE19702753C2 (de) | 1997-01-27 | 2003-04-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
| US6167173A (en) | 1997-01-27 | 2000-12-26 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laser scanning microscope |
| US5815261A (en) * | 1997-04-16 | 1998-09-29 | General Atomics | Correlation spectrometer with high-resolution, broad-band optical characteristics |
| DE19933290A1 (de) * | 1999-04-09 | 2001-03-08 | Campus Technologies Ag Zug | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Spektroskopie |
| DE10121499B4 (de) * | 2001-05-03 | 2007-08-02 | Campus Technologies Ag | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Spektroskopie und optischen Sensorik sowie Verwendung der Vorrichtung |
| DE10151217B4 (de) * | 2001-10-16 | 2012-05-16 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops |
| CN1650151B (zh) * | 2002-07-12 | 2010-08-04 | 河流诊断公司 | 光学分光计 |
| WO2004008092A1 (de) * | 2002-07-15 | 2004-01-22 | Campus Technologies Ag | Vorrichtung und verfahren zur optischen spektroskopie und optischen sensorik sowie verwendung der vorrichtung |
| JP4475501B2 (ja) * | 2003-10-09 | 2010-06-09 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 分光素子、回折格子、複合回折格子、カラー表示装置、および分波器 |
-
2006
- 2006-04-15 DE DE102006017705A patent/DE102006017705B4/de active Active
-
2007
- 2007-02-27 JP JP2007047506A patent/JP5189777B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-04-11 DE DE502007000014T patent/DE502007000014D1/de active Active
- 2007-04-11 AT AT07007384T patent/ATE395580T1/de not_active IP Right Cessation
- 2007-04-11 EP EP07007384A patent/EP1845349B1/de active Active
- 2007-04-16 US US11/785,153 patent/US7852474B2/en active Active
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