JP5517621B2 - 高感度スペクトル分析ユニット - Google Patents

高感度スペクトル分析ユニット Download PDF

Info

Publication number
JP5517621B2
JP5517621B2 JP2009530794A JP2009530794A JP5517621B2 JP 5517621 B2 JP5517621 B2 JP 5517621B2 JP 2009530794 A JP2009530794 A JP 2009530794A JP 2009530794 A JP2009530794 A JP 2009530794A JP 5517621 B2 JP5517621 B2 JP 5517621B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diffraction grating
partial
analysis unit
regions
grating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009530794A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010506154A (ja
Inventor
ヴォレシェンスキー、ラルフ
ドブシャル、ハンス−ユルゲン
シュタイナー、ラインハルト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Microscopy GmbH filed Critical Carl Zeiss Microscopy GmbH
Publication of JP2010506154A publication Critical patent/JP2010506154A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5517621B2 publication Critical patent/JP5517621B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • G01J3/1804Plane gratings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/021Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or particular reflectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0291Housings; Spectrometer accessories; Spatial arrangement of elements, e.g. folded path arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/14Generating the spectrum; Monochromators using refracting elements, e.g. prisms
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/26Generating the spectrum; Monochromators using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector

Description

本発明は、1つの回折格子を使用した高感度スペクトル分析ユニットに関する。高感度スペクトル分析ユニットでは、ある一定の波長域を有する平行な光束が1つの回折格子に入射すると、この回折格子により異なる波長が回折によって第1の方向にスペクトル分光されるようになっている。このスペクトル分光された光束のそれぞれの部分波長域は、1つの光学系により1つの検出器アレイ上に集束されるが、この検出器アレイに接続された1つの評価エレクトロニクスは、発生したスペクトルをデータとして取得して、これを表示するようになっている。
この分光ユニットは、ありとあらゆるスペクトロメータにおいて適用されている。しかしながらこのユニットは特に、ドイツ特許出願公開第19702753号明細書またはドイツ特許出願公開第10151217号明細書に説明されるような共焦点レーザ走査型顕微鏡(LSM)において、蛍光分光検出用の測定装置として導入されている。
放射線のスペクトル分析を行うための配列の中には、全く異なる分散手段が援用されるものが多数ある。最も多く導入されているのはグレーティングおよびプリズムであるが、単純な解決策であれば、フィルタによっても実現することができる。大半の適用例において、表面輪郭形状を有するグレーティングが導入されているが、そのトポグラフィは、様々な複製方法により複製されるようになっており、またそれ故に低コストでの大量生産を許容するものとなっている。一般には、利用されるグレーティングの回折次数が1つだけであるために、鋸歯状の溝断面形状の利用者には、この利用される回折次数の数多くの回折光を得る可能性がもたらされることになる。溝断面深さが最適(最大回折効率の波長−ブレーズ波長の約半分)である場合は、この利用される回折次数の反射光については、グレーティングの空間周波数により、70%〜90%の間の回折効率が得られることになる。しかしこの回折効率は、波長がブレーズ波長から外れ、それよりもさらに長くまたは短くなる場合は、常に低下する。利用される回折次数のスペクトルの中のこの「欠けた光」は、別の回折次数にも到達して、検出対象から消失してしまう。
この問題を回避する公知の手法の中には、欧州登録特許第442596号明細書に説明されるようなエシェル・システムを使用したものがある。そこでは1つの平面回折格子が、非常に高い回折次数で使用されるが、その際にはまず、いずれもブレーズ角の近傍に作用域を有する異なる回折次数の、複数の互いに干渉しあった狭いスペクトル域が生じるようになっている。これらのスペクトルを横方向に分離するために、このシステムには、グレーティングの分散方向に対して垂直に作用する1つのプリズムが追加されている。それにより、水平方向に層状に重なりあった多数の回折次数の光のアレイを得るようにしている。しかしいずれにせよこの方法を適用するためには、1つの平面受光板を使用することが前提として必要となっている。
回折効率のスペクトル変動の原因は、グレーティングの電磁挙動によって、多少なりとも大きな光の部分が、所望される1次以外の回折次数に回折され、光がそれによって消失されるほか、さらに何と迷光問題すらも生じる点にある。
測定方法の中には、(1つの回折次数の)スペクトルの中に存在する光について、可能な限り完全な評価が要求されるものがある。たとえば生物試料の顕微鏡検査法における蛍光分光評価は、それに数えられるものである。
本発明は、1つのグレーティングを有するスペクトル分析ユニットの回折効率を僅かなコストで有意に向上することを課題としてなされたものである。
この課題は、冒頭に記した種類の1つの回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニットにおいては、請求項1の特徴部分に記載される各特徴により首尾よく解決される。
従属クレームである請求項2から7は、主クレームの有利な構成例である。
本発明にしたがった解決策においては、スペクトル分析の対象である光束を、1つの第1の素子により予備的にスペクトル分割し、続いてさらにもう1つのこの予備分割に最適適合された第2の素子により、検出対象であるスペクトルに分光することが企図されている。そこでは、第1の素子を、これが検出対象であるスペクトルに対して非常に高い透過性を示すように、選定することが重要である。これとは逆に第2の素子は、その面全体にわたり単調な、または区分的に変化のある、または連続的に変化する溝断面形状を有する表面回折格子であってもよい。スペクトルに影響を与える第1の素子については、高い透過性を得るために、1つのプリズムが導入される、または別の実施例においては複数のダイクロイック・ミラーが導入されるようになっている。フレネル損失を低減するために、これらの構成要素には反射防止加工が施されるとよい。
第1実施形態においては、この予備分割が複数のダイクロイック・スプリッタを使用して行われるようになっている。これらのスプリッタは、可能な限り急勾配の限界透過率ないしは限界反射率を有していなければならず、また、それぞれのスペクトル部分域は、隙間なしで連なっていなければならない。複数のダイクロイック・スプリッタを使用したこの解決策はカスケーディングが可能であり、換言すれば、模索されるスペクトル収量および配列の諸コストにより、採用されるスペクトル部分域の数が決まるようになっている。2つのダイクロイック・スプリッタと2つの効率的なミラーを使用して、3つのスペクトル部分域への分光が行われることが好ましい。
グレーティングは、いずれもブレーズ波長がそれぞれのスペクトル部分域に最適適合されている、3つの格子領域からなることが好ましい。グレーティング全体は一様な空間周波数を有しており、いずれの部分領域とも格子溝は正確に平行に配向されている。これらの格子溝は同一平面内に位置しており、分散平面はこの平面から垂直に突出している。それにより、それぞれのスペクトル部分域において高い回折効率を生み出すことをなし遂げている。分散光は、1つのカメラ光学系(ミラー系ないしはレンズ系)を通り、1つの評価ユニットが備えられた1つの検出器に送られるようになっている。
分光検出が可能な光の高収量を実現するためのさらにもう1つの実施形態の土台となるのは、第1の分散素子としてプリズムを利用した予備分割と、予備分割されたスペクトルのスペクトル特性に対してスペクトル分割能が最適適合されている1つの第2の分散素子である。この第2の分散素子は、その可変溝断面形状(ブレーズ波長の適合化)により予備分割されたスペクトルの連続的に変化する波長を高効率で回折するようになっている、1つの回折格子である(その分散方向は、プリズムの分散方向に対して垂直)。それにより、検出対象であるスペクトルの全ての波長に関して、ブレーズ波長付近の回折効率を実現できるようにすると同時に、スペクトルの非常に高い比率が検出スペクトルに移行できるようにしている。そのような可変回折能は、グレーティングの場合は、たとえば可変ブレーズ角により、または単調な格子輪郭形状を分散方向に延びる可変層と組み合わせることにより、実現することができる。グレーティングの一様な空間周波数の可変溝断面深さ(可変ブレーズ波長に相当)は、リソグラフィ法である場合は露光量を可変とすることにより、またはイオン・エッチング技術により、実現することができる。
ここに説明される本発明の各実施形態については、回折格子の構造および特性に関して、さらに別の様々な構成方式がある。たとえばグレーティングは、予備分解により生じるスペクトル域の数と同数であれば、別の数の部分領域からなっていてもかまわない。それによりグレーティングは、いずれも予備分解の部分スペクトルに対して最適適合された、たとえば2つ、または4つ以上の格子領域により構成されたものとすることができる。
しかし、グレーティングの分散方向に連続的に変動するブレーズ波長により、予備分解のスペクトルの特性に対して回折特性が適合化されているグレーティングが導入されるようにしてもよい。
本発明のさらにもう1つの変形例においては、ブレーズ波長が定常であるグレーティングを導入し、分散方向に変化する層構造により分散方向への連続的なブレーズ・シフトを得ることが企図されている。
さらに別の変形例においては、スペクトルに関して予備分解に対し適合化された複数の部分領域を有している、透過型としても作動する複数のグレーティングも導入されるようになっている。
当然ながら上述のカメラ光学系は、透過光学系のほかにも、反射光学系としてレイアウトされたものであってもかまわない。
以下では本発明を図面に基づき説明する。
複数のダイクロイック・ビーム・スプリッタが備えられた高感度スペクトル分析ユニットの図。 図1に示される配列の断片のサジタル平面図。 スペクトルにより実現される光量の、図1に示される解決策と、同一の溝断面形状を有するグレーティングを使用する従来技術の解決策との比較図。 1つの分散プリズムが備えられた高感度スペクトル分析ユニットの図。 反射型回折格子の第1実施形態の図。 反射型回折格子の第2実施形態の図。 反射型回折格子の第3実施形態の図。 反射型回折格子の第4実施形態の図。
図1には本発明の第1実施形態が示されるが、そこではスペクトルの予備分解のために、ダイクロイック・スプリッタ11’および11’’’が高反射率のミラー10および12とともに導入されている。それ以外にも光の伝播方向で見て1つの回折格子13、1つの集束光学系14、および1つの検出器アレイ15が配置されている。この検出器アレイ15は横向きに配置される複数の個別の素子16を有しているが、そこではそれぞれの個別素子が同じ幅bを有している。検出器アレイ15の各素子16は、1つの評価エレクトロニクス17に接続されている。この回折格子13は、反射方式で作動するものであって、異なるブレーズ波長を有する3つの部分領域13’,13”および13’’’からなっている。ここでは回折格子の分散方向が、ダイクロイック・スプリッタ11’および11’’’ならびに高反射率のミラー10および12により行われるスペクトル予備分解の方向に対して垂直に配向されている。
この配列に入射する、メリジオナル平面内の上縁部のメリジオナル光線1、主光線2、および下縁部のメリジオナル光線3により示されている平行な光束は、360nmから810nmまでのスペクトル帯域幅を有している。これらの光線は、45°の角度で第1のダイクロイック・スプリッタ11’に当たることが好ましい。このスプリッタ11’は、トランジション・エッジが約510nmであるロング・パス・フィルタとして構成されている。これは、510nm未満の光がこの第1のダイクロイック・ビーム・スプリッタ11aにより反射される一方で、このエッジを上回るスペクトルが非常に効率的に(90%超)透過されて、第2のダイクロイック・スプリッタ11’’’に45°の角度で当たることを意味している。ダイクロイック・スプリッタ11’により反射されたスペクトル成分が、高反射率の第1のミラー10に当たり回折格子の格子領域13’に向かって偏向されるのに対して、第1のダイクロイック・ビーム・スプリッタ11’を透過した成分は、エッジが約660nm前後のショート・パス・フィルタである第2のダイクロイック・ビーム・スプリッタ11’’’に到達する。660nmを上回るスペクトル成分は、この第2のダイクロイック・ビーム・スプリッタ11’’’により効率的に(90%超)高反射率のミラー12に向かって反射される一方で、660nmを下回るスペクトル成分は、このスプリッタ11’’’を僅かな損失で透過する。スプリッタ11’’’を透過したこの光は、それ以上偏向されることなく回折格子13の格子領域13”に直接到達する。スプリッタ11’’’により反射された光は、高反射率の第2のミラー12を介して格子領域13’’’に到達する。これらのダイクロイック・スプリッタ11aおよび11bならびに高反射率のミラー10および12は、本発明のこの実施例に示されるように、スペクトルの予備分解により生じる光束1’,1”,1’’’および2’,2”,2’’’ならびに3’,3”,3’’’が、いずれも同一平面内で互いに平行にグレーティング13に向かって延びるように配置されている。
グレーティング13は、そのそれぞれの部分領域13’,13”,13’’’のところで、スペクトルの予備分解を経た光束1’,1”,1’’’および2’,2”,2’’’ならびに3’,3”,3’’’に対して、グレーティングの分散平面が、これらの光束1’,1”,1’’’および2’,2”,2’’’ならびに3’,3”,3’’’により分割される平面に対して垂直に延びるように配向されている。
光束1’,1”および1’’’により示されるミラー10によって反射されたスペクトル成分は、ブレーズ波長が410nmである格子領域13’に当たり、それにより70%から90%までの間の回折効率で回折されるようになっている。
光束3’,3”および3’’’により示されるミラー12によって反射された成分(長波のスペクトル成分)は、ブレーズ波長が710nmであるグレーティング13の格子領域13’’’に当たる。ダイクロイック・スプリッタ11’および11’’’を透過したスペクトル成分は、ブレーズ波長が560nmである格子領域13”に当たるようになっている。
予備分解により生じた、平行な光束としてグレーティング13に到達する全てのスペクトル成分は、グレーティング13により高効率でスペクトル分解されて、1つのカメラ光学系14を通り抜けるが、その焦点面には複数の個別検出器素子16を擁する検出器アレイ15が位置している。この検出器アレイ15は、回折格子13に関して、グレーティングの分散方向と、検出器アレイ15上の各検出器素子16の配置方向が平行に延びるように配向されている。
図2には、ダイクロイック・スプリッタによる予備分解が行われる配列のサジタル平面図が示されている。全スペクトルは、両方のダイクロイック・ミラー11’および11’’’に高反射率のミラー10および12を備えたこの配列により、符号1’,2’,3’および1”,2”,3”ならびに1’’’,2’’’,3’’’により表わされる3つのスペクトル域に分解されて、いずれもこれらのスペクトル部分域に対して最適化が図られているグレーティング13の格子領域13’,13”および13’’’に送られるようになっている。
この配列により、分析対象である光を十二分な低損失でスペクトル分解して検出系に送ることが実現されている。
図3には、図1において説明した配列の効率が、従来技術にしたがった単調な溝断面形状を有するブレーズ格子の効率と対置・比較して示されている。この配列により特に、分析対象である光のスペクトルのエッジ域の損失を補償することができる。「スペクトル分解された光のゲイン」は、実線で示される曲線と破線で示される曲線との比から求められる。
図4には、本発明の第2実施形態が斜視図で示されている。スペクトルの予備分割は、1つのプリズム18を利用して行われるようになっている。このプリズム18は、光学ガラスNSK2からなり、ε=60°のプリズム角ならびに30mmのプリズム高さを有している。
たとえば約360nmから800nmまでのスペクトル帯域幅を有する、平行入射光線束は、主光線2、上縁部のメリジオナル光線1、および下縁部のメリジオナル光線3により示されている。この図においては、図の見易さを保証するために、入射光束のサジタル平面は示されていない。
プリズムによる下縁部のメリジオナル光線3のスペクトル分光は、光線3’,3”,3’’’により示されており、主光線2のスペクトル分光は2’,2”,2’’’により示されており、同様に1’,1”,1’’’によりこのプリズムによる上縁部のメリジオナル光線のスペクトル分光が示されている。そこではシングル・プライム付きの数字が入り込む全スペクトルの長波のスペクトル成分を、ダブル・プライム付きの数字が中波のスペクトル成分を、トリプル・プライム付きの数字が短波のスペクトル成分を表わしている。
図4の配列に示されるように、配列を使用したこの実施形態においては、プリズムにより予備分解された個々のスペクトル成分は、それぞれの当初の異なる入射高さに応じて、この配列の第2の分散素子である(たとえばアルミニウムからなる蒸着皮膜が施された)反射型回折格子として構成される回折格子13の異なる部分領域に当たるようになっている。
この実施形態においては、グレーティングが、鋸歯状の溝形状でブレーズ波長が異なり、いずれもこれらの部分領域に当たるスペクトル部分光束に最適適合されている3つの領域13’,13”および13’’’からなっている。
本発明にしたがった配列の特殊性は、グレーティングの分散平面がプリズムの分散平面に対して90°回転されている点にある。部分領域13’’’のブレーズ波長は410nmであり、部分領域13”のブレーズ波長は560nm、格子領域13’のブレーズ波長は710nmである。
プリズムにより最も強く屈折された全スペクトルの成分1’’’,2’’’および3’’’は、グレーティングの部分領域13’’’に達するが、これには360nmから510nmまでのスペクトル領域が含まれている。スペクトル部分領域1”,2”および3”には、510nmから660nmまでのスペクトル域が含まれるが、これは格子部分領域13”に到達する。プリズムにより最も弱く偏向される、660nmから810nmまでのスペクトルを有する全スペクトルの長波のスペクトル成分は、光束1’,2’および3’により示され、格子部分13’に当たるようになっている。
本発明にしたがった配列により、予備分解により実現される、光束の符号1’,2’,3’ならびに1”,2”,3”および1’’’,2’’’,3’’’により示されるそれぞれのスペクトル部分域は、最適化されたそれぞれの回折格子領域に当たり、70%から90%までの間の高い回折効率(非偏光の光)でプリズムの分散方向に対して垂直にスペクトル分光されるようになっている。
回折格子13の構成方式については、これに(13’および13’’’に沿って)連続的に変化するブレーズ角が備えられると非常に有利である。その場合はこのブレーズ角が、プリズム17の内部でスペクトル予備分解されたそれぞれのスペクトル成分が、最適化されたそれぞれの回折格子領域に当たるように、構成されるようになっている。それにより回折効率の不連続性(図3を参照)を解消できるようになり、全スペクトル域において最大回折効率がもたらされることになる。
格子定数が1300L/mmであるこの回折格子13により発生されるこのスペクトルは、図示の例においては、焦点距離がf=100mmであり、その焦点面に複数の個別検出器素子16を擁する検出器アレイ15が位置している、1枚のレンズからなる1つのカメラ光学系14を通過するようになっている。検出器アレイ15は、そのそれぞれの素子が回折格子13の分散方向に整列するように、配向されている。
図5には、格子周期は同一であるが、格子輪郭形状の高さがいずれも異なっている3つの離散領域を有する反射型回折格子の第1実施形態が示されている。
図6には、格子輪郭形状の高さが連続的に増大している、格子周期が同一である反射型回折格子の第2実施形態が示されている。
図7には、格子周期が同一であり、格子輪郭形状の高さが等しいものの、1つの保護膜の厚さが連続的に増大している反射型回折格子の第3実施形態が示されている。
図8には、格子周期が同一であり、格子輪郭形状の高さが等しく、保護膜の厚さが同じであるが、保護膜の屈折率に勾配がある反射型回折格子の第4実施形態が示されている。
図9には、測定装置として本発明にしたがった高感度スペクトル分析ユニット100が備えられた共焦点レーザ走査型顕微鏡101の構造が図式的に示されている。そのスペクトル分析ユニット100は、図1に示される配列と同じ構造を有している。スペクトル分析ユニット100は、図4に示される配列と同じものであってもかまわない(不図示)。
光源20から発した光線束は、1つの主カラー・スプリッタ21、1つのx−yスキャナ22、1つの走査光学系23、1つの鏡筒レンズ25、および1つの対物レンズ26を通り試料27に到達する。試料27から発した光束は、対物レンズ26、鏡筒レンズ25、走査光学系23、x−yスキャナ22、主カラー・スプリッタ21、ならびに1つのピンホール光学系28、1つのピンホール29、1つのコリメータ光学系30、および1つのエミッション・フィルタ31を通り、スペクトル分析ユニット100のビーム・スプリッタに到達する。
走査光学系23と鏡筒レンズ25の間には、1つの中間像24が生じている。ほかにも、本発明を既存のレーザ走査型顕微鏡およびその他の分光測定装置に組み込むことができる点は、非常に有利である。
1 上縁部のメリジオナル光線
2 主光線
3 下縁部のメリジオナル光線
1’,2’,3’ 光線1,2,3の長波成分
1”,2”,3” 光線1,2,3の中波スペクトル成分
1’’’,2’’’,3’’’ 光線1,2,3の短波成分
10 第1のミラー
11’ 第1のダイクロイック・ビーム・スプリッタ(長波)
11’’’ 第2のダイクロイック・ビーム・スプリッタ(短波)
12 第2のミラー
13 異なるブレーズ波長13’(長波)、13”(中波域)および13’’’(短波)を持つ部分領域を有する回折格子
14 カメラ光学系
15 検出器アレイ
16 検出器アレイの素子
17 評価エレクトロニクス
18 分散プリズム
20 光源
21 主カラー・スプリッタ
22 x−yスキャナ
23 走査光学系
24 中間像
25 鏡筒レンズ
26 対物レンズ
27 試料
28 ピンホール光学系
29 ピンホール
30 コリメータ光学系
31 エミッション・フィルタ
100 スペクトル分析ユニット
101 共焦点レーザ走査型顕微鏡

Claims (6)

  1. 1つの回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニットであって、ある一定の波長域を有する平行な光束(1,2,3)が1つの回折格子(13)に入射すると、該回折格子(13)により異なる波長が回折によって第1の方向にスペクトル分光され、スペクトル分光された光束のそれぞれの部分波長域(1’,1”,1’’’,2’,2”,2’’’,3’,3”,3’’’)を1つのカメラ光学系(14)により1つの検出器アレイ(15)上に集束可能であり、さらに該検出器アレイ(15)に1つの評価エレクトロニクス(17)が接続されており、該評価エレクトロニクス(17)が発生されたスペクトルをデータとして獲得して表示するようになっている、高感度スペクトル分析ユニットにおいて、
    該光束(1,2,3)が1つの第1の光学素子(11)を通過して複数の部分波長域の光束にスペクトル分光され、該光束の複数の部分波長域の各々(1’,1”,1’’’,2’,2”,2’’’,3’,3”,3’’’)がいずれも、1つの回折格子(13)の対応する部分領域(13’,13”,13’’’)に当たり、
    該回折格子(13)が全ての部分領域にわたり同一の格子定数を有するとともに、変化する溝断面形状を有し、
    該溝断面形状により、前記1つの回折格子(13)の前記複数の部分領域の各々は、対応する前記部分波長域のブレーズ波長を発生し、
    前記第1の光学素子が1つのビーム・スプリッタ(10,11’,11”,12)である、回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニット。
  2. 1つの回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニットであって、ある一定の波長域を有する平行な光束(1,2,3)が1つの回折格子(13)に入射すると、該回折格子(13)により異なる波長が回折によって第1の方向にスペクトル分光され、スペクトル分光された光束のそれぞれの部分波長域(1’,1”,1’’’,2’,2”,2’’’,3’,3”,3’’’)を1つのカメラ光学系(14)により1つの検出器アレイ(15)上に集束可能であり、さらに該検出器アレイ(15)に1つの評価エレクトロニクス(17)が接続されており、該評価エレクトロニクス(17)が発生されたスペクトルをデータとして獲得して表示するようになっている、高感度スペクトル分析ユニットにおいて、
    該光束(1,2,3)が1つの第1の光学素子を通過して複数の部分波長域の光束にスペクトル分光され、該光束の複数の部分波長域の各々(1’,1”,1’’’,2’,2”,2’’’,3’,3”,3’’’)がいずれも、1つの回折格子(13)の対応する部分領域(13’,13”,13’’’)に当たり、
    該回折格子(13)が全ての部分領域にわたり同一の格子定数を有するとともに、変化する溝断面形状を有し、
    該溝断面形状により、前記1つの回折格子(13)の前記複数の部分領域の各々は、対応する前記部分波長域のブレーズ波長を発生し、
    前記第1の光学素子が1つの分散素子(18)であ
    前記複数の部分波長域の光束と、前記1つの回折格子(13)の複数の部分領域とは、回折効率の連続性を有するように構成される、回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニット。
  3. 1つの回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニットであって、ある一定の波長域を有する平行な光束(1,2,3)が1つの回折格子(13)に入射すると、該回折格子(13)により異なる波長が回折によって第1の方向にスペクトル分光され、スペクトル分光された光束のそれぞれの部分波長域(1’,1”,1’’’,2’,2”,2’’’,3’,3”,3’’’)を1つのカメラ光学系(14)により1つの検出器アレイ(15)上に集束可能であり、さらに該検出器アレイ(15)に1つの評価エレクトロニクス(17)が接続されており、該評価エレクトロニクス(17)が発生されたスペクトルをデータとして獲得して表示するようになっている、高感度スペクトル分析ユニットにおいて、
    該光束(1,2,3)が1つの第1の光学素子を通過して複数の部分波長域の光束にスペクトル分光され、該光束の複数の部分波長域の各々(1’,1”,1’’’,2’,2”,2’’’,3’,3”,3’’’)がいずれも、1つの回折格子(13)の対応する部分領域(13’,13”,13’’’)に当たり、
    該回折格子(13)が全ての部分領域にわたり同一の格子定数を有するとともに、変化する溝断面形状を有し、
    該溝断面形状により、前記1つの回折格子(13)の前記複数の部分領域の各々は、対応する前記部分波長域のブレーズ波長を発生し、
    前記第1の光学素子が1つの分散プリズム(18)であ
    前記複数の部分波長域の光束と、前記1つの回折格子(13)の複数の部分領域とは、回折効率の連続性を有するように構成される、回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニット。
  4. 前記回折格子が、前記部分波長域(1’,1”,1’’’,2’,2”,2’’’,3’,3”,3’’’)の数と同数の部分領域(13’,13”,13’’’)を有することを特徴とする、請求項1乃至のいずれか1項に記載の回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニット。
  5. 前記回折格子が、入射光束の前記各波長域に対して適合化された連続的に変化する溝断面形状を有することを特徴とする、請求項1乃至のいずれか1項に記載の回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニット。
  6. レーザ走査型顕微鏡において検出器として導入可能であることを特徴とする、請求項1乃至のいずれか1項に記載の回折格子を有する高感度スペクトル分析ユニット。
JP2009530794A 2006-10-06 2007-10-02 高感度スペクトル分析ユニット Active JP5517621B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006047913.0 2006-10-06
DE200610047913 DE102006047913B4 (de) 2006-10-06 2006-10-06 Hochempfindliche spektralanalytische Einheit
PCT/EP2007/008552 WO2008043457A1 (de) 2006-10-06 2007-10-02 Hochempfindliche spektralanalytische einheit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010506154A JP2010506154A (ja) 2010-02-25
JP5517621B2 true JP5517621B2 (ja) 2014-06-11

Family

ID=38743246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009530794A Active JP5517621B2 (ja) 2006-10-06 2007-10-02 高感度スペクトル分析ユニット

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8098374B2 (ja)
JP (1) JP5517621B2 (ja)
DE (1) DE102006047913B4 (ja)
WO (1) WO2008043457A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101978275B (zh) * 2008-02-05 2015-01-07 普凯尔德诊断技术有限公司 用于鉴定生物样品中细菌的系统
DE102008054733B4 (de) * 2008-12-16 2021-02-25 Hitachi High-Tech Analytical Science Finland Oy Spektrometer mit mehreren Gittern
JP2013131724A (ja) * 2011-12-22 2013-07-04 Gigaphoton Inc レーザ装置
US9291501B2 (en) * 2012-07-26 2016-03-22 Raytheon Company High efficiency multi-channel spectrometer
JP2014211310A (ja) * 2013-04-17 2014-11-13 独立行政法人産業技術総合研究所 2光路構築によるストークスピークとアンチストークスピークの同時測定を可能とするラマン散乱分光測定装置
EA024759B1 (ru) * 2013-11-29 2016-10-31 Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Образования "Самарский Государственный Аэрокосмический Университет Имени Академика С.П. Королева (Национальный Исследовательский Университет) (Сгау) Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов
DE102014203348A1 (de) * 2014-02-25 2015-08-27 Carl Zeiss Smt Gmbh Bündelverteilungsoptik, Beleuchtungsoptik mit einer derartigen Bündelverteilungsoptik, optisches System mit einer derartigen Beleuchtungsoptik sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen optischen System
GB201415238D0 (en) * 2014-08-28 2014-10-15 Renishaw Plc Spectroscopy apparatus
US9826226B2 (en) 2015-02-04 2017-11-21 Dolby Laboratories Licensing Corporation Expedited display characterization using diffraction gratings
WO2016176088A1 (en) * 2015-04-28 2016-11-03 University Of Florida Research Foundation, Inc. Integrated miniature polarimeter and spectograph using static optics

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3791737A (en) * 1971-06-18 1974-02-12 A Johansson Spectrometer in which a desired number of spectral lines are focused at one fixed output slit
US4110042A (en) * 1975-04-24 1978-08-29 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh Method and apparatus for photoelectrically determining the position of at least one focal plane of an image
JPS5414254A (en) * 1977-07-02 1979-02-02 Nippon Bunko Kogyo Kk Wide range spectrometer
JPS5657010A (en) 1979-10-17 1981-05-19 Japan Spectroscopic Co Holographic grating
US4957371A (en) * 1987-12-11 1990-09-18 Santa Barbara Research Center Wedge-filter spectrometer
JPH06103223B2 (ja) * 1988-06-16 1994-12-14 株式会社日立製作所 2次元像分光装置
DD292078A5 (de) * 1990-02-15 1991-07-18 ���k���������������@����@�����@���@�������������k�� Fchelle-polychromator
US5737125A (en) * 1992-10-27 1998-04-07 Olympus Optical Co., Ltd. Diffractive optical element and optical system including the same
JPH06138415A (ja) * 1992-10-27 1994-05-20 Olympus Optical Co Ltd 回折素子を含む光学系
JPH06241897A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 分光装置
GB9410395D0 (en) * 1994-05-24 1994-07-13 Renishaw Plc Spectroscopic apparatus
US5565983A (en) * 1995-05-26 1996-10-15 The Perkin-Elmer Corporation Optical spectrometer for detecting spectra in separate ranges
DE19701753A1 (de) 1997-01-20 1998-07-23 Aichinger Helmuth H-Feld Indikator
US6487019B2 (en) * 2000-03-27 2002-11-26 Chromaplex, Inc. Optical diffraction grating structure with reduced polarization sensitivity
DE10151217B4 (de) * 2001-10-16 2012-05-16 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops
JP4646506B2 (ja) * 2003-09-11 2011-03-09 オリンパス株式会社 レーザ走査型顕微鏡
US7193707B2 (en) * 2004-02-02 2007-03-20 Ube Industries, Ltd. Small sized wide wave-range spectroscope
US20060066948A1 (en) * 2004-09-24 2006-03-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Multi-level and gray-level diffraction gratings
US7342659B2 (en) * 2005-01-21 2008-03-11 Carl Zeiss Meditec, Inc. Cross-dispersed spectrometer in a spectral domain optical coherence tomography system
US20070019194A1 (en) * 2005-07-21 2007-01-25 Liangyao Chen Full spectral range spectrometer
US20070030484A1 (en) * 2005-08-08 2007-02-08 Acton Research Corporation Spectrograph with segmented dispersion device

Also Published As

Publication number Publication date
US8098374B2 (en) 2012-01-17
US20100007878A1 (en) 2010-01-14
DE102006047913B4 (de) 2013-08-08
WO2008043457A1 (de) 2008-04-17
DE102006047913A1 (de) 2008-04-10
JP2010506154A (ja) 2010-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5517621B2 (ja) 高感度スペクトル分析ユニット
US7518722B2 (en) Multi-channel, multi-spectrum imaging spectrometer
US7936455B2 (en) Three mirror anastigmat spectrograph
CN102656431B (zh) 光谱仪装置
JP5567887B2 (ja) 分光装置
JP2010060548A (ja) ハイパースペクトル走査装置およびその方法
WO2005017489A2 (en) Film mapping system
CN110631702B (zh) 一种光谱分辨率增强装置
US7292337B2 (en) Optical processor using detecting assembly and method using same
JP5189777B2 (ja) 回折格子を備えるスペクトル分析ユニット
US10539786B2 (en) Rotatable prisms for controlling dispersion magnitude and orientation and methods of use
US9638635B2 (en) Spectrometer for analysing the spectrum of a light beam
CN110501074B (zh) 高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像方法及装置
JP3429589B2 (ja) 画像分光装置
KR20150116999A (ko) 다채널 여기 광원 스위칭용 마이크로 라만 및 형광 분광분석장치
JP5576649B2 (ja) 分光器、及び、それを備えた光学装置
US7019833B2 (en) Miniature optical spectrometer
JP3125688B2 (ja) 回折格子分光計
JP5028660B2 (ja) 光学特性測定装置および光学特性測定方法
EP2211154B1 (en) Monochromator having a tunable grating
Zhu et al. Optical design of prism-grating-prism imaging spectrometers
US6583874B1 (en) Spectrometer with holographic and echelle gratings
JP2001264169A (ja) 分光装置
RU2329476C2 (ru) Спектрограф
JP4556620B2 (ja) 分光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100409

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20120116

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120313

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120321

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120621

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120628

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120821

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120828

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120921

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130319

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130619

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130626

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130919

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140311

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140401

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5517621

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250