EA024759B1 - Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов - Google Patents
Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов Download PDFInfo
- Publication number
- EA024759B1 EA024759B1 EA201301216A EA201301216A EA024759B1 EA 024759 B1 EA024759 B1 EA 024759B1 EA 201301216 A EA201301216 A EA 201301216A EA 201301216 A EA201301216 A EA 201301216A EA 024759 B1 EA024759 B1 EA 024759B1
- Authority
- EA
- Eurasian Patent Office
- Prior art keywords
- diffraction grating
- hyperspectrometer
- groove height
- height
- wavelength
- Prior art date
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 abstract description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 8
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000000701 chemical imaging Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2823—Imaging spectrometer
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
- G02B5/1814—Diffraction gratings structurally combined with one or more further optical elements, e.g. lenses, mirrors, prisms or other diffraction gratings
- G02B5/1819—Plural gratings positioned on the same surface, e.g. array of gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2823—Imaging spectrometer
- G01J2003/2826—Multispectral imaging, e.g. filter imaging
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области оптической спектроскопии. Сущность изобретения: устройство состоит из оптического элемента, объектива, ПЗС матрицы, цифрового обрабатывающего блока. Оптический элемент выполнен в виде дифракционной решетки с переменной высотой штрихов, при этом высота штрихов решетки меняется от значениядо значениягде h- высота штрихов с левой стороны дифракционной решетки, h- высота штрихов с правой стороны дифракционной решетки, λ- наибольшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, λ- наименьшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, n - показатель преломления материала решетки для текущей длины волны, а перед дифракционной решеткой установлен дополнительно второй объектив.
Description
Изобретение относится к области оптической спектроскопии.
В настоящее время одним из важных и приоритетных направлений развития средств и методов дистанционного зондирования земной поверхности является разработка и применение изображающих спектрометров (патенты КИ 2313070, МПК 00113/45, опубл. 10.07.2007 г., И8 6222627 В1, МПК 00113/28, опубл. 24.04.2001 г., И8 6930781 В2, МПК 001В09/02 опубл. 16.08.2005 г., И8 7224464 В2, МПК 00113/453, опубл. 29.05.2007 г.). В изображающих спектрометрах реализуются принципы новой научной дисциплины - изображающей спектроскопии, в которой помимо геометрических используются спектральные характеристики объектов. В состав видеоспектрометров входят две системы. Во-первых, оптическая система, которая делит регистрируемую область пространства на набор смежных точек, и, вовторых, изображающий спектрометр, который разлагает состав принятого электромагнитного излучения на набор ограниченных спектральных полос. Особенно удобны для решения задач изображающей спектроскопии, так называемые, фильтровые спектрометры (патент КИ 2377510, МПК 00113/45, опубл. 27.12.2009 г.).
Перечисленные выше устройства обладают рядом трудно устранимых недостатков: дополнительные аберрации в системе, связанные с наличием дисперсионного элемента, работа с изображением в узкой щели, динамическое исполнение. У фильтрового спектрометра (патент КИ 2377510 опубл. 27.12.2009 г.) главные недостатки - слишком узкий рабочий диапазон, или необходимость динамического исполнения этого прибора (указанная в патенте конфигурация может работать как в статическом, так и в динамическом режиме).
Наиболее близким техническим решением, выбранным в качестве прототипа, является устройство, основанное на поглощении анализируемого светового поля специальным фильтром, состоящим из двух перемещающихся оптических клиньев (Бакуменко В.Л., Свиридов А.Н. Новые схемы спектрометров / Прикладная физика № 2, 1999 г., 1и1р://\у\у\у.У1ткги/арр1р11у5/арр1-99/99-2/99-2-3г.1П1п). Устройство состоит из оптического элемента в виде пары оптических клиньев, изготовленных из материала, спектральная характеристика коэффициента поглощения которого определяет рабочую спектральную область прибора. Перемещение клиньев одного относительно другого позволяет плавно изменять оптический путь пучка света в поглощающей среде, ПЗС матрица регистрирует прошедший через клинья свет, и его сигнал поступает в блок регистрации и обработки, который выполняет вычислительные операции, необходимые для восстановления спектрального состава анализируемого излучения.
Главным недостатком этой конструкции является сложность конструкции из-за необходимости перемещения оптических клиньев, т.е. динамическое исполнение прибора, что снижает его точность.
В основу изобретения поставлена задача - упростить конструкцию прибора и повысить его точность, за счет того, что входящее излучение анализируется при разных коэффициентах поглощения, которые функционально зависят от длины волны.
Указанная задача достигается за счет того, что изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов, состоящий из оптического элемента, объектива, ПЗС матрицы, цифрового обрабатывающего блока, согласно изобретению, оптический элемент выполнен в виде дифракционной решетки с переменной высотой штрихов, при этом высота штрихов решетки меняется
от значения 2(и-1) до значения где Й! - высота штрихов с левой стороны дифракционной решетки, й2 - высота штрихов с правой стороны дифракционной решетки, λ! - наибольшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, λ2 - наименьшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, η - показатель преломления материала решетки для данной длины волны, а перед дифракционной решеткой установлен дополнительный объектив.
Заявляемое техническое решение отличается от прототипа тем, что вместо двух оптических клиньев устанавливается дифракционный оптический фильтр с функцией пропускания, которая плавно меняется от одного края фильтра к другому. Таким образом, убирается основной недостаток прототипа - необходимость динамического исполнения прибора, а также еще один недостаток прототипа, связанный с трудностью подбора материала, который давал бы примерно одинаковое спектральное разрешение в разных спектральных диапазонах.
Эти отличия позволяют сделать вывод о соответствии заявляемого технического решения критерию новизна. Признаки, отличающие заявляемое техническое решение от прототипа, не выявлены в других технических решениях при изучении данной и смежной областей техники и, следовательно, обеспечивают заявляемым решениям соответствие критерию существенные отличия.
На фиг. 1 представлена оптическая схема устройства.
На фиг. 2 - схематическое изображение дифракционной решетки.
Устройство состоит из объектива 1, оптического элемента 2, выполненного в виде дифракционной решетки с переменной высотой штрихов, второго объектива 3, ПЗС матрицы 4, цифрового обрабаты- 1 024759 вающего блока 5.
Объектив 1 формирует изображение на поверхности дифракционного фильтра с предлагаемой здесь функцией пропускания 2. Затем объектив 3 формирует изображение предмета, умноженное на функцию пропускания фильтра 2, на светочувствительной ПЗС (прибор с зарядовой связью) матрице 4. Изображение передается на цифровой блок обработки 5.
Дифракционный оптический фильтр представляет собой дифракционную решетку с разной высотой штрихов. Схематическое изображение такой дифракционной решетки представлено на фиг. 2. Ширина области со штрихами одной высоты соответствует ширине столбца ПЗС матрицы. Высота штрихов меняется от значения
до значения
где ф - высота штрихов с левой стороны дифракционной решетки,
1ι2 -высота штрихов с правой стороны дифракционной решетки, λ1 - наибольшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, λ2 - наименьшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, η - показатель преломления решетки для текущей длины волны.
Коэффициент пропускания такой решетки τ в направлении 0-го порядка (т.е. по оптической оси) будет зависеть от высоты штрихов и от длины волны по формуле:
где τ0 - коэффициент пропускания подложки, на которой изготовлена решетка.
При этом обычно τ0«1. Таким образом для каждого столбца в ПЗС матрице будет свой коэффициент пропускания у фильтра 2. При смещении всей конструкции в направлении, перпендикулярном столбцам ПЗС матрицы, как это происходит в задачах дистанционного зондирования Земли, каждая точка изображения последовательно будет проходить через участки дифракционного фильтра с разной функцией пропускания (τ1...τη), где η -количество столбцов ПЗС матрицы.
В этом случае сигнал снимаемый с |-го элемента ί-го столбца ПЗС матрицы, будет определяться соотношением х,
Л = ^,(λ)η(λ)5 (4) λ, где η (λ) - спектральная чувствительность ПЗС матрицы, δ1_ί(λ) - искомый спектр.
Считая, что количество столбцов и строк в ПЗС матрице достаточно велико, можно перейти к непрерывному способу описания λ2
Л(х,у) = |τ(λ,χ)π(λ)5(λ,Λ:,^)6λ, (5) λ, где х, у -декартовы координаты в плоскости ПЗС матрицы.
Уравнение (5) - это интегральное уравнение Фредгольма 1-го рода, решив которое в блоке 5 можно получить информацию о спектре δ(λ, х, у) для каждой точки изображения.
Устройство позволяет получать гиперспектральные изображения при решении задачи дистанционного зондирования Земли, как при авиационном, так и при орбитальном расположении.
Claims (1)
- ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯИзображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки, состоящий из оптического элемента, объектива, ПЗС матрицы, цифрового вычислительного блока, отличающийся тем, что оптический элемент выполнен в виде дифракционной решетки с изменяющейся высотой штрихов, при этом высота штрихов решетки изменяется от значения 2(1-1-1) до значения 2(л-1) где ф - высота штрихов с левой стороны дифракционной решетки,1ι2 - высота штрихов с правой стороны дифракционной решетки, λ1 - наибольшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, λ2 - наименьшая длина волны рабочего диапазона гиперспектрометра, η - показатель преломления материала решетки для текущей длины волны, а перед дифракционной решеткой установлен дополнительно второй объектив.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EA201301216A EA024759B1 (ru) | 2013-11-29 | 2013-11-29 | Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов |
DE102014117023.7A DE102014117023A1 (de) | 2013-11-29 | 2014-11-20 | Abbildendes Hyperspektrometer auf Grundlage eines Difraktionsgitters mit variabler Furchenhöhe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EA201301216A EA024759B1 (ru) | 2013-11-29 | 2013-11-29 | Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EA201301216A1 EA201301216A1 (ru) | 2015-08-31 |
EA024759B1 true EA024759B1 (ru) | 2016-10-31 |
Family
ID=53058607
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EA201301216A EA024759B1 (ru) | 2013-11-29 | 2013-11-29 | Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102014117023A1 (ru) |
EA (1) | EA024759B1 (ru) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060050391A1 (en) * | 2004-08-10 | 2006-03-09 | Johan Backlund | Structured-groove diffraction granting and method for control and optimization of spectral efficiency |
US20070165222A1 (en) * | 2005-03-02 | 2007-07-19 | Li-Cor, Inc. | On-Chip Spectral Filtering Using CCD Array For Imaging and Spectroscopy |
RU2332645C1 (ru) * | 2006-11-10 | 2008-08-27 | ФГУП "Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова" | Минигабаритный гиперспектрометр на базе дифракционного полихроматора |
US20100007878A1 (en) * | 2006-10-06 | 2010-01-14 | Ralf Wolleschensky | Highly sensitive spectroscopic unit |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0939323A1 (en) | 1998-02-28 | 1999-09-01 | C.S.E.M. Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa | Wollaston prism and use of it in a fourier-transform spectrometer |
US7224464B2 (en) | 1998-11-04 | 2007-05-29 | Manning Christopher J | Fourier-transform spectrometers |
WO2004048908A2 (en) | 2002-11-26 | 2004-06-10 | Cornell Research Foundation, Inc. | Miniaturized holographic fourier transform spectrometer with digital aberration correction |
RU2313070C2 (ru) | 2005-12-26 | 2007-12-20 | Георгий Михайлович Грязнов | Интерференционный спектрометр |
RU2377510C1 (ru) | 2008-09-16 | 2009-12-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "ОРИОН" | Отображающий спектрометр |
-
2013
- 2013-11-29 EA EA201301216A patent/EA024759B1/ru not_active IP Right Cessation
-
2014
- 2014-11-20 DE DE102014117023.7A patent/DE102014117023A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060050391A1 (en) * | 2004-08-10 | 2006-03-09 | Johan Backlund | Structured-groove diffraction granting and method for control and optimization of spectral efficiency |
US20070165222A1 (en) * | 2005-03-02 | 2007-07-19 | Li-Cor, Inc. | On-Chip Spectral Filtering Using CCD Array For Imaging and Spectroscopy |
US20100007878A1 (en) * | 2006-10-06 | 2010-01-14 | Ralf Wolleschensky | Highly sensitive spectroscopic unit |
RU2332645C1 (ru) * | 2006-11-10 | 2008-08-27 | ФГУП "Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова" | Минигабаритный гиперспектрометр на базе дифракционного полихроматора |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EA201301216A1 (ru) | 2015-08-31 |
DE102014117023A1 (de) | 2015-06-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102543392B1 (ko) | 깊이 획득을 위한 명시야 이미지 처리 방법 | |
DeWeert et al. | Lensless coded-aperture imaging with separable Doubly-Toeplitz masks | |
US8149400B2 (en) | Coded aperture snapshot spectral imager and method therefor | |
EP3860107B1 (en) | Optical sensor device | |
CN101526400B (zh) | 阿达玛变换干涉光谱成像方法及设备 | |
US9426383B1 (en) | Digital camera for capturing spectral and spatial information | |
KR20210048951A (ko) | 초분광 이미지 센서 및 이를 포함하는 초분광 촬상 장치 | |
CN101782430B (zh) | 一种基于哈达玛变换成像光谱仪的光谱复原方法 | |
US11346719B2 (en) | Fourier-transform hyperspectral imaging system | |
EP4036615A1 (en) | Optical device | |
Kim et al. | Aperture-encoded snapshot hyperspectral imaging with a lensless camera | |
JP5942356B2 (ja) | 分光情報取得装置、分光情報取得方法及び分光情報取得用プログラム | |
US11199448B2 (en) | Spectroscopic measurement device and spectroscopic measurement method | |
CN108761605B (zh) | 一种基于全局随机编码规则的混合衍射光栅 | |
RU70575U1 (ru) | Статический мультиплексный дисперсионный спектрометр | |
EA024759B1 (ru) | Изображающий гиперспектрометр на основе дифракционной решетки с переменной высотой штрихов | |
DeWeert et al. | Lensless coded aperture imaging with separable doubly Toeplitz masks | |
US20160018262A1 (en) | Optical filter and optical measuring device employing the same | |
RU2313070C2 (ru) | Интерференционный спектрометр | |
KR20230127277A (ko) | 촬상 장치 및 광학소자 | |
CN108761604B (zh) | 基于全局随机编码规则的位相衍射光栅 | |
RU2397457C1 (ru) | Отображающий фокальный спектрометр (варианты) | |
JP4297830B2 (ja) | 撮像装置およびその使用方法 | |
US20220086372A1 (en) | Multi-Modal Computational Imaging via Metasurfaces | |
WO2020179628A1 (ja) | 分光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): AM AZ KG TJ TM |
|
MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): BY KZ RU |