JP2007284327A - セラミックス組成物及び積層セラミック回路装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 SiO2_53.5〜62質量%、MgO_12〜22質量%、CaO_21〜32質量%からなる主成分100質量部に対して、副成分としてホウ素をB2O3換算で1.0〜5.0質量部、ビスマスをBi2O3換算で1.0〜20質量部、アルミナをAl2O3換算で0.1〜3質量部、及びリチウムをLi2O換算で0.1〜1.5重量部を有し、前記主成分は焼結後にディオプサイド結晶相(CaMgSi2O6)を形成することを特徴とする
【選択図】なし
Description
Claims (4)
- 焼結後の組成がSiO2_53.5〜62.0質量%、MgO_12.0〜22.0質量%、CaO_21.0〜32.0質量%からなる主成分100.0質量部に対して、
副成分としてホウ素をB2O3換算で1.0〜5.0質量部、ビスマスをBi2O3換算で1.0〜20.0質量部、アルミナをAl2O3換算で0.1〜3.0質量部及びリチウムをLi2O換算で0.1〜1.5質量部を有しており、
前記主成分はディオプサイド結晶相(CaMgSi2O6)を形成していることを特徴とするセラミックス組成物。 - さらに、副成分として銀をAg2O換算で0.1〜5.0質量部有していることを特徴とする請求項1に記載のセラミックス組成物。
- セラミックス積層体内に内部導体が埋め込まれた構造を有する積層セラミック回路装置において、前記セラミックス積層体は、
焼結後の組成がSiO2_53.5〜62.0質量%、MgO_12.0〜22.0質量%、CaO_21.0〜32.0質量%からなる主成分100.0質量部に対して、
副成分としてホウ素をB2O3換算で1.0〜5.0重量部、ビスマスをBi2O3換算で1.0〜20.0重量部、アルミナをAl2O3換算で0.1〜3.0重量部及びリチウムをLi2O換算で0.1〜1.5重量部を有しており、
前記主成分はディオプサイド結晶相(CaMgSi2O6)を形成しているセラミックス組成物で構成され、
前記内部導体はAgまたはCuで構成されていることを特徴とするセラミックス多層配線基板。 - 前記セラミックス積層体を構成するセラミックス組成物は、さらに副成分として銀をAg2O換算で0.1〜5.0質量部有し、前記配線導体はAgで構成されていることを特徴とする請求項3に記載の積層セラミック回路装置。
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