JP2007266204A - 金属ベース回路基板およびその製法、ならびにledモジュール - Google Patents
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Abstract
【解決手段】金属箔上に絶縁層を介して導体回路を設け、更にカバーレイ、磁性損失を有する層又は誘電損失を有する層を設けてなる金属ベース回路基板であって、少なくともカバーレイの一部が除かれて形成されているスリットが前記導体回路の設けられていない部分に形成されていることを特徴とする金属ベース回路基板。
【選択図】図5
Description
(1)金属箔上に絶縁層を介して導体回路を設け、更にカバーレイを設けてなる金属ベース回路基板であって、少なくともカバーレイの一部が除かれて形成されているスリットが前記導体回路の設けられていない部分に形成されていることを特徴とする金属ベース回路基板。
(2)前記スリットが、折り曲げる部分の長さに対して50%以上95%以下加工されていることを特徴とする(1)の金属ベース回路基板。
(3)絶縁層が無機フィラーを含有する熱硬化性樹脂からなり、当該絶縁層の厚みが30μm以上80μm以下であり、金属箔の厚さが5μm以上40μm以下であり、しかも導体回路の厚さが9μm以上40μm以下であることを特徴とする(1)又は(2)記載の金属ベース回路基板。
(4)絶縁層が、最大粒子径が30μm以下で、平均粒子径が2〜15μmの球状粒子からなり、ナトリウムイオン濃度が500ppm以下の無機フィラー50〜75体積%と残部熱硬化性樹脂とからなることを特徴とする(1)乃至(3)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(5)熱硬化性樹脂が水素添加されたビスフェノールF型またはA型のエポキシ樹脂を含有することを特徴とする(1)乃至(4)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(6)熱硬化性樹脂がエポキシ当量800以上4000以下の直鎖状の高分子量エポキシ樹脂を含有することを特徴とする(1)乃至(5)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(7)熱硬化性樹脂中の塩化物イオン濃度が500ppm以下であることを特徴とする(1)乃至(6)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(8)絶縁層のガラス転移温度が0〜40℃であることを特徴とする(1)乃至(7)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(9)カバーレイの厚さが5μm以上25μm以下であることを特徴とする(1)乃至(8)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(10)スリット部にて、折り曲げられていることを特徴とする(1)乃至(9)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(11)絶縁層表面が、曲率半径0.1〜0.5mmで90°以上に折り曲げられていることを特徴とする(1)乃至(10)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(12)カバーレイの表面上に、磁性損失を有する層が積層されていることを特徴とする(1)乃至(11)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(13)磁性損失を有する層が、アスペクト比が2以上である磁性材料と有機結合材とからなり、前記磁性材料の含有量が30〜70vol%であり、さらに当該磁性損失を有する層の厚さが3μm以上50μm以下であることを特徴する(12)記載の金属ベース回路基板。
(14)誘電損失を有する層が、比表面積が20〜110m2/gのカーボン粉末と有機結合材とからなり、前記カーボン粉末の含有量が5〜60vol%であり、当該磁性損失を有する層の厚さが3μm以上50μm以下であることを特徴とする(12)の金属ベース回路基板。
(15)カーボン粉末が、JIS K 1469による電気抵抗率が0.1Ωcm以下であるホウ素固溶のカーボンブラックであることを特徴とする(14)に記載の金属ベース回路基板。
(16)絶縁層の熱伝導率が1〜4W/mKであり、導体回路と金属箔との間の耐電圧が1.0kV以上である(1)乃至(15)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板。
(17)(1)乃至(16)のいずれか一つに記載の金属ベース回路基板の導体回路に、少なくとも1個のLEDを電気的に接続してなることを特徴とするLED。
18μm厚の銅箔上に、エポキシ当量が207の水素添加されたビスフェノールA型エポキシ樹脂(大日本インキ化学工業社製「EXA−7015」)をエポキシ樹脂全体で70質量%と、エポキシ当量が1200の水素添加されたビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製「YL−7170」)30質量%とからなるエポキシ樹脂100質量部に対し、硬化剤としてポリオキシプロピレンジアミン(ハルツマン社製「D−400」と「D−2000」の質量比が6:4のもの)48質量部を加え、最大粒子径を30μm以下とした平均粒子径が10μmで、ナトリウムイオン濃度が90ppmである球状粗粒子の酸化アルミニウム(電気化学工業社製「DAW−10」)と平均粒子径が0.7μmでナトリウムイオン濃度が8ppmである球状微粒子の酸化アルミニウム(住友化学社製「AKP−15」)を合わせて、絶縁層中50体積%(球状粗粒子と球状微粒子は質量比が7:3)となるように配合し、硬化後の厚さが50μmになるように絶縁層を形成し、つぎに、18μm厚の銅箔を張り合わせ、加熱することにより絶縁層を熱硬化させ、絶縁層中の熱硬化性樹脂全体で塩化物イオン濃度が300ppm以下で、絶縁層中の無機フィラー全体でナトリウムイオン濃度が50ppm以下である金属ベース基板を得た。
金属ベース回路基板を10mm×100mmに加工して、25±1℃の温度雰囲気下において、テンシロン引っ張り強度試験機にて金属ベース回路基板が破断する時の強さを測定し、引っ張り強さとした。
金属ベース回路基板を10mm×100mmに加工して、25±1℃の温度雰囲気下において、両手で導体回路形成面側および導体回路形成面と反対側に曲率半径0.5mmで90°以上折り曲げることが可能であるものを良好とし、折り曲げを実施する際に、曲げ加工用の金型とプレス機などを用いる必要がある場合を不良とした。
25±1℃の温度雰囲気下において得られたLEDモジュールに安定化電源を接続して電圧10V、電流150mA流してLEDを1時間以上点灯させた。その時にLEDが1時間以上点灯した場合を良好とし、LEDが未点灯や1時間以上点灯しなかった場合を不良とした。
金属ベース回路基板を曲率半径0.3mmで90°折り曲げた状態でJIS C 2110に規定された段階昇圧法により導体回路とベース金属箔(Cu箔)との間の耐電圧を測定した。
得られた基板に対し、ネットワークアナライザ(8517D、アジレントテクノロジー社製)を使用して、300MHz、及び1GHzの周波数に対し電磁波吸収特性を測定した。吸収特性は、マイクロストリップライン法を用いて、ライン上の電磁波の反射信号S11と伝送信号S21の測定結果から、吸収割合(Ploss/Pin)を算出した。
18μm厚の銅箔上に、エポキシ当量が207の水素添加されたビスフェノールA型エポキシ樹脂(大日本インキ化学工業社製「EXA−7015」)をエポキシ樹脂全体で70質量%と、エポキシ当量が1200の水素添加されたビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製「YL−7170」)30質量%とからなるエポキシ樹脂100質量部に対し、硬化剤としてポリオキシプロピレンジアミン(ハルツマン社製「D−400」と「D−2000」の質量比が6:4のもの)48質量部を加え、最大粒子径を30μm以下とした平均粒子径が10μmで、ナトリウムイオン濃度が90ppmである球状粗粒子の酸化アルミニウム(電気化学工業社製「DAW−10」)と平均粒子径が0.7μmでナトリウムイオン濃度が8ppmである球状微粒子の酸化アルミニウム(住友化学社製「AKP−15」)を合わせて、絶縁層中50体積%(球状粗粒子と球状微粒子は質量比が7:3)となるように配合し、硬化後の厚さが50μmになるように絶縁層を形成し、つぎに、18μm厚の銅箔を張り合わせ、加熱することにより絶縁層を熱硬化させ、絶縁層中の熱硬化性樹脂全体で塩化物イオン濃度が300ppm以下で、絶縁層中の無機フィラー全体でナトリウムイオン濃度が50ppm以下である金属ベース基板を得た。
18μm厚の銅箔上に、エポキシ当量が207の水素添加されたビスフェノールA型エポキシ樹脂(大日本インキ化学工業社製「EXA−7015」)をエポキシ樹脂全体で70質量%と、エポキシ当量が1200の水素添加されたビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製「YL−7170」)30質量%とからなるエポキシ樹脂100質量部に対し、硬化剤としてポリオキシプロピレンジアミン(ハルツマン社製「D−400」と「D−2000」の質量比が6:4のもの)48質量部を加え、最大粒子径を30μm以下とした平均粒子径が10μmで、ナトリウムイオン濃度が90ppmである球状粗粒子の酸化アルミニウム(電気化学工業社製「DAW−10」)と平均粒子径が0.7μmでナトリウムイオン濃度が8ppmである球状微粒子の酸化アルミニウム(住友化学社製「AKP−15」)を合わせて、絶縁層中50体積%(球状粗粒子と球状微粒子は質量比が7:3)となるように配合し、硬化後の厚さが50μmになるように絶縁層を形成し、つぎに、18μm厚の銅箔を張り合わせ、加熱することにより絶縁層を熱硬化させ、絶縁層中の熱硬化性樹脂全体で塩化物イオン濃度が300ppm以下で、絶縁層中の無機フィラー全体でナトリウムイオン濃度が50ppm以下である金属ベース基板を得た。
カバーレイを貼り付けることによる基板を補強と折り曲げる部分のスリット加工を行わない以外は全て実施例1と同様の処理を行い、金属ベース回路基板を得た。
折り曲げる部分のスリット加工を行わない以外は全て実施例1と同様の処理を行い、金属ベース回路基板を得た。
磁性損失を有する層が、アスペクト比が1である磁性材料と有機結合材とからなる、厚さ2μmの磁性損失層を前記磁性材料の含有量が20vol%の磁性損失を有する層をカバーレイの上面に形成する以外は実施例2と同様の処理を行い、金属ベース回路基板を得た。
比表面積が10m2/g、JIS K 1469による体積抵抗率が0.2Ωcmであるホウ素固溶のカーボンブラックであるカーボン粉末と有機結合材とからなる、前記カーボン粉末の含有量が4vol%で厚さが2μmの誘電損失を有する層をカバーレイの上面に形成した以外は実施例3と同様の処理を行い、金属ベース回路基板を得た。
2 絶縁層
3 導体回路
4 電極
5 スリット部
6 カバーレイ
6a エポキシ接着層
7 部品搭載部
8 入力端子
9a 磁性損失を有する層
9b 誘電損失を有する層
10 発熱部品(LED)
11 折り曲げ箇所
12 筐体
13 熱伝導性粘着テープ
Claims (17)
- 金属箔上に絶縁層を介して導体回路を設け、更にカバーレイを設けてなる金属ベース回路基板であって、少なくともカバーレイの一部が除かれて形成されているスリットが前記導体回路の設けられていない部分に形成されていることを特徴とする金属ベース回路基板。
- 前記スリットが、折り曲げる部分の長さに対して50%以上95%以下加工されていることを特徴とする請求項1記載の金属ベース回路基板。
- 絶縁層が無機フィラーを含有する熱硬化性樹脂からなり、当該絶縁層の厚みが30μm以上80μm以下であり、金属箔の厚さが5μm以上40μm以下であり、しかも導体回路の厚さが9μm以上40μm以下であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の金属ベース回路基板。
- 絶縁層が、最大粒子径が30μm以下で、平均粒子径が2〜15μmの球状粒子からなり、ナトリウムイオン濃度が500ppm以下の無機フィラー50〜75体積%と残部熱硬化性樹脂とからなることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- 熱硬化性樹脂が水素添加されたビスフェノールF型またはA型のエポキシ樹脂を含有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- 熱硬化性樹脂がエポキシ当量800以上4000以下の直鎖状の高分子量エポキシ樹脂を含有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- 熱硬化性樹脂中の塩化物イオン濃度が500ppm以下であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- 絶縁層のガラス転移温度が0〜40℃であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- カバーレイの厚さが5μm以上25μm以下であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- スリット部にて、折り曲げられていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- 絶縁層表面が、曲率半径0.1〜0.5mmで90°以上に折り曲げられていることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- カバーレイの表面上に、磁性損失を有する層が積層されていることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- 磁性損失を有する層が、アスペクト比が2以上である磁性材料と有機結合材とからなり、前記磁性材料の含有量が30〜70vol%であり、さらに当該磁性損失を有する層の厚さが3μm以上50μm以下であることを特徴する請求項12記載の金属ベース回路基板。
- 誘電損失を有する層が、比表面積が20〜110m2/gのカーボン粉末と有機結合材とからなり、前記カーボン粉末の含有量が5〜60vol%であり、当該磁性損失を有する層の厚さが3μm以上50μm以下であることを特徴とする請求項12記載の金属ベース回路基板。
- カーボン粉末が、JIS K 1469による体積抵抗率が0.1Ωcm以下であるホウ素固溶のカーボンブラックであることを特徴とする請求項14に記載の金属ベース回路基板。
- 絶縁層の熱伝導率が1〜4W/mKであり、導体回路と金属箔との間の耐電圧が1.0kV以上である請求項1乃至15のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板。
- 請求項1乃至16のいずれか一項に記載の金属ベース回路基板の導体回路に、少なくとも1個のLEDを電気的に接続してなることを特徴とするLED。
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