JP2007265853A - Manufacturing method of display panel member - Google Patents

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JP2007265853A
JP2007265853A JP2006090625A JP2006090625A JP2007265853A JP 2007265853 A JP2007265853 A JP 2007265853A JP 2006090625 A JP2006090625 A JP 2006090625A JP 2006090625 A JP2006090625 A JP 2006090625A JP 2007265853 A JP2007265853 A JP 2007265853A
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exposed
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Yusuke Tanaka
雄介 田中
Takeshi Horiuchi
健 堀内
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Toray Industries Inc
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method to manufacture a rear plate of a large PDP efficiently and without causing color difference in each region exposed. <P>SOLUTION: The manufacturing method of a display member comprises (A) a process in which a photosensitive paste is coated and dried on a substrate and a coating film is obtained, (B) a process in which an operation to expose a part of the exposed part of the coating film is exposed a plurality of times through a photo mask and the whole exposed part is exposed, (C) a process in which the exposed coating film is heat treated, (D) a process in which a pattern is formed by developing the coated film heat-treated, and (E) a process in which a barrier rib is formed by calcining the coated film with the pattern formed. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、ディスプレイ用部材の製造方法に関する。具体的にはフォトマスクを用いてパターン形成する工程を含むプラズマディスプレイパネル(以下、PDPという)の背面板用基板等のディスプレイ用部材の製造に好適な製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a display member. Specifically, the present invention relates to a manufacturing method suitable for manufacturing a display member such as a back plate substrate of a plasma display panel (hereinafter referred to as PDP) including a step of forming a pattern using a photomask.

次世代大型ディスプレイとして注目を集めているPDPは、ヘリウム、ネオン、キセノンなどから構成される希ガスを封入した密閉空間の電極対に電圧を印加し放電を発生させ、その放電現象を可視化することにより情報を表示する表示デバイスである。そのようなPDPを構成する部材において、大きなコストを占める部材として背面板があげられる。   PDPs, which are attracting attention as next-generation large-scale displays, generate discharge by applying voltage to electrode pairs in a sealed space filled with a rare gas composed of helium, neon, xenon, etc., and visualize the discharge phenomenon. This is a display device that displays information. Among the members constituting such a PDP, a back plate can be cited as a member that occupies a large cost.

背面板は、少なくとも基板上に形成された電極、誘電体層、隔壁およびRGBの蛍光体層から構成される。また最近では、ストライプ状の主隔壁と垂直方向に補助隔壁が設けられている場合も多い。いずれの形状の隔壁を有する背面板においても、電極パターンおよび隔壁パターンの形成に感光性ペースト法(フォトリソグラフィー法)を用いることで、高精細な背面板が安定して生産できるようになってきたが、近年のPDPにおいては、さらなる大型化、画素数の高密度化が望まれている。
通常、背面板をパターン形成する際、背面板とほぼ同等の大きさのフォトマスクを用い、背面板全面を一度に露光してパターン形成を行う。そのため、大型のPDP(例えば100インチ規模など)を製造する際には、相当の大きさのフォトマスクを用いなければならず、コストが非常に高くなってしまい、また取り扱いも困難であるという問題が生じていた。このようなフォトリソ工程において、パターンを分割して露光する方法は、半導体の分野などでよく知られている。しかしながら、これらはディスプレイ用部材の製造方法に関するものではなく、また、露光時に2つ以上のエリアに分割露光したときのつなぎ合わされた部分の、機械精度誤差に基づく、わずかなズレや、マスクのわずかな開口率の違いにより、パネル化した際に人間の目にも視認され、表示品質を大きく低下させていた。(例えば特許文献1、2参照)
特許公開平5−127186号公報 特許公開2001−77000
The back plate is composed of at least an electrode formed on the substrate, a dielectric layer, barrier ribs, and RGB phosphor layers. In recent years, auxiliary partition walls are often provided perpendicular to the stripe-shaped main partition walls. In any shape of the back plate having the partition walls, a high-definition back plate can be stably produced by using the photosensitive paste method (photolithography method) for forming the electrode pattern and the partition pattern. However, in recent PDPs, further increase in size and increase in the number of pixels are desired.
Normally, when forming a pattern on the back plate, a photomask having a size substantially the same as that of the back plate is used, and the entire back plate is exposed at once to form the pattern. For this reason, when manufacturing a large PDP (for example, 100-inch scale), a photomask of a considerable size must be used, which results in a very high cost and is difficult to handle. Has occurred. In such a photolithography process, a method of dividing and exposing a pattern is well known in the field of semiconductors and the like. However, these are not related to a method for manufacturing a display member, and a slight shift based on a mechanical accuracy error of a jointed portion when two or more areas are divided and exposed, or a slight mask displacement. Due to the large difference in aperture ratio, it was visible to the human eye when it was made into a panel, and the display quality was greatly reduced. (For example, see Patent Documents 1 and 2)
Japanese Patent Publication No. 5-127186 Patent Publication 2001-77000

本発明は、前記課題を解決する方法として提案されたもので、大型のディスプレイ用部材を効率よく、かつ露光した各領域に色差が生じないだけでなく、各領域間の境目がわからないようなディスプレイ用部材の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed as a method for solving the above-mentioned problems, and a display that efficiently and does not cause a color difference in each area where a large display member is exposed and does not recognize the boundary between the areas. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a member for use.

上記課題を解決することを目的とし、本発明は、
(A)基板上に感光性ペーストを塗布し、乾燥して塗布膜を得る工程、
(B)該塗布膜の被露光部の一部をフォトマスクを介して露光する操作を複数回行い、被露光部全体を露光する工程、
(C)該露光した塗布膜を熱処理する工程、
(D)該熱処理した塗布膜を現像してパターン形成する工程、および
(E)該パターン形成された塗布膜を焼成することにより隔壁を形成する工程
を有するディスプレイ用部材の製造方法である。
For the purpose of solving the above problems, the present invention provides:
(A) A step of applying a photosensitive paste on a substrate and drying to obtain a coating film,
(B) A step of exposing the entire exposed portion by performing an operation of exposing a part of the exposed portion of the coating film through a photomask a plurality of times,
(C) heat-treating the exposed coating film,
(D) A method for producing a display member, comprising: a step of developing the heat-treated coating film to form a pattern; and (E) a step of baking the patterned coating film to form a partition wall.

本発明によると、感光性ペースト塗布膜をフォトマスクを用いて、一部分ずつ複数回に分けて全面を露光させることにより、大型のフォトマスクを用いて一度に露光を行なった場合と比較して安価にPDPを製造することができる。また、PDPの駆動時において、各露光工程の境界部分が目立たず、かつ露光した各領域に色差が生じないPDPを製造することができる。   According to the present invention, the photosensitive paste coating film is divided into a plurality of portions by using a photomask, and the entire surface is exposed, so that it is less expensive than the case where exposure is performed at once using a large photomask. A PDP can be manufactured. Further, when the PDP is driven, it is possible to manufacture a PDP in which the boundary portion of each exposure process is not conspicuous and no color difference is generated in each exposed region.

本発明は、
(A)基板上に感光性ペーストを塗布し、乾燥して塗布膜を得る工程、
(B)該塗布膜の被露光部の一部をフォトマスクを介して露光する操作を複数回行い、被露光部全体を露光する工程、
(C)該露光した塗布膜を熱処理する工程、
(D)該熱処理した塗布膜を現像してパターン形成する工程、および
(E)該パターン形成された塗布膜を焼成することにより隔壁を形成する工程
を有するディスプレイ用部材の製造方法に関する。
The present invention
(A) A step of applying a photosensitive paste on a substrate and drying to obtain a coating film,
(B) A step of exposing the entire exposed portion by performing an operation of exposing a part of the exposed portion of the coating film through a photomask a plurality of times,
(C) heat-treating the exposed coating film,
The present invention relates to a method for producing a display member, which includes (D) a step of developing the heat-treated coating film to form a pattern, and (E) a step of forming partition walls by firing the patterned coating film.

本発明においてPDP用部材としての背面板に用いる基板としては、ソーダガラス、PDP用の耐熱ガラスなどを用いることができ、具体的には旭硝子(株)製のPD200や日本電気硝子(株)製のPP8などがあげられる。   As the substrate used for the back plate as a member for PDP in the present invention, soda glass, heat-resistant glass for PDP, etc. can be used. Specifically, PD200 manufactured by Asahi Glass Co., Ltd. or Nippon Electric Glass Co., Ltd. PP8 and the like.

工程(A)で用いる感光性ペーストは、無機微粒子を含有する。該感光性ペーストに含まれる無機微粒子としては、ガラス、セラミック(アルミナ、コーディライトなど)などを用いることができる。特に、ケイ素酸化物、ホウ素酸化物、または、アルミニウム酸化物を必須成分とするガラスやセラミックスが好ましい。   The photosensitive paste used in the step (A) contains inorganic fine particles. As the inorganic fine particles contained in the photosensitive paste, glass, ceramic (alumina, cordierite, etc.) and the like can be used. In particular, glass or ceramics containing silicon oxide, boron oxide, or aluminum oxide as an essential component is preferable.

無機微粒子の粒子径は、作製しようとするパターンの形状を考慮して選ばれるが、体積平均粒子径(D50)が、1〜10μmであることが好ましく、より好ましくは、1〜5μmである。D50を10μm以下とすることで、表面凸凹が生じるのを防ぐことができる。また、1μm以上とすることで、ペーストの粘度調整を容易にすることができる。さらに、比表面積0.2〜3m/gのガラス微粒子を用いることが、パターン形成において特に好ましい。 The particle diameter of the inorganic fine particles is selected in consideration of the shape of the pattern to be produced, but the volume average particle diameter (D50) is preferably 1 to 10 μm, and more preferably 1 to 5 μm. By setting D50 to 10 μm or less, it is possible to prevent surface irregularities from occurring. Moreover, the viscosity adjustment of a paste can be made easy by setting it as 1 micrometer or more. Furthermore, it is particularly preferable in the pattern formation to use glass fine particles having a specific surface area of 0.2 to 3 m 2 / g.

本発明のディスプレイ用部材の製造方法によって隔壁を形成する場合、隔壁は、好ましくは熱軟化点の低いガラス基板上にパターン形成されるため、無機微粒子として、熱軟化温度が350〜600℃のガラス微粒子を60重量%以上含む無機微粒子を用いることが好ましい。また、熱軟化温度が600℃以上のガラス微粒子やセラミック微粒子を添加することによって、焼成時の収縮率を抑制することができるが、その量は、40重量%以下が好ましい。用いるガラス微粒子としては、焼成時にガラス基板にそりを生じさせないためには線膨脹係数が50×10−7〜90×10−7(/℃)、さらには、60×10−7〜90×10−7(/℃)のガラス微粒子を用いることが好ましい。 When the partition is formed by the method for manufacturing a display member of the present invention, the partition is preferably patterned on a glass substrate having a low thermal softening point, so that the glass having a thermal softening temperature of 350 to 600 ° C. is used as inorganic fine particles. It is preferable to use inorganic fine particles containing 60% by weight or more of fine particles. Further, by adding glass fine particles or ceramic fine particles having a heat softening temperature of 600 ° C. or higher, the shrinkage ratio during firing can be suppressed, but the amount is preferably 40% by weight or less. As the glass fine particles to be used, the linear expansion coefficient is 50 × 10 −7 to 90 × 10 −7 (/ ° C.), and further 60 × 10 −7 to 90 × 10 in order to prevent warping of the glass substrate during firing. It is preferable to use glass fine particles of −7 (/ ° C.).

ガラス微粒子としては、ケイ素および/またはホウ素の酸化物を含有したガラスが好ましく用いられる。   As the glass fine particles, glass containing an oxide of silicon and / or boron is preferably used.

酸化ケイ素は、3〜60重量%の範囲で配合されていることが好ましい。3重量%以上とすることで、ガラス層の緻密性、強度や安定性が向上し、また、熱膨脹係数を所望の範囲内とし、ガラス基板とのミスマッチを防ぐことができる。また、60重量%以下にすることによって、熱軟化点が低くなり、ガラス基板への焼き付けが可能になるなどの利点がある。   It is preferable that silicon oxide is blended in the range of 3 to 60% by weight. When the content is 3% by weight or more, the denseness, strength, and stability of the glass layer are improved, and the thermal expansion coefficient is within a desired range, thereby preventing mismatch with the glass substrate. Moreover, by setting it as 60 weight% or less, there exists an advantage that a thermal softening point becomes low and baking to a glass substrate is attained.

酸化ホウ素は、5〜50重量%の範囲で配合することによって、電気絶縁性、強度、熱膨脹係数、絶縁層の緻密性などの電気、機械および熱的特性を向上することができる。50重量%以下とすることでガラスの安定性を保つことができる。   Boron oxide can improve electrical, mechanical and thermal characteristics such as electrical insulation, strength, thermal expansion coefficient, and denseness of the insulating layer by blending in the range of 5 to 50% by weight. The stability of glass can be maintained by setting it as 50 weight% or less.

さらに、酸化ビスマス、酸化鉛、酸化亜鉛のうちの少なくとも1種類を合計で5〜50重量%含有させることによって、ガラス基板上にパターン加工するのに適した温度特性を有するガラスペーストを得ることができる。特に、酸化ビスマスを5〜50重量%含有するガラス微粒子を用いると、ペーストのポットライフが長いなどの利点が得られる。ビスマス系ガラス微粒子としては、次の組成を含むガラス粉末を用いることが好ましい。   Furthermore, by containing at least one of bismuth oxide, lead oxide, and zinc oxide in a total amount of 5 to 50% by weight, a glass paste having temperature characteristics suitable for patterning on a glass substrate can be obtained. it can. In particular, when glass fine particles containing 5 to 50% by weight of bismuth oxide are used, advantages such as a long pot life of the paste can be obtained. As the bismuth-based glass fine particles, glass powder containing the following composition is preferably used.

酸化ビスマス:10〜40重量部
酸化ケイ素:3〜50重量部
酸化ホウ素:10〜40重量部
酸化バリウム:8〜20重量部
酸化アルミニウム:10〜30重量部
また、酸化リチウム、酸化ナトリウム、酸化カリウムのうち、少なくとも1種類を3〜20重量%含むガラス微粒子を用いてもよい。アルカリ金属酸化物の添加量は、20重量%以下、好ましくは、15重量%以下にすることによって、ペーストの安定性を向上することができる。上記3種のアルカリ金属酸化物の内、酸化リチウムがペーストの安定性の点で、特に好ましい。リチウム系ガラス微粒子としては、例えば次に示す組成を含むガラス粉末を用いることが好ましい。
Bismuth oxide: 10-40 parts by weight Silicon oxide: 3-50 parts by weight Boron oxide: 10-40 parts by weight Barium oxide: 8-20 parts by weight Aluminum oxide: 10-30 parts by weight In addition, lithium oxide, sodium oxide, potassium oxide Among them, glass fine particles containing 3 to 20% by weight of at least one kind may be used. By adding the alkali metal oxide in an amount of 20% by weight or less, preferably 15% by weight or less, the stability of the paste can be improved. Of the above three types of alkali metal oxides, lithium oxide is particularly preferred from the viewpoint of paste stability. As the lithium glass fine particles, for example, glass powder containing the following composition is preferably used.

酸化リチウム:2〜15重量部
酸化ケイ素:15〜50重量部
酸化ホウ素:15〜40重量部
酸化バリウム:2〜15重量部
酸化アルミニウム:6〜25重量部
また、酸化鉛、酸化ビスマス、酸化亜鉛のような金属酸化物と酸化リチウム,酸化ナトリウム、酸化カリウムのようなアルカリ金属酸化物の両方を含有するガラス微粒子を用いれば、より低いアルカリ含有量で、熱軟化温度や線膨脹係数を容易にコントロールすることができる。
Lithium oxide: 2 to 15 parts by weight Silicon oxide: 15 to 50 parts by weight Boron oxide: 15 to 40 parts by weight Barium oxide: 2 to 15 parts by weight Aluminum oxide: 6 to 25 parts by weight In addition, lead oxide, bismuth oxide, zinc oxide Glass particles containing both metal oxides such as lithium oxides, alkali metal oxides such as lithium oxide, sodium oxide, and potassium oxide, the thermal softening temperature and the linear expansion coefficient can be easily achieved with a lower alkali content. Can be controlled.

また、ガラス微粒子中に、酸化アルミニウム、酸化バリウム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化ジルコニウムなど、特に、酸化アルミニウム、酸化バリウム、酸化亜鉛を添加することにより、加工性を改良することができるが、熱軟化点、熱膨脹係数の点からは、その含有量は、40重量%以下が好ましく、より好ましくは25重量%以下である。   Also, workability is improved by adding aluminum oxide, barium oxide, calcium oxide, magnesium oxide, titanium oxide, zinc oxide, zirconium oxide, etc., especially aluminum oxide, barium oxide, zinc oxide, etc. to the glass fine particles. However, the content is preferably 40% by weight or less, more preferably 25% by weight or less from the viewpoint of the thermal softening point and the thermal expansion coefficient.

本発明のディスプレイ用部材の製造方法に用いる感光性ペーストは上述の無機微粒子以外に、感光性有機成分、有機溶媒を含む有機成分を含有する。   The photosensitive paste used in the method for producing a display member of the present invention contains an organic component containing a photosensitive organic component and an organic solvent in addition to the above-described inorganic fine particles.

感光性有機成分としては、感光性モノマー、感光性オリゴマー、感光性ポリマーのうちの少なくとも1種類から選ばれた感光性成分を含有することが好ましく、さらに、必要に応じて、光重合開始剤、光吸収剤、増感剤、有機溶媒、増感助剤、重合禁止剤を含有する。   As the photosensitive organic component, it is preferable to contain a photosensitive component selected from at least one of a photosensitive monomer, a photosensitive oligomer, and a photosensitive polymer. Further, if necessary, a photopolymerization initiator, Contains a light absorber, a sensitizer, an organic solvent, a sensitization aid, and a polymerization inhibitor.

感光性モノマーとしては、炭素−炭素不飽和結合を含有する化合物で、その具体的な例として、単官能および多官能性の(メタ)アクリレート類、ビニル系化合物類、アリル系化合物類などを用いることができる。これらは1種または2種以上使用することができる。   The photosensitive monomer is a compound containing a carbon-carbon unsaturated bond, and specific examples thereof include monofunctional and polyfunctional (meth) acrylates, vinyl compounds, allyl compounds, and the like. be able to. These can be used alone or in combination of two or more.

感光性オリゴマー、感光性ポリマーとしては、炭素−炭素二重結合を有する化合物のうちの少なくとも1種類を重合して得られるオリゴマーやポリマーを用いることができる。重合する際に、これらのモノマーの含有率が、10重量%以上、さらに好ましくは35重量%以上になるように、他の感光性のモノマーと共重合することができる。ポリマーやオリゴマーに不飽和カルボン酸などの不飽和酸を共重合することによって、感光後の現像性を向上することができる。不飽和カルボン酸の具体例としては、アクリル酸、メタクリル酸、イタコン酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、ビニル酢酸、または、これらの酸無水物などがあげられる。こうして得られた側鎖にカルボキシル基などの酸性基を有するポリマ、もしくは、オリゴマーの酸価(AV)は、50〜180の範囲が好ましく、70〜140の範囲がより好ましい。以上に示したポリマーもしくはオリゴマーに対して、光反応性基を側鎖または分子末端に付加させることによって、感光性をもつ感光性ポリマや感光性オリゴマーとして用いることができる。好ましい光反応性基は、エチレン性不飽和基を有するものである。エチレン性不飽和基としては、ビニル基、アリル基、アクリル基、メタクリル基などがあげられる。   As the photosensitive oligomer and photosensitive polymer, an oligomer or polymer obtained by polymerizing at least one of compounds having a carbon-carbon double bond can be used. In the polymerization, it can be copolymerized with other photosensitive monomers so that the content of these monomers is 10% by weight or more, more preferably 35% by weight or more. By copolymerizing an unsaturated acid such as an unsaturated carboxylic acid with a polymer or oligomer, the developability after exposure can be improved. Specific examples of the unsaturated carboxylic acid include acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, crotonic acid, maleic acid, fumaric acid, vinyl acetic acid, and acid anhydrides thereof. The acid value (AV) of the polymer or oligomer having an acidic group such as a carboxyl group in the side chain thus obtained is preferably in the range of 50 to 180, and more preferably in the range of 70 to 140. By adding a photoreactive group to the side chain or molecular end of the polymer or oligomer shown above, it can be used as a photosensitive polymer or photosensitive oligomer having photosensitivity. Preferred photoreactive groups are those having an ethylenically unsaturated group. Examples of the ethylenically unsaturated group include a vinyl group, an allyl group, an acrylic group, and a methacryl group.

光重合開始剤の具体的な例として、ベンゾフェノン、O-ベンゾイル安息香酸メチル、4,4−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4−ジクロロベンゾフェノン、4−ベンゾイル−4−メチルフェニルケトン、ジベンジルケトン、フルオレノン、2,3−ジエトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニル−2−フェニルアセトフェノンなどがあげられる。これらを1種または2種以上使用することができる。光重合開始剤は、感光性成分に対し、好ましくは0.05〜10重量%の範囲で添加され、より好ましくは、0.1〜5重量%の範囲で添加される。重合開始剤の量が少な過ぎると、光感度が低下する傾向にあり、光重合開始剤の量が多すぎると、露光部の残存率が小さくなり過ぎる傾向にある。   Specific examples of the photopolymerization initiator include benzophenone, methyl O-benzoylbenzoate, 4,4-bis (dimethylamino) benzophenone, 4,4-bis (diethylamino) benzophenone, 4,4-dichlorobenzophenone, 4- Examples include benzoyl-4-methylphenyl ketone, dibenzyl ketone, fluorenone, 2,3-diethoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenyl-2-phenylacetophenone, and the like. One or more of these can be used. The photopolymerization initiator is preferably added in the range of 0.05 to 10% by weight, more preferably 0.1 to 5% by weight, based on the photosensitive component. If the amount of the polymerization initiator is too small, the photosensitivity tends to decrease, and if the amount of the photopolymerization initiator is too large, the residual ratio of the exposed portion tends to be too small.

光吸収剤を添加することも有効である。紫外光や可視光の吸収効果が高い化合物を添加することによって、高アスペクト比、高精細、高解像度が得られる。光吸収剤としては、有機系染料からなるものが好ましく用いられる、具体的には、アゾ系染料、アミノケトン系染料、キサンテン系染料、キノリン系染料、アントラキノン系染料、ベンゾフェノン系染料、ジフェニルシアノアクリレート系染料、トリアジン系染料、p−アミノ安息香酸系染料などが使用できる。有機系染料は、焼成後の絶縁膜中に残存しないので、光吸収剤による絶縁膜特性の低下を少なくできるので好ましい。これらの中でも、アゾ系およびベンゾフェノン系染料が好ましい。有機染料の添加量は、0.05〜5重量%が好ましく、より好ましくは、0.05〜1重量%である。添加量が少なすぎると、光吸収剤の添加効果が減少する傾向にあり、多すぎると、焼成後の絶縁膜特性が低下する傾向にある。   It is also effective to add a light absorber. By adding a compound having a high absorption effect of ultraviolet light or visible light, a high aspect ratio, high definition, and high resolution can be obtained. As the light absorber, an organic dye is preferably used. Specifically, an azo dye, an aminoketone dye, a xanthene dye, a quinoline dye, an anthraquinone dye, a benzophenone dye, a diphenylcyanoacrylate dye. Dyes, triazine dyes, p-aminobenzoic acid dyes, and the like can be used. Since organic dye does not remain in the insulating film after baking, it is preferable because the deterioration of the insulating film characteristics due to the light absorber can be reduced. Among these, azo dyes and benzophenone dyes are preferable. The addition amount of the organic dye is preferably 0.05 to 5% by weight, and more preferably 0.05 to 1% by weight. When the addition amount is too small, the effect of adding the light absorber tends to decrease, and when it is too large, the insulating film characteristics after firing tend to decrease.

増感剤は、感度を向上させるために添加される。増感剤の具体例としては、2,4−ジエチルチオキサントン、イソプロピルチオキサントン、2,3−ビス(4−ジエチルアミノベンザル)シクロペンタノン、2,6−ビス(4−ジメチルアミノベンザル)シクロヘキサノンなどがあげられる。これらを1種または2種以上使用することができる。増感剤を感光性ペーストに添加する場合、その添加量は、感光性成分に対して通常0.05〜10重量%、より好ましくは0.1〜10重量%である。増感剤の量が少な過ぎると光感度を向上させる効果が発揮されない傾向にあり、増感剤の量が多過ぎると、露光部の残存率が小さくなる傾向にある。   A sensitizer is added in order to improve sensitivity. Specific examples of the sensitizer include 2,4-diethylthioxanthone, isopropylthioxanthone, 2,3-bis (4-diethylaminobenzal) cyclopentanone, 2,6-bis (4-dimethylaminobenzal) cyclohexanone, and the like. Can be given. One or more of these can be used. When adding a sensitizer to a photosensitive paste, the addition amount is 0.05 to 10 weight% normally with respect to the photosensitive component, More preferably, it is 0.1 to 10 weight%. If the amount of the sensitizer is too small, the effect of improving the photosensitivity tends not to be exhibited, and if the amount of the sensitizer is too large, the residual ratio of the exposed portion tends to be small.

有機溶媒としては、例えば、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルエチルケトン、ジオキサン、アセトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、イソブチルアルコール、イソプロピルアルコール、テトラヒドロフラン、ジメチルスルフォキシド、γ−ブチルラクトン、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ブロモベンゼン、クロロベンゼン、ジブロモベンゼン、ジクロロベンゼン、ブロモ安息香酸、クロロ安息香酸などやこれらのうちの1種以上を含有する有機溶媒混合物が用いられる。   Examples of the organic solvent include methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl ethyl ketone, dioxane, acetone, cyclohexanone, cyclopentanone, isobutyl alcohol, isopropyl alcohol, tetrahydrofuran, dimethyl sulfoxide, and γ-butyllactone. , N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, bromobenzene, chlorobenzene, dibromobenzene, dichlorobenzene, bromobenzoic acid, chlorobenzoic acid and the like, and one or more of these An organic solvent mixture is used.

感光性ペーストは、通常、上記の無機微粒子や有機成分を所定の組成になるように調合した後、3本ローラーや混練機で均質に混合分散し製造される。   The photosensitive paste is usually produced by mixing the above-mentioned inorganic fine particles and organic components so as to have a predetermined composition and then uniformly mixing and dispersing them with a three-roller or a kneader.

また、塗布後の乾燥は、通風オーブン、ホットプレート、IR炉などを用いることができる。   In addition, a drying oven, a hot plate, an IR furnace, or the like can be used for drying after application.

工程(B)における露光で使用される活性光源は、例えば、可視光線、近紫外線、紫外線、電子線、X線、レーザー光などがあげられる。これらの中で紫外線が最も好ましく、その光源として、例えば、低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、ハロゲンランプ、殺菌灯などが使用できる。これらのなかでも超高圧水銀灯が好適である。露光条件は、塗布厚みによって異なるが、1〜100mW/cmの出力の超高圧水銀灯を用いることが好ましい。 Examples of the active light source used in the exposure in the step (B) include visible light, near ultraviolet light, ultraviolet light, electron beam, X-ray, and laser light. Among these, ultraviolet rays are most preferable, and as the light source, for example, a low-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a halogen lamp, or a germicidal lamp can be used. Among these, an ultrahigh pressure mercury lamp is suitable. Although the exposure conditions vary depending on the coating thickness, it is preferable to use an ultrahigh pressure mercury lamp with an output of 1 to 100 mW / cm 2 .

本発明においては、2種以上のフォトマスクを用い工程(B)を行うことが好ましい。具体的には、塗布膜全面を複数の領域に分け、それぞれの大きさに応じたフォトマスクを介して各領域を逐次露光していくことによって、最終的に塗布膜全面を露光する。これにより、大型のフォトマスクを用いて一度に露光を行なった場合と比較して、大型のマスクを取り扱う必要のなくなることから、コストおよび取り扱いの点から好ましい。   In the present invention, it is preferable to perform the step (B) using two or more kinds of photomasks. Specifically, the entire surface of the coating film is divided into a plurality of regions, and each region is sequentially exposed through a photomask corresponding to each size, so that the entire surface of the coating film is finally exposed. This eliminates the need to handle a large mask as compared to the case where exposure is performed at once using a large photomask, which is preferable from the viewpoint of cost and handling.

工程(B)において、フォトマスクと感光性ペーストの塗布膜表面との距離(ギャップ設定値)は、50〜500μm、さらには70〜400μmに調整することが好ましい。ギャップ設定値を50μm以上とすることにより、感光性ペースト塗布膜とフォトマスクの接触を防ぎ、双方の破壊や汚染を防ぐことができる。また500μm以下とすることにより、適度にシャープなパターニングが可能となる。なお、全部でn回の露光を行う場合、k−1回目およびk回目の露光におけるギャップ設定値をそれぞれhk−1およびhとし、フォトマスクのスリット幅をpとすると、k−1回目およびk回目で形成される隔壁パターン形状差が20%×p以内となるようhk−1およびhを可変させることが好ましい(kは2≦k≦nを満たす整数)。k−1回目およびk回目で使用するマスクの線幅を同じとした場合でも、マスクのロットや、露光機の位置精度限界などにより、hk−1およびhを同じとした場合でも隔壁パターン形状に差が生じることが多いためである。隔壁パターン形状差が20%×p以上である場合、この形状差によりつなぎ目が確認できるようになり、PDPを駆動したときにおいて露光した各領域に色差が生じる傾向がある。 In the step (B), the distance (gap setting value) between the photomask and the coating film surface of the photosensitive paste is preferably adjusted to 50 to 500 μm, more preferably 70 to 400 μm. By setting the gap set value to 50 μm or more, contact between the photosensitive paste coating film and the photomask can be prevented, and destruction or contamination of both can be prevented. Moreover, moderately sharp patterning is attained by setting it as 500 micrometers or less. In the case of performing exposure of n times in total, k-1 th and k th gap set value in the exposure and h k-1 and h k, respectively, when the slit width of the photomask and p, k-1 th It is preferable to vary h k-1 and h k so that the partition pattern shape difference formed at the k-th time is within 20% × p (k is an integer satisfying 2 ≦ k ≦ n). Even when the line widths of the masks used at the (k-1) th time and the kth time are the same, even if hk-1 and hk are the same due to the mask lot and the position accuracy limit of the exposure machine, the partition pattern This is because there are many differences in shape. When the partition pattern shape difference is 20% × p or more, the joint can be confirmed by this shape difference, and there is a tendency that a color difference occurs in each exposed region when the PDP is driven.

ところで、工程(B)においては、各露光領域の境界部分に形成される隔壁の間隔とその他の隔壁の間隔との間で差異が生じやすく、その結果、PDPを駆動させたときに該境界部分が目立ってしまう傾向がある。そこで、このような問題を解消するため、本発明においては工程(B)における露光工程を以下のようにして行なうことが好ましい。   By the way, in the step (B), a difference is likely to occur between the interval between the partition walls formed at the boundary portion of each exposure region and the interval between the other partition walls. As a result, when the PDP is driven, the boundary portion Tend to stand out. Therefore, in order to solve such a problem, in the present invention, it is preferable to perform the exposure step in step (B) as follows.

図1に工程(B)の実施の手順を示す。まず、光源から発する光により、フォトマスク2a を介して、k−1回目の露光を基板1に対して行う。露光後、基板1には、フォトマスク2aの有するスリットによる隔壁パターンが形成される。次にフォトマスク2bを介して、k回目の露光を基板1に対して同様に行う。これを所定回数繰り返し基板上にパターンを形成する。   FIG. 1 shows the procedure for carrying out the step (B). First, the (k−1) th exposure is performed on the substrate 1 with the light emitted from the light source through the photomask 2a. After the exposure, a partition wall pattern is formed on the substrate 1 by slits of the photomask 2a. Next, the k-th exposure is similarly performed on the substrate 1 through the photomask 2b. This is repeated a predetermined number of times to form a pattern on the substrate.

本実施の第1の形態では、例えば図3(a)および図3(b)に示すようなパターンを持つ、フォトマスク5a、5bを用い、k−1回目のフォトマスク5aの最端部に位置するスリットIと、k−1回目およびk回目の露光領域の境界部分を介してスリットIに隣接するk回目のフォトマスク5bの最端部に位置するスリットIIとの距離をd、フォトマスクにおけるスリット間隔をlとした場合、dおよびlの差がなるべく小さくすることにより、前記境界部分に形成される隔壁の間隔が調整される。dおよびlの差は20%×p以内であることが好ましい。dおよびlの差が20%×pより大きいと、基板1における露光領域の境界部分に形成される隔壁の間隔とその他の隔壁の間隔との差が大きくなり、PDPを駆動させたときに各露光領域の境界部分が目立つ傾向がある。   In the first embodiment, for example, photomasks 5a and 5b having patterns as shown in FIG. 3A and FIG. 3B are used, and the k-1th photomask 5a is formed at the end of the photomask 5a. The distance between the slit I located and the slit II located at the end of the k-th photomask 5b adjacent to the slit I through the boundary portion between the (k-1) th and k-th exposure regions is d, the photomask When the slit interval at is set to 1, the difference between d and l is made as small as possible to adjust the interval between the partition walls formed at the boundary portion. The difference between d and l is preferably within 20% × p. If the difference between d and l is larger than 20% × p, the difference between the distance between the partition walls formed at the boundary of the exposure area on the substrate 1 and the distance between the other partition walls becomes large. There is a tendency that the boundary portion of the exposure region is conspicuous.

また工程(B)において、k−1回目およびk回目の露光時に、図2に示すようにパターン中心軸上2点でアライメントをとることが好ましい。パターン中心軸上2点でアライメントをとることで、前記dおよびlの差を抑制することが可能となる。   In the step (B), it is preferable to perform alignment at two points on the pattern central axis as shown in FIG. 2 during the (k−1) th and kth exposures. By taking alignment at two points on the pattern central axis, the difference between d and l can be suppressed.

次に工程(B)の第2の実施の形態を示す。本実施の形態においては、k−1回目およびk回目の露光領域が重複部分を有しており、該重複部分における隔壁が、k−1回目およびk回目のフォトマスクの各スリットを介した露光部分がそれぞれ交互に並ぶことにより形成される。以下に具体的に説明する。   Next, a second embodiment of the step (B) will be shown. In the present embodiment, the (k−1) th and kth exposure regions have overlapping portions, and the partition walls in the overlapping portions are exposed through the slits of the (k−1) th and kth photomasks. It is formed by alternately arranging the portions. This will be specifically described below.

フォトマスクのスリット形状としては、たとえば図4(a)および図4(b)に示すようなものがあげられるが本発明はこれらに限定されるものではない。図4(a)において、フォトマスク6aは、スリット間隔が最終的に基板上に形成される隔壁の間隔と同一であるスリットと、つなぎ目重複部分にあたるスリット間隔が最終的に基板上に形成される隔壁の間隔より広いスリットによって構成される。なお、本実施の形態では、つなぎ目重複部分のスリットの間隔は、最終的に基板上に形成される隔壁の間隔の2倍となっている。   Examples of the slit shape of the photomask include those shown in FIGS. 4A and 4B, but the present invention is not limited to these. In FIG. 4A, the photomask 6a has slits whose slit intervals are the same as those of the partition walls finally formed on the substrate, and slits corresponding to overlapping portions are finally formed on the substrate. It is constituted by slits wider than the interval of the partition walls. In the present embodiment, the interval between the slits at the joint overlapping portion is twice the interval between the partition walls finally formed on the substrate.

次に隔壁パターンが形成される手順を説明する。まず、光源から発する光によりフォトマスク6aを介し、基板に対して、k−1回目の露光を行う。露光後、基板には、フォトマスク6aが有する隔壁パターン形成される。次にk回目の露光を行なう際のフォトマスク6bの位置は、k−1回目の露光によって形成された、つなぎ目重複部において、隔壁間の幅が2倍となっている隔壁パターン上にに、フォトマスク6bのつなぎ目重複部分のスリットがk回目の露光で生成した隔壁パターンと交互になるようにし、かつ、スリット6bは、露光していない部分に重なるように位置を合わせ露光する。露光後、基板には、k−1回目およびk回目の露光の重複部分において、各露光工程によって形成された隔壁パターンが交互に形成され、全体としては全て等間隔の隔壁パターンが形成される。   Next, the procedure for forming the partition pattern will be described. First, the (k−1) th exposure is performed on the substrate with the light emitted from the light source through the photomask 6a. After the exposure, a barrier rib pattern included in the photomask 6a is formed on the substrate. Next, the position of the photomask 6b at the time of performing the k-th exposure is on the partition pattern in which the width between the partitions is doubled at the joint overlapping portion formed by the k-1th exposure. The slits at the joint overlapping portions of the photomask 6b are made to alternate with the partition wall pattern generated by the k-th exposure, and the slit 6b is aligned and exposed so as to overlap the unexposed portions. After the exposure, the barrier rib pattern formed by each exposure process is alternately formed on the substrate in the overlapping portion of the (k-1) th exposure and the kth exposure, and as a whole, the barrier rib pattern is equally spaced.

次に工程(B)の第3の実施の形態を示す。本実施の形態では、k−1回目およびk回目の露光領域が重複部分を有しており、該重複部分における隔壁が、k−1回目およびk回目のフォトマスクの各スリットを介した露光部分がそれぞれ隣接一体化することにより形成される。以下に具体的に説明する。   Next, a third embodiment of the step (B) will be shown. In the present embodiment, the (k-1) th and kth exposure areas have overlapping portions, and the partition walls in the overlapping portions are exposed portions through the slits of the (k-1) th and kth photomasks. Are formed by adjacent integration. This will be specifically described below.

フォトマスクのパターン形状としては、たとえば図5(a)および図5(b)に示すようなものがあげられるが、本発明はこれらに限定されるものではない。図5(a)および図5(b)において、フォトマスク7aおよびフォトマスク7bのスリットの形状は、最終的に形成される隔壁と同一であるスリットと、つなぎ目重複部分にあたるスリット幅が一定の割合で小さくなるスリットによって構成される。   Examples of the pattern shape of the photomask include those shown in FIGS. 5A and 5B, but the present invention is not limited to these. In FIG. 5A and FIG. 5B, the slit shape of the photomask 7a and the photomask 7b is a ratio in which the slit that is the same as the finally formed partition and the slit width corresponding to the joint overlap portion is constant. It is comprised by the slit which becomes small.

次に隔壁パターンが形成される手順を説明する。まず、光源から発する光によりフォトマスク7aを介し、基板に対して、k−1回目の露光を行う。露光後、基板には、フォトマスク7aが有するスリットによる隔壁パターンが形成される。ここで、隔壁パターン7aを形成するつなぎ目重複部分のスリットをそれぞれA、B、Cとする。次にk回目の露光を行なう際のフォトマスク7bの位置は、隔壁パターン7aの上にスリット7bが重なるように位置を合わせ、スリット7bによる露光部分A’、B’、C’がそれぞれスリット7aによる露光部分A、B、Cと隣接一体化するように露光する。その結果、基板上における、k−1回目およびk回目の露光の重複部分には、隔壁パターン7aおよび7bにより等しい幅の隔壁が形成され、全体としても全て等しい幅の隔壁パターンが形成される。   Next, the procedure for forming the partition pattern will be described. First, the (k−1) th exposure is performed on the substrate with the light emitted from the light source through the photomask 7a. After the exposure, a partition wall pattern is formed on the substrate by the slits of the photomask 7a. Here, the slits at the joint overlapping portions forming the partition wall pattern 7a are denoted by A, B, and C, respectively. Next, the position of the photomask 7b when performing the k-th exposure is aligned so that the slit 7b overlaps the partition wall pattern 7a, and the exposed portions A ′, B ′, and C ′ by the slit 7b are the slits 7a. Exposure is performed so as to be adjacent to and integrated with the exposed portions A, B, and C. As a result, in the overlapping portion of the (k-1) th and kth exposures on the substrate, barrier ribs having the same width are formed by the barrier rib patterns 7a and 7b, and a barrier rib pattern having the same width as a whole is formed.

なお、本実施の形態のように、k−1回目およびk回目の露光領域の重複部分におけるフォトマスクの各スリット幅を一定の割合で小さくすることが好ましい。各スリット幅を一定の割合で小さくし、重ね合わせることでPDP駆動時における露光した各領域の境目がわからないようにすることが可能となる。   Note that, as in the present embodiment, it is preferable to reduce the slit width of the photomask at a certain rate in the overlapping portions of the (k−1) th and kth exposure regions. By reducing the width of each slit at a certain rate and superimposing the slits, it is possible to prevent the boundary between the exposed areas from being known during PDP driving.

工程(C)において露光した塗布膜を熱処理する温度としては、50〜300℃が好ましく、80〜200℃がより好ましい。温度が50℃より低いと、熱処理の効果が小さく、隔壁パターンが断線する割合が増加する傾向がある。一方、温度が300℃より高いと、熱処理の効果が強くなりすぎ、パターニング不良や形状ばらつきが生じやすい傾向がある。   As temperature which heat-processes the coating film exposed in the process (C), 50-300 degreeC is preferable and 80-200 degreeC is more preferable. When the temperature is lower than 50 ° C., the effect of the heat treatment is small, and the rate of disconnection of the barrier rib pattern tends to increase. On the other hand, if the temperature is higher than 300 ° C., the effect of heat treatment becomes too strong, and there is a tendency that patterning defects and shape variations are likely to occur.

工程(D)における露光済み塗布膜の現像は、露光部分と非露光部分の現像液に対する溶解度差を利用して、現像を行なう。現像は、浸漬法やスプレー法、ブラシ法等で行なうことができる。   The development of the exposed coating film in the step (D) is performed by utilizing the difference in solubility between the exposed portion and the unexposed portion in the developer. Development can be performed by a dipping method, a spray method, a brush method, or the like.

現像液は、感光性ペースト中の溶解させたい有機成分が溶解可能である溶液を用いる。感光性ペースト中にカルボキシル基などの酸性基をもつ化合物が存在する場合、アルカリ水溶液で現像できる。アルカリ水溶液としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキサイド、トリメチルベンジルアンモニウムヒドロキサイド、モノエタノールアミン、ジエタノールアミンなどの有機アルカリなどが使用できるが、水酸化ナトリウムや炭酸ナトリウム、炭酸ナトリウム水溶液、水酸化カルシウム水溶液などの無機アルカリを用いることが好ましい。   As the developer, a solution in which an organic component to be dissolved in the photosensitive paste can be dissolved is used. When a compound having an acidic group such as a carboxyl group is present in the photosensitive paste, it can be developed with an alkaline aqueous solution. As the alkaline aqueous solution, organic alkali such as tetramethylammonium hydroxide, trimethylbenzylammonium hydroxide, monoethanolamine, diethanolamine, etc. can be used, but inorganic such as sodium hydroxide, sodium carbonate, sodium carbonate aqueous solution, calcium hydroxide aqueous solution, etc. It is preferable to use an alkali.

本発明において、工程(D)における現像液は、無機アルカリ水溶液を用いることが好ましい。無機アルカリを用いた場合はパターニングした隔壁中に残った現像液の残存成分が、焼成時に変色しにくく、各露光面の境界部分が色目差を抑えることができる。   In the present invention, an inorganic alkaline aqueous solution is preferably used as the developer in the step (D). When an inorganic alkali is used, the remaining components of the developer remaining in the patterned partition walls are not easily discolored during firing, and the boundary between the exposed surfaces can suppress the color difference.

現像液を有機アルカリ水溶液とした場合、最初の露光開始から最後の露光終了までを、5分以内で行うことが好ましい。露光の時間差が5分以上であると、露光部への現像液の浸透性に差が生じ、隔壁中に残った残存成分により境界部分が目立ちやすくなり、PDPを駆動したときにおいて露光した各領域に色差が生じる傾向がある。   When the developing solution is an organic alkali aqueous solution, it is preferable that the first exposure start to the last exposure end be performed within 5 minutes. When the exposure time difference is 5 minutes or more, there is a difference in the permeability of the developing solution to the exposed portion, and the boundary portion becomes conspicuous due to the remaining components remaining in the partition wall, and each region exposed when the PDP is driven There is a tendency for color differences to occur.

現像液中の有機アルカリまたは無機アルカリの濃度は、通常、0.01〜10重量%、より好ましくは0.1〜5重量%である。アルカリ濃度が低過ぎれば可溶部が除去されない傾向にあり、アルカリ濃度が高過ぎれば、パターン部を剥離したり、また、非可溶部を腐食させる傾向にある。また、現像時の現像温度は、20〜50℃で行なうことが工程管理上好ましい。   The density | concentration of the organic alkali or inorganic alkali in a developing solution is 0.01 to 10 weight% normally, More preferably, it is 0.1 to 5 weight%. If the alkali concentration is too low, the soluble portion tends not to be removed. If the alkali concentration is too high, the pattern portion tends to be peeled off or the insoluble portion tends to be corroded. The development temperature during development is preferably 20 to 50 ° C. in terms of process control.

工程(E)におけるパターン形成された塗布膜の焼成は、焼成炉にて行なわれる。焼成雰囲気や温度は、ペーストや基板の種類によって異なるが、空気中、窒素、水素などの雰囲気中で焼成する。焼成炉としては、バッチ式の焼成炉やローラーハース式の連続型焼成炉を用いることができる。焼成温度は、400〜800℃で行なうと良い。ガラス基板上に直接隔壁を形成する場合は、450〜620℃の温度で10〜60分間保持して焼成を行なうと良い。   Firing of the patterned coating film in the step (E) is performed in a firing furnace. The firing atmosphere and temperature vary depending on the type of paste and substrate, but firing is performed in an atmosphere of air, nitrogen, hydrogen, or the like. As the firing furnace, a batch-type firing furnace or a roller hearth-type continuous firing furnace can be used. The firing temperature is preferably 400 to 800 ° C. In the case where the partition walls are directly formed on the glass substrate, it is preferable to perform firing by holding at a temperature of 450 to 620 ° C. for 10 to 60 minutes.

本発明は、前記工程(B)の後、さらに
(A’)前記露光した塗布膜上に感光性ペーストを塗布し、乾燥して第2の塗布膜を得る工程、
(B’)前記第2の塗布膜の被露光部の一部をフォトマスクを介して露光する操作を複数回行い、被露光部全体を露光する工程
その後に前記工程(C)、前記工程(D)および前記工程(E)を行う場合においても、有用である。このように塗布、乾燥する工程と露光の工程を複数回行うことによって、位置により高さの異なるパターンを形成する場合であっても、大型のディスプレイ用部材を効率よく製造することができ、かつ位置による色差を有さないディスプレイ用部材を簡単に製造することができる。
In the present invention, after the step (B), (A ′) a step of applying a photosensitive paste on the exposed coating film and drying to obtain a second coating film;
(B ′) a step of exposing a part of the exposed portion of the second coating film through a photomask a plurality of times to expose the entire exposed portion, and then the steps (C) and ( It is also useful when performing D) and step (E). Thus, by performing the coating and drying step and the exposure step multiple times, a large display member can be efficiently manufactured even when a pattern with different heights is formed depending on the position, and A display member that does not have a color difference depending on the position can be easily manufactured.

形成された隔壁パターンのピッチは基板サイズと画素数によって規定される。例えば、ハイビジョンタイプ(HDまたはXGA)では、パネルの横方向の画素数は1024〜1366かつRGB3色で3072〜4098セルとなる。よって、基板サイズが42インチの場合は、横方向の寸法は約900nm、50インチの場合は1100mmであるため、それぞれピッチは約0.3〜0.35mmとなる。また、他にも標準精細度(SDまたはVGA)は852画素、フルスペックハイビジョン(FHD)は1920画素であり、それぞれの画素数に応じたピッチとすればよい。   The pitch of the formed barrier rib pattern is defined by the substrate size and the number of pixels. For example, in the high vision type (HD or XGA), the number of pixels in the horizontal direction of the panel is 1024 to 1366 and 3072 to 4098 cells in three colors of RGB. Therefore, when the substrate size is 42 inches, the horizontal dimension is about 900 nm, and when the substrate size is 50 inches, it is 1100 mm, so that the pitch is about 0.3 to 0.35 mm. In addition, standard definition (SD or VGA) has 852 pixels, and full-spec high-definition (FHD) has 1920 pixels, and the pitch may be set according to the number of pixels.

以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例によって限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited by these Examples.

ガラス基板PD200上に、感光性銀ペーストを用いてアドレス電極を作成した。感光性銀ペーストを塗布、乾燥、露光、現像、焼成工程を経て線幅50μm、厚み3μm、ピッチ250μmのアドレス電極を形成した。
次に、低融点ガラス粉末、酸化チタン粉末、エチルセルロース、テルピネオールを混練して得られたガラスペーストをスクリーン印刷により、表示部分のバス電極が覆われるように50μmの厚みで塗布した後に、570℃15分間の焼成を行って誘電体層を形成した。
誘電多層上に感光性の隔壁ペーストを塗布、乾燥させて乾燥塗布膜を形成した。用いた感光性の隔壁ペーストの組成は、酸化鉛、酸化ホウ素、酸化ケイ素、酸化バリウムが主成分である平均粒径2μmのガラス粉末52重量%、メチルメタクリレート/メタクリル酸共重合体(重量組成比60/40、重量平均分子量32000)12重量%、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート12重量%、ベンゾフェノン1.94重量%、1,6−ヘキサンジオール−[(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)]0.05重量%、ベーシックブルー7を0.01重量%、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート22重量%からなる。塗布にはダイコーターを用いて、乾燥後の厚みが180μmとなるように塗布した。隔壁ペーストの乾燥にはIR炉を用い、基板温度を100℃に保持した状態で30分間乾燥させた。
形成塗布膜に対し、パターンを基板中央つなぎ目で重複無く半分であるフォトマスク、または中央部で重複部を有し重複部の露光部分が交互であるフォトマスク、または中央部で重複部を有し重複部の露光部分が隣接一体化としたフォトマスクを用い各々露光を行った。各実施例のフォトマスクのスリット幅、スリット間隔l、スリット間隔差|d-l|、露光時間差、隔壁形状差、露光後の熱処理温度などについて表1に示す。
Address electrodes were formed on the glass substrate PD200 using a photosensitive silver paste. An address electrode having a line width of 50 μm, a thickness of 3 μm, and a pitch of 250 μm was formed by applying a photosensitive silver paste, drying, exposing, developing, and baking processes.
Next, a glass paste obtained by kneading the low melting glass powder, titanium oxide powder, ethyl cellulose, and terpineol was applied by screen printing to a thickness of 50 μm so as to cover the bus electrode of the display portion, and then 570 ° C. 15 A dielectric layer was formed by baking for a minute.
A photosensitive barrier rib paste was applied on the dielectric multilayer and dried to form a dry coating film. The composition of the photosensitive partition paste used was as follows: 52% by weight of glass powder having an average particle diameter of 2 μm mainly composed of lead oxide, boron oxide, silicon oxide and barium oxide, methyl methacrylate / methacrylic acid copolymer (weight composition ratio) 60/40, weight average molecular weight 32000) 12% by weight, dipentaerythritol hexaacrylate 12% by weight, benzophenone 1.94% by weight, 1,6-hexanediol-[(3,5-di-t-butyl-4- Hydroxyphenyl)] 0.05 wt%, Basic Blue 7 0.01 wt%, and propylene glycol monomethyl ether acetate 22 wt%. A die coater was used for coating so that the thickness after drying was 180 μm. The barrier rib paste was dried using an IR furnace for 30 minutes while maintaining the substrate temperature at 100 ° C.
Photomask with half the pattern without overlapping at the center joint of the substrate, or photomask with overlapping parts at the center and alternating exposed parts of the overlapping parts, or overlapping parts at the center Each exposure was performed using a photomask in which the exposed portions of overlapping portions were adjacently integrated. Table 1 shows the slit width, slit interval l, slit interval difference | dl |, exposure time difference, partition wall shape difference, heat treatment temperature after exposure, and the like of the photomask of each example.

Figure 2007265853
Figure 2007265853

上記のようにして形成した露光済基板を表2に示すアルカリ水溶液にて現像し、隔壁パターンを形成した。次にパターン形成終了済み基板を560℃で15分間焼成を行った。このようにして得られた隔壁間に、焼成後厚みが25μmとなるようにディスペンサー法により蛍光体を塗布し、500℃で10分間焼成を行った。かくして得られた背面板と別途作成した前面板を合わせてプラズマディスプレイパネルを作成し、表示品質を評価した。評価結果を表2に示す。   The exposed substrate formed as described above was developed with an alkaline aqueous solution shown in Table 2 to form a partition pattern. Next, the pattern-formed substrate was baked at 560 ° C. for 15 minutes. A phosphor was applied between the partition walls thus obtained by a dispenser method so that the thickness after firing was 25 μm, and firing was performed at 500 ° C. for 10 minutes. A plasma display panel was prepared by combining the back plate thus obtained and a separately prepared front plate, and the display quality was evaluated. The evaluation results are shown in Table 2.

Figure 2007265853
Figure 2007265853

実施例1〜8で得られた背面板を用いたPDPでは、つなぎ目部分に色差が無く良好な表示特性を示した。比較例1については、エタノールアミンを用い、露光時間差が5分以上であったためつなぎ目部分に色差が生じ、良好な表示品質が得られなかった。また比較例2については、隔壁の形状差およびつなぎ目でのピッチズレにより、色差が確認され良好な表示品質が得られなかった。   In the PDP using the back plate obtained in Examples 1 to 8, there was no color difference in the joint portion and good display characteristics were shown. In Comparative Example 1, ethanolamine was used, and the difference in exposure time was 5 minutes or more, so a color difference occurred in the joint portion, and good display quality could not be obtained. In Comparative Example 2, the color difference was confirmed due to the difference in shape of the partition walls and the pitch shift at the joint, and good display quality was not obtained.

本発明の工程(B)における露光方法を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the exposure method in the process (B) of this invention. 本発明の工程(B)におけるアライメントマークおよびパターンの配置を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows arrangement | positioning of the alignment mark and pattern in the process (B) of this invention. 本発明の工程(B)の第1の例で使用するフォトマスクのパターンを示す。The pattern of the photomask used in the 1st example of the process (B) of this invention is shown. 本発明の工程(B)の第2の例で使用するフォトマスクのパターンを示す。The pattern of the photomask used in the 2nd example of the process (B) of this invention is shown. 本発明の工程(B)の第3の例で使用するフォトマスクのパターンを示す。The pattern of the photomask used in the 3rd example of the process (B) of this invention is shown.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
2a k−1回目の露光で使用するフォトマスク
2b k回目の露光で使用するフォトマスク
3a、b 分割した露光面
4 アライメントマーク
5a、5b 本発明の第1の形態で用いるフォトマスクパターン
6a、6b 本発明の第2の形態で用いるフォトマスクパターン
7a、7b 本発明の第3の形態で用いるフォトマスクパターン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2a Photomask 2b used in k-1th exposure Photomask 3a used in kth exposure, b Divided exposure surface 4 Alignment marks 5a, 5b Photomask pattern 6a used in the first embodiment of the present invention 6b Photomask pattern 7a, 7b used in the second embodiment of the present invention Photomask pattern used in the third embodiment of the present invention

Claims (6)

(A)基板上に感光性ペーストを塗布し、乾燥して塗布膜を得る工程、
(B)該塗布膜の被露光部の一部をフォトマスクを介して露光する操作を複数回行い、被露光部全体を露光する工程、
(C)該露光した塗布膜を熱処理する工程、
(D)該熱処理した塗布膜を現像してパターン形成する工程、および
(E)該パターン形成された塗布膜を焼成することにより隔壁を形成する工程
を有するディスプレイ用部材の製造方法。
(A) A step of applying a photosensitive paste on a substrate and drying to obtain a coating film,
(B) A step of exposing the entire exposed portion by performing an operation of exposing a part of the exposed portion of the coating film through a photomask a plurality of times,
(C) heat-treating the exposed coating film,
(D) The manufacturing method of the member for a display which has the process of developing this heat-processed coating film, and forming a pattern, and (E) baking the pattern-formed coating film and forming a partition.
前記工程(B)において、2種以上のフォトマスクを用いて露光する請求項1記載のディスプレイ用部材の製造方法。 The method for manufacturing a display member according to claim 1, wherein in the step (B), exposure is performed using two or more kinds of photomasks. 前記工程(D)において現像を無機アルカリ水溶液で行うことを特徴とする請求項1または2記載のディスプレイ用部材の製造方法。 3. The method for producing a display member according to claim 1, wherein the development is performed with an inorganic alkaline aqueous solution in the step (D). 前記工程(B)において最初の露光開始から最後の露光終了までを5分以内に行い、前記工程(D)において現像を有機アルカリ水溶液で行う、請求項1または2に記載のディスプレイ用部材の製造方法。 The production of a display member according to claim 1 or 2, wherein the first exposure start to the last exposure end are performed within 5 minutes in the step (B), and the development is performed with an organic alkaline aqueous solution in the step (D). Method. 前記工程(B)の後に、さらに
(A’)前記露光した塗布膜上に感光性ペーストを塗布し、乾燥して第2の塗布膜を得る工程、
(B’)前記第2の塗布膜の被露光部の一部をフォトマスクを介して露光する操作を複数回行い、被露光部全体を露光する工程
を行い、その後に前記工程(C)、前記工程(D)および前記工程(E)を行う請求項1〜4のいずれかに記載のディスプレイ用部材の製造方法。
After the step (B), further (A ′) a step of applying a photosensitive paste on the exposed coating film and drying to obtain a second coating film;
(B ′) An operation of exposing a part of the exposed portion of the second coating film through a photomask is performed a plurality of times to perform a step of exposing the entire exposed portion, and then the step (C), The manufacturing method of the member for a display in any one of Claims 1-4 which perform the said process (D) and the said process (E).
請求項1〜5のいずれかに記載のディスプレイ用部材の製造方法により製造されたプラズマディスプレイ用背面板。   The back plate for plasma displays manufactured by the manufacturing method of the member for displays in any one of Claims 1-5.
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