JP2007243072A - 半導体光増幅器複合半導体レーザー装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】レーザー光の発光効率が高く、波形歪みが少なくモード乱れを抑えた高ビーム品質のレーザー光を得ることができる。
【解決手段】InP基板11上に、半導体レーザー構造のレーザー部位25と、テーパ状構造のInPクラッド層16及びInGaAsコンタクト層17が二段に重ねられた階段状のリッジ構造を有する半導体光増幅器構造の光増幅部位26とを含む層構造が形成されている。
【選択図】図2
【解決手段】InP基板11上に、半導体レーザー構造のレーザー部位25と、テーパ状構造のInPクラッド層16及びInGaAsコンタクト層17が二段に重ねられた階段状のリッジ構造を有する半導体光増幅器構造の光増幅部位26とを含む層構造が形成されている。
【選択図】図2
Description
本発明は、半導体光増幅器複合半導体レーザー装置に関し、詳しくは、レーザー構造及び光増幅器構造を備えた高出力型の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置に関する。
従来より、半導体レーザーは、種々の形態のメディアを構成する光源として広く使用されている。そして、種々の用途に適用し得るように、半導体レーザーは高出力化と小型化が図られている。
しかしながら、半導体レーザーから出力されたレーザー光を単一モード光ファイバや光導波路などに結合する場合に、出力されたレーザー光のモードと光ファイバや光導波路の持つモードとの間でモード差が生じやすく、このモード差に起因して大きい結合損失が生じることがある。
このような結合損失を解消するための手段の一つとして、ビーム形状を大きくすると共に、光ファイバとの結合を容易にするスポットサイズ変換器や、コリメータレンズやフォーカスレンズを有するレンズ機構などを用いる技術が提案されている。
特に、スポットサイズ変換器は、半導体レーザー等の半導体素子基板上に集積することが可能であるほか、高出力化することができ、装置の小型化の点でも有利である。スポットサイズ変換器については、これまで種々の検討が行なわれており、例えば半導体レーザーとテーパ状の光導波路とが組み合わせられた構造などに関する開示がある(例えば、特許文献1〜5参照)。
また、半導体レーザーは、レーザー出力を高めていくに伴なってビーム品質が悪化することが知られている。そのため、光増幅器を用いた高出力化が広く行なわれており、例えば、出力されたレーザー光のモード(光強度)と利得領域とが一致するようにして、単一モードに発振する分布帰還形半導体レーザーのレーザー光を光増幅器を用いて増幅することにより、高出力で高ビーム品質のレーザー光を得ようとする技術が開示されている(例えば、特許文献6及び非特許文献1参照)。
特開2005−210120号公報
特開2002−171027号公報
特開2004−114671号公報
特開平11−103126号公報
特開平09−288287号公報
特許3306104号
IEEE PHOTON.TECH.LETT.VOL.9 1997 pp.440-442
しかし、半導体レーザーを高出力化した場合、端面発光型の発光デバイスでは、光を取り出す光取り出し口での光強度が強くなるため、端面で発熱し、発熱により発光効率は低下する。そのため、所望の光強度を得ようと電流値を高めると、さらに端面が発熱することになり、更なる発熱によって発光効率は更に低下するといった悪循環が継続し、ひいては端面から破壊してしまう課題がある。
また、上記したように、レーザー光のモード(光強度)と利得領域とが一致する構造とした場合は、誘導放射の光強度が強くなって過剰になると、誘導放射を起こしている波長近傍のキャリアが不足して利得が減少する(以下、利得飽和ということがある。)傾向にあり、この利得の減少に伴なって、レーザー光の発光効率は低下する。
さらに、光強度が過剰な利得飽和の状態では、波形歪みを生じる。
さらに、光強度が過剰な利得飽和の状態では、波形歪みを生じる。
本発明は、上記に鑑みなされたものであり、レーザー光の発光効率が高く、波形歪みが少なくモード乱れを抑えた高ビーム品質のレーザー光を得ることができる高出力型の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置を提供することを目的とし、該目的を達成することを目的とする。
本発明は、半導体レーザーから出力されたレーザー光を光増幅器に入射して増幅する場合に、光増幅器の利得領域に2段以上の階段状リッジ構造をテーパ状に設けることが、利得領域での光強度が過大になるのを抑制し、利得飽和を起こさないようにするのに有効であるとの知見を得、かかる知見に基づいて達成されたものである。
前記目的を達成するために、本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置は、半導体基板上に、少なくともN型高屈折率層と活性層とP型高屈折率層と該P型高屈折率層より屈折率の低いP型クラッド層とが前記半導体基板側から順に設けられた層構造を設けて、この層構造が、半導体レーザー構造に形成されたレーザー部位と、テーパ状構造が複数段重ねられた階段状のリッジ構造を有する半導体光増幅器構造に形成された光増幅部位とを含む構成としたものである。
すなわち、半導体レーザー構造(レーザー部位)と半導体光増幅器構造(光増幅部位)とはそれぞれ、半導体基板側から順に少なくともN型高屈折率層と活性層とP型高屈折率層とP型クラッド層と(好ましくはコンタクト層と)が設けられた層構造を有しており、さらに半導体光増幅器構造は、前記層構造を構成する、例えばP型クラッド層(及び好ましくはコンタクト層)の少なくとも一部を、テーパ状構造が複数段重ねられた階段状のリッジ構造となるように形成したものである。
本発明においては、半導体レーザー構造(レーザー部位)から発生したレーザー光が半導体光増幅器構造(光増幅部位)に入射し増幅される際に、レーザー光が入射される半導体光増幅器構造、すなわち光増幅部位の利得領域に、レーザー部位側から該側と逆側の端面に向かって漸次的に幅広に大きくなるリッジ形状のテーパ状構造が二段以上階段状に重ねられたリッジ構造を設けることで、この漸次的に拡大するリッジ構造のP型高屈折率層から離れるリッジ構造側(階段状リッジ構造の上階方向)に導波モードの光が広がり伝播していくにしたがって、活性層と一致していた利得領域が光強度大となる位置から離れる、すなわち利得領域の、本来の光強度分布域との不一致を形成することができるので、利得領域での光強度が過大に強くなるのを防いで利得飽和が起きないようにし、発光効率の低下及び波形歪みを効果的に防止することができる。
また、意図的に利得領域がレーザー光の光強度分布域と一致しないように光強度をリッジ側に広げるので、単位面積あたりの光強度が弱まり、端面破壊を抑えることができる。
さらに、リッジ構造にしたテーパ状に形成された部分に利得領域があることで、モード形状の変換が起こり、ビーム径を大きくして発散角を狭めることが可能であるので、導波路を広げて弱化する光強度を補って高出力化することができる。
さらに、リッジ構造にしたテーパ状に形成された部分に利得領域があることで、モード形状の変換が起こり、ビーム径を大きくして発散角を狭めることが可能であるので、導波路を広げて弱化する光強度を補って高出力化することができる。
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置では、層構造を構成するP型クラッド層が、低屈折率の第1クラッド層と、少なくとも前記第1クラッド層よりも屈折率の高い第2クラッド層とを含む二層以上の積層構造に構成されていることが望ましい。
P型クラッド層を二層以上の積層構造にし、このP型クラッド層の少なくとも一部にテーパ状構造が複数段重ねられた階段状のリッジ構造を形成するようにすることができる。
また、P型クラッド層を複数層で構成する場合に、半導体基板上のP型高屈折率層側から順に屈折率が高くなる構成、例えば二層構成の場合には、半導体基板上のP型高屈折率層の上に低屈折率の第1クラッド層、第1クラッド層より屈折率の高い第2クラッド層をこの順に設けて構成することで、リッジ側に光の広がりを持たせつつ、レーザー光の閉じ込め効果をも確保でき、発光効率の低下及び波形歪みを効果的に防止しながら、高出力化することができる。
また、P型クラッド層を複数層で構成する場合に、半導体基板上のP型高屈折率層側から順に屈折率が高くなる構成、例えば二層構成の場合には、半導体基板上のP型高屈折率層の上に低屈折率の第1クラッド層、第1クラッド層より屈折率の高い第2クラッド層をこの順に設けて構成することで、リッジ側に光の広がりを持たせつつ、レーザー光の閉じ込め効果をも確保でき、発光効率の低下及び波形歪みを効果的に防止しながら、高出力化することができる。
また、P型クラッド層の半導体基板から離れた側に更にコンタクト層を設けた層構造にしてもよく、この場合には、P型クラッド層におけるテーパ状構造とコンタクト層におけるテーパ状構造とを重ねて階段状のリッジ構造を形成することができる。
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置を構成する半導体レーザー構造(レーザー部位)には、回折格子を設けて好適に構成することができる。
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置を構成する半導体レーザー構造(レーザー部位)の端面及び半導体光増幅器構造(光増幅部位)の端面の少なくとも一つは、光導波路の中心線に対して傾斜する(≠90°)ように設けられていることが望ましい。
レーザー部位と光増幅部位との間が連続的でない場合、レーザー部位及び光増幅部位の端面(例えばレーザー部位側の一端及びこれと反対側の他端)の少なくとも一つが、光導波路の導波方向における中心線に対して傾斜していることで、各部位の端面反射率が著しく低下するので、レーザー出力時に、例えばレーザー部位から出射したレーザー光が光増幅部位に入射するときに光増幅部位のレーザー部位側端面で反射したり、光増幅部位のレーザー部位側端面と反対側の端面で反射する等を防止することができ、反射により光導波路を出射方向と逆方向に戻る戻り光が低減されると共に、外部の光学部品からの戻り光が導波路に結合するのを防止できる。高出力化に効果的である。
また、ファブリペロモードが著しく抑圧され、シングルモード動作が良好になるほか、製造工程上、無反射コーティングの工程を省くことが可能になり、低コスト化の点でも有用である。
また、ファブリペロモードが著しく抑圧され、シングルモード動作が良好になるほか、製造工程上、無反射コーティングの工程を省くことが可能になり、低コスト化の点でも有用である。
本発明における半導体光増幅器構造(光増幅部位)には、電流注入領域と電流非注入領域とを設けることができる。例えば光増幅部位のレーザー出射端面に電流非注入領域を設けることにより、出射端の端面破壊を防止することができる。
さらに、本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置は、半導体基板として単一の基板で構成された半導体チップを用い、この単一の半導体チップの上に、複数のレーザー部位及び/又は複数の光増幅部位を設ける(例えば、レーザー部位及び光増幅部位の複合構造を複数設ける)ことによってアレイ光源に好適に構成することが可能である。
同一の半導体チップ上に複数個を集積することで小型化することができる。
同一の半導体チップ上に複数個を集積することで小型化することができる。
本発明によれば、レーザー光の発光効率が高く、波形歪みが少なくモード乱れを抑えた高ビーム品質のレーザー光を得ることができる高出力型の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置を提供することができる。
以下、図面を参照して、本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の実施形態について詳細に説明すると共に、該説明を通じてアレイ光源についても述べる。
(第1実施形態)
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第1実施形態を図1〜図4を参照して説明する。本実施形態の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置は、半導体基板上に設けられたP型クラッド層に隣接して更にコンタクト層を設け、P型クラッド層とコンタクト層とをテーパ状構造に形成して重ね、二段のリッジ構造を設けて構成したものである。
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第1実施形態を図1〜図4を参照して説明する。本実施形態の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置は、半導体基板上に設けられたP型クラッド層に隣接して更にコンタクト層を設け、P型クラッド層とコンタクト層とをテーパ状構造に形成して重ね、二段のリッジ構造を設けて構成したものである。
本実施形態の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置は、図1〜図2に示すように、N型のInP基板(Sドープ、キャリア濃度1018cm-3)11の上に順次、厚み0.2μmのN型InP層(Sドープ、キャリア濃度1017cm-3)12と、厚み0.2μmのInGaAsPガイド層(キャリア濃度1017cm-3;N型高屈折率層)13と、厚み0.3μmのInGaAsP活性層(キャリア濃度0cm-3)14と、厚み0.2μmのInGaAsPガイド層(キャリア濃度1017cm-3;P型高屈折率層)15とが積層されており、このInGaAsPガイド層15上には、さらに単層のInPクラッド層(Znドープ、キャリア濃度1017cm-3;P型クラッド層)16が積層された層構造となっている。
InPクラッド層16は、図1及び図2に示すように、レーザー部位25と光増幅部位26とで厚みが異なるようにして設けられている。レーザー部位25は、層構造の一方の端面から長さaの領域であり、この領域には厚みa´=1μmのInPクラッド層が形成されている。また、光増幅部位26は、長さaのレーザー部位25から間隙cの位置と層構造の他端との間の長さbの領域であり、この領域はレーザー部位のInPクラッド層と連続した厚みb´=2μmのInPクラッド層が形成されている。
レーザー部位25には、回折格子20が形成されてレーザー光の出射が可能な幅R=3μmの半導体レーザー構造27が形成されており、半導体レーザー構造27の一端から光増幅部位26にレーザー光が入射されるようになっている。
回折格子20は、InGaAs(キャリア濃度1017cm-3)を周期性が得られるように形成して構成された構造であり、幅115nm、周期230nm、厚み100nmのサイズに形成されている。回折格子は、InGaAs以外に、InGaAsPなどを適宜選択してInGaAsと同様の方法により構成することができる。
光増幅部位26は、図2に示すように、レーザー部位よりもInPクラッド層が厚く、レーザー部位からみてリッジな構造となっている。また、光増幅部位26におけるInPクラッド層16は、図1に示すように、光増幅部位26のレーザー部位側の端面で半導体レーザー構造27と略同一の幅Rとなっており、層構造の他端に向かって漸次的に幅広に大きくなる台形状のテーパ状構造となっている。層構造の他端でのInPクラッド層16の幅は、一端の幅R(3μm)に対して300μmである。
光増幅部位26におけるInPクラッド層16の上には、InGaAsコンタクト層(高濃度Znドープ、キャリア濃度1018cm-3)17が更に積層されている。このInGaAsコンタクト層17は、図1に示すように、InPクラッド層16の端面から距離dにおける幅方向中央を起点に、層構造の他端に向かって漸次的に幅広に大きくなる二等辺三角形のテーパ状構造となっている。層構造の他端では、InGaAsコンタクト層17はInPクラッド層16の幅と同一幅となっている。
上記したように、InPクラッド層16を、InPクラッド層のレーザー部位側の一端の幅をInGaAsコンタクト層17よりも広幅にして他端側に漸次的に幅広になるテーパ状構造に形成すると共に、このInPクラッド層16上に重ねて、InPクラッド層のレーザー部位側の一端の幅方向中央部を起点に、幅方向が漸次的に幅広になるテーパ状構造のInGaAsコンタクト層17を設けることにより、テーパ状構造が二段に重ねられた階段状のリッジ構造が形成されている。以下、リッジ構造を形成したことによる動作原理について図3を参照して詳細に説明する。
図3−(a)は、半導体光増幅器複合半導体レーザー装置のレーザー部位25と光増幅部位26との境界(A−A’線)での断面図を表すものである。図3−(a)に示すように、レーザー部位25と光増幅部位26との境界付近では、ビームプロファイルで示される光強度分布域、すなわち光強度が強くなる利得領域がInGaAsP活性層14と一致しているが、テーパ状構造が二段に重ねられた階段状のリッジ構造となっている領域では、利得領域が図3−(b)に示すように、リッジ構造の幅の拡大とともに拡がると同時に、InGaAsP活性層14からリッジ構造側(上階方向)にやや移動している。さらに、リッジ構造がより幅広で高層の層構造となる他端側では、図3−(c)に示すように、利得領域がさらにリッジ構造の幅の拡がりとともに拡がり、リッジ構造側に偏っている。
このように、レーザー部位25から光増幅部位26に向かって導波モードの光が広がって伝播していくにしたがい、層構造中の光強度が強くなる利得領域が、リッジ構造の幅の拡がりとリッジ高の高まりにしたがって大きくなるために、単位面積あたりの光強度が弱まる。そのため、利得領域では、光強度が過大に強くなることがなく、利得飽和が起きるのを防止することができる。これにより、発光効率の低下及び波形歪みを効果的に防止することができる。
このように、レーザー部位25から光増幅部位26に向かって導波モードの光が広がって伝播していくにしたがい、層構造中の光強度が強くなる利得領域が、リッジ構造の幅の拡がりとリッジ高の高まりにしたがって大きくなるために、単位面積あたりの光強度が弱まる。そのため、利得領域では、光強度が過大に強くなることがなく、利得飽和が起きるのを防止することができる。これにより、発光効率の低下及び波形歪みを効果的に防止することができる。
また、上記のようにリッジ構造を設けることで意図的に利得領域が光強度分布域と一致しないようにし、単位面積あたりの光強度が弱まることで、利得領域での光強度が過大になることに伴なうレーザー出射端の端面破壊が抑えられる。さらに、利得領域は、テーパ状に構成されたリッジ構造の部位に移動して、モード形状の変換を起こしつつ形成され、ビーム径を大きくして発散角を狭めることが可能であるので、導波路を広げて弱化する光強度を補って高出力化することが可能になる。
光増幅部位における、InGaAsコンタクト層17の表面、InPクラッド層16のInGaAsコンタクト層17が形成されていない露出面、及びInGaAsPガイド層15のInPクラッド層16が形成されていない露出面には、蒸着形成されたTi膜100nmの上にAu100nmを蒸着した金属多層膜のP電極18が形成されている。
また、レーザー部位におけるInPクラッド層16の表面には、P電極と同様にTi膜100nmの上にAu100nmを蒸着した金属多層膜(Ti/Au膜)のレーザーP電極19が形成されている。
P電極及びレーザーP電極を構成する電極材料には、Ti/Au膜以外に、Pt/Ti/Au膜などの多層膜を用いることができる。
InP基板11のInP層12等が設けられていない側には、蒸着形成されたTi膜100nmの上にAu100nmを蒸着した金属多層膜のN電極21が形成されている。
N電極を構成する電極材料には、Ti/Au膜以外に、Au−Ge合金などの金属を用いることができる。
N電極を構成する電極材料には、Ti/Au膜以外に、Au−Ge合金などの金属を用いることができる。
次に、本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の作製方法を説明する。
−1)基板上への各層の形成−
N型のInP基板(Sドープ、キャリア濃度1018cm-3)を用意し、このInP基板を500〜700℃に加熱して、MOCVD(有機金属気相成長法;キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:ターシャルブチルホスフィン(TBP)、トリメチルインジウム(TMIn))を用いた常法により、図2に示すように、InP基板11上に厚み0.2μmのN型InP層(Sドープ、キャリア濃度1017cm-3)12を成長させて形成する。
−1)基板上への各層の形成−
N型のInP基板(Sドープ、キャリア濃度1018cm-3)を用意し、このInP基板を500〜700℃に加熱して、MOCVD(有機金属気相成長法;キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:ターシャルブチルホスフィン(TBP)、トリメチルインジウム(TMIn))を用いた常法により、図2に示すように、InP基板11上に厚み0.2μmのN型InP層(Sドープ、キャリア濃度1017cm-3)12を成長させて形成する。
MOCVD(有機金属気相成長法)は、半導体レーザ等の生産に一般に用いられる化合物体の薄膜成長法である。原料ガスには、主に液体の有機金属〔例えば、ターシャルブチルホスフィン(以下、TBPと略記する)、ターシャルブチルアルシン(以下、TBAsと略記する)、トリメチルアルミニウム(以下、TMAlと略記する)、トリメチルガリウム(以下、TMGaと略記する)、トリメチルインジウム(以下、TMInと略記する)〕を用い、キャリアガス(例えば水素(H2))でバブリングして気体として反応室に供給する。原料ガスは、500〜700℃に加熱された基板上で分解し、基板上に薄膜が成長される。
N型InP層12の形成後に連続して、前記同様に500〜700℃に加熱しつつ、MOCVD法〔キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:TMGa、TMIn、TBP、TBAs〕を用いた常法により、N型InP層12上に、厚み0.2μmのN型のInGaAsPガイド層(キャリア濃度1017cm-3)13を成長させて積層し、引き続いて、MOCVD法〔キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:TMGa、TMIn、TBP、TBAs〕を用いた常法により、InGaAsPガイド層13上に、厚み0.3μmのInGaAsP活性層(キャリア濃度0cm-3)14を成長させて積層する。
その後さらに連続して、InGaAsP活性層14上に、MOCVD法〔キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:TMGa、TMIn、TBP、TBAs〕を用いた常法により、厚み0.2μmのP型のInGaAsPガイド層(キャリア濃度1017cm-3)15を成長させて積層する。
−2)半導体レーザー構造の形成−
その後、InGaAsPガイド層15上に、MOCVD法〔キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:TMIn、TBP〕を用いた常法により、InPクラッド層(Znドープ、キャリア濃度1017cm-3)16を所定の厚みに一旦形成しておき、このInPクラッド層上のレーザー部位を形成する領域に、電子線描画装置(クレステック(株)製)により、燐酸及び過酸化水素水を水で希釈した混合液を用いて周期性が得られるようにして、幅115nm、周期230nm、厚み100nmよりなる回折格子を形成し、光の進行方向に沿って周期構造を設けた分布帰還形半導体レーザーを構成する。その後、再びMOCVD法により上記同様の条件にて、InPクラッド層を結晶成長させる。
その後、InGaAsPガイド層15上に、MOCVD法〔キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:TMIn、TBP〕を用いた常法により、InPクラッド層(Znドープ、キャリア濃度1017cm-3)16を所定の厚みに一旦形成しておき、このInPクラッド層上のレーザー部位を形成する領域に、電子線描画装置(クレステック(株)製)により、燐酸及び過酸化水素水を水で希釈した混合液を用いて周期性が得られるようにして、幅115nm、周期230nm、厚み100nmよりなる回折格子を形成し、光の進行方向に沿って周期構造を設けた分布帰還形半導体レーザーを構成する。その後、再びMOCVD法により上記同様の条件にて、InPクラッド層を結晶成長させる。
−3)半導体光増幅器構造の形成−
引き続いて、InPクラッド層16上に、上記同様にMOCVD法〔キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:TMGa、TMIn、TBAs〕を用いた常法により、InGaAsコンタクト層(高濃度Znドープ、キャリア濃度1018cm-3)17を積層し、InP基板上に6層が積層された層構造を形成する。
引き続いて、InPクラッド層16上に、上記同様にMOCVD法〔キャリアガス:水素(H2)、原料ガス:TMGa、TMIn、TBAs〕を用いた常法により、InGaAsコンタクト層(高濃度Znドープ、キャリア濃度1018cm-3)17を積層し、InP基板上に6層が積層された層構造を形成する。
そして、InGaAsコンタクト層17の表面に、半導体製造工程で一般に用いられるフォトリソ法により、層構造のレーザー部位を形成しようとする領域(図1中の幅aの領域)のみが露出するようにパターニングして、InGaAsコンタクト層上の光増幅部位を形成しようとする領域(図1中の幅bの領域)にフォトレジスト膜を形成する。
このフォトレジスト膜をマスクとして、塩素ガスを用いたドライエッチング法により、レーザー部位となる領域のInGaAsコンタクト層17及びInPクラッド層16をInPクラッド層16の厚みがa’になるまでエッチングすると共に、光増幅部位となる領域のInGaAsコンタクト層17及びInPクラッド層16を、InGaAsPガイド層15が露出するまでエッチングする。
このとき、図2に示すように、レーザー部位25が光増幅部位26に比べて薄い段差構造が形成されており、光増幅部位26には、図1に示すように、InGaAsコンタクト層17及びInPクラッド層16からなる高さbの台形状の一段のリッジ構造が形成されている。
このとき、図2に示すように、レーザー部位25が光増幅部位26に比べて薄い段差構造が形成されており、光増幅部位26には、図1に示すように、InGaAsコンタクト層17及びInPクラッド層16からなる高さbの台形状の一段のリッジ構造が形成されている。
続いて、再び層構造の光増幅部位26となる領域の表面全面(すなわち台形状のInGaAsコンタクト層17及び露出したInGaAsPガイド層15の表面)にフォトレジスト膜を形成後、半導体製造工程で一般に用いられるフォトリソ法により、図1に示すように、リッジ構造の2段目となる二等辺三角形状パターンにパターニングされたフォトレジスト膜を形成する。
このフォトレジスト膜をマスクとして、塩素ガスを用いたドライエッチング法により、InGaAsコンタクト層17のみを、二等辺三角形状パターン外のInPクラッド層16が露出するまでエッチングし、二等辺三角形状のP型クラッド層と台形状のInGaAsコンタクト層とを重ねて導波路となる二段の段差構造のリッジ構造を形成する。
その後、残存するフォトレジスト膜をアセトン(有機溶剤)又はレジスト剥離液を用いて除去する。
次に、層構造の露出するInGaAsPガイド層15の表面並びにInPクラッド層16及びInGaAsコンタクト層17の表面全体に、プラズマCVD法を用いてSiN膜(絶縁膜)を形成し、半導体製造工程で一般に用いられるフォトリソ法により、電極窓をパターニングし、光増幅部位26のInPクラッド層16及びInGaAsコンタクト層17上のSiN膜のみを緩衝フッ酸(HF)を用いてエッチングする。
なお、プラズマCVD法でSiO2膜を形成するようにしてもよい。
なお、プラズマCVD法でSiO2膜を形成するようにしてもよい。
そして、半導体製造工程で一般に用いられるフォトリソ法により、P電極リフトオフ用にレジストパターンを、図1及び図2に示す距離cに相当する領域にのみ形成し、真空蒸着装置を用いてP型電極を蒸着する。その後、リフトオフ法により、レジスト剥離液を用いてフォトレジスト膜上に形成されている不要な電極材を、残存するフォトレジスト膜と共に除去する。
上記のようにInP基板の一方の側にレーザー部位(半導体レーザー構造)25及び光増幅部位(半導体光増幅器構造)26を形成した後、InP基板の他方の側を、ダイヤモンド微粒等の研磨材により基板の厚みが100μmになるまで研磨する。研磨後、真空蒸着装置を用いて、Ti膜を蒸着してN電極を形成する。
以上のようにして、本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置を作製することができる。
以上のようにして、本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置を作製することができる。
本実施形態では、InPクラッド層(P型クラッド層)を単層に構成したが、単層に限らず、複数の層を積層した多層構成とすることができる。多層構成は、光密度を下げることができる点で好適である。
この場合、P型クラッド層は、低屈折率の第1クラッド層と、少なくとも第1クラッド層よりも屈折率の高い第2クラッド層とを含む二層以上の多層構造に構成することができる。具体的には、例えば図4に示すように、InGaAsPガイド層15上に該ガイド層側から順に、屈折率ρ1の第1のInGaAsPクラッド層〔Znドープ、キャリア濃度1017cm-3〕31、屈折率ρ2(ρ1<ρ2)の第2のInGaAsPクラッド層〔Znドープ、キャリア濃度1017cm-3〕32を積層した2層構造にすることができる。
この場合、P型クラッド層は、低屈折率の第1クラッド層と、少なくとも第1クラッド層よりも屈折率の高い第2クラッド層とを含む二層以上の多層構造に構成することができる。具体的には、例えば図4に示すように、InGaAsPガイド層15上に該ガイド層側から順に、屈折率ρ1の第1のInGaAsPクラッド層〔Znドープ、キャリア濃度1017cm-3〕31、屈折率ρ2(ρ1<ρ2)の第2のInGaAsPクラッド層〔Znドープ、キャリア濃度1017cm-3〕32を積層した2層構造にすることができる。
上記のように、P型クラッド層を多層構造にする場合、各層の厚みは適宜選択すればよい。また、多層構造の層構成は、InGaAsPガイド層15側から徐々に屈折率が高くなる構成になっていればよく、二層のほか、三層以上の多層であってもよい。
(第2実施形態)
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第2実施形態を図5〜図6を参照して説明する。本実施形態は、第1実施形態の互いに対向しないレーザー部位25の端面と光増幅部位26の端面とをそれぞれ光導波路の中心線に対して傾斜面となるように構成したものである。
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第2実施形態を図5〜図6を参照して説明する。本実施形態は、第1実施形態の互いに対向しないレーザー部位25の端面と光増幅部位26の端面とをそれぞれ光導波路の中心線に対して傾斜面となるように構成したものである。
なお、各層は第1実施形態で使用した材料及び方法を用いて第1実施形態と同様に形成することが可能であり、第1実施形態と同様の構成要素には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
本実施形態の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置は、図5に示すように、レーザー部位25の光増幅部位26側端面と反対側の端面及び、光増幅部位26のレーザー部位25側端面と反対側の端面は、光導波路の中心線eの方向と直交しない傾斜角を有するように形成されている。
光導波路の光の伝搬方向である中心線eの方向に対して傾斜する傾斜面に構成されるので、端面反射率を大幅に低減することができる。例えば図6に示すように、レーザー出力時には、端面で反射した反射光が共振器に還らず端面反射率が低くなって半導体レーザーへの戻り光が減少し、半導体レーザー動作が良好になる。また、光増幅部位のレーザー部位側端面と反対側の端面での反射を防止でき、反射して光導波路を出射方向と逆方向に戻る戻り光や、外部の光学部品からの戻り光が導波路に結合するのを防止できるようになっている。
中心線eの方向に対して傾斜する傾斜面は、予め図1及び図2に示すような層構造を作製しておき、その後所望の傾斜面(端面)が形成されるように断裁することにより作製することができる。
(第3実施形態)
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第3実施形態を図7を参照して説明する。本実施形態は、第1実施形態における光増幅部位のレーザー部位と対向しない側に、電流非注入領域を形成して構成したものである。
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第3実施形態を図7を参照して説明する。本実施形態は、第1実施形態における光増幅部位のレーザー部位と対向しない側に、電流非注入領域を形成して構成したものである。
なお、電流非注入領域を除き各層は第1実施形態で使用した材料及び方法を用いて第1実施形態と同様に形成することが可能であり、第1実施形態と同様の構成要素には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
本実施形態では、図7に示すように、光増幅部位26のレーザー部位側と反対側の端面から所定の領域には、電流非注入領域27が設けられており、活性領域ができる光増幅部位における光強度が大きくなった場合に、レーザー出射端の端面破壊を防止できようになっている。
光増幅部位26における電流非注入領域以外のリッジ構造の領域は、電流注入領域に構成されている。
光増幅部位26における電流非注入領域以外のリッジ構造の領域は、電流注入領域に構成されている。
この電流非注入領域27は、P電極及びN電極の形成前に、InP基板(半導体基板)及び該InP基板上の層構造を絶縁膜で所望の電流非注入領域を形成しようとする領域を覆うようにすることにより形成することができる。絶縁膜は、例えばプラズマCVD法を用いてSiN膜やSiC膜を形成することにより設けることができる。
(第4実施形態)
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第4実施形態を図8を参照して説明する。本実施形態は、第1実施形態でInP基板上に形成したレーザー部位25と光増幅部位26とをそれぞれ複数個同一の半導体チップ上に配列してアレイ光源としたものである。
本発明の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置の第4実施形態を図8を参照して説明する。本実施形態は、第1実施形態でInP基板上に形成したレーザー部位25と光増幅部位26とをそれぞれ複数個同一の半導体チップ上に配列してアレイ光源としたものである。
なお、各層は第1実施形態で使用した材料及び方法を用いて第1実施形態と同様に形成することが可能であり、第1実施形態と同様の構成要素には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
本実施形態は、図8に示すように、単一の半導体チップ30上に、レーザー部位(半導体レーザー構造)25及び光増幅部位(半導体光増幅器構造)26の複合体構造を5個所定の間隔で配列して構成したものである。単一基板上に複数の半導体レーザー構造及び半導体光増幅器構造が設けられるので、高出力型のレーザー装置を小型化することができる。
半導体チップとしては、InP基板、GaAs基板等を用いることができる。
なお、本実施形態では、5個の複合体構造を同一基板上に設けるようにしたが、同一基板上に設ける半導体レーザー構造及び半導体光増幅器構造の構造体数は目的等に応じて適宜選択することができる。
11…InP基板
12…N型InP層
13…InGaAsPガイド層(N型高屈折率層)
14…InGaAsP活性層
15…InGaAsPガイド層(P型高屈折率層)
16…InPクラッド層(P型クラッド層)
17…InGaAsコンタクト層
20…回折格子
25…レーザー部位
26…光増幅部位
27…半導体レーザー構造
31…第1のInGaAsPクラッド層
32…第2のInGaAsPクラッド層
12…N型InP層
13…InGaAsPガイド層(N型高屈折率層)
14…InGaAsP活性層
15…InGaAsPガイド層(P型高屈折率層)
16…InPクラッド層(P型クラッド層)
17…InGaAsコンタクト層
20…回折格子
25…レーザー部位
26…光増幅部位
27…半導体レーザー構造
31…第1のInGaAsPクラッド層
32…第2のInGaAsPクラッド層
Claims (7)
- 半導体基板上に、少なくともN型高屈折率層と活性層とP型高屈折率層と該P型高屈折率層より屈折率の低いP型クラッド層とが前記半導体基板側から順に設けられた層構造を有し、
前記層構造は、半導体レーザー構造に形成されたレーザー部位と、テーパ状構造が複数段重ねられた階段状のリッジ構造を有する半導体光増幅器構造に形成された光増幅部位とを含む半導体光増幅器複合半導体レーザー装置。 - 前記P型クラッド層は、低屈折率の第1クラッド層と、少なくとも前記第1クラッド層よりも屈折率の高い第2クラッド層とを含む二層以上からなる請求項1に記載の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置。
- 前記P型クラッド層の半導体基板から離れた側にコンタクト層を更に有し、
前記リッジ構造は、前記P型クラッド層のテーパ状構造と前記コンタクト層のテーパ状構造とを重ねて構成されたことを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置。 - 半導体レーザー構造に形成された前記レーザー部位は回折格子を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置。
- 半導体レーザー構造に形成された前記レーザー部位の端面及び半導体光増幅器構造に形成された前記光増幅部位の端面の少なくとも一つは、光導波路の中心線に対して傾斜していることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置。
- 半導体光増幅器構造に構成された前記光増幅部位は、電流注入領域と電流非注入領域とを有することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置。
- 前記半導体基板が単一の基板で構成された半導体チップであり、該半導体チップの上に、複数の前記レーザー部位及び/又は複数の前記光増幅部位を有することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の半導体光増幅器複合半導体レーザー装置。
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