JP2007232626A - テストモード設定回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】ノイズなどの誤信号によるテストモードへの移行を防止し、さらにテストモードから容易に抜け出るようにする。
【解決手段】パワーオンリセット信号PORと専用のリセット信号TESTRがHになると、シフトレジスタ2は、クロックCLKに同期して制御信号TESTDを順次入力してシフトする。デコード回路3は、シフトレジスタ2から出力されるデータQ6−Q0が「H**L**H」(*は任意)になると移行許可信号TESTFをHにする。制御信号TESTDとリセット信号TESTRがHであることを条件として、最終的に出力する移行許可信号TESTEをHにする。デコード回路3は、データQ5、Q4、Q2、Q1をデコードしてテストモード選択信号TEST1〜TEST16を生成する。
【選択図】図1
【解決手段】パワーオンリセット信号PORと専用のリセット信号TESTRがHになると、シフトレジスタ2は、クロックCLKに同期して制御信号TESTDを順次入力してシフトする。デコード回路3は、シフトレジスタ2から出力されるデータQ6−Q0が「H**L**H」(*は任意)になると移行許可信号TESTFをHにする。制御信号TESTDとリセット信号TESTRがHであることを条件として、最終的に出力する移行許可信号TESTEをHにする。デコード回路3は、データQ5、Q4、Q2、Q1をデコードしてテストモード選択信号TEST1〜TEST16を生成する。
【選択図】図1
Description
本発明は、所定の制御信号データが入力されるとテストモードへの移行許可信号を出力するテストモード設定回路に関する。
内部の機能回路をテストするため、テストモードを設定するテストモード設定回路が作り込まれた半導体集積回路装置(IC)がある。特許文献1には、1個のテスト端子を使用して、複数のテストモード制御信号を生成するテストモード設定回路が開示されている。
特開平5−34409号公報
図5は、特許文献1に示されたテストモード設定回路を示している。このテストモード設定回路101は、4ビットのバイナリカウンタから構成されており、テスト端子102から入力されるパルス信号をカウントして、各段の出力端子Q0〜Q3からテストモード制御信号T1〜T4を出力するようになっている。テストモード制御信号T1〜T4は、Lレベルのリセット信号R(例えばパワーオンリセット信号)が入力されると、Lレベルにリセットされる。
このテストモード設定回路101は、1つのテスト端子2を設けるだけで複数のテストモードを設定できる利点はあるが、通常動作時にノイズ等によりテスト端子102にパルス信号が入ると、直ちにテストモードに移行してしまう不具合がある。また、一旦テストモードに移行すると、テストモードから抜け出るためにはリセット信号RをLレベルにする必要があるが、リセット信号Rが他の回路ブロックと共通のリセット信号例えばパワーオンリセット信号である場合には、システム全体の電源を一旦オフにしてオンし直す必要があった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、ノイズなどの誤信号によるテストモードへの移行を防止できるとともに、テストモードから容易に抜け出ることができるテストモード設定回路を提供することにある。
請求項1に記載した手段によれば、シフトレジスタは、リセット信号が入力されると全てのデータ保持回路の出力を第1レベルに初期化し、その後クロックに同期してシリアルに与えられる制御信号データを順次入力するとともに、入力データをLSB側のデータ保持回路からMSB側のデータ保持回路に向かって順次シフトする。
デコード回路は、シフトレジスタ内のMSBのデータ保持回路に対応する制御信号データが初期化レベル(第1レベル)とは異なる第2レベルであって(第1条件)、且つ、その他の少なくとも1つのデータ保持回路に対応する制御信号データが予め定められたレベルである(第2条件)場合に、テストモードへの移行許可信号を出力する。すなわち、制御信号データがノイズ等によって一時的に第2レベルに変化しただけでテストモードに移行することはなく、データ保持回路が出力する制御信号データが特定のパターン(キーパターン)に一致する場合に、デコード回路が移行許可信号を出力する。また、少ない端子で、テストモードへの移行制御が可能となる。
さらに、テストモード設定回路が最終的に移行許可信号を出力するには、制御信号とリセット信号の何れか一方または両方の信号が所定のレベルであること(第3条件)も必要である。この第3条件を付加することにより、仮にノイズ等に起因して上記キーパターンが成立したとしても、制御信号またはリセット信号のレベルを制御することにより、ゲート回路が移行許可信号の出力を禁止するので、電源リセットを行うことなくテストモードから容易に抜け出ることができる。
請求項2に記載した手段によれば、デコード回路が移行許可信号を出力するためには、制御信号データが、リセットされた状態である第1レベルから第2レベル、さらに第1レベルへと変化することが必要となる。このように、少なくとも2回の相異なる向きのレベル変化が必要とされる(換言すれば、制御信号に所定幅の第2レベルのパルスが入力されることが必要とされる)ので、ノイズ等によるテストモードへの移行が一層生じにくくなる。
請求項3に記載した手段によれば、デコード回路が移行許可信号を出力するためには、制御信号データが、リセットされた状態である第1レベルから第2レベル、第1レベル、第2レベルへと変化することが必要となる。このように、少なくとも3回の相異なる向きのレベル変化が必要とされ、しかもシフトレジスタのデータ長に相当する時間間隔を以って第2レベルであることが必要とされる(換言すれば、制御信号に所定幅の第2レベルのパルスと第1レベルのパルスが入力されることが必要とされる)ので、ノイズ等によるテストモードへの移行が一層生じにくくなる。
請求項4に記載した手段によれば、デコード回路は、シフトレジスタから出力される制御信号データのうち移行許可信号の生成に用いた制御信号データを除く制御信号データをデコードしてテストモード選択信号を出力する。これにより、複数のテストモードの中から所望するテストモードを選択して移行することができる。
請求項5に記載した手段によれば、リセット信号が第1レベル(シフトレジスタのリセットレベル)である場合または制御信号が第1レベルである場合に、ゲート回路がオフして移行許可信号の出力を遮断する。従って、リセット信号を用いてリセットをかける他に、制御信号のレベルを第1レベルに制御してもテストモードから抜け出ることができる。
請求項6に記載した手段によれば、シフトレジスタは、システム等のパワーオンリセット信号と専用のリセット信号の何れか一方が第1レベルになることによりリセットされる。従って、専用のリセット信号を用いれば、システム内の他の回路ブロックに影響を与えることなく、テストモード設定回路のみをリセットしてテストモードから抜け出ることができる。
以下、本発明の一実施形態について図1ないし図4を参照しながら説明する。
図1は、産業用電子機器、車載機器などに採用されるテストモード設定回路の構成を示している。このテストモード設定回路1は、他の機能回路とともに1つのICとして構成されており、所定電圧の電源供給を受けて動作するようになっている。
図1は、産業用電子機器、車載機器などに採用されるテストモード設定回路の構成を示している。このテストモード設定回路1は、他の機能回路とともに1つのICとして構成されており、所定電圧の電源供給を受けて動作するようになっている。
信号TESTDは、Lレベル(第1レベル、論理0に相当)またはHレベル(第2レベル、論理1に相当)からなるシリアルの制御信号(テストモードへの移行情報)であり、ICの端子を介して外部から与えられるようになっている。信号PORは、IC全体に共通のパワーオンリセット信号であり、信号TESTRは、テストモード設定回路1に対する専用のリセット信号である。これらリセット信号POR、TESTRは、Lレベルでアクティブ(リセットが有効)となる信号論理を有している。クロックCLKとリセット信号POR、TESTRも、ICの端子を介して外部から与えてもよい。
制御信号TESTDをクロックCLKに同期して所定のパターン(以下、キーパターンと称す)に合致するようにレベル変化させることにより、テストモード設定回路1は、16のテストモードのうちから選択されたテストモードを表すテストモード選択信号(TEST1〜TEST16)と、テストモードへの移行を許可する移行許可信号TESTEを出力する(Hレベルにする)ようになっている。
テストモード設定回路1は、シフトレジスタ2、デコード回路3、2入力のANDゲートA1、3入力のANDゲートA2、ゲート回路4などから構成されている。シフトレジスタ2は、図2に示すように、縦続接続された7個のDフリップフロップF1〜F7(データ保持回路に相当)を備えており、各DフリップフロップF1〜F7からデータQ0〜Q6が出力されるようになっている。シフトレジスタ2のクロック端子CからDフリップフロップF6〜F1の各クロック端子までの間には、タイミング調整のためのバッファ回路B1〜B6が順次直列に接続されている。
図1において、シフトレジスタ2のデータ端子DにはバッファB7を介して制御信号TESTDが入力されており、シフトレジスタ2のクロック端子CにはANDゲートA3を介してクロックが入力されている。このANDゲートA3の入力端子には、バッファB8を介してクロックCLKが入力されており、さらにインバータI1を介してシフトレジスタ2の出力データQ6(MSB)が入力されている。
シフトレジスタ2のリセット端子PRには、ANDゲートA1からリセット信号が入力されている。ANDゲートA1の入力端子には、バッファB9を介してリセット信号TESTRが入力されており、さらにバッファB10を介してリセット信号PORが入力されている。上述したようにリセット信号POR、TESTRはLアクティブの信号論理を有しており、シフトレジスタ2に入力されるリセット信号もLアクティブの信号論理を有している。従って、ANDゲートA1は、Lレベルについてリセット信号PORとTESTRの論理和信号を生成していることになる。
デコード回路3は、図3に示すようにインバータI2〜I6およびANDゲートA10〜A26から構成されている。シフトレジスタ2のDフリップフロップF7(MSB)、F6、…、F1(LSB)からそれぞれ出力されるデータをQ6(D6)、Q5(D5)、…、Q0(D0)とすると、ANDゲートA10から出力されるテストモードへの移行許可信号TESTFは、以下の論理式で表すことができる。括弧内は、論理式を満たすデータをQ6(左)からQ0(右)まで並べて示している。「*」は任意のレベルでよいことを表しており、「/」は否定を表している。
TESTF =Q6・/Q3・Q0 (H**L**H)
同様に、ANDゲートA11〜A26から出力されるテストモード選択信号TEST1〜TEST16の論理式は、それぞれ以下のようになる。
TEST1 =/Q5・/Q4・/Q2・/Q1 (*LL*LL*)
TEST2 =/Q5・/Q4・/Q2・Q1 (*LL*LH*)
TEST3 =/Q5・/Q4・Q2・/Q1 (*LL*HL*)
TEST4 =/Q5・/Q4・Q2・Q1 (*LL*HH*)
TEST5 =/Q5・Q4・/Q2・/Q1 (*LH*LL*)
TEST6 =/Q5・Q4・/Q2・Q1 (*LH*LH*)
TEST7 =/Q5・Q4・Q2・/Q1 (*LH*HL*)
TEST8 =/Q5・Q4・Q2・Q1 (*LH*HH*)
TEST9 = Q5・/Q4・/Q2・/Q1 (*HL*LL*)
TEST10= Q5・/Q4・/Q2・Q1 (*HL*LH*)
TEST11= Q5・/Q4・Q2・/Q1 (*HL*HL*)
TEST12= Q5・/Q4・Q2・Q1 (*HL*HH*)
TEST13= Q5・Q4・/Q2・/Q1 (*HH*LL*)
TEST14= Q5・Q4・/Q2・Q1 (*HH*LH*)
TEST15= Q5・Q4・Q2・/Q1 (*HH*HL*)
TEST16= Q5・Q4・Q2・Q1 (*HH*HH*)
同様に、ANDゲートA11〜A26から出力されるテストモード選択信号TEST1〜TEST16の論理式は、それぞれ以下のようになる。
TEST1 =/Q5・/Q4・/Q2・/Q1 (*LL*LL*)
TEST2 =/Q5・/Q4・/Q2・Q1 (*LL*LH*)
TEST3 =/Q5・/Q4・Q2・/Q1 (*LL*HL*)
TEST4 =/Q5・/Q4・Q2・Q1 (*LL*HH*)
TEST5 =/Q5・Q4・/Q2・/Q1 (*LH*LL*)
TEST6 =/Q5・Q4・/Q2・Q1 (*LH*LH*)
TEST7 =/Q5・Q4・Q2・/Q1 (*LH*HL*)
TEST8 =/Q5・Q4・Q2・Q1 (*LH*HH*)
TEST9 = Q5・/Q4・/Q2・/Q1 (*HL*LL*)
TEST10= Q5・/Q4・/Q2・Q1 (*HL*LH*)
TEST11= Q5・/Q4・Q2・/Q1 (*HL*HL*)
TEST12= Q5・/Q4・Q2・Q1 (*HL*HH*)
TEST13= Q5・Q4・/Q2・/Q1 (*HH*LL*)
TEST14= Q5・Q4・/Q2・Q1 (*HH*LH*)
TEST15= Q5・Q4・Q2・/Q1 (*HH*HL*)
TEST16= Q5・Q4・Q2・Q1 (*HH*HH*)
図1において、ANDゲートA2(ゲート回路に相当)は、制御信号TESTD、リセット信号TESTRおよび移行許可信号TESTFを入力し、出力バッファB11、B12を介して移行許可信号TESTEを出力するようになっている。また、ANDゲートA31〜A46は、それぞれデコード回路3が出力するテストモード選択信号TEST1〜TEST16とANDゲートA2が出力する移行許可信号TESTEとを入力し、移行許可信号TESTEによってゲートされたテストモード選択信号TEST1〜TEST16をバッファB31〜B46を介して出力するようになっている。
次に、本実施形態の作用について図4を参照しながら説明する。
図4は、テストモード設定のタイミングチャートを示している。波形は、上から順にクロックCLK、システム共通のパワーオンリセット信号POR、制御信号TESTD、専用のリセット信号TESTR、シフトレジスタ2の出力データQ(Q6−Q0)、テストモードへの移行許可信号TESTE、テストモード選択信号TEST1、TEST2を表している。また、Lレベル、Hレベルをそれぞれ0、1の論理で示している。
図4は、テストモード設定のタイミングチャートを示している。波形は、上から順にクロックCLK、システム共通のパワーオンリセット信号POR、制御信号TESTD、専用のリセット信号TESTR、シフトレジスタ2の出力データQ(Q6−Q0)、テストモードへの移行許可信号TESTE、テストモード選択信号TEST1、TEST2を表している。また、Lレベル、Hレベルをそれぞれ0、1の論理で示している。
電源が投入された後、時刻t1にパワーオンリセット信号PORがHレベル(インアクティブ)となり、続いて時刻t2にリセット信号TESTRがHレベル(インアクティブ)となる。シフトレジスタ2には、ANDゲートA1を介してリセット信号PORとTESTRが与えられているので、時刻t2まではリセット状態となる。リセット状態では、シフトレジスタ2内のDフリップフロップF1〜F7のデータQ0〜Q6は全てLレベルとなる。
リセットが解除されると、シフトレジスタ2は、クロックCLKの立ち上がりに同期して保持データQ5−Q0のシフト動作を行うとともに、制御信号TESTDをLSB側のDフリップフロップF1に保持する。時刻t3からt4にかけて、制御信号TESTDがクロックCLKに同期してHLLLLLH(=1000001)の順に変化すると、時刻t4のクロックCLKの立ち上がりに同期して、シフトレジスタ2の出力データQ6−Q0はHLLLLLH(=1000001)となる。時刻t4で出力データQ6がHレベルになると、ANDゲートA3はLレベルを出力し、クロックCLKのシフトレジスタ2への入力が停止する。
この時刻t4において、データQ6−Q0が所定のキーパターン「H**L**H」(*は任意)に一致するので、デコード回路3は、移行許可信号TESTFをLレベルからHレベルにする。この時、制御信号TESTDとリセット信号TESTRはともにHレベルなので、ANDゲートA2の3つの入力は全てHレベルとなり、最終的に出力する移行許可信号TESTFもHレベル(移行許可)となる。また、Q5、Q4、Q2、Q1が全てLレベルであるため、デコード回路3およびゲート回路4は、テストモード選択信号TEST1〜TEST16のうちTEST1のみをHレベルにする。すなわち、テストモード設定回路1は、テストモード1への移行許可を表す信号を出力する。
その後、時刻t5で制御信号TESTDがLレベルになると、ANDゲートA2の出力がLレベルとなり、移行許可信号TESTFとテストモード選択信号TEST1はLレベルになる。その後、時刻t6、t7、t8で制御信号TESTDがHレベル、Lレベル、Hレベルになると、それに伴って移行許可信号TESTFもHレベル、Lレベル、Hレベルになる。すなわち、制御信号TESTDのデータがキーパターンに一致してテストモードへの移行許可信号TESTFがHレベル(移行許可)になっても、制御信号TESTDをLレベルにすると移行許可信号TESTFを直ちにLレベル(移行不許可)に戻すことができる。
時刻t9においてリセット信号TESTRがLレベルになると、シフトレジスタ2の内のDフリップフロップF1〜F7のデータQ0〜Q6は全てLレベルとなり、移行許可信号TESTEとテストモード選択信号TEST1〜TEST16は全てLレベルになる。時刻t10においてリセットが解除されると、シフトレジスタ2は、再びクロックCLKの立ち上がりに同期して制御信号TESTDのシフト動作を行う。
時刻t10からt11にかけて、制御信号TESTDがクロックCLKに同期してHHHLLLL(=1110000)の順に変化すると、時刻t11のクロックCLKの立ち上がりに同期して、シフトレジスタ2の出力データQ6−Q0はHHHLLLL(=1110000)となる。出力データQ6がHレベルになるので、ANDゲートA3はLレベルを出力し、クロックCLKのシフトレジスタ2への入力が再び停止する。出力データQ6−Q0は所定のキーパターン「H**L**H」に一致しないので、デコード回路3は移行許可信号TESTEをLレベル(移行不許可)のまま維持する。また、テストモード選択信号TEST1〜TEST16は全てLレベルのままとなる。
同様に、時刻t12においてリセット信号TESTRがLレベルになると初期化され、
時刻t13においてリセットが解除されると、シフトレジスタ2は、再び制御信号TESTDのシフト動作を行う。時刻t13からt14にかけて、制御信号TESTDがHのままである場合、時刻t14のクロックCLKの立ち上がりに同期して、シフトレジスタ2の出力データQ6−Q0はHHHHHHH(=1111111)となる。この場合も出力データQ6−Q0は所定のキーパターン「H**L**H」に一致しないので、デコード回路3は移行許可信号TESTEをLレベル(移行不許可)のまま維持する。
時刻t13においてリセットが解除されると、シフトレジスタ2は、再び制御信号TESTDのシフト動作を行う。時刻t13からt14にかけて、制御信号TESTDがHのままである場合、時刻t14のクロックCLKの立ち上がりに同期して、シフトレジスタ2の出力データQ6−Q0はHHHHHHH(=1111111)となる。この場合も出力データQ6−Q0は所定のキーパターン「H**L**H」に一致しないので、デコード回路3は移行許可信号TESTEをLレベル(移行不許可)のまま維持する。
以上説明したように、本実施形態のテストモード設定回路1は、シフトレジスタ2とデコード回路3とを備え、制御信号TESTDがクロックCLKに同期して所定のパターン(キーパターン)でレベル変化しながら順次入力されたことを条件として、テストモードへの移行許可信号TESTEをHレベル(移行許可)にする。この構成によれば、通常動作モードにおいてノイズ等により制御信号TESTDにレベル変化が生じても、その変化パターンがクロックCLKに同期した上記キーパターンに一致しない限り移行許可信号TESTEがHレベルになることはない。従って、ノイズなどの誤信号によるテストモードへの移行を防止することができる。また、制御信号TESTDをシリアルに入力するので、少ない端子でテストモードへの移行制御が可能となる。
シフトレジスタ2は、リセットによりLレベルに初期化される7段のDフリップフロップF1〜F7から構成されている。そして、MSBのDフリップフロップF7のデータQ6がHレベル、中央位置のDフリップフロップF4のデータQ3がLレベル、LSBのDフリップフロップF1のデータQ0がHレベルとなるパターン「(MSB)H**L**H(LSB)」をキーパターンとしている。すなわち、制御信号TESTDとして、リセット状態のLレベルとは異なるHレベルのデータが入力された後、3クロック周期後に再びLレベルのデータが入力され、さらにその後3クロック周期後に再びHレベルのデータが入力された場合に、テストモードへの移行を許可する。
このキーパターンによれば、制御信号TESTDとしてリセット状態から所定幅のHレベルのパルス(MSB:Q6)および所定幅のLレベルのパルス(Q3)が順に入力されてシフトレジスタ2内を通過したことが条件とされるので、ノイズ等では極めて成立しにくい条件となり、ノイズ等によるテストモードへの誤った移行許可が極めて出力されにくくなる。
テストモードへの移行許可信号TESTEは、デコード回路3から上記キーパターンをデコードして得られる移行許可信号TESTFと制御信号TESTDとリセット信号TESTRとのAND信号である。従って、仮に移行許可信号TESTEがHレベルになっても、制御信号TESTDまたはリセット信号TESTRがLレベルである限り、移行許可信号TESTFが出力されることはない。このため、(極めて稀であろうが)ノイズ等に起因して上記キーパターンが成立したとしても、制御信号TESTDまたはリセット信号TESTRをLレベルにするだけで移行許可信号TESTFの出力を禁止してテストモードへの移行を防止でき、或いはパワーオンリセットをかけることなくテストモードから容易に抜け出ることができる。
デコード回路3は、制御信号TESTDのうち移行許可信号TESTFの生成に用いたデータQ0、Q3、Q6を除くデータQ1、Q2、Q4、Q5をデコードしてテストモード選択信号TEST1〜TEST16を出力する。これにより、複数のテストモードの中から所望するテストモードを選択して移行することができる。
テストモード設定回路1は、パワーオンリセット信号PORの他に専用のリセット信号TESTRによってもリセットされるので、システム内の他の回路ブロックに影響を与えることなくテストモード設定回路1のみをリセットしてテストモードから抜け出ることができる。
シフトレジスタ2のMSB(Q6)がHレベルになると、ANDゲートA3を介してシフトレジスタ2へのクロックCLKの入力を停止するように構成したので、外部回路が自らクロックCLKを停止させる必要がなく、テストモード設定回路1の使い勝手が向上する。
シフトレジスタ2のMSB(Q6)がHレベルになると、ANDゲートA3を介してシフトレジスタ2へのクロックCLKの入力を停止するように構成したので、外部回路が自らクロックCLKを停止させる必要がなく、テストモード設定回路1の使い勝手が向上する。
なお、本発明は上記し且つ図面に示す実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のように変形または拡張が可能である。
シフトレジスタ2内のDフリップフロップF7のデータQ6(MSB)がHレベル(第2レベル)であって、且つ、その他のDフリップフロップF1〜F6のうち少なくとも1つのデータが予め定められたレベルである場合に移行許可信号TESTFを出力するようにデコード回路3を構成してもよい。
シフトレジスタ2内のDフリップフロップF7のデータQ6(MSB)がHレベル(第2レベル)であって、且つ、その他のDフリップフロップF1〜F6のうち少なくとも1つのデータが予め定められたレベルである場合に移行許可信号TESTFを出力するようにデコード回路3を構成してもよい。
この場合、上記少なくとも1つのデータがLレベル(第1レベル)であることが好ましい。例えば、データQ6(MSB)がHレベル(第2レベル)でデータQ0(LSB)がLレベル(第1レベル)の場合(キーパターン「H*****L」)、データQ6(MSB)がHレベル(第2レベル)でデータQ3がLレベル(第1レベル)の場合(キーパターン「H**L***」)等である。このようにHレベルのデータとLレベルのデータとを少なくとも1つずつ組み合わせてキーパターンを作ることにより、制御信号TESTDがHレベルに固定された場合または制御信号TESTDに所定幅以上のHレベルを持つノイズが入力された場合に、テストモードへの移行を阻止することができる。
また、上述したキーパターン「H**L**H」に替えて、キーパターン「HL****H」、「H*L***H」、「H***L*H」、キーパターン「H****LH」を用いてもよい。上述したように、HレベルのデータとLレベルのデータとを組み合わせることが好ましいが、変形例としてキーパターン「H**H**H」としてもよい。さらに、シフトレジスタ2内のDフリップフロップF1〜F7のデータQ0〜Q6のうち、データQ6(MSB)、Q0(LSB)とともにその他の2以上(2個、3個、4個、5個)のデータを用いてキーパターンを構成してもよい。この場合も、データQ6(MSB)をHレベルとする。
上記実施形態では、Dフリップフロップを7段に縦続接続した構成のシフトレジスタ2を用いたが、他の段数(ビット長)を持つシフトレジスタを用いてもよい。
デコード回路3において、テストモード選択信号TEST1〜TEST16を生成するためのデコード回路は、必要に応じて設ければよい。
デコード回路3において、テストモード選択信号TEST1〜TEST16を生成するためのデコード回路は、必要に応じて設ければよい。
3入力のANDゲートA2に替えて、移行許可信号TESTFとリセット信号TESTRとを入力とする2入力のANDゲートを用いてもよい。また、3入力のANDゲートA2に替えて、移行許可信号TESTFと制御信号TESTDとを入力とする2入力のANDゲートを用いてもよい。
専用のリセット信号TESTRは必要に応じて使用すればよい。
テストモード設定回路1は、産業用電子機器、車載機器に限らず、種々の半導体回路に適用できる。また、ICに限らずディスクリートで構成される回路にも適用可能である。
専用のリセット信号TESTRは必要に応じて使用すればよい。
テストモード設定回路1は、産業用電子機器、車載機器に限らず、種々の半導体回路に適用できる。また、ICに限らずディスクリートで構成される回路にも適用可能である。
図面中、1はテストモード設定回路、2はシフトレジスタ、3はデコード回路、A2はANDゲート(ゲート回路)、F1〜F7はDフリップフロップ(データ保持回路)である。
Claims (6)
- リセット信号の入力により第1レベルに初期化される複数のデータ保持回路を備え、テストモードへの移行情報である第1レベルまたは第2レベルからなるシリアルの制御信号データをクロックに同期して順次入力するとともにLSB側のデータ保持回路からMSB側のデータ保持回路に向かって順次シフトし、これらデータ保持回路に設定された制御信号データを並列に出力するシフトレジスタと、
このシフトレジスタから出力される制御信号データのうちMSBのデータ保持回路に対応する制御信号データが第2レベルであって且つその他の少なくとも1つのデータ保持回路に対応する制御信号データが予め定められたレベルである場合にテストモードへの移行許可信号を出力するデコード回路と、
前記制御信号と前記リセット信号の何れか一方または両方の信号が所定のレベルである場合に、前記デコード回路から出力された移行許可信号を通過させて出力するゲート回路とから構成されていることを特徴とするテストモード設定回路。 - 前記デコード回路は、前記シフトレジスタから出力される制御信号データのうちMSBのデータ保持回路に対応する制御信号データが第2レベルであって且つその他の少なくとも1つのデータ保持回路に対応する制御信号データが第1レベルである場合に前記移行許可信号を出力することを特徴とする請求項1記載のテストモード設定回路。
- 前記デコード回路は、前記シフトレジスタから出力される制御信号データのうちMSBのデータ保持回路とLSBのデータ保持回路に対応する制御信号データがともに第2レベルであって且つその他の1つのデータ保持回路に対応する制御信号データが第1レベルである場合に前記移行許可信号を出力することを特徴とする請求項1記載のテストモード設定回路。
- 前記デコード回路は、前記シフトレジスタから出力される制御信号データのうち前記移行許可信号の生成に用いた制御信号データを除く制御信号データをデコードすることにより、移行するテストモードの種類を選択するためのテストモード選択信号を出力することを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記載のテストモード設定回路。
- 前記シフトレジスタは、第1レベルのリセット信号が入力されることにより前記データ保持回路を初期化し、
前記ゲート回路は、前記制御信号と前記リセット信号がともに第2レベルである場合に、前記デコード回路から出力された移行許可信号を通過させて出力することを特徴とする請求項1ないし4の何れかに記載のテストモード設定回路。 - 前記シフトレジスタに入力されるリセット信号は、パワーオンリセット信号と当該シフトレジスタに対する専用のリセット信号との第1レベルについての論理和信号であることを特徴とする請求項5記載のテストモード設定回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006056294A JP2007232626A (ja) | 2006-03-02 | 2006-03-02 | テストモード設定回路 |
US11/710,940 US7795893B2 (en) | 2006-03-02 | 2007-02-27 | Test mode enable circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006056294A JP2007232626A (ja) | 2006-03-02 | 2006-03-02 | テストモード設定回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007232626A true JP2007232626A (ja) | 2007-09-13 |
Family
ID=38553338
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006056294A Pending JP2007232626A (ja) | 2006-03-02 | 2006-03-02 | テストモード設定回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7795893B2 (ja) |
JP (1) | JP2007232626A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019158404A (ja) * | 2018-03-08 | 2019-09-19 | 三菱電機株式会社 | テストモード設定回路 |
CN112448705A (zh) * | 2019-08-28 | 2021-03-05 | 上海顺久电子科技有限公司 | 模式选择电路、集成电路及电子设备 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4712183B2 (ja) * | 2000-11-30 | 2011-06-29 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 同期型半導体装置、及び試験システム |
US8316158B1 (en) | 2007-03-12 | 2012-11-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Configuration of programmable device using a DMA controller |
US8060661B1 (en) | 2007-03-27 | 2011-11-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Interface circuit and method for programming or communicating with an integrated circuit via a power supply pin |
US10222417B1 (en) * | 2016-11-28 | 2019-03-05 | Cadence Design Systems, Inc. | Securing access to integrated circuit scan mode and data |
TWI736088B (zh) * | 2019-12-30 | 2021-08-11 | 新唐科技股份有限公司 | 電子裝置及其測試模式啟用方法 |
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Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2627464B2 (ja) * | 1990-03-29 | 1997-07-09 | 三菱電機株式会社 | 集積回路装置 |
JPH04181186A (ja) * | 1990-11-15 | 1992-06-29 | Sharp Corp | 集積回路のテストモード設定回路 |
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-
2006
- 2006-03-02 JP JP2006056294A patent/JP2007232626A/ja active Pending
-
2007
- 2007-02-27 US US11/710,940 patent/US7795893B2/en not_active Expired - Fee Related
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JP7094119B2 (ja) | 2018-03-08 | 2022-07-01 | 三菱電機株式会社 | テストモード設定回路 |
CN112448705A (zh) * | 2019-08-28 | 2021-03-05 | 上海顺久电子科技有限公司 | 模式选择电路、集成电路及电子设备 |
CN112448705B (zh) * | 2019-08-28 | 2024-05-03 | 上海顺久电子科技有限公司 | 模式选择电路、集成电路及电子设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090315582A1 (en) | 2009-12-24 |
US7795893B2 (en) | 2010-09-14 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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