JP5029422B2 - 半導体装置のリセット回路 - Google Patents

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Description

本発明は半導体装置のリセット回路に関し、特に電源が投入された直後にパワーオンリセット信号を出力する半導体装置のリセット回路に関する。
半導体装置が正常な動作をするように、電源投入時に半導体装置の内部の動作をリセットするパワーオンリセット回路が知られている。
図15は、パワーオンリセット回路の一例を示す回路図である。
パワーオンリセット回路は、高電位側の電源端子VDDと低電位側の電源端子(接地端子GND)間に直列に接続された抵抗800と容量801と、抵抗800と容量801間のノードNの信号を入力するバッファ回路802とを有する。バッファ回路802は、たとえば、nチャネル型MOSFET(Metal-Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)(以下nMOSと略す)とpチャネル型MOSFET(以下pMOSと略す)により構成される2つのインバータ回路からなる。
このバッファ回路802の出力をパワーオンリセット信号として用いている。
なお、以下では電源端子VDDから供給される電圧(電源電圧)をVDD、接地端子GNDの電圧をGNDと表記する。
図16は、パワーオンリセット回路の各部の電位の時間変化を示す図である。
縦軸が電位、横軸が時間である。
ノードNの電位は信号Nと表記している。
電源を投入する(VDDを印加する)と、抵抗800と容量801により電位の上昇が遅らされた信号Nが生成される。このような信号Nがバッファ回路802に入力されると、抵抗800と容量801による時定数で決定される時間(リセット時間)だけ遅れ、GNDからVDDに立ち上がるパワーオンリセット信号が生成される。このようにして生成されたパワーオンリセット信号は、他の論理回路に供給され、電源投入時にリセット時間だけリセットされる。
なお、フリップフロップ回路を用いたパワーオンリセット回路が、たとえば、特許文献1などに開示されているが、リセット信号を生成するためのパワーオン検出回路が必要であった。
特開平11−24796号公報(段落〔0019〕)
抵抗と容量を用いたパワーオンリセット回路では抵抗と容量の製造ばらつきによりリセット時間にばらつきが発生してしまい、正確なリセット時間の確保が困難であるという問題があった。
また、パワーオンリセット回路に、抵抗と容量を有したアナログ回路部分を設ける場合、専用のマスクを用意する必要があるなど半導体集積回路の製造工程が増加するほか、回路面積が増加する問題があった。
更に、容量のリーク電流が抵抗から供給される電流よりも大きい条件になると、パワーオンリセットが解除できずにパワーオンリセット回路が接続された回路全体が動作しない問題を起こす可能性もあった。
上記の点を鑑みて、本発明者は、リセット時間のばらつきが少なく、少ない製造工程及び小さい回路規模で製造できる半導体装置のリセット回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、以下のような構成を有する半導体装置のリセット回路が提供される。この半導体装置のリセット回路は、リセット信号を入力しない直列に複数接続されたフリップフロップを有し、前記フリップフロップのクロック入力端子にはクロック信号が入力され、初段の前記フリップフロップの入力端子は電源端子に接続されており、最終段の前記フリップフロップの出力信号にもとづいたパワーオンリセット信号を出力する。
リセット時間を管理でき、抵抗や容量を用いて構成するパワーオンリセット回路よりもリセット時間のばらつきを抑えることができる。
また、アナログ回路を用いず、デジタル回路で構成できるので、半導体プロセスの追加工程を必要とせずに少ない製造工程及び小さい回路規模で半導体装置のリセット回路を実現できる。
以下、本実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1は、第1の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
第1の実施の形態のパワーオンリセット回路は、リセット信号を入力しない(リセット端子を持たない、もしくはリセット端子がオープンの)フリップフロップ10−1,10−2,10−3,…,10−(m−1),10−mが直列に接続された構成となっている。各フリップフロップ10−1〜10−mのクロック入力端子にはクロック信号CKが入力されている。また、初段のフリップフロップ10−1の入力端子は高電位側の電源端子VDDに接続されておりVDDが印加される。
このようなパワーオンリセット回路は、たとえば、論理回路20とともに、1つの回路ブロックとして1チップの半導体集積回路に集積される。
第1の実施の形態のパワーオンリセット回路では、最終段のフリップフロップ10−mの出力信号を、論理回路20をリセットするパワーオンリセット信号として出力する。
パワーオンリセット回路に電源が投入されると、フリップフロップ10−1〜10−mのそれぞれの出力信号レベルは不確定となり、H(High)レベル、もしくは、L(Low)レベルとなる。フリップフロップ10−1〜10−mにクロック信号CKが入力されると、シフトレジスタ構成の回路であることからフリップフロップ10−1〜10−(m−1)の出力初期値が、クロック信号CKに同期して次々と最終段のフリップフロップ10−mの出力端子から出力される。
図2は、最終段のフリップフロップの出力信号の信号波形の一例を示す図である。
縦軸が電位、横軸が時間である。
フリップフロップ10−1〜10−mの出力初期値のうち、少なくとも1つがLレベルであれば、最終段のフリップフロップ10−mの出力端子からは、少なくとも1個のLパルスを有するパワーオンリセット信号が出力される。このようなLパルスにより、論理回路20がリセットされる。パワーオンリセット信号の電位レベルがHレベルになると、リセットが解除される。
第1の実施のパワーオンリセット回路では、パワーオンリセット信号によるリセット時間は、最短でクロック1周期であり、最長はフリップフロップ10−1〜10−mの個数(m)で決まる。このため、リセット時間を管理でき、抵抗や容量を用いて構成するパワーオンリセット回路よりも格段にリセット時間のばらつきを抑えることができる。
また、アナログ回路を用いず、デジタル回路で構成できるので、半導体プロセスの追加工程を必要とせずに少ない製造工程及び小さい回路規模でパワーオンリセット回路を実現できる。
なお、クロック信号CKを投入するタイミングは電源投入前でもよい。
次に、第2の実施の形態のパワーオンリセット回路を説明する。
図3は、第2の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
第1の実施の形態のパワーオンリセット回路と同一の構成要素については同一の符号を付しており、説明を省略する。
第2の実施の形態のパワーオンリセット回路は、前述のフリップフロップ10−1〜10−mの他に、直列に複数接続され、シフトレジスタ構成となっているリセット端子付のフリップフロップ30−1,30−2,30−3,…,30−(n−1),30−nを有している。フリップフロップ30−1〜30−nのクロック入力端子にはクロック信号CKが入力されている。また、初段のフリップフロップ30−1の入力端子は高電位側の電源端子VDDに接続されておりVDDが印加される。
更に、フリップフロップ30−1〜30−nのリセット端子には、フリップフロップ10−1〜10−mの最終段のフリップフロップ10−mの出力信号が入力される。
第2の実施の形態のパワーオンリセット回路では、リセット端子付のフリップフロップ30−1〜30−nの最終段のフリップフロップ30−nの出力信号を、論理回路20をリセットするパワーオンリセット信号として出力する。
図4は、第2の実施の形態のパワーオンリセット回路の信号波形の一例を示す図である。
上側がフリップフロップ10−mの出力信号であり、下側がフリップフロップ30−nの出力信号である。縦軸が電位、横軸が時間である。
フリップフロップ30−1〜30−nは、フリップフロップ10−mの出力がLレベルであると全てリセットされ、フリップフロップ30−nの出力信号の電位はLレベルとなる(時刻t1)。最終段のフリップフロップ30−nの出力端子からは、フリップフロップ30−1〜30−(n−1)の出力信号がクロック信号CKに同期して次々と出力されるが、フリップフロップ10−mの出力信号がLレベルになるたびにリセットされるので、フリップフロップ30−nの出力信号はLレベルを保っている。フリップフロップ10−mの出力がHレベルで確定されると(時刻t2)、Lレベルであったフリップフロップ30−1の出力信号が最終段のフリップフロップ30−nに伝達されて出力されるまで、フリップフロップ30−nの出力信号はLレベルを維持する(時刻t2〜時刻t3)。
このような第3の実施の形態のパワーオンリセット回路によれば、第1の実施の形態のパワーオンリセット回路と同様の効果を得ることができるとともに、フリップフロップ30−1〜30−nの個数(n)を変えることで、リセット時間の調整を行うこともできる。
次に、第3の実施の形態のパワーオンリセット回路を説明する。
図5は、第3の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
第1の実施の形態のパワーオンリセット回路と同一の構成要素については同一の符号を付しており、説明を省略する。
第3の実施の形態のパワーオンリセット回路では、フリップフロップ10−1〜10−mの出力信号を入力して、これらの論理積をパワーオンリセット信号として論理回路20に出力するAND回路40を有している。
AND回路40は、フリップフロップ10−1〜10−mの出力信号が1つでもLレベルの場合は、論理回路20をリセットするLレベルのパワーオンリセット信号を出力し、全てHレベルのときのみHレベルのパワーオンリセット信号を出力し、論理回路20をリセット状態から復帰させる。
図6は、第3の実施の形態のパワーオンリセット回路の信号波形の一例を示す図である。
上側がフリップフロップ10−mの出力信号であり、下側がAND回路40の出力信号(パワーオンリセット信号)である。縦軸が電位、横軸が時間である。
時刻t10は、フリップフロップ10−1〜10−mの全ての出力信号がHレベルになったタイミングを示しており、ここで、AND回路40は、LレベルからHレベルに1回だけ変化する信号を出力する。
このような第3の実施の形態のパワーオンリセット回路によれば、第1の実施の形態のパワーオンリセット回路と同様の効果を得ることができるとともに、LレベルからHレベルに1回だけ変化するパワーオンリセット信号を生成することができる。
ところで、前述の第1乃至第3の実施の形態のパワーオンリセット回路では、フリップフロップ10−1〜10−m及びフリップフロップ30−1〜30−nの出力初期値がHレベルに揃っている場合、論理回路20をリセットするのに必要なLレベルのパワーオンリセット信号が出力されない場合が考えられる。
そのため、以下のようにインバータ回路を挿入するとよい。
図7は、インバータ回路を複数のフリップフロップ間のうち偶数個区間に挿入したパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
ここでは、第1の実施の形態のパワーオンリセット回路のフリップフロップ10−1〜10−m間のうち、偶数個区間(図7では2区間)にインバータ回路51,52を1つずつ挿入している。これにより、フリップフロップ10−1〜10−mの出力初期値が全てHレベルの場合でも、フリップフロップ10−mから、ある期間Lレベルとなる出力信号を出力できる。
なお、偶数個区間に挿入する理由は、初段のフリップフロップ10−1の入力がVDDで固定の場合、フリップフロップ10−mからの最終的な出力をHレベルで固定させるためである。Lレベルで固定されるとリセット解除ができなくなるからである。
図8は、インバータ回路を複数のフリップフロップ間のうち奇数個区間に挿入したパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
初段のフリップフロップ10−1の入力端子が低電位側の電源端子(接地端子GND)に接続されており、電位がGNDで固定されている場合について示している。フリップフロップ10−1〜10−m間のうち、奇数個区間(図8では3区間)にインバータ回路61,62,63を1つずつ挿入している。これにより、フリップフロップ10−1〜10−mの出力初期値が全てHレベルの場合でも、フリップフロップ10−mから、ある期間Lレベルとなる出力信号を出力できる。
奇数個区間にインバータ回路61,62,63を1つずつ挿入することで、初段のフリップフロップ10−1の入力がLレベルで固定されている場合でも、最終的な出力をHレベルで固定させることができる。
なお、図8の場合、電源投入は、フリップフロップ10−1〜10−m内の図示しないインバータ回路などに印加される電源電圧により検知できる。
ところで、図7、図8のようなパワーオンリセット回路で、インバータ回路を挿入する区間を電源投入時に変えるようにしてもよい。
図9は、インバータ回路を挿入する偶数個区間を可変するパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
図1のパワーオンリセット回路と同一の構成要素については同一符号を付している。ここで示すパワーオンリセット回路は、フリップフロップ10−1〜10−mのほかに、クロック入力端子をVDDで固定したフリップフロップ70と、インバータ回路71,72,73,74,75と、セレクタ76,77,78,79を有している。
フリップフロップ70の出力は、選択信号としてセレクタ77,79に入力されるとともに、インバータ回路71により反転されて選択信号としてセレクタ76,78に入力される。
セレクタ76〜79へは、それぞれ前段のフリップフロップ10−1,10−2,10−(m−2),10−(m−1)からの出力信号と、その出力信号をインバータ回路72〜75で反転したものが入力される。セレクタ76〜79は、たとえば、選択信号がHレベルの場合には、反転しない出力信号を選択して出力し、Lレベルの場合には、反転された出力信号を選択して出力する。
このようなパワーオンリセット回路では、電源投入後、フリップフロップ70の出力は不定であり、HレベルまたはLレベルとなる。クロックが固定されているので、出力値は保持され続ける。
たとえば、フリップフロップ70の出力がHレベルの場合には、インバータ回路72,74の出力信号がセレクタ76,78によって選択される。Lレベルの場合には、インバータ回路73,75の出力信号がセレクタ77,79によって選択される。
すなわち、電源投入時、フリップフロップ70の出力がHレベルになるか、Lレベルになるかによって、インバータ回路72〜75を有効にする2つの区間を変えることができる。
これにより、インバータ回路を挿入した前段のフリップフロップの出力初期値によって、最終段のフリップフロップ10−mからの出力信号がHレベルで固定されてリセットがかからない場合には、電源を再投入することで、リセットに必要なLレベル期間が生成される可能性を高くできる。
図10は、インバータ回路を挿入する奇数個区間を可変するパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
図1のパワーオンリセット回路と同一の構成要素については同一符号を付している。ここで示すパワーオンリセット回路は、フリップフロップ10−1〜10−mのほかに、クロック入力端子をVDDで固定したフリップフロップ80と、インバータ回路81,82,83と、セレクタ84,85を有している。
フリップフロップ80の出力は、選択信号としてセレクタ85に入力されるとともに、インバータ回路81により反転されて選択信号としてセレクタ84に入力される。
セレクタ84,85へは、それぞれ前段のフリップフロップ10−1,10−(m−1)からの出力信号と、その出力信号をインバータ回路82,83で反転したものが入力される。セレクタ84,85は、たとえば、選択信号がHレベルの場合には、反転しない出力信号を選択して出力し、Lレベルの場合には、反転された出力信号を選択して出力する。
このようなパワーオンリセット回路では、電源投入後、フリップフロップ80の出力は不定であり、HレベルまたはLレベルとなる。クロックが固定されているので、出力値は保持され続ける。
たとえば、フリップフロップ80の出力がHレベルの場合には、インバータ回路82の出力信号がセレクタ84によって選択される。Lレベルの場合には、インバータ回路83の出力信号がセレクタ85によって選択される。
すなわち、電源投入時、フリップフロップ80の出力がHレベルになるか、Lレベルになるかによって、インバータ回路82,83を有効にする1つの区間を変えることができる。
これにより、インバータ回路を挿入した前段のフリップフロップの出力初期値によって、最終段のフリップフロップ10−mからの出力信号がHレベルで固定されてリセットがかからない場合には、電源を再投入することで、リセットに必要なLレベル期間が生成される可能性を高くできる。
なお、図示を省略するが、図7乃至図10で示した構成は、第2の実施の形態のパワーオンリセット回路にも適用することができる。また、第3の実施の形態のパワーオンリセット回路に適用する場合には、図7、図9に関しては、インバータ回路を用いる区間の出力信号を、他のインバータ回路により反転させてからAND回路40に入力すればよい。図8、図10に関しては、インバータ回路を挿入する区間以外の出力信号を、他のインバータ回路により反転させてからAND回路40に入力すればよい。
上記はインバータ回路を用いて、最終段のフリップフロップ10−mの出力信号がHレベルで固定されることを防止するパワーオンリセット回路について説明したが、以下のような回路構成としてもよい。
図11は、第4の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。
第4の実施の形態のパワーオンリセット回路は、第1乃至第3の実施の形態のパワーオンリセット回路とは異なり、フリップフロップ10−1〜10−mの代わりに、リセット端子付のフリップフロップ90−1,90−2,90−3,…,90−(m−1),90−mを有している。また、フリップフロップ90−1〜90−mの出力信号の論理積を行うAND回路91と、AND回路91の出力の電位レベルを検出する電位レベル検出回路92を有している。
電位レベル検出回路92は、たとえば、カウンタを有しており、所定期間Lレベルが入力されない場合に、フリップフロップ90−1〜90−mのリセット端子に所定期間リセット信号を入力する。
このような第4の実施の形態のパワーオンリセット回路によれば、フリップフロップ90−1〜90−mの出力初期値がHレベルに揃っている場合でも、所定期間後に、強制的にフリップフロップ90−1〜90−mがリセットされ、Lレベルを出力するようになり、論理回路20をリセットできるようになる。また、所定期間後にリセット信号の出力を停止することで、論理回路20をリセット状態から復帰させることができる。
ところで、第1乃至第3の実施の形態において、フリップフロップ10−1〜10−mの出力初期値がHレベルで固定されるのを防止するために、フリップフロップ10−1〜10−m自体を以下のような構成にして、出力初期値がLレベルになるようにしてもよい。
まず、通常のリセット端子のないDフリップフロップの構成を説明する。
図12は、Dフリップフロップの構成の一例を示す図である。
Dフリップフロップは、インバータ回路101,102,103,104,105,106と、スイッチ107,108,109,110を有している。
入力端子から入力されるデータDは、スイッチ107を介してインバータ回路101に入力される。インバータ回路101の出力は、インバータ回路102とスイッチ108を介してインバータ回路101の入力にフィードバックされる。また、インバータ回路101の出力は更に、スイッチ109を介してインバータ回路103に入力される。インバータ回路103の出力は、インバータ回路104とスイッチ110を介してインバータ回路103の入力にフィードバックされる。インバータ回路103の出力は出力端子Oから出力される。スイッチ107,110は、クロック信号CKにより制御される。スイッチ108,109は、インバータ回路105,106により反転されたクロック信号CKにより制御される。これによりスイッチ107,110がオンのときは、スイッチ108,109はオフとなり、逆にスイッチ107,110がオフのときは、スイッチ108,109がオンとなる。
クロック信号CKによりスイッチ107がオンするとデータDが入力され、インバータ回路102から反転されたデータが出力される。次のクロックで、インバータ回路101,102によるラッチ回路で保持されるとともに、スイッチ109がオンになるので、データはインバータ回路103により反転されて出力される。更に次のクロックでスイッチ109がオフするが、スイッチ110がオンになるのでデータは保持され、出力端子Oから同じデータが出力される。
このようなリセット信号を用いないDフリップフロップの場合、電源投入時、スイッチ107〜110の状態や、ラッチ回路の状態によって出力端子Oの電位レベルが不定となる。
図13は、出力初期値がLレベルとなるフリップフロップの構成の一例を示す図である。
図12と同じ構成要素については、同一符号としている。
このフリップフロップでは、インバータ回路101の入力端子と接地端子GND間に、ゲートをVDDで固定したnMOS111を接続している。また、インバータ回路103の入力端子と電源端子VDDとの間に、ゲートを接地端子GNDに接続したpMOS112を接続している。
nMOS111は、電源投入直後にフローティング状態となるインバータ回路101の入力側のノードn1の電位レベルを引き下げるプルダウン抵抗として機能する。
pMOS112は、電源投入直後にフローティング状態となるインバータ回路103の入力側のノードn2の電位レベルを引き上げるプルアップ抵抗として機能する。
電源投入時に、スイッチ109がオフのとき、pMOS112を介してVDDがフローティング状態のノードn2に印加され、インバータ回路103の入力の電位レベルが引き上げられ、インバータ回路103の出力の電位はLレベルとなる。スイッチ109がオンのときは、スイッチ107がオフになっており、nMOS111を介してフローティング状態のノードn1の電位が引き下げられ、インバータ回路101の出力の電位はHレベルとなり、インバータ回路103で更に反転されて、出力端子OからはLレベルの出力信号が出力される。
このように、電源投入時の出力初期値をLレベルとすることができる。
図14は、出力初期値がLレベルとなるフリップフロップの構成の他の例を示す図である。
図12と同じ構成要素については、同一符号としている。
図13のフリップフロップでは、電源投入直後にフローティング状態となるノードn1,n2に、プルダウン抵抗、プルアップ抵抗として機能するnMOS111、pMOS112を接続した場合について説明したが、図14のフリップフロップでは、その代わりに容量として機能するnMOS121,122,123,124を接続している。
nMOS121は、電源端子VDDとノードn1間に接続され、nMOS122は、接地端子GNDとノードn1間に接続されている。
nMOS123は、電源端子VDDとノードn2間に接続され、nMOS124は、接地端子GNDとノードn2間に接続されている。
ここで、nMOS121で構成される容量の容量値がnMOS122で構成される容量の容量値よりも大きく、且つ、nMOS123で構成される容量の容量値がnMOS124で構成される容量の容量値よりも小さくなるように設定する。具体的には、nMOS121のトランジスタサイズをnMOS122よりも大きく、nMOS123のトランジスタサイズをnMOS124よりも小さく形成する。これにより、フローティング状態のノードn1の電位をLレベル、フローティング状態のノードn2の電位をHレベルにすることができ、図13のフリップフロップと同様に、出力初期値をLレベルにすることができる。
なお、容量として用いるMOSFETはnMOS121〜124の代わりにpMOSを用いてもよい。
図13、図14のようなフリップフロップを、第1乃至第3の実施の形態のパワーオンリセット回路のフリップフロップ10−1〜10−mとして用いることで、電源投入時の出力初期値が全てLレベルとなるので、確実に論理回路20をリセットすることができる。更に、フリップフロップ10−1〜10−mの個数を調整することで、リセット期間を調整できるようになる。
以上、本実施の形態のパワーオンリセット回路を説明してきたが、上記の回路構成などは一例であり、これに限定されるものではない。たとえば、HレベルとLレベルを反転して、必要に応じてインバータ回路などを各部に挿入してもよい。
(付記1) リセット信号を入力しない直列に複数接続されたフリップフロップを有し、
前記フリップフロップのクロック入力端子にはクロック信号が入力され、
初段の前記フリップフロップの入力端子は電源端子に接続されており、
最終段の前記フリップフロップの出力信号にもとづいたパワーオンリセット信号を出力することを特徴とする半導体装置のリセット回路。
(付記2) 直列に複数接続されたリセット端子付フリップフロップを更に有し、
前記リセット端子付フリップフロップのクロック入力端子には前記クロック信号が入力され、
初段の前記リセット端子付フリップフロップの入力端子は前記電源端子に接続されており、
リセット端子には前記出力信号が入力され、
最終段の前記リセット端子付フリップフロップの出力信号を、前記パワーオンリセット信号として出力することを特徴とする付記1記載の半導体装置のリセット回路。
(付記3) 前記リセット端子付フリップフロップの接続数によりリセット時間を調整することを特徴とする付記2記載の半導体装置のリセット回路。
(付記4) 前記最終段の前記フリップフロップの前記出力信号及び他の前記フリップフロップの他の出力信号を入力し、前記出力信号及び前記他の出力信号の何れか1つ以上が異なる電位レベルの場合、対象回路をリセットさせ、前記出力信号及び前記他の出力信号が前記電源端子の電位レベルと等しい場合、前記対象回路をリセットから復帰させるパワーオンリセット信号を出力する論理回路を更に有することを特徴とする付記1記載の半導体装置のリセット回路。
(付記5) 前記電源端子は高電位側電源端子であり、複数の前記フリップフロップ間のうち、偶数個の区間にそれぞれインバータ回路を挿入したことを特徴とする付記1乃至4の何れか一項に記載の半導体装置のリセット回路。
(付記6) 前記電源端子は低電位側電源端子であり、複数の前記フリップフロップ間のうち、奇数個の区間にそれぞれインバータ回路を挿入したことを特徴とする付記1乃至4の何れか一項に記載の半導体装置のリセット回路。
(付記7) 前記インバータ回路を挿入する区間を、電源投入時に可変させる回路を更に有することを特徴とする付記5または6記載の半導体装置のリセット回路。
(付記8) 前記回路は、クロック入力端子に電源を接続し、データを入力しないクロック固定フリップフロップと、当該クロック固定フリップフロップの出力信号に応じて、前記インバータ回路の出力または前段の前記フリップフロップの出力の何れかを選択して出力する選択回路と、を有することを特徴とする付記7記載の半導体装置のリセット回路。
(付記9) 電源投入直後に入力信号が供給されずにフローティング状態となる前記フリップフロップのノードに、前記フリップフロップの出力電位がロウレベルになるような所定の電位レベルを設定するプルダウン抵抗またはプルアップ抵抗を接続したことを特徴とする付記1乃至8の何れか一項に記載の半導体装置のリセット回路。
(付記10) 電源投入直後に入力信号が供給されずにフローティング状態となる前記フリップフロップのノードに、前記フリップフロップの出力電位がロウレベルになるような所定の電位レベルを設定する容量を接続したことを特徴とする付記1乃至8の何れか一項に記載の半導体装置のリセット回路。
(付記11) 前記容量は、pチャネル型MOSFETまたはnチャネル型MOSFETであり、前記ノードと高電位側電源端子及び低電位側電源端子間にそれぞれ接続され、両者のトランジスタサイズの大小によって、前記ノードの電位を決定することを特徴とする付記10記載の半導体装置のリセット回路。
(付記12) 直列に複数接続され、それぞれクロック信号を入力するリセット端子付フリップフロップと、
前記リセット端子付フリップフロップの全ての出力信号の電位レベルが一定期間同じ場合に、前記リセット端子付フリップフロップをリセットする回路と、を有し、
初段の前記リセット端子付フリップフロップの入力端子は電源端子に接続されており、
最終段の前記リセット端子付フリップフロップの出力信号にもとづいたパワーオンリセット信号を出力することを特徴とする半導体装置のリセット回路。
第1の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 最終段のフリップフロップの出力信号の信号波形の一例を示す図である。 第2の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 第2の実施の形態のパワーオンリセット回路の信号波形の一例を示す図である。 第3の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 第3の実施の形態のパワーオンリセット回路の信号波形の一例を示す図である。 インバータ回路を複数のフリップフロップ間のうち偶数個区間に挿入したパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 インバータ回路を複数のフリップフロップ間のうち奇数個区間に挿入したパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 インバータ回路を挿入する偶数個区間を可変するパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 インバータ回路を挿入する奇数個区間を可変するパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 第4の実施の形態のパワーオンリセット回路の構成を示す図である。 Dフリップフロップの構成の一例を示す図である。 出力初期値がLレベルとなるフリップフロップの構成の一例を示す図である。 出力初期値がLレベルとなるフリップフロップの構成の他の例を示す図である。 パワーオンリセット回路の一例を示す回路図である。 パワーオンリセット回路の各部の電位の時間変化を示す図である。
符号の説明
10−1〜10−m フリップフロップ
20 論理回路
CK クロック信号
VDD 電源端子

Claims (5)

  1. 列に複数接続されたフリップフロップと、
    直列に複数接続されたリセット端子付フリップフロップを有し、
    前記フリップフロップ及び前記リセット端子付フリップフロップのクロック入力端子にはクロック信号が入力され、
    初段の前記フリップフロップ及び初段の前記リセット端子付フリップフロップの入力端子は電源端子に接続されており、
    前記リセット端子付フリップフロップのリセット端子には最終段の前記フリップフロップの出力信号が入力され、
    最終段の前記リセット端子付フリップフロップの出力信号を、パワーオンリセット信号として出力することを特徴とする半導体装置のリセット回路。
  2. 直列に複数接続されたフリップフロップを有し、
    前記フリップフロップのクロック入力端子にはクロック信号が入力され、
    初段の前記フリップフロップの入力端子は電源端子に接続されており、
    前記電源端子は高電位側電源端子であり、複数の前記フリップフロップ間のうち、偶数個の区間にそれぞれインバータ回路が挿入されており、
    最終段の前記フリップフロップの出力信号にもとづいたパワーオンリセット信号を出力することを特徴とする半導体装置のリセット回路。
  3. 直列に複数接続されたフリップフロップを有し、
    前記フリップフロップのクロック入力端子にはクロック信号が入力され、
    初段の前記フリップフロップの入力端子は電源端子に接続されており、
    前記電源端子は低電位側電源端子であり、複数の前記フリップフロップ間のうち、奇数個の区間にそれぞれインバータ回路が挿入されており、
    最終段の前記フリップフロップの出力信号にもとづいたパワーオンリセット信号を出力することを特徴とする半導体装置のリセット回路。
  4. 直列に複数接続されたリセット端子付フリップフロップを更に有し、
    前記リセット端子付フリップフロップのクロック入力端子には前記クロック信号が入力され、
    初段の前記リセット端子付フリップフロップの入力端子は前記電源端子に接続されており、
    リセット端子には前記出力信号が入力され、
    最終段の前記リセット端子付フリップフロップの出力信号を、前記パワーオンリセット信号として出力することを特徴とする請求項2または3記載の半導体装置のリセット回路。
  5. 前記最終段の前記フリップフロップの前記出力信号及び他の前記フリップフロップの他の出力信号を入力し、前記出力信号及び前記他の出力信号の何れか1つ以上が異なる電位レベルの場合、対象回路をリセットさせ、前記出力信号及び前記他の出力信号が前記電源端子の電位レベルと等しい場合、前記対象回路をリセットから復帰させる前記パワーオンリセット信号を出力する論理回路を更に有することを特徴とする請求項2または3記載の半導体装置のリセット回路。
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