JP2007186725A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007186725A5 JP2007186725A5 JP2006003444A JP2006003444A JP2007186725A5 JP 2007186725 A5 JP2007186725 A5 JP 2007186725A5 JP 2006003444 A JP2006003444 A JP 2006003444A JP 2006003444 A JP2006003444 A JP 2006003444A JP 2007186725 A5 JP2007186725 A5 JP 2007186725A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- waveform
- output
- arc
- targets
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006003444A JP4963023B2 (ja) | 2006-01-11 | 2006-01-11 | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
KR1020087016805A KR101028050B1 (ko) | 2006-01-11 | 2007-01-11 | 스퍼터링 방법 및 스퍼터링 장치 |
TW096101141A TWI392755B (zh) | 2006-01-11 | 2007-01-11 | Sputtering method and sputtering device |
PCT/JP2007/050200 WO2007080905A1 (ja) | 2006-01-11 | 2007-01-11 | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
CN2007800022189A CN101370959B (zh) | 2006-01-11 | 2007-01-11 | 溅射方法及溅射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006003444A JP4963023B2 (ja) | 2006-01-11 | 2006-01-11 | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007186725A JP2007186725A (ja) | 2007-07-26 |
JP2007186725A5 true JP2007186725A5 (enrdf_load_stackoverflow) | 2009-02-26 |
JP4963023B2 JP4963023B2 (ja) | 2012-06-27 |
Family
ID=38256310
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006003444A Active JP4963023B2 (ja) | 2006-01-11 | 2006-01-11 | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4963023B2 (enrdf_load_stackoverflow) |
KR (1) | KR101028050B1 (enrdf_load_stackoverflow) |
CN (1) | CN101370959B (enrdf_load_stackoverflow) |
TW (1) | TWI392755B (enrdf_load_stackoverflow) |
WO (1) | WO2007080905A1 (enrdf_load_stackoverflow) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5016819B2 (ja) * | 2006-01-11 | 2012-09-05 | 株式会社アルバック | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
CN101784694B (zh) * | 2007-08-20 | 2012-08-29 | 株式会社爱发科 | 溅射方法 |
JP5429771B2 (ja) * | 2008-05-26 | 2014-02-26 | 株式会社アルバック | スパッタリング方法 |
US9613784B2 (en) | 2008-07-17 | 2017-04-04 | Mks Instruments, Inc. | Sputtering system and method including an arc detection |
JP5363166B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2013-12-11 | 株式会社アルバック | スパッタリング方法 |
DE102010031568B4 (de) | 2010-07-20 | 2014-12-11 | TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG | Arclöschanordnung und Verfahren zum Löschen von Arcs |
CN103348038B (zh) * | 2011-02-08 | 2015-05-20 | 夏普株式会社 | 磁控溅射装置、磁控溅射装置的控制方法和成膜方法 |
DE102013110883B3 (de) * | 2013-10-01 | 2015-01-15 | TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG | Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung einer Entladung in einem Plasmaprozess |
EP2905801B1 (en) | 2014-02-07 | 2019-05-22 | TRUMPF Huettinger Sp. Z o. o. | Method of monitoring the discharge in a plasma process and monitoring device for monitoring the discharge in a plasma |
TWI617687B (zh) * | 2014-12-04 | 2018-03-11 | 財團法人金屬工業研究發展中心 | 用於濺鍍設備之監測方法及監測系統 |
KR101757818B1 (ko) | 2015-10-12 | 2017-07-26 | 세메스 주식회사 | 펄스화된 고주파 전력 모니터링 장치 및 그를 포함하는 기판 처리 장치 |
US11004660B2 (en) | 2018-11-30 | 2021-05-11 | Eagle Harbor Technologies, Inc. | Variable output impedance RF generator |
JP2019189913A (ja) * | 2018-04-26 | 2019-10-31 | 京浜ラムテック株式会社 | スパッタリングカソード、スパッタリングカソード集合体およびスパッタリング装置 |
JP7195504B2 (ja) * | 2020-07-31 | 2022-12-26 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 | 真空部品、これを用いた真空排気方法 |
DE202021103238U1 (de) * | 2021-06-16 | 2021-06-22 | TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG | Signalverarbeitungssystem und Leistungsversorgungseinrichtung mit einem Signalverarbeitungssystem |
CN118984519A (zh) * | 2024-08-05 | 2024-11-19 | 上海硬石科技有限公司 | 一种用于辅助等离子体激发电路装置 |
CN118890759A (zh) * | 2024-08-09 | 2024-11-01 | 上海硬石科技有限公司 | 一种应用于交流等离子体激发电源中的电弧管理系统 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4441206C2 (de) * | 1994-11-19 | 1996-09-26 | Leybold Ag | Einrichtung für die Unterdrückung von Überschlägen in Kathoden-Zerstäubungseinrichtungen |
JPH09170079A (ja) * | 1995-12-18 | 1997-06-30 | Asahi Glass Co Ltd | スパッタリング方法および装置 |
WO1998048444A1 (en) * | 1997-04-21 | 1998-10-29 | Tokyo Electron Arizona, Inc. | Method and apparatus for ionized sputtering of materials |
JPH11200036A (ja) * | 1998-01-16 | 1999-07-27 | Toshiba Corp | 薄膜の製造方法、及びこのためのスパッタリング装置 |
JP2001003166A (ja) * | 1999-04-23 | 2001-01-09 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 基体表面に被膜を被覆する方法およびその方法による基体 |
JP2002012969A (ja) * | 2000-07-03 | 2002-01-15 | Sanyo Shinku Kogyo Kk | スパッタリング装置の制御方法 |
JP4780972B2 (ja) * | 2004-03-11 | 2011-09-28 | 株式会社アルバック | スパッタリング装置 |
-
2006
- 2006-01-11 JP JP2006003444A patent/JP4963023B2/ja active Active
-
2007
- 2007-01-11 KR KR1020087016805A patent/KR101028050B1/ko active Active
- 2007-01-11 CN CN2007800022189A patent/CN101370959B/zh active Active
- 2007-01-11 TW TW096101141A patent/TWI392755B/zh active
- 2007-01-11 WO PCT/JP2007/050200 patent/WO2007080905A1/ja active Application Filing
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2007186725A5 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
TWI392755B (zh) | Sputtering method and sputtering device | |
JP5429772B2 (ja) | 電源装置 | |
JP5124345B2 (ja) | バイポーラパルス電源及びこのバイポーラパルス電源を複数台並列接続してなる電源装置 | |
KR101190138B1 (ko) | 바이폴라 펄스 전원 및 복수의 바이폴라 펄스 전원으로 구성된 전원 장치 | |
TWI545994B (zh) | 用於控制離子能量分佈的方法和裝置 | |
SE0302045D0 (sv) | Work piece processing by pulsed electric discharges in solid-gas plasmas | |
JP2009284732A5 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
JP2007186726A5 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
WO1998037257A1 (fr) | Bloc d'alimentation pour dispositif de pulverisation cathodique | |
WO2009145093A1 (ja) | スパッタリング方法 | |
JP5186281B2 (ja) | バイポーラパルス電源及びこのバイポーラパルス電源を複数台並列接続してなる電源装置 | |
JP2009280890A5 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
JP4320019B2 (ja) | スパッタリング装置 | |
JP2007186724A5 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
JP5016819B2 (ja) | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 | |
JP5500794B2 (ja) | 電源装置 | |
JP2010007162A5 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
JP2005534803A5 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
JP4114923B2 (ja) | 真空管式プッシュプル回路 | |
JP2006307305A5 (enrdf_load_stackoverflow) |