JP5500794B2 - 電源装置 - Google Patents

電源装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5500794B2
JP5500794B2 JP2008170807A JP2008170807A JP5500794B2 JP 5500794 B2 JP5500794 B2 JP 5500794B2 JP 2008170807 A JP2008170807 A JP 2008170807A JP 2008170807 A JP2008170807 A JP 2008170807A JP 5500794 B2 JP5500794 B2 JP 5500794B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
discharge circuit
discharge
electrode
potential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008170807A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010007162A (ja
JP2010007162A5 (ja
Inventor
芳邦 堀下
忍 松原
敦 小野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2008170807A priority Critical patent/JP5500794B2/ja
Application filed by Ulvac Inc filed Critical Ulvac Inc
Priority to CN2009801255039A priority patent/CN102076878B/zh
Priority to PCT/JP2009/060989 priority patent/WO2010001724A1/ja
Priority to US12/999,085 priority patent/US20110120861A1/en
Priority to KR1020137013816A priority patent/KR20130080055A/ko
Priority to KR1020117002275A priority patent/KR101298166B1/ko
Priority to TW098120660A priority patent/TW201006317A/zh
Publication of JP2010007162A publication Critical patent/JP2010007162A/ja
Publication of JP2010007162A5 publication Critical patent/JP2010007162A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5500794B2 publication Critical patent/JP5500794B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3464Sputtering using more than one target
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/542Controlling the film thickness or evaporation rate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/3444Associated circuits
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M3/00Conversion of dc power input into dc power output
    • H02M3/02Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
    • H02M3/04Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
    • H02M3/10Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
    • H02M3/145Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal
    • H02M3/155Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H7/00Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
    • H03H7/38Impedance-matching networks

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)

Description

本発明は、電源装置に関し、より詳しくは、スパッタリング装置においてターゲットに電力投入するために用いられる電源装置に関する。
ガラスやシリコンウェハなどの処理すべき基板表面に所定の薄膜を形成する方法の一つとしてスパッタリング(以下、「スパッタ」という)法がある。このスパッタ法は、プラズマ雰囲気中のイオンを、基板表面に成膜しようする薄膜の組成に応じて所定形状に作製したターゲットに向けて加速させて衝撃させ、スパッタ粒子(ターゲット原子)を飛散させ、基板表面に付着、堆積させて所定の薄膜を形成するものであり、近年では、フラットパネルディスプレイ(FPD)の製造工程において、面積の大きい基板に対しITOなどの薄膜を形成することに利用されている。
従来、大面積の基板に対して一定の膜厚で効率よく薄膜形成するものとして次のようなスパッタ装置が知られている。即ち、このスパッタ装置は、真空チャンバ内で処理基板に対向させて等間隔で並設した同形状のターゲットの複数枚と、並設したターゲットのうち、それぞれ対をなすターゲットに所定の周波数で交互に極性をかえて(極性反転させて)所定の電位を印加するAC電源(電源装置)とを有する。そして、真空中で所定のスパッタガスを導入しつつ、AC電源を介して対をなすターゲットに出力し、各ターゲットをアノード電極、カソード電極に交互に切換え、アノード電極及びカソード電極間にグロー放電を生じさせてプラズマ雰囲気を形成し、各ターゲットをスパッタリングする(例えば、特許文献1)。
上記交流電源を用いたスパッタ装置では、スパッタ中、ターゲット表面に滞留したチャージアップ電荷が反対の位相電圧が印加されたときに打ち消される。このため、酸化物等のターゲットを用いる場合であっても、ターゲットのチャージアップに起因した異常放電(アーク放電)の発生は抑制される。他方で、スパッタ室内で電位的に絶縁またはフローティング状態の基板もまたチャージアップするが、通常、基板表面のチャージアップ電荷は、例えばスパッタ粒子や電離したスパッタガスイオンによって中和されて消失していく。
然し、スパッタ速度を高めるために、ターゲットへの投入電力(出力)を大きくしたり、ターゲット表面の磁場強度を強くしてターゲット表面付近のプラズマ密度を上げたりした場合、単位時間当たりの基板表面へのチャージアップ電荷が増加して、基板表面に滞留し易くなる。また、例えばFPD製造工程において電極を構成する金属膜や絶縁膜が形成された基板表面にITOなどの透明導電膜を形成する場合、基板表面の絶縁膜にチャージアップ電荷が滞留し易くなる。
ここで、上記AC電源を用いたスパッタ装置では、スパッタ中、一対のターゲット間で放電していることから、放電電流はターゲット間でのみ流れる。このため、グランド電位(スパッタ装置自体は通常グランド接地されている)を基準とすると、プラズマの電位は、通常グランドより低い電位となっている。その結果、処理基板(または処理基板表面に形成した絶縁膜)にチャージアップ電荷が滞留した場合、上記従来のAC電源では、チャージアップ電荷の滞留を防止できなかった。
このように基板(または基板表面に形成した絶縁膜)にチャージアップ電荷が滞留すると、例えば基板とこの基板の周辺部に配置されたアース接地のマスクプレートとの隣接部において、電位差によりマスクプレートにチャージアップ電荷が瞬時に飛び移る場合があり、これに起因して異常放電(アーク放電)が発生する。異常放電が発生すると、基板表面の膜がダメージを受けて製品不良を生じたり、パーティクルが発生する等の問題が生じ、良好な薄膜形成が阻害される。
特開2005−290550号公報
本発明、以上の点に鑑み、基板のチャージアップに起因した異常放電の発生を抑制でき、大面積の基板に対しても良好な薄膜形成が可能な電源装置を提供することにその課題がある。
上記課題を解決するために、本発明に電源装置は、プラズマに接触する一対の電極に対して所定の周波数で交互に所定の電位を印加し、一の電極と他の電極との間で放電電流を流す第1の放電回路と、前記一対の電極のうち前記第1の放電回路により放電電流が流れ込む他の電極とグランドとの間で所定の電位を印加し、グランドから前記他の電極に放電電流を流す第2の放電回路とを備え、前記第2の放電回路は、前記一対の電極間の電位差がゼロのときに、当該一対の電極に正電位を印加する逆電位印加手段を有することを特徴とする。

本発明によれば、いずれか一方の電極に出力する場合、第1の放電回路により当該一方の電極から他の電極へと放電電流が流れる経路に加えて、第2の放電回路によりグランドを介して当該他方の電極へと放電電流が流れる経路が生じる。そして、極性反転時には逆電位印加手段を介して出力電位とは逆の電位が少なくとも一方の電極に印加される。
このように本発明によれば、極性反転時に逆電位が電極に印加される構成を採用したため、対をなすターゲットに所定の周波数で交互に極性をかえて所定のAC電位を印加するように構成したスパッタ装置に本発明の電源装置を適用すれば、ターゲットに逆電位が印加される毎に、スパッタ室内に電位的に絶縁またはフローティング状態で配置された基板と電極たるターゲットとが容量結合していることで、基板に滞留したチャージアップ電荷がターゲットへと流れるようになる。その結果、ターゲットへの投入電力を大きくし、及び/またはターゲット表面の磁場強度を強くしてターゲット表面付近のプラズマ密度を上げても、基板表面にチャージアップ電荷が滞留することを効率的に防止でき、基板のチャージアップに起因した異常放電の発生を抑制して、大面積の基板に対して高い生産性で良好な薄膜形成が可能となる。
本発明においては、前記第1の放電回路は、直流電力供給源と、前記直流電力供給源からの正負の直流出力間に接続されたスイッチング素子から構成されるブリッジ回路とを有し、前記ブリッジ回路の各スイッチング素子の作動を制御して前記一対の電極に出力するものであり、前記第2の放電回路は、他の直流電力供給源を備え、前記他の直流電力供給源からの正の直流出力端がグランド接地され、負の直流出力端が、前記ブリッジ回路のスイッチング素子の作動に連動する他のスイッチング素子を介して前記一対の電極に接続されたものである構成を採用すればよい。
また、本発明においては、前記逆電位印加手段は、第2の放電回路の正負の直流出力間に接続された直流電源と前記直流電源から各電極への逆電位の印加を制御するスイッチング素子とを備える構成を採用すればよい。
前記第2の放電回路は、その正の直流出力にグランド側をカソードとしたダイオードを備える構成を採用すれば、何らかの原因でアーク放電が発生した場合に第2の放電回路への逆電流を防止できてよい。
なお、本発明においては、前記電極は、スパッタリング法を実施する処理室内に配置した一対のターゲットであることが好ましい。
以下に図面を参照して本発明の実施の形態の電源装置Eを説明する。電源装置Eは、例えばスパッタリング装置Mの真空チャンバ(処理室)M1内に存する基板Sに対向配置され、プラズマPに接触する電極である一対のターゲットT1、T2に対し、所定の周波数でACパルス電位を印加(出力)するために用いられる。電源装置Eは、第1の放電回路E1及び第2の放電回路E2と、第1の放電回路E1及び第2の放電回路E2に設けた後述のスイッチング素子の作動等を統括制御する制御手段Cとを備える(図1参照))。
第1の放電回路E1は、直流電力の供給を可能とする直流電力供給源1を備える。直流電力供給源1は、図示省略したが、例えば商用の交流電力(3相AC200V又は400V)が入力される入力部と、入力された交流電力を整流して直流電力に変換するダイオードからなる整流回路とを有し、正負の直流電力ライン11a、11bを介して直流電力を発振部に出力する。また、直流電力ライン11a、11b間には、制御手段3により図示省略の出力発振用ドライバー回路を介して制御されるスイッチングトランジスタが備えられ、発振部への直流電力の供給を制御できるようになっている。
発振部は、正負の直流電力ライン11a、11b間に接続された4個の第1乃至第4のスイッチングトランジスタ(スイッチング素子)SW11乃至SW14からなるブリッジ回路12を有し、ブリッジ回路12からの出力ライン13a、13bが一対のターゲットT1、T2にそれぞれ接続されている。各スイッチングトランジスタSW11乃至SW14のオン、オフの切換は、制御手段Cにより図示省略の出力発振用ドライバー回路を介して制御され、例えば、第1及び第4のスイッチングトランジスタSW11、SW14と、第2及び第3のスイッチングトランジスタSW12、SW13とのオン、オフのタイミングが反転するように各スイッチングトランジスタSW11乃至SW14の切換えを制御して、一対のターゲットT1、T2に所定の周波数(例えば、1〜10kHz)で交互に所定のパルス電位が印加(出力)される。
ここで、直流電力供給源1から直流電力を出力した状態で各スイッチングトランジスタSW11乃至SW14を切換えたのでは、それらのスイッチング損失が多大となるため、各スイッチングトランジスタSW11乃至SW14の耐久性が向上するように構成する必要がある。そこで、直流電力供給源1からの正負の直流出力ライン11a、11b間には、制御手段Cにより図示省略の出力発振用ドライバー回路を介してオン、オフの切換が制御される出力短絡用のスイッチングトランジスタSW15が設けられている。
そして、出力短絡用のスイッチトランジスタSW15の短絡状態(ターゲットT1、T2への出力が遮断される状態)で、ブリッジ回路12の各スイッチングトランジスタSW11乃至SW14の切換えを行うように構成している(図2参照)。つまり、スイッチングトランジスタSW15の短絡状態(オン)で、例えば第1及び第4のスイッチングトランジスタSW11、SW14をオンし、その後、スイッチングトランジスタSW15の短絡を解除(オフ)し、正の直流電力ライン11aを介して一方のターゲットT1に所定の電位が印加される。次いで、スイッチングトランジスタSW15を再度短絡し、第1及び第4のスイッチングトランジスタSW11、SW14をオフすると共に、第2及び第3のスイッチングトランジスタSW12、SW13をオンし、その後、スイッチングトランジスタSW15をオフし、正の直流電力ライン11aを介して他方のターゲットT2に所定の電位が印加される
これにより、ターゲットT1、T2への出力する際に発生するスイッチング損失は、スイッチングトランジスタSW15でのみ発生し、各スイッチングトランジスタSW11乃至SW14にはスイッチング損失が殆ど発生しない。その結果、高機能のスイッチング素子を用いることなく、高い耐久性を達成でき、しかも、4個のスイッチング素子でスイッチング損失が発生する場合のような十分な放熱機構が不要になり、低コスト化が図れる。
第2の放電回路E2は、第1の放電回路E1と同じ構成の直流電力供給源2を備える。
直流電力供給源2からの正の直流電力ライン21aは、グランド接地された真空チャンバ
M1に接続されている。また、直流電力供給源2からの負の直流電力ライン21bは分岐
され、第1の放電回路E1の出力ライン13a、13bにそれぞれ接続されている。この
場合、負の直流電力ライン21bからの分岐ライン22a、22bには、ブリッジ回路1
のスイッチングトランジスタSW11乃至SW14に連動して作動されるスイッチング
トランジスタSW21、SW22がそれぞれ設けられている。
両スイッチングトランジスタSW21、SW22のオン、オフの切換は、制御手段Cにより図示省略の出力発振用ドライバー回路を介して制御され、例えば、第1及び第4のスイッチングトランジスタSW11、SW14をオン状態で、第1の放電回路E1により一方のターゲットT1に電力投入(即ち、図1の如く、一方のターゲットT1に所定の電位が印加)されているような場合には、スイッチングトランジスタSW21がオンされ、第2の放電回路E2により他方のターゲットT2に所定の電力が投入されるようになっている(図3参照)。

そして、真空チャンバM1内を所定の真空度に保持した状態で図示省略のガス導入手段
を介してAr等のガスを一定流量で導入しつつ、第1及び第2の放電回路E1、E2によ
り一対のターゲットT1、T2に電力投入して各ターゲットT1、T2をスパッタリング
する場合には、例えば、第1及び第4のスイッチングトランジスタSW11、SW14が
オンすると(この場合、第2及び第3のスイッチングトランジスタSW12、SW13は
オフ状態)、第1の放電回路E1により一方のターゲットT1から他方のターゲットT2
に放電電流Iacが流れると共に、スイッチングトランジスタSW21がオンすると(こ
の場合、スイッチングトランジスタSW2はオフ状態)、第2の放電回路E2によりグ
ランド接地の真空チャンバM1から他方のターゲットT2へと放電電流Idcが流れる。
次いで、第1の放電回路E1の第1及び第4のスイッチングトランジスタSW11、S
W14と、第2及び第3のスイッチングトランジスタSW12、SW13とのオン、オフ
のタイミングが反転されるときに、第2の放電回路E2の各スイッチングトランジスタS
W21、SW22のオン、オフのタイミングも反転させ、一対のターゲットT1、T2に
所定の周波数で出力される。これにより、各ターゲットT1、T2がアノード電極、カソ
ード電極に交互に切換わり、アノード電極及びカソード電極並びにカソード電極及びグランドでグロー放電を生じさせてプラズマ雰囲気が形成され、各ターゲットT1、T2がス
パッタリングされる。
このように本実施の形態の電源装置Eは、一対のターゲットT1、T2間で放電電流Iacが流れる経路に加えて一方のターゲットT1またはT2とグランドとの間で放電電流Idcが流れる経路を有する。このため、従来技術のように、放電電流が一対のターゲット間でのみ流れる場合には、出力周波数を低いときに出力されているターゲット前方でのみプラズマが偏って生じるようになるのに対して、本実施の形態の電源装置Eでは、両ターゲットT1、T2の前方に亘ってプラズマPが生じるようになる(図1参照)。その結果、基板S表面に所定の薄膜を形成する際にその膜厚分布の均一化を図り易くなる。
尚、第2の放電回路E2においても、出力短絡用のスイッチングトランジスタSW23を正負の直流電力ライン21a、21b間に設け、上記第1の放電回路E1と同様に、ターゲットT1、T2への出力する際に発生するスイッチング損失をスイッチングトランジスタSW23でのみ発生するようにすることが好ましい。
ところで、上記電源装置Eを備えたスパッタ装置Mでは、スパッタ中、ターゲット表面に滞留したチャージアップ電荷が、反対の位相電圧が印加されたときに打ち消される。このため、酸化物等のターゲットを用いる場合であっても、ターゲットのチャージアップに起因した異常放電(アーク放電)の発生は抑制される。他方で、真空チャンバM1内で電位的に絶縁またはフローティング状態の基板Sもまたチャージアップするが、通常、基板S表面のチャージアップ電荷は、例えばスパッタ粒子や電離したスパッタガスイオンによって中和されて消失していく。
但し、スパッタ速度を高めるために、例えばターゲットT1、T2への投入電力を大きく設定すると、単位時間当たりの基板S表面へのチャージアップ電荷eが増加して、基板S表面に滞留し易くなる。このように基板Sにチャージアップ電荷eが滞留すると、例えば、基板Sとこの基板Sの周辺部に配置されたアース接地のマスクプレートM2との隣接部において、電位差によりマスクプレートにチャージアップ電荷eが瞬時に飛び移る場合があり、これに起因して異常放電(アーク放電)が発生する場合がある。この場合、基板S表面の膜がダメージを受けて製品不良を生じたり、パーティクルが発生する等の問題が生じ、良好な薄膜形成が阻害されることから、電源装置Eにおいて基板S表面へのチャージアップ電荷の滞留を効率よく抑制できることが好ましい。
そこで、本実施の形態は、第2の放電回路E2の正の直流出力ライン21aと、分岐ライン22a、22bとの間に逆パルス発生回路(逆電位印加手段)3を設けた。逆パルス発生回路3は、公知構造を有するDCパルス電源31と、DCパルス電源31からターゲットT1、T2への正パルス電位の印加を制御するスイッチングトランジスタSW31、SW32とを備える(図2参照)。
そして、第1の放電回路E1の第1及び第4のスイッチングトランジスタSW11、SW14と、第2及び第3のスイッチングトランジスタSW12、SW13とのオン、オフのタイミングを反転させると共に、第2の放電回路E2の各スイッチングトランジスタSW21、SW22のオン、オフのタイミングが反転させるために、スイッチングトランジスタSW15、SW23が短絡状態(オン)される毎に、スイッチングトランジスタSW31、SW32をオンして、一対のターゲットT1、T2に正のパルス電位Vpを印加するようにした(図2及び図3参照)。
このように極性反転時に一対のターゲットT1、T2に正のパルス電位Vpが印加されると、真空チャンバM1内で基板SとターゲットT1、T2とが容量結合していることで、基板Sに滞留したチャージアップ電荷eがターゲットT1、T2へと流れる。その結果、ターゲットT1、T2への投入電力を大きくした場合でも、電源装置Eにより基板S表面にチャージアップ電荷eが滞留することが効率的に防止され、基板Sのチャージアップに起因した異常放電の発生を抑制して、大面積の基板Sに対しても高い生産性で良好な薄膜形成が可能となる。
ところで、上述のグロー放電中では、何らかの他の原因によりアーク放電(異常放電)が発生する場合があり、異常放電が発生したときに逆電流が流れて第2の放電回路E2が損傷を受ける虞がある。このため、正の直流電力ライン21aには、グランド側をカソードとしてダイオード24が備えられている。
また、直流電力供給源1、2からの出力は定電圧特性を有しているため、インダクタン
ス成分より、容量成分(キャパシタンス)が支配的になる。このように容量成分(キャパ
シタンス)が支配的であると、アーク放電発生時にプラズマ負荷側のインピーダンスが小
さくなることで、出力とプラズマ負荷とが結合されて容量成分から急激に出力側に放出さ
れる。
そこで、第1及び第2の放電回路E1、E2の負の直流出力ライン11b、21bに、プラズマのインダクタンス値より大きいインダクタンス値を有するインダクタ4を設け、アーク放電の発生時の単位時間当たりの電流上昇率が制限されるようにした。
また、上記のようにインダクタ4を設けた場合、各スイッチング素子を切換えるときに
発生し得る過電圧を抑制するために、前記インダクタ4に並列であって相互に直列に接続
されたダイオード5及び抵抗6を設けている。これにより、第1及び第2の放電回路E1
、E2において各スイッチングトランジスタSW11乃至SW14及びSW21、SW2
2を切り換える時(極性反転時)に、その当初にはターゲットT1、T2への出力が定電
圧特となり、出力電流が徐々に増加するようになり、その後に(出力電流が所定値に達
すると)、出力が定電流特性となる。その結果、各電極での極性反転時に過電圧が生じる
ことが防止され、過電流に起因したアーク放電の発生が抑制される。
尚、本実施の形態では、インダクタ4、ダイオード5及び抵抗6を負の直流出力ライン
11b、21bにそれぞれ設けているが、の直流出力ライン11a、21aまたは両者
に設けるようにしてもよい。
また、本実施の形態では、逆電位印加手段3として、DCパルス電源31とスイッチングトランジスタSW31、SW32とから構成されるものを例に説明したが、極性反転時に正の電位を印加できるものであれば、これに限定されるものではなく、例えば、トランスを設けて正のパルス電位が印加されるように構成してもよい。
また、本実施の形態では、真空チャンバM1内に配置した一対のターゲットT1、T2に1個の電源装置Eを介して出力する場合を例に説明したが、これに限定されるものではない。真空チャンバ内で基板に対向させて等間隔で並設した複数枚の同形状のターゲットのうちそれぞれ対をなすターゲット毎に同一構造の電源装置を割り当て、各ターゲットに所定の周波数でパルス電圧を印加するものにも適用でき、また、複数台の電源装置により一対のターゲットに出力するよう場合にも本発明を適用できる。
本発明の電源装置の構成を概略的に示す図。 逆電位発生回路を概略的に示す図。 本発明の電源装置の出力制御を説明する図。
符号の説明
1、2 直流電力供給源
12 ブリッジ回路
3 逆パルス発生回路(逆電位印加手段)
4 インダクタ
5、24 ダイオード
6 抵抗
E 電源装置
E1 第1の放電回路
E2 第2の放電回路
M スパッタリング装置
M1 真空チャンバ
SW11乃至SW15 スイッチングトランジスタ(スイッチング素子)
SW21乃至SW23 スイッチングトランジスタ(スイッチング素子)
T1、T2 電極(ターゲット)

Claims (5)

  1. プラズマに接触する一対の電極に対して所定の周波数で交互に所定の電位を印加し、一の電極と他の電極との間で放電電流を流す第1の放電回路と、前記一対の電極のうち前記第1の放電回路により放電電流が流れ込む他の電極とグランドとの間で所定の電位を印加し、グランドから前記他の電極に放電電流を流す第2の放電回路とを備え、
    前記第2の放電回路は、前記一対の電極間の電位差がゼロのときに、当該一対の電極に正電位を印加する逆電位印加手段を有することを特徴とする電源装置。
  2. 前記第1の放電回路は、直流電力供給源と、前記直流電力供給源からの正負の直流出力間に接続されたスイッチング素子から構成されるブリッジ回路とを有し、前記ブリッジ回路の各スイッチング素子の作動を制御して前記一対の電極に出力するものであり、前記第2の放電回路は、他の直流電力供給源を備え、前記他の直流電力供給源からの正の直流出力端がグランド接地され、負の直流出力端が、前記ブリッジ回路のスイッチング素子の作動に連動する他のスイッチング素子を介して前記一対の電極に接続されたものであることを特徴とする請求項1記載の電源装置。
  3. 前記逆電位印加手段は、第2の放電回路の正負の直流出力間に接続された直流電源と前記直流電源から各電極への逆電位の印加を制御するスイッチング素子とを備えることを特徴とする請求項2記載の電源装置。
  4. 前記第2の放電回路は、その正の直流出力にグランド側をカソードとしたダイオードを備えることを特徴とする請求項2または請求項3記載の電源装置。
  5. 前記電極は、スパッタリング法を実施する処理室内に配置したターゲットであることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の電源装置。
JP2008170807A 2008-06-30 2008-06-30 電源装置 Active JP5500794B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008170807A JP5500794B2 (ja) 2008-06-30 2008-06-30 電源装置
PCT/JP2009/060989 WO2010001724A1 (ja) 2008-06-30 2009-06-17 電源装置
US12/999,085 US20110120861A1 (en) 2008-06-30 2009-06-17 Power supply apparatus
KR1020137013816A KR20130080055A (ko) 2008-06-30 2009-06-17 전원 장치
CN2009801255039A CN102076878B (zh) 2008-06-30 2009-06-17 电源装置
KR1020117002275A KR101298166B1 (ko) 2008-06-30 2009-06-17 전원 장치
TW098120660A TW201006317A (en) 2008-06-30 2009-06-19 Power source device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008170807A JP5500794B2 (ja) 2008-06-30 2008-06-30 電源装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010007162A JP2010007162A (ja) 2010-01-14
JP2010007162A5 JP2010007162A5 (ja) 2011-04-28
JP5500794B2 true JP5500794B2 (ja) 2014-05-21

Family

ID=41465825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008170807A Active JP5500794B2 (ja) 2008-06-30 2008-06-30 電源装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20110120861A1 (ja)
JP (1) JP5500794B2 (ja)
KR (2) KR20130080055A (ja)
CN (1) CN102076878B (ja)
TW (1) TW201006317A (ja)
WO (1) WO2010001724A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9039871B2 (en) * 2007-11-16 2015-05-26 Advanced Energy Industries, Inc. Methods and apparatus for applying periodic voltage using direct current
DE102010031568B4 (de) 2010-07-20 2014-12-11 TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG Arclöschanordnung und Verfahren zum Löschen von Arcs
CN103069928B (zh) * 2010-08-18 2015-03-25 株式会社爱发科 直流电源装置
US9226380B2 (en) 2012-11-01 2015-12-29 Advanced Energy Industries, Inc. Adjustable non-dissipative voltage boosting snubber network
US9287098B2 (en) 2012-11-01 2016-03-15 Advanced Energy Industries, Inc. Charge removal from electrodes in unipolar sputtering system
US9129776B2 (en) * 2012-11-01 2015-09-08 Advanced Energy Industries, Inc. Differing boost voltages applied to two or more anodeless electrodes for plasma processing
JP2022080674A (ja) * 2020-11-18 2022-05-30 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4233720C2 (de) * 1992-10-07 2001-05-17 Leybold Ag Einrichtung für die Verhinderung von Überschlägen in Vakuum-Zerstäubungsanlagen
DE4446532A1 (de) * 1994-12-24 1996-06-27 Bosch Gmbh Robert Stromversorgungsschaltung
JP3028292B2 (ja) * 1995-10-20 2000-04-04 株式会社ハイデン研究所 正負パルス式高電圧電源
DE19651811B4 (de) * 1996-12-13 2006-08-31 Unaxis Deutschland Holding Gmbh Vorrichtung zum Belegen eines Substrats mit dünnen Schichten
DE69842229D1 (de) * 1997-02-20 2011-06-01 Shibaura Mechatronics Corp Stromversorgungsvorrichtung zum sputtern und sputtervorrichtung, die diese verwendet
US7247221B2 (en) * 2002-05-17 2007-07-24 Applied Films Corporation System and apparatus for control of sputter deposition process
JP2005133110A (ja) * 2003-10-28 2005-05-26 Konica Minolta Opto Inc スパッタリング装置
JP4320019B2 (ja) * 2006-01-11 2009-08-26 株式会社アルバック スパッタリング装置
JP5016819B2 (ja) * 2006-01-11 2012-09-05 株式会社アルバック スパッタリング方法及びスパッタリング装置
EP2102889B1 (en) * 2006-12-12 2020-10-07 Evatec AG Rf substrate bias with high power impulse magnetron sputtering (hipims)

Also Published As

Publication number Publication date
CN102076878A (zh) 2011-05-25
KR101298166B1 (ko) 2013-08-21
WO2010001724A1 (ja) 2010-01-07
CN102076878B (zh) 2013-01-16
JP2010007162A (ja) 2010-01-14
KR20130080055A (ko) 2013-07-11
TW201006317A (en) 2010-02-01
KR20110027819A (ko) 2011-03-16
US20110120861A1 (en) 2011-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5429772B2 (ja) 電源装置
JP5500794B2 (ja) 電源装置
JP5124344B2 (ja) バイポーラパルス電源及び複数のバイポーラパルス電源からなる電源装置並びに出力方法
JP5124345B2 (ja) バイポーラパルス電源及びこのバイポーラパルス電源を複数台並列接続してなる電源装置
JP2009284732A5 (ja)
US8404089B2 (en) Sputtering method
US9117637B2 (en) Redundant anode sputtering method and assembly
JPWO2009025258A1 (ja) スパッタリング方法及びスパッタリング装置
JP5186281B2 (ja) バイポーラパルス電源及びこのバイポーラパルス電源を複数台並列接続してなる電源装置
JP2010007162A5 (ja)
JP5322235B2 (ja) スパッタリング方法
JP2006083459A (ja) スパッタリング装置及びスパッタリング方法
JP2013189698A (ja) 成膜装置および成膜方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110311

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110311

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130611

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130809

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131112

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140304

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140311

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5500794

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250