JP2007180238A - 基板処理システム - Google Patents
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Abstract
【課題】既存の構成を生かしながら簡単、かつ安価に基板の生産形態の多様化に対応する。
【解決手段】メインパネル4を備えた複合処理装置1と、この複合処理装置1に対して基板を搬入出するインデクサー装置2と、露光装置3と、メインパネル4にイーサネットE1を介して接続されるホストコンピュータ5とをそれぞれ備えた2つの処理システム部A,Bが並び、複合処理装置1に設けられる基板受け渡しユニットを介して両処理システム部A,B同士が連結されるとともに、両処理システム部A,Bのメインパネル4同士がイーサネットE3で互いに接続されている。
【選択図】図1
【解決手段】メインパネル4を備えた複合処理装置1と、この複合処理装置1に対して基板を搬入出するインデクサー装置2と、露光装置3と、メインパネル4にイーサネットE1を介して接続されるホストコンピュータ5とをそれぞれ備えた2つの処理システム部A,Bが並び、複合処理装置1に設けられる基板受け渡しユニットを介して両処理システム部A,B同士が連結されるとともに、両処理システム部A,Bのメインパネル4同士がイーサネットE3で互いに接続されている。
【選択図】図1
Description
本発明は、液晶表示デバイス(LCD)又はプラズマ表示デバイス(PDP)用ガラス基板、半導体基板およびプリント基板などに対して一定の処理(例えば、レジスト塗布処理、露光処理、現像処理など)を施す基板処理システムに関するものである。
従来から、LCDやPDP用のガラス基板など(以下、単に基板という)に対して、レジスト塗布処理、露光処理、現像処理などの処理を順次施すように構成された基板の処理装置が知られている(特許文献1)。
この種の処理システムは、例えば図4に示すように、基板処理装置1と、その両側に並ぶインデクサー装置2と露光装置3等とから構成されている。基板処理装置1には、洗浄ユニット、レジスト塗布ユニット、現像ユニット等の複数の処理ユニットが所定の配列で並べられており、同図の白抜き矢印に示すように、インデクサー装置2から基板処理装置1に基板が搬入され、順次洗浄、レジスト塗布等の処理が基板に施されて露光装置3に搬入され、ここで露光処理が施された後、現像処理等が施されてインデクサー装置2に戻されるようになっている。
この種の処理システムは、例えば同図に示すように基板処理装置1を制御するコンピュータ4(メインパネル4という)が設けられ、このメインパネル4と各処理ユニットとがオンライン(実線ラインで示す)で接続されることによりメインパネルにより基板処理装置1が統括的に制御されるように構成されている。そして、基板処理工場内のホストコンピュータ5(ホスト5という)と前記メインパネル4とが基板処理装置1とは別のオンライン(破線ラインで示す;例えばプロトコルとしてTCP/IPとHSMSを用いたオンラインシステム)で接続されることにより、処理システム全体がこのホスト5により監視/制御される構成となっている。
これは、基板処理装置1(処理ユニット)の具体的な構成に応じて主に基板処理装置1の構成や制御システムだけを変更するだけで、ホスト5を中心とする既存の監視/制御システムを変更することなく対応できるようにすることがその狙いの一つとしてある。
特開平11−274265号公報
近年、この種の処理システムにおいては生産形態の多様化に対応することが求められており、例えば、基板処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3等を含むラインを複数ライン設けるとともにライン間での基板の受け渡しを可能とし、これにより基板の搬入出、あるいは使用する露光装置を切り替え得るようにすることが求められている。
この場合、基板処理システムの具体的な構成やその監視/制御システムを一から構築することも考えられるが、これでは開発時間も費用も莫大なものとなる。そこで、図4に示した既存の基板処理システムの構成や監視/制御システムをそのまま生かしながら、基板処理装置1等の設備を複数列備えた基板処理システムを構築することが考えられている。
ところが、図4に示す基板処理システムでは、ホスト5を中心とする監視/制御システムが確立されているため、1ライン内での各基板処理の監視は可能であるが、ラインを跨いで基板が移動した場合には、もはやその監視/制御ができなくなる。そのため、ライン
を跨いで基板が移動した場合にも各基板の監視/制御が行えるようにホスト5を中心とする監視/制御システムを見直すことが求められるが、この場合、長年かけて確立された監視/制御システムを大幅に修正することはリスクが大きく極力回避したいところである。
を跨いで基板が移動した場合にも各基板の監視/制御が行えるようにホスト5を中心とする監視/制御システムを見直すことが求められるが、この場合、長年かけて確立された監視/制御システムを大幅に修正することはリスクが大きく極力回避したいところである。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであって、既存の基板処理システムの構成を生かしながら簡単、かつ安価に基板の生産形態の多様化に対応できる基板処理システムを提供することを目的としている。
上記課題を解決するために、本発明の基板処理システムは、基板の処理および搬送用の複数のユニットとこれらユニットを制御する処理用コンピュータとを備えた基板処理装置と、この基板処理装置に対して基板を搬入出するインデクサー装置と、基板に露光処理を行う露光装置と、前記処理用コンピュータ、インデクサー装置および露光装置にオンラインで接続されるホストコンピュータとを備えた単位システムが複数並び、前記ユニットとして基板処理装置に設けられる基板受け渡しユニットを介して単位システムの基板処理装置同士が連結されるとともに、各単位システムにおける基板処理装置の前記処理用コンピュータがオンラインで互いに接続されているものである(請求項1)。
この基板処理システムによると、一の単位システムでそれぞれ基板に露光処理その他の処理を基板に施す生産形態と、一の単位システムで基板に露光処理その他の処理を基板に施した後、これを他の単位システムに移し替えて当該他の単位システムで露光処理等の処理を施す生産形態とを適宜実施することができる。そして、上記のように複数の単位システムに跨って基板を移し替えながら基板を処理する場合でも、基板処理装置の処理用コンピュータ同士が通信可能に互いに接続されていることにより基板の処理状況を処理用コンピュータ間で転送することができ、これによって一の単位システムのホストコンピュータで他の単位システムにおける基板の処理状況を監視することが可能となる。
なお、この種の基板処理システムでは、ホストコンピュータと処理用コンピュータとがHSMSを用いたオンラインで接続されるケースが多いため、各単位システムにおける基板処理装置の前記処理用コンピュータ同士もHSMSを用いたオンラインで接続されているのが好適である(請求項2)。
本発明の基板処理システムによると、一つの単位システムで基板に露光処理およびその他の処理を施す以外に、複数の単位システムの間で基板を移し変えながら露光処理等の処理を基板に施すことが可能となる。そのため、基板の生産形態の多様化に柔軟に対応することが可能となる。しかも、単位システムを構成する基板処理装置の処理用コンピュータ同士が接続されて単位システム間を跨いだ情報管理が可能となっているので、単位システムとして、ホストコンピュータを中心としてインデクサー装置、基板処理装置および露光装置による基板の処理を監視/制御する既存のシステムを用いることが可能となる。従って、既存のシステム構成を生かしながら簡単、かつ安価に基板の生産形態の多様化に対応できるようになる。
本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
図1は本発明に係る基板処理システムを模式的に示している。この基板処理システムは、例えば液晶表示デバイス(LCD)用のガラス基板の処理において、フォトリソグラフィ工程の一部を担うもので、複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3からそれぞれ構成される第1処理システム部Aと第2処理システム部Bとを有している。なお
、この基板処理システムでは、各処理システム部A,Bの複合処理装置1がそれぞれ本発明に係る基板処理装置に相当し、各処理システム部A,Bがそれぞれ本発明に係る単位システムに該当する。
、この基板処理システムでは、各処理システム部A,Bの複合処理装置1がそれぞれ本発明に係る基板処理装置に相当し、各処理システム部A,Bがそれぞれ本発明に係る単位システムに該当する。
両処理システム部A,Bは、それぞれレジスト塗布前の洗浄処理からレジスト塗布・露光・現像等までの処理を連続して行える同一の構成を有しており、以下に第1処理システム部Aを例に、図2を用いて両処理システム部A,Bの構成について詳述する。
同図に示すように、第1処理システム部Aは、インデクサー装置2、複合処理装置1および露光装置3がこの順番で一列に並んだ構成となっている。
インデクサー装置2は、基板の搬入(供給)および搬出(排出)を行うものである。このインデクサー装置2には、基板を収納したカセット7を載置するカセット載置部と、基板搬送装置6とが設けられ、上記カセット載置部にセットされたカセット7から基板搬送装置6により基板を取り出して複合処理装置1の後記洗浄ユニット10に受け渡すとともに、処理後の基板を後記ポストベークドユニット90から受け取ってカセット7に戻すように構成されている。
複合処理装置1は、同図に示すように、洗浄ユニット10、脱水ベークユニット20、レジスト塗布ユニット30、プリベークユニット40、インターフェース部60、基板受け渡しユニット65、現像ユニット80およびポストベークユニット90等の各ユニットからなる複合処理設備からなり、インデクサー装置2により供給される基板を所定の搬送順序に従って搬送しながら処理を施した後、再度インデクサー装置2に戻すように洗浄ユニット10等の各ユニットがインデクサー装置2に対してU字型に並んだ構成となっている。具体的には、インデクサー装置2に対して洗浄ユニット10、脱水ベークユニット20、レジスト塗布ユニット30およびプリベークユニット40が一列に配列され、この列に並ぶように現像ユニット80およびポストベークユニット90がプリベークユニット40とインデクサー部2との間に一列に配列されている。これによりインデクサー部2に対して各ユニットがU字型に配列され、さらにプリベークユニット40の外側(図2では右側)にインターフェース部60および基板受け渡しユニット65が配置された構成となっている。
洗浄ユニット10は、搬入部11、UVオゾン洗浄部12、水洗部13、液滴除去部14及び搬出部15を有し、インデクサー装置2から供給される基板を例えば水平姿勢で搬送しながら洗浄処理を施すように構成されている。
脱水ベークユニット20は、搬入部21、加熱部22、密着強化処理部23及び冷却部24を有しており、洗浄処理を終えた基板に対し、まず、加熱部22において加熱処理を施して水分を除去し、レジスト液の密着性を向上させるべく密着強化処理部23においてHMDS(ヘキサメチルジシラザン)を塗布する。そして、最後に冷却部24において基板に冷却処理を施すように構成されている。
レジスト塗布ユニット30は、搬入部31、スピンコータ部32、減圧乾燥部33、エッジリンス部34及び搬出部35を有しており、まず、スピンコータ部32において基板の表面に均一なレジスト膜を形成し、これを減圧乾燥部33で減圧ベークした後、エッジリンス部34において基板周縁の不要なレジスト膜を除去するように構成されている。
プリベークユニット40は、加熱部と冷却部とを多段に備えた2つの処理部41を有しており、これら処理部41の間に介設されたロボット42により、該処理部41に対して基板を出し入れして基板に加熱及び冷却処理を施すように構成されている。
インターフェース部60は、露光装置3に対して基板を出し入れしながらこの露光装置3とプリベークユニット40との間で基板の受け渡しを行うものである。このインターフェース部60および基板受け渡しユニット65については、露光装置3の構成と共に後述する。
現像ユニット80は、搬入部81、現像部82、水洗乾燥部83及び搬出部84を有しており、現像部82では、例えば、現像液を基板に対して噴霧しながら現像処理を施すように構成されている。
ポストベークユニット90は、搬入部91、加熱部92、冷却部93及び搬出部94を有しており、まず、現像処理の後の基板に対して加熱処理を施して基板上に残留した現像液や洗浄液を蒸発除去し、その後、冷却処理を施すように構成されている。
なお、図2中、符号71及び68は、基板の載置テーブルであり、レジスト塗布ユニット30とプリベークユニット40との間の基板の受渡し、あるいはプリベークユニット40と後記バッファ部61との間の基板の受渡しの際に一時的に基板を載置するようになっている。また、符号70は、露光処理後の基板を現像ユニット80まで搬送するコンベアである。
一方、露光装置3は、例えば、縮小投影露光機等の露光機からなり、プリベークユニット40から搬送されてきたプリベーク処理後の基板に対して、その一方又は両方で露光処理を行うようになっている。なお、露光装置3には、複数種の露光マスクが交換可能に搭載されており、後述する生産データに基づき対応する露光マスクがセットされるようになっている。
露光装置3とプリベークユニット40との間には、前記インターフェース部60が配設されている。このインターフェース部60は、多数の基板を収納可能とするバッファ部61と、基板搬送ロボット63と、周辺露光装置64とを有しており、基板搬送ロボット63により露光処理前および露光処理後の基板をバッファ部61に収納して一時的に待機させながら露光装置3に対して基板を出し入れするとともに、前記載置テーブル68に対して基板を載置することにより前記プリベークユニット40および後記基板受け渡しユニット65との間で基板の受け渡しを行うように構成されている。
このインターフェース部60には、第1処理システム部Aと第2処理システム部Bとの間で基板の受け渡しを可能とする基板受け渡しユニット65がさらに設けられている。
この基板受け渡しユニット65は、ローラコンベア等のコンベアとこのコンベアに組み込まれる回転機構とから構成され、第2処理システム部B側の基板受け渡しユニット65に連結さることにより両ユニット65が協働して両処理システム部A,Bの間で基板の受け渡しを行うようになっている。
この基板受け渡しユニット65は、インターフェース部60の前記バッファ部61の上方(第2処理システム部Bでは周辺露光装置64の上方)に配置されており、基板搬送ロボット63のアーム部が上下動することにより、このロボット63により基板受け渡しユニット65と前記載置テーブル68との間で基板の受け渡しが行われるようになっている。
なお、基板受け渡しユニット65を構成する上記回転機構は、図示を省略しているが、例えば昇降および垂直軸回りに回転が可能なテーブルを有しており、このテーブルが上昇
してローラコンベア上の基板をその下側から持ち上げ、さらに基板と一体に回転した後、下降することにより基板の方向を変更するように構成されている。
してローラコンベア上の基板をその下側から持ち上げ、さらに基板と一体に回転した後、下降することにより基板の方向を変更するように構成されている。
図1に戻って、第1処理システム部Aには、複合処理装置1を統括的に制御する本発明係る処理用コンピュータとしてのメインパネル4が設けられている。
このメインパネルは、論理演算を実行する周知のCPU、そのCPUを制御する種々のプログラムなどを予め記憶するROMおよび複合処理装置1の作動中に種々のデータを一時的に記憶するRAM、各種プログラムや作業データを記憶するHDD等の外部記憶装置、通信用インターフェース等から構成されている。このメインパネル4は、イーサネット(登録商標)E2を介して複合処理装置1の各ユニット10,20,30,40,60,65,80,90(以下、各ユニット10等という)に接続されており、システム作動中は、後述するホストコンピュータ5から与えられる各種情報に基づき、HDD等から読み出した処理用プログラムに従い各ユニット10等の具体的な動作を統括的に制御するようになっている。
また、第1処理システム部Aには、さらに当該処理システム部A全体を監視/制御するためのホストコンピュータ5(以下、ホスト5と略する)が設けられている。
ホスト5も、CPU、ROM、RAM、HDD等の外部記憶装置および通信用インターフェース等から構成され、イーサネットE1を介して前記メインパネル4に接続されるともに、これとは別のオンラインでインデクサー装置2および露光装置3に接続されている。そして、プロトコルとして例えばTCP/IPを下層とするHSMSを用いてホスト5とメインパネル4等との間で第1処理システム部A全体の監視/制御に必要な情報通信が行われるようになっている。
例えばホスト5は、基板処理システムの稼動中、基板の生産に必要な各種ID(ロットID,カセットID,基板ID等)、基板受け渡しユニット65による基板の回転方向に関する情報(基板の回転情報という)等の各種情報をメインパネル4等に送信する。これに対して例えばメインパネル4は、この情報に基づく各基板に固有の生産データを、インデクサー装置2から基板の搬入が行われる毎に洗浄ユニット10に転送する。この生産データは、基板の搬送に伴い各ユニット間で順次転送され、この生産データに従って複合処理装置1の各ユニット10等および露光装置3が駆動することにより各基板に対応した所定の処理がそれぞれ施されるとともに、その処理結果等の情報がメインパネル4等からホスト5に送信されるようになっている。このようにホスト5とメインパネル4等との間で必要な情報通信が交わされながら基板の処理が進められることによって第1処理システム部A全体の監視/制御がホスト5により行われるようになっている。
以上、第1処理システム部Aの構成について説明したが、第2処理システム部Bも同一の構成となっている。そして、この基板処理システムでは、このような同一構成を有する第1処理システム部Aと第2処理システム部Bとが図1,図2に示すようにほぼ平行に並び、かつ第1処理システム部Aの前記基板受け渡しユニット65と第2処理システム部Bの前記基板受け渡しユニット65とが互いに連結された平面視U字型のレイアウト構成となっている。
なお、第1処理システム部Aにおける複合処理装置1のメインパネル4と第2処理システム部Bにおける複合処理装置1のメインパネル4とはイーサネットE3を介して互いに接続されており、例えばホスト5と同様に、プロトコルとして例えばTCP/IPを下層とするHSMSを用いて両メインパネル4の間で情報通信が行われるようになっている。
以上のように構成された基板処理システムでは、基板の種類に応じて以下の3つのモードで処理を進めることが可能となっており、例えば、ホスト5の図外の入力装置によりロット単位でモード設定されるようになっている。
(1)第1モード
このモードは、各処理システム部A,Bでそれぞれ独立して基板の処理を進めるモードである。すなわち、図3中実線矢印R1で示すように、各処理システム部A,Bにおいて、それぞれインデクサー装置2から複合処理装置1に基板を搬入し、洗浄、脱水ベーク、レジスト塗布、プリベーク、露光、現像およびポストベークの各処理を順次施した後、元のインデクサー装置2に基板を戻すモードである。
このモードは、各処理システム部A,Bでそれぞれ独立して基板の処理を進めるモードである。すなわち、図3中実線矢印R1で示すように、各処理システム部A,Bにおいて、それぞれインデクサー装置2から複合処理装置1に基板を搬入し、洗浄、脱水ベーク、レジスト塗布、プリベーク、露光、現像およびポストベークの各処理を順次施した後、元のインデクサー装置2に基板を戻すモードである。
(2)第2モード
このモードは、図3中一点鎖線矢印R2で示すように、第1処理システム部Aにおいてインデクサー装置2から複合処理装置1に基板を搬入し、第1処理システム部Aにおいて洗浄、脱水ベーク、レジスト塗布、プリベークおよび露光の各処理を順次基板に施した後、この基板を基板受け渡しユニット65により第2処理システム部Bに移し替え、第2処理システム部Bにおいて露光、現像およびポストベークの各処理を順次施して第2処理システム部Bのインデクサー装置2に基板を回収するモードである。
このモードは、図3中一点鎖線矢印R2で示すように、第1処理システム部Aにおいてインデクサー装置2から複合処理装置1に基板を搬入し、第1処理システム部Aにおいて洗浄、脱水ベーク、レジスト塗布、プリベークおよび露光の各処理を順次基板に施した後、この基板を基板受け渡しユニット65により第2処理システム部Bに移し替え、第2処理システム部Bにおいて露光、現像およびポストベークの各処理を順次施して第2処理システム部Bのインデクサー装置2に基板を回収するモードである。
(3)第3モード
このモードは、図3中破線矢印R3で示すように、第2処理システム部Bにおいてインデクサー装置2から複合処理装置1に基板を搬入し、第2処理システム部Bにおいて洗浄、脱水ベーク、レジスト塗布、プリベークおよび露光の各処理を順次基板に施した後、この基板を基板受け渡しユニット65により第1処理システムAに移し替え、第1処理システムAにおいて露光、現像およびポストベークの各処理を順次施して第1処理システムAのインデクサー装置2に基板を回収するモードである。
このモードは、図3中破線矢印R3で示すように、第2処理システム部Bにおいてインデクサー装置2から複合処理装置1に基板を搬入し、第2処理システム部Bにおいて洗浄、脱水ベーク、レジスト塗布、プリベークおよび露光の各処理を順次基板に施した後、この基板を基板受け渡しユニット65により第1処理システムAに移し替え、第1処理システムAにおいて露光、現像およびポストベークの各処理を順次施して第1処理システムAのインデクサー装置2に基板を回収するモードである。
これらのモードのうち第1モードでは、インデクサー装置2による基板の搬入から回収までの各処理が共通の第1処理システム部A(又は第2処理システム部B)で完結するため、この場合には、各処理システムA,B内のみでそれぞれ情報通信が行われながらホスト5により基板の処理、つまり複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3の動作が監視/制御される。例えばホスト5から生産開始フラグ等を含む情報が送信されることにより複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3が所定の起動状態(ラン状態)となり、その後、インデクサー装置2から所定ピッチで基板の供給、つまり複合処理装置1への基板の搬入が開示される。また、この基板の搬入に伴い、ホスト5から送信された各種IDを含む生産データがメインパネル4から洗浄ユニット10に転送され、この生産データに従って各ユニット10等および露光装置3において各基板の処理が進められながら、全ての処理を終えた基板から順にインデクサー装置2に戻される。この際、基板の搬入、回収(搬出)に関する情報がインデクサー装置2からホスト5に、基板の処理状況に関する情報が露光装置3およびメインパネル4からホスト5に送信されることにより各基板の状況がホスト5により監視される。そして、例えば1ロットの最終基板が複合処理装置1からカセット7に搬出され、当該情報がインデクサー装置2からホスト5に送信されると、複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3がそれぞれ所定の待機状態(アイドル状態)に制御される。
これに対して第2および第3モードでは、第1処理システム部Aと第2処理システム部B)とに跨って基板の処理が進められるため、この場合には、両処理システム部A,Bの間で各種情報の送信が交わされながら各処理システム部A,Bのホスト5により複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3の動作が監視/制御される。
例えば、第2モードの場合には、第1処理システム部Aのホスト5から生産開始フラグ等を含む情報が送信されることにより当該システム部Aの複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3が所定の起動状態(ラン状態)となると、この生産開始に関する情報がメインパネル4からイーサネットE3および第2処理システム部B4のメインパネル4を介してホスト5に転送され、これにより第2処理システム部Bも起動状態となる。
そして、第1処理システム部Aのインデクサー装置2から所定ピッチで基板が複合処理装置1に搬入されるとともに、この基板の搬入に伴い、各種IDおよび基板の回転情報等を含む生産データがメインパネル4から洗浄ユニット10に転送されるとともに、イーサネットE3を介して第2処理システム部Bのメインパネル4に転送される。
この生産データに従い、第1処理システム部Aでは各ユニット10等および露光装置3において各基板の処理が進められ、その後、基板受け渡しユニット65により第1処理システム部Aから第2処理システム部Bの複合処理装置1(インターフェース部60)に搬送される。そして、第2処理システム部Bでは、第1処理システム部Aから受け取った基板にさらに露光、現像およびポストベークの各処理が施される。この際、イーサネットE3を介して第1処理システム部A側から転送された生産データに従って露光装置3等が制御されるとともに、基板受け渡しの際には、基板の回転情報に従って基板受け渡しユニット65(回転機構)が駆動制御される。
また、このような第2処理システム部B側での処理状況に関する情報が同システム部Bのメインパネル4からイーサネットE3を通じて第1処理システム部Aに送信されることにより各基板処理状況が第1処理システム部Aのホスト5により監視される。そして、1ロットの最終基板が第2処理システム部Bにおいて複合処理装置1からインデクサー装置2に搬出され、当該情報が第2処理システム部Bのインデクサー装置2からホスト5に送信されると、この情報がさらに第2処理システム部Bのメインパネル4、イーサネットE3、第1処理システム部Aのメインパネル4およびイーサネットE1を介してホスト5に転送され、これにより第1処理システム部Aの複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3が待機状態(アイドル状態)に制御される。
以上のように、この基板処理システムでは、それぞれ複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3からなる2つの処理システム部A,Bをもち、各処理システム部A,Bで露光処理を含む全ての処理を完結させる第1モード、両処理システム部A,Bに跨って基板を移し替えながら複数種類の露光処理を基板に施す第2、第3モードを実施可能に構成されているので、適宜これらのモードを選定することにより基板の生産形態の多様化に柔軟に対応することが可能となる。
その上、第1処理システム部Aおよび第2処理システム部Bは、何れもホスト5によりインデクサー装置2、複合処理装置1および露光装置3を監視/制御する構成とされ、しかも、両処理システム部A,Bのメインパネル4がイーサネットE3を介して通信可能に接続されることにより、上記第2,第3モードのように両処理システム部A,Bを跨いで基板を処理する場合には、イーサネットE3を通じて両処理システム部A,B間で必要な情報通信を行うように構成されているので、既存のシステム構成を有効に生かすことができるという利点がある。
すなわち、図1に示すような基板処理システムでは、両処理システム部A,Bを単一のホストコンピュータで統括的に監視/制御することも考えられるが、この場合には、ホストコンピュータにより複数のインデクサー装置2、複数の複合処理装置1および複数の露光装置3による処理を監視/制御するための例えば新たな制御システムが必要となるため、その開発に時間も費用もかかることとなる。これに対して、上記実施形態の基板処理シ
ステムによると、第1処理システム部Aおよび第2処理システム部Bとして、図4に示したような既存のシステム構成をそれぞれ設け、両複合処理装置のメインパネル4同士をイーサネットを介して情報通信可能に接続することにより、一部のハード構成の追加(基板受け渡しユニット65の追加)と簡単なソフトウェアの変更のみで構築することが可能となる。そのため、既存のシステム構成を生かしながら簡単、かつ安価に、上記のような基板の生産形態の多様化に対応することができるという利点がある。
ステムによると、第1処理システム部Aおよび第2処理システム部Bとして、図4に示したような既存のシステム構成をそれぞれ設け、両複合処理装置のメインパネル4同士をイーサネットを介して情報通信可能に接続することにより、一部のハード構成の追加(基板受け渡しユニット65の追加)と簡単なソフトウェアの変更のみで構築することが可能となる。そのため、既存のシステム構成を生かしながら簡単、かつ安価に、上記のような基板の生産形態の多様化に対応することができるという利点がある。
なお、上述した基板処理システムは本発明に係る基板処理システムの好ましい実施の形態の一例であって、その具体的な構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、上記実施形態では、それぞれ複合処理装置1、インデクサー装置2および露光装置3からなる2つの処理システム部A,Bをもつ基板処理システムを例に本発明の基板処理システムについて説明したが、3つ以上の処理システム部(単位システム)を備えた基板処理システムを構成するようにしてもよい。
また、実施形態中では説明していないが、例えば両処理システム部A,Bの複合処理装置1は、処理ユニットの一つとして、基板に対する全処理が終了した後に当該基板を検査する検査ユニットを含むものであってもよい。この場合には、生産データとして検査ユニットでの検査の要否情報を含む生産データをメインパネル4から複合処理装置1(洗浄ユニット10)に送信するようにすればよく、特に、上記第2モードの場合には、検査の要否情報を含む生産データをさらにイーサネットE3を介して第2処理システム部B側のメインパネル4に、上記第3モードの場合には、同生産データを第1処理システム部A側のメインパネル4に転送するようにすればよい。
また、実施形態では、両システム部A,Bのメインパネル4同士がイーサネットE3を介して互いに接続され、プロトコルとして例えばTCP/IPを下層とするHSMSを用いて情報通信が行われるように構成されているが、勿論、オンラインとしてこれ以外の方式でメインパネル4同士が接続されているものであってもよい。
A 第1処理システム部
B 第2処理システム部
1 複合処理装置
2 インデクサー装置
3 露光装置
4 メインパネル(処理用コンピュータ)
5 ホストコンピュータ
E1,E2,E3 イーサネット
B 第2処理システム部
1 複合処理装置
2 インデクサー装置
3 露光装置
4 メインパネル(処理用コンピュータ)
5 ホストコンピュータ
E1,E2,E3 イーサネット
Claims (2)
- 基板の処理および搬送用の複数のユニットとこれらユニットを制御する処理用コンピュータとを備えた基板処理装置と、この基板処理装置に対して基板を搬入出するインデクサー装置と、基板に露光処理を行う露光装置と、前記処理用コンピュータ、インデクサー装置および露光装置にオンラインで接続されるホストコンピュータとを備えた単位システムが複数並び、前記ユニットとして基板処理装置に設けられる基板受け渡しユニットを介して単位システムの基板処理装置同士が連結されるとともに、各単位システムにおける基板処理装置の前記処理用コンピュータがオンラインで互いに接続されていることを特徴とする基板処理システム。
- 請求項1に記載の基板処理システムにおいて、
前記ホストコンピュータと処理用コンピュータとがHSMSを用いたオンラインで接続されるとともに、各単位システムにおける基板処理装置の前記処理用コンピュータ同士がHSMSを用いたオンラインで互いに接続されていることを特徴とする基板処理システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005376446A JP2007180238A (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 基板処理システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005376446A JP2007180238A (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 基板処理システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007180238A true JP2007180238A (ja) | 2007-07-12 |
Family
ID=38305136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005376446A Pending JP2007180238A (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 基板処理システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007180238A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009049053A (ja) * | 2007-08-14 | 2009-03-05 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理システム |
-
2005
- 2005-12-27 JP JP2005376446A patent/JP2007180238A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009049053A (ja) * | 2007-08-14 | 2009-03-05 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理システム |
US8746171B2 (en) | 2007-08-14 | 2014-06-10 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate treating system |
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