JP2007158092A - レーザ発光装置およびレーザ駆動方法 - Google Patents

レーザ発光装置およびレーザ駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007158092A
JP2007158092A JP2005352226A JP2005352226A JP2007158092A JP 2007158092 A JP2007158092 A JP 2007158092A JP 2005352226 A JP2005352226 A JP 2005352226A JP 2005352226 A JP2005352226 A JP 2005352226A JP 2007158092 A JP2007158092 A JP 2007158092A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
light
current
detection element
light detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005352226A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyotsugu Tanaka
清嗣 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2005352226A priority Critical patent/JP2007158092A/ja
Publication of JP2007158092A publication Critical patent/JP2007158092A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

【課題】温度変化によらず出力特性を一定に維持することができるレーザ発光装置およびレーザ駆動方法を提供する。
【解決手段】本実施例のレーザ発光装置は、複数のモードのレーザ光を出射するレーザ素子1と、レーザ素子1へバイアス電流I-biasと変調電流I-modとを重畳させた駆動電流Iを供給する駆動装置4と、レーザ素子1から出射されたレーザ光の外側の部分を受光する光検出素子3とを有する。駆動装置4は、光検出素子3により検出された光量に基づいて変調電流I-modを制御する。
【選択図】図3

Description

本発明は、レーザ発光装置およびレーザ駆動方法に関し、特に、発振モードが多モードのレーザ素子を用いたレーザ発光装置およびレーザ駆動方法に関する。
光通信において、半導体レーザ素子が用いられている。500m以下の短距離通信では、主として安価な面発光レーザ素子が用いられている。面発光レーザ素子の発振モードは、多モードのものが多い。
図6(a)は、従来のレーザ発光装置の概略構成を示す図であり、図6(b)は駆動電流を説明するための図である。
レーザ発光装置は、レーザ素子101と、駆動装置102と、ビームスプリッタ103と、フォトダイオード104とを有する。駆動装置102から駆動電流Iがレーザ素子101に供給されると、駆動電流Iに応じた出射光がレーザ素子101から出射される。駆動電流は、バイアス電流(直流電流)I-biasにモデュレーション電流I-modを重畳させたものである。レーザ素子101からの出射光の一部は、ビームスプリッタ103を介してフォトダイオード104に受光される。フォトダイオード104による検出光の光量が一定となるように、駆動装置102によりバイアス電流I-biasが調整される。バイアス電流I-biasの調整はAPC(Automatic Power Control)制御と呼ばれる。これにより、レーザ光の平均光出力は一定に維持される。
しかしながら、半導体レーザ素子の光出力は温度依存性がある。図7(a)は、10℃〜70℃の間における駆動電流Iと光出力Poとの関係を示す図である。C1は、10℃のときのデータであり、C2は20℃のときのデータであり、C3は30℃のときのデータであり、C4は40℃のときのデータであり、C5は50℃のときのデータであり、C6は60℃のときのデータであり、C7は70℃のときのデータである。図7(b)は、駆動電流を示し、図7(c)は光出力を示す図である。
図7に示すように、半導体レーザ素子の電流―出力特性の微分効率は高温時において減少する傾向にある。このため、温度が上昇すると、APC制御により平均光出力は一定に維持できるが、消光比が減少するため(図7(c)参照)、信号品質が劣化してしまう。
この問題に対処するため、図8(a)に示すように、APC制御に加えて、サーミスタ等の温度センサ105でレーザ素子101の周辺温度を測定し、これに基づいてモデュレーション電流I-modを調整する技術が開示されている(特許文献1,2参照)。より詳細には、温度が上昇した場合には、モデュレーション電流I-modの振幅を増加させる(図8(b)参照)。あるいは、駆動装置102内のメモリにレーザ特性情報を記憶させて、温度センサからの検出温度に基づいて、適正温度を決定するようにした技術が開示されている(特許文献3参照)。
特開2000−261090号公報 特開平10−270783号公報 特開2002−158383号公報
しかしながら、半導体レーザ素子は、特別な選別をしない限り、素子間の特性ばらつきが比較的大きく、温度による出力特性変動にもばらつきがある。このため、温度センサ105からの検出温度に基づいてモデュレーション電流I-modを調整しても、完全な信号品質を維持することができない。
厳密にレーザ素子を選別して、素子毎のばらつきを最小限にすれば、検出温度に基づいた調整でも有効となる。しかし、この場合には選別歩留まりを考慮するとコスト面で不利となる。また、レーザ情報をメモリで記憶するタイプでは、素子毎の単独情報をもたせることも不可能ではない。しかしこの方法は工程上の負荷が大きくコスト増を招いてしまう。
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、温度変化によらず出力特性を一定に維持することができるレーザ発光装置およびレーザ駆動方法を提供することにある。
上記の目的を達成するため、本発明のレーザ発光装置は、複数のモードのレーザ光を出射するレーザ素子と、前記レーザ素子へバイアス電流と変調電流とを重畳させた駆動電流を供給する駆動手段と、前記レーザ素子から出射された前記レーザ光の外側の部分を受光する第1光検出素子とを有し、前記駆動手段は、前記第1光検出素子により検出された光量に基づいて前記変調電流を制御する。
上記の本発明のレーザ発光装置では、レーザ素子から出射されたレーザ光の外側の部分が第1光検出素子により検出される。すなわち、この第1光検出素子によりレーザ素子の遠視野像の外側の部分がモニタされる。第1光検出素子により検出される光量に基づいて、駆動手段により変調電流が制御される。
上記の目的を達成するため、本発明のレーザ駆動方法は、バイアス電流と変調電流を重畳させた駆動電流を前記レーザ素子へ供給して、複数のモードのレーザ光を出射させるステップと、出射された前記レーザ光うちの外側の部分を検出するステップと、検出された光量に基づいて、前記レーザ素子へ供給する前記変調電流を調整するステップとを有する。
上記の本発明のレーザ駆動方法では、レーザ素子から出射されたレーザ光の外側の部分を検出する。すなわち、レーザ素子の遠視野像の外側の部分をモニタする。そして、検出された光量に基づいて、レーザ素子へ供給する変調電流を調整する。
本発明のレーザ発光装置およびレーザ駆動方法によれば、温度変化によらず出力特性を一定に維持することができる。
以下に、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
図1は、中距離〜短距離通信のレーザ光源として使用されている面発光半導体レーザ素子のファーフィールドパターン(遠視野像)である。中距離〜短距離通信の例としては企業内ネットワークがある。図1(a)は10℃の場合の遠視野像であり、図1(b)は30℃の場合の遠視野像であり、図1(c)は70℃の場合の遠視野像である。各図(a)〜(c)では、種々の駆動電流Iを採用した場合、すなわち種々の光出力における遠視野像を示す。P1は0.2mWの遠視野像、P2は0.5mWの遠視野像、P3は1.0mWの遠視野像、P4は1.5mWの遠視野像、P5は2.0mWの遠視野像、P6は2.5mWの遠視野像を示す。
通信用途に使用される面発光半導体レーザのほとんどは、多モード発振タイプであり、図2に示すように、通常3モード(0次、1次、2次)程度で同時発振している。図2では、70℃、2.5mWの場合の遠視野像を示す。光出力分布は、0次光D0、1次光D1、2次光D2を重ね合わせたものとなる。
従って、遠視野像の外側の高次モード(D1,D2)の強度変化をモニタし、これをもう1つのループ(温度補償ループ)として駆動装置にフィードバックすることにより、温度によらず高品質な信号品質を保つことができる。以下に、本発明の実施例について説明する。
図3は、実施例1に係るレーザ発光装置の断面図である。
本実施例のレーザ発光装置は、レーザ素子1と、光検出素子(第2検出素子)2と、光検出素子(第1検出素子)3と、駆動装置4と、ビームスプリッタ5とを有する。ビームスプリッタ5は、本発明の光学部材の一例である。
レーザ素子1は、発振モードが多モード(複数モード)のレーザ素子であり、例えば面発光半導体レーザである。なお、本発明は多モードのレーザ素子であれば、いかなるレーザ素子にも適用可能である。面発光半導体レーザからの出射光の波長は、例えば850nmである。レーザ素子1は、バイアス電流I-biasとモデュレーション電流I-modとが重畳された駆動電流Iに基づいて、レーザ光を出射する。
ビームスプリッタ5は、レーザ素子1からのレーザ光の一部を光検出素子2および光検出素子3に向けて反射させる。ビームスプリッタ5により反射された光を参照光RLとする。ビームスプリッタ5を透過した光は、信号に用いられる出射光Lとなる。
光検出素子2は、参照光RLの中央付近に配置されている。光検出素子3は、参照光RLの外側(周辺部)に配置されている。光検出素子2,3は、例えばフォトダイオードからなる。光検出素子2となるフォトダイオードの周囲に、光検出素子3となるフォトダイオードをリング状に形成してもよい。
光検出素子2は、参照光RLの中央部の光量を検出して、この検出信号を駆動装置4へ出力する。光検出素子2からの検出信号S2は、APC制御に用いられる。
光検出素子3は、参照光RLの外側部分の光量を検出して、この検出信号を駆動装置4へ出力する。光検出素子3からの検出信号S3は、温度補償制御に用いられる。
駆動装置4は、光検出素子2からの検出信号S2に基づいてバイアス電流I-biasを調整し、光検出素子3からの検出信号S3に基づいてモデュレーション電流I-modを調整する。例えば、光検出素子2により検出される光量が一定となるように、バイアス電流I-biasを調整する。また、光検出素子3により検出される光量に応じてモデュレーション電流I-modを調整する。バイアス電流I-biasは一般的なAPC制御で検出される光量=一定のコントロールでよいが、モデュレーション電流I-modは検出される光量に応じてコントロール量を駆動装置4であらかじめ定めておく。このため、駆動装置4内のメモリには、光検出素子3により検出される光量と、設定すべきモデュレーション電流I-modとの関係を示すデータを予め格納しておく。例えば、光検出素子3により検出される光量が増加した場合には、温度が上昇しているため(図1参照)、モデュレーション電流I-modを増加させる。
上記の実施例1のレーザ駆動方法について説明する。
まず、駆動装置4によりバイアス電流I-biasとモデュレーション電流I-modとを重畳させた駆動電流Iがレーザ素子1に供給される。レーザ素子1から、駆動電流Iに基づいた出力のレーザが出射される。
レーザ素子1から出射されたレーザ光の一部は、ビームスプリッタ5により反射されて、光検出素子2,3に受光される。光検出素子2により検出される光量が一定となるように、駆動装置4によりバイアス電流I-biasが調整される(APC制御)。このAPC制御により、出射光Lの平均光出力は一定に保たれる。
光検出素子3により検出される光量に応じて、駆動装置4によりモデュレーション電流I-modが調整される(温度補償制御)。この温度補償制御により、出射光Lの消光比は一定に保たれる。
上記の実施例1では、レーザ素子1からのレーザ光の一部を参照光RLとして分離し、この参照光RLの外側部分を光検出素子3により検出している。このため、光検出素子3は、レーザ素子1の遠視野像の外側の部分をモニタしていることになる。遠視野像の外側部分の強度は、高次モードの強度変化に起因して変化する。光検出素子3により、遠視野像の外側の強度をモニタして、この遠視野像の外側の部分の強度に応じてモデュレーション電流I-modを調整することにより、温度変化に基づく消光比の劣化を抑制することができる。
この結果、実施例1のレーザ発光装置およびレーザ駆動方法によれば、幅広い温度範囲において高品質な伝送特性を維持することができる。
図4は、実施例2に係るレーザ発光装置の断面図である。
本実施例のレーザ発光装置は、レーザ素子1と、光検出素子(第2検出素子)2と、光検出素子(第1検出素子)3と、駆動装置4と、光導波路6と、ビームスプリッタ7とを有する。光導波路6およびビームスプリッタ7は、本発明の光学部材の一例である。
レーザ素子1は、発振モードが多モードのレーザ素子であり、例えば面発光半導体レーザである。なお、本発明は多モードのレーザ素子であればいかなるレーザ素子にも適用可能である。面発光半導体レーザからの出射光の波長は、例えば850nmである。レーザ素子1は、バイアス電流I-biasとモデュレーション電流I-modとが重畳された駆動電流Iに基づいて、レーザ光を出射する。
光導波路6は、多モードのレーザ光を伝播できるマルチモード導波路であり、分岐路(Y分岐路)6aを備える。また、光導波路6の途中にビームスプリッタ7が設けられている。分岐路6aは、光導波路6に入射したレーザ光のうち外側の部分のみを光検出素子3へ導く。光検出素子3へ受光される光を参照光RL3とする。光導波路6は、伝播距離が長くなるにつれて伝播する光のモードを保持できなくなる。従って、光導波路6の信号入射端の近傍に分岐路6aを設けることが好ましい。
ビームスプリッタ7は、光導波路6を導波するレーザ光の一部を光検出素子2に向けて反射させる。光検出素子2に向けて反射された光を参照光RL2とする。ビームスプリッタ7を通過した光は、信号に用いられる出射光Lとなる。
光検出素子2は、参照光RL2の光量を検出して、この検出信号を駆動装置4へ出力する。光検出素子2は、例えばフォトダイオードからなる。光検出素子2からの検出信号S2は、APC制御に用いられる。
光検出素子3は、参照光RL3の光量を検出して、この検出信号を駆動装置4へ出力する。光検出素子3からの検出信号S3は、温度補償制御に用いられる。
駆動装置4は、光検出素子2からの検出信号S2に基づいてバイアス電流I-biasを調整し、光検出素子3からの検出信号S3に基づいてモデュレーション電流I-modを調整する。例えば、光検出素子2により検出される光量が一定となるように、バイアス電流I-biasを調整する。また、光検出素子3により検出される光量に応じてモデュレーション電流I-modを調整する。例えば、光検出素子3により検出される光量が増加した場合には、温度が上昇しているため(図1参照)、モデュレーション電流I-modを増加させる。このため、駆動装置4内のメモリには、光検出素子3により検出される光量と、設定すべきモデュレーション電流I-modとの関係を示すデータを予め格納しておくことが好ましい。
上記の実施例2のレーザ駆動方法について説明する。
まず、駆動装置4によりバイアス電流I-biasとモデュレーション電流I-modとを重畳させた駆動電流Iがレーザ素子1に供給される。レーザ素子1から、駆動電流Iに基づいた出力のレーザが出射される。
レーザ素子1から出射されたレーザ光は光導波路6内を伝播する。ここで、光導波路6内を伝播するレーザ光のうちの外側の部分は、分岐路6aを通って光検出素子3に受光される。また、光導波路6を伝播するレーザ光の一部は、ビームスプリッタ7により反射されて、光検出素子2に受光される。
光検出素子2により検出される光量が一定となるように、駆動装置4によりバイアス電流I-biasが調整される(APC制御)。このAPC制御により、出射光Lの平均光出力は一定に保たれる。
光検出素子3により検出される光量に応じて、駆動装置4によりモデュレーション電流I-modが調整される(温度補償制御)。この温度補償制御により、出射光Lの消光比は一定に保たれる。
上記の実施例2では、分岐路6aを備えた光導波路6により、レーザ素子1からのレーザ光の外側部分(参照光RL3)を光検出素子3により検出している。このため、光検出素子3により、レーザ素子1の遠視野像の外側の部分がモニタされる。遠視野像の外側部分の強度は、高次モードの強度変化に起因して変化する。光検出素子3により、遠視野像の外側の強度をモニタして、この遠視野像の外側の部分の強度に応じてモデュレーション電流I-modを調整することにより、温度変化に基づく消光比の劣化を抑制することができる。
この結果、実施例2のレーザ発光装置およびレーザ駆動方法によれば、幅広い温度範囲において高品質な伝送特性を維持することができる。
図5は、実施例3に係るレーザ発光装置の断面図である。
本実施例のレーザ発光装置は、レーザ素子1と、光検出素子(第2検出素子)2と、光検出素子(第1検出素子)3と、駆動装置4と、ビームスプリッタ8と、プリズム9とを有する。ビームスプリッタ8およびプリズム9は、本発明の光学部材の一例である。
レーザ素子1は、発振モードが多モードのレーザ素子であり、例えば面発光半導体レーザである。なお、本発明は多モードのレーザ素子であればいかなるレーザ素子にも適用可能である。面発光半導体レーザからの出射光の波長は、例えば850nmである。レーザ素子1は、バイアス電流I-biasとモデュレーション電流I-modとが重畳された駆動電流Iに基づいて、レーザ光を出射する。
ビームスプリッタ8は、レーザ素子1からのレーザ光の一部を光検出素子2に向けて反射させる。ビームスプリッタ8により反射された光を参照光RL2とする。ビームスプリッタ8を透過した光は、信号に用いられる出射光Lとなる。
プリズム9は、出射光Lの外側の部分のみを光検出素子3へ導く。プリズム9により取り出された光を参照光RL3とする。
光検出素子2は、参照光RL2の光量を検出して、この検出信号を駆動装置4へ出力する。光検出素子2は、例えばフォトダイオードからなる。光検出素子2からの検出信号S2は、APC制御に用いられる。
光検出素子3は、参照光RL3の光量を検出して、この検出信号を駆動装置4へ出力する。光検出素子3からの検出信号S3は、温度補償制御に用いられる。
駆動装置4は、光検出素子2からの検出信号S2に基づいてバイアス電流I-biasを調整し、光検出素子3からの検出信号S3に基づいてモデュレーション電流I-modを調整する。例えば、光検出素子2により検出される光量が一定となるように、バイアス電流I-biasを調整する。また、光検出素子3により検出される光量に応じてモデュレーション電流I-modを調整する。例えば、光検出素子3により検出される光量が増加した場合には、温度が上昇しているため(図1参照)、モデュレーション電流I-modを増加させる。このため、駆動装置4内のメモリには、光検出素子3により検出される光量と、設定すべきモデュレーション電流I-modとの関係を示すデータを予め格納しておくことが好ましい。
上記の実施例3のレーザ駆動方法について説明する。
まず、駆動装置4によりバイアス電流I-biasとモデュレーション電流I-modとを重畳させた駆動電流Iがレーザ素子1に供給される。レーザ素子1から、駆動電流Iに基づいた出力のレーザが出射される。
レーザ素子1から出射されたレーザ光の一部(RL2)は、ビームスプリッタ8により反射されて、光検出素子2に受光される。ビームスプリッタ8を透過した出射光Lの外側の部分(RL3)は、プリズム9により取り出されて光検出素子3に受光される。
光検出素子2により検出される光量が一定となるように、駆動装置4によりバイアス電流I-biasが調整される(APC制御)。このAPC制御により、出射光Lの平均光出力は一定に保たれる。
光検出素子3により検出される光量に応じて、駆動装置4によりモデュレーション電流I-modが調整される(温度補償制御)。この温度補償制御により、出射光Lの消光比は一定に保たれる。
上記の実施例3では、プリズム9により、レーザ素子1からの出射光Lの外側部分(参照光RL3)を取り出して、光検出素子3により検出している。このため、光検出素子3により、レーザ素子1の遠視野像の外側の部分がモニタされる。遠視野像の外側部分の強度は、高次モードの強度変化に起因して変化する。光検出素子3により、遠視野像の外側の強度をモニタして、この遠視野像の外側の部分の強度に応じてモデュレーション電流I-modを調整することにより、温度変化に基づく消光比の劣化を抑制することができる。
この結果、実施例3のレーザ発光装置およびレーザ駆動方法によれば、幅広い温度範囲において高品質な伝送特性を維持することができる。
本発明は、上記の実施形態の説明に限定されない。
レーザ素子1の例として、面発光半導体レーザ素子を挙げたが、発振モードが多モードのレーザ素子1であればよい。また、レーザ素子1の発振波長に限定はない。
その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。
本発明は、例えば光通信やレーザ加工に適用できる。
ファーフィールドパターンの温度依存性を説明するための図である。 多モード発振を説明するための図である。 実施例1に係るレーザ発光装置の構成を示す図である。 実施例2に係るレーザ発光装置の構成を示す図である。 実施例3に係るレーザ発光装置の構成を示す図である。 (a)は関連する先行技術におけるレーザ発光装置の構成を示す図であり、(b)は駆動電流を示す図である。 高温時の信号品質の劣化を説明するための図である。 (a)は関連する先行技術におけるレーザ発光装置の構成を示す図であり、(b)は光出力を示す図である。
符号の説明
1…レーザ素子、2…光検出素子、3…光検出素子、4…駆動装置、5…ビームスプリッタ、6…光導波路、7…ビームスプリッタ、8…ビームスプリッタ、9…プリズム、101…レーザ素子、102…駆動装置、103…ビームスプリッタ、104…フォトダイオード、105…温度センサ、I-mod…モデュレーション電流、I-bias…バイアス電流

Claims (6)

  1. 複数のモードのレーザ光を出射するレーザ素子と、
    前記レーザ素子へバイアス電流と変調電流とを重畳させた駆動電流を供給する駆動手段と、
    前記レーザ素子から出射された前記レーザ光の外側の部分を検出する第1光検出素子と
    を有し、
    前記駆動手段は、前記第1光検出素子により検出された光量に基づいて前記変調電流を制御する
    レーザ発光装置。
  2. 前記レーザ素子から出射された前記レーザ光のうち、外側の部分の光を前記第1光検出素子へ導く光学部材をさらに有する
    請求項1記載のレーザ発光装置。
  3. 前記光学部材は、前記レーザ素子から出射された前記レーザ光の一部を前記第1光検出素子へ導くビームスプリッタを有し、
    前記第1光検出素子は、前記光の照射領域中の外側に配置された
    請求項2記載のレーザ発光装置。
  4. 前記光学部材は、前記レーザ光の外側の部分を前記第1光検出素子へ分岐する分岐路を備えた光導波路を有する
    請求項2記載のレーザ発光装置。
  5. 前記レーザ素子から出射された前記レーザ光の一部を検出する第2光検出素子をさらに有し、
    前記駆動手段は、前記第2光検出素子により検出された光量に基づいて前記バイアス電流を制御する
    請求項1記載のレーザ発光装置。
  6. バイアス電流と変調電流を重畳させた駆動電流を前記レーザ素子へ供給して、複数のモードのレーザ光を出射させるステップと、
    出射された前記レーザ光のうち外側の部分を検出するステップと、
    前記検出された光量に基づいて、前記レーザ素子へ供給する前記変調電流を調整するステップと
    を有するレーザ駆動方法。
JP2005352226A 2005-12-06 2005-12-06 レーザ発光装置およびレーザ駆動方法 Pending JP2007158092A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005352226A JP2007158092A (ja) 2005-12-06 2005-12-06 レーザ発光装置およびレーザ駆動方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005352226A JP2007158092A (ja) 2005-12-06 2005-12-06 レーザ発光装置およびレーザ駆動方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007158092A true JP2007158092A (ja) 2007-06-21

Family

ID=38242044

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005352226A Pending JP2007158092A (ja) 2005-12-06 2005-12-06 レーザ発光装置およびレーザ駆動方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007158092A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014075492A (ja) * 2012-10-04 2014-04-24 Sony Corp 補正回路、駆動回路、発光装置、および電流パルス波形の補正方法
JP2014134565A (ja) * 2013-01-08 2014-07-24 Ricoh Co Ltd 光デバイス、露光装置及び画像形成装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002252418A (ja) * 2001-02-26 2002-09-06 Ricoh Co Ltd 光通信システム
JP2003060299A (ja) * 2001-06-07 2003-02-28 Ricoh Opt Ind Co Ltd 光出力素子・光出力素子アレイおよびレンズ素子・レンズ素子アレイ
JP2003307710A (ja) * 2002-04-17 2003-10-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd ビーム整形装置および光量モニター装置
JP2004020978A (ja) * 2002-06-18 2004-01-22 Sumitomo Electric Ind Ltd 光通信用素子と光通信用素子の製造方法
JP2004063707A (ja) * 2002-07-29 2004-02-26 Fuji Xerox Co Ltd 表面発光型半導体レーザ
JP2004157192A (ja) * 2002-11-01 2004-06-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光モジュール
JP2004193348A (ja) * 2002-12-11 2004-07-08 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザダイオード制御装置、制御用閾値決定方法及びレーザダイオード制御方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002252418A (ja) * 2001-02-26 2002-09-06 Ricoh Co Ltd 光通信システム
JP2003060299A (ja) * 2001-06-07 2003-02-28 Ricoh Opt Ind Co Ltd 光出力素子・光出力素子アレイおよびレンズ素子・レンズ素子アレイ
JP2003307710A (ja) * 2002-04-17 2003-10-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd ビーム整形装置および光量モニター装置
JP2004020978A (ja) * 2002-06-18 2004-01-22 Sumitomo Electric Ind Ltd 光通信用素子と光通信用素子の製造方法
JP2004063707A (ja) * 2002-07-29 2004-02-26 Fuji Xerox Co Ltd 表面発光型半導体レーザ
JP2004157192A (ja) * 2002-11-01 2004-06-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光モジュール
JP2004193348A (ja) * 2002-12-11 2004-07-08 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザダイオード制御装置、制御用閾値決定方法及びレーザダイオード制御方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014075492A (ja) * 2012-10-04 2014-04-24 Sony Corp 補正回路、駆動回路、発光装置、および電流パルス波形の補正方法
JP2014134565A (ja) * 2013-01-08 2014-07-24 Ricoh Co Ltd 光デバイス、露光装置及び画像形成装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9515728B2 (en) Light source module and optical transceiver
US9711942B2 (en) Laser apparatus and optical transmitter
JP2007109765A (ja) 波長可変光送信器および光送受信器
JP3766347B2 (ja) 光送信用デバイス
WO2018179306A1 (ja) 光送信機
US8548024B2 (en) Semiconductor laser module
JP2009049083A (ja) 半導体レーザ素子及び半導体光源装置
US11705692B2 (en) Laser side mode suppression ratio control
JP2009004525A (ja) 光源モジュール
JP7016653B2 (ja) 変調光源
JP2007158092A (ja) レーザ発光装置およびレーザ駆動方法
US7684451B2 (en) Optical transmitter module for stabilizing optical output power and wavelength
US20100074282A1 (en) Wavelength-tunable external cavity laser
US6704334B2 (en) Compact semiconductor laser diode module
JP2003188468A (ja) 光モジュール、光送信器及びwdm光送信装置
JP2003060294A (ja) 光送信器、wdm光送信装置及び光モジュール
JP2009140992A (ja) チューナブルレーザ光源及びその制御方法
JP2009049064A (ja) 半導体発光素子及び半導体光源装置
JP6761390B2 (ja) 半導体光集積素子
JP2005032968A (ja) 光送信モジュール
WO2018117076A1 (ja) 半導体レーザモジュール
US11888515B1 (en) System and method for parallel real-time photonic integrated circuit (PIC) optical phased array calibration and ultraviolet laser micro-ring wavelength offset trimming
JP2004247585A (ja) 波長安定化ユニット及び波長安定化光送信モジュール
JP2019057541A (ja) 半導体光集積素子
JP5395235B2 (ja) 波長可変光送信器および光送受信器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081126

A977 Report on retrieval

Effective date: 20110222

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110301

A521 Written amendment

Effective date: 20110425

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A02 Decision of refusal

Effective date: 20110830

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02