JP2007120982A - Tftアレイ検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】TFTアレイ検査装置は、ガラス基板用ステージ2とステージ駆動機構と、メインチャンバ1の上方に設けた電子銃ユニット3を備える。ガラス基板検査用ステージ2はメインチャンバ1内に設け、ステージ駆動機構が備えるZステージ駆動機構7の少なくとも駆動モータ7aをメインチャンバ1外に設ける。Zステージ駆動機構は、メインチャンバ1の外部に設けられたZ軸駆動用モータ7aによって駆動され、メインチャンバ1内に設けられたZステージ2dをZ方向に移動する。駆動モータをメインチャンバの外部に設けることによって、大きな出力トルクを有する駆動モータの使用を可能として、Zステージの駆動速度を高め、ガラス基板の検査のスループットを高める。
【選択図】図1
Description
Claims (5)
- TFT基板のアレイ検査を行うTFTアレイ検査装置において、
ガラス基板用ステージとステージ駆動機構と、メインチャンバの上方に設けた電子銃ユニットを備え、
前記ガラス基板検査用ステージをメインチャンバ内に設け、
前記ステージ駆動機構の内、Zステージを駆動するZステージ駆動機構が備える少なくともZ軸駆動用モータをメインチャンバ外に設けることを特徴とする、TFTアレイ検査装置。 - 前記Zステージ駆動機構は、ZステージをZ方向に移動するZ軸シャフトを備え、
前記Z軸シャフトは、一端はメインチャンバ内において前記Zステージと当接可能であり、他端はメインチャンバ外において前記駆動モータにより駆動されることを特徴とする請求項1に記載のTFTアレイ検査装置。 - 前記Zステージ駆動機構は、
ZステージのZ方向の位置を定め、ガラス基板用ステージと前記電子銃ユニットとの間を所定間隔に規定するZ方向位置決め機構を備えることを特徴とする、請求項1又は2に記載のTFTアレイ検査装置。 - 前記Z方向位置決め機構が規定する所定間隔は、少なくとも
ガラス基板をガラス基板用ステージ上に載置する低位位置と、
ガラス基板を前記電子銃ユニットに近接させる高位位置の2つを備えることを特徴とする、請求項3に記載のTFTアレイ検査装置。 - 前記Z方向位置決め機構は、Zステージの下方位置において支持高さを可変とするスペーサをメインチャンバ内に備えることを特徴とする、請求項3又は4に記載のTFTアレイ検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005310169A JP4513978B2 (ja) | 2005-10-25 | 2005-10-25 | Tftアレイ検査装置 |
TW96112242A TWI322272B (en) | 2005-10-25 | 2007-04-09 | Tft array inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005310169A JP4513978B2 (ja) | 2005-10-25 | 2005-10-25 | Tftアレイ検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2007120982A true JP2007120982A (ja) | 2007-05-17 |
JP4513978B2 JP4513978B2 (ja) | 2010-07-28 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005310169A Expired - Fee Related JP4513978B2 (ja) | 2005-10-25 | 2005-10-25 | Tftアレイ検査装置 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4513978B2 (ja) |
TW (1) | TWI322272B (ja) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2005
- 2005-10-25 JP JP2005310169A patent/JP4513978B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2007
- 2007-04-09 TW TW96112242A patent/TWI322272B/zh not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4513978B2 (ja) | 2010-07-28 |
TW200841024A (en) | 2008-10-16 |
TWI322272B (en) | 2010-03-21 |
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