JP2007117736A5

JP2007117736A5 -

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Publication number: JP2007117736A5
Application number: JP2006287630A
Authority: JP
Filing date: 2006-10-23
Publication date: 2009-11-05
Anticipated expiration: 2026-10-23

Claims

移動させられる放射線源（１１）の対象（１８）を通した検出器（１３）への投影データから対象（１８）の断層撮影表示を再構成するための方法であって、再構成時に投影データのフィルタ処理および逆投影が行なわれる方法において、
１．１．放射線源（１１）と検出器（１３）と走査すべき対象（１８）の代わりの試験対象（５８）との少なくとも１つの同じ空間的配置の使用下で、試験投影および反復式の再構成技術によって、与えられた配置において断層撮影表示のための試験対象の投影データの最適なフィルタ処理および逆投影を与えるフィルタが決定され、
１．２．対象（１８）が、試験対象の代わりに、与えられた配置において走査されて、投影データが求められ、
１．３．これらの投影データと特徴１．１により求められたフィルタとにより、断層撮影表示の再構成が行なわれることを特徴とする方法。
対象（１８）の少なくとも１つの２Ｄ断層表示が再構成されることを特徴とする請求項１記載の方法。
対象（１８）の少なくとも１つの３Ｄボリューム表示が再構成されることを特徴とする請求項１記載の方法。
フィルタの決定および１Ｄ投影の再構成のために使用されることを特徴とする請求項１乃至３の１つに記載の方法。
フィルタの決定および２Ｄ投影の再構成のために使用されることを特徴とする請求項１乃至３の１つに記載の方法。
投影の撮影がコーンビームジオメトリにて行なわれることを特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の方法。
投影の撮影がファンビームジオメトリにて行なわれることを特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の方法。
投影の撮影が平行ビームジオメトリにて行なわれることを特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の方法。
測定されたデータにより組み替えが行なわれることを特徴とする請求項１乃至８の１つに記載の方法。
特徴１．１にしたがって定められたフィルタが位置依存性であることを特徴とする請求項１乃至９の１つに記載の方法。
対象（１８）の走査が、１８０°よりも小さい角度範囲において行なわれることを特徴とする請求項１乃至１０の１つに記載の方法。
対象（１８）の走査が、投影間において少なくとも２°の角度間隔において行なわれることを特徴とする請求項１乃至１１の１つに記載の方法。
走査が、個々の測定された投影間において可変のステップ幅にて行なわれることを特徴とする請求項１乃至１２の１つに記載の方法。
各投影角について、固有のフィルタが求められて、再構成において使用されることを特徴とする請求項１乃至１３の１つに記載の方法。
放射線源および／または検出器（１３）の各投影位置について、固有のフィルタが求められて、再構成において使用されることを特徴とする請求項１乃至１４の１つに記載の方法。
使用すべきフィルタの決定のために、少なくとも１つの試験対象における測定が行なわれることを特徴とする請求項１乃至１５の１つに記載の方法。
使用すべきフィルタの決定のために、シミュレーションされた試験対象からの投影が算定されることを特徴とする請求項１乃至１５の１つに記載の方法。
使用すべきフィルタの決定のために、線材（５８）が試験対象として使用されることを特徴とする請求項１乃至１７の１つに記載の方法。
使用すべきフィルタの決定のために、小さな球体の装置が試験対象として使用されることを特徴とする請求項１乃至１７の１つに記載の方法。
使用すべきフィルタの決定のために、ノイズ画像が試験対象として使用されることを特徴とする請求項１乃至１７の１つに記載の方法。
使用すべきフィルタの決定のために、ノイズが与えられた投影として使用されることを特徴とする請求項１乃至１７の１つに記載の方法。
使用すべきフィルタが、先ず決定され、次に記憶され、その後に使用されることを特徴とする請求項１乃至２１の１つに記載の方法。
反復的に決定されたフィルタから、位置および／または投影角にわたる平均化によって、より少ない個数の新たな平均化されたフィルタが算定されることを特徴とする請求項１乃至２２の１つに記載の方法。
定められた位置および／または定められた投影のためのフィルタが、他の位置および／または投影に属するフィルタ間における補間によって算定されることを特徴とする請求項１乃至２３の１つに記載の方法。
多数の検出器および／または放射線源が使用されることを特徴とする請求項１乃至２４の１つに記載の方法。
請求項１乃至２５の少なくとも１つに記載の方法ステップを実行するプログラム（Ｐｒｇ_x）が存在し動作中に実行されることを特徴とする投影がＸ線画像から得られる断層撮影装置。
請求項１乃至２５の少なくとも１つに記載の方法ステップを実行するプログラム（Ｐｒｇ_x）が存在し動作中に実行されることを特徴とする投影が磁気共鳴画像から得られる断層撮影装置。
請求項１乃至２５の少なくとも１つに記載の方法ステップを実行するプログラム（Ｐｒｇ_x）が存在し動作中に実行されることを特徴とする投影が超音波画像から得られる断層撮影装置。
請求項１乃至２５の少なくとも１つに記載の方法ステップを実行するプログラム（Ｐｒｇ_x）が存在し動作中に実行されることを特徴とする投影が光学的画像から得られる断層撮影装置。
予め定められたフィルタが長期間記憶されるデータメモリ（１７）が存在することを特徴とする請求項２６乃至２９の１つに記載の断層撮影装置。
求められた投影および付加的に記憶されたフィルタを分離された画像コンピュータに伝送するプログラム（Ｐｒｇ_x）が設けられていることを特徴とする請求項２６乃至３０の１つに記載の断層撮影装置。
多数の検出器および／または放射線源を有することを特徴とする請求項２６乃至３１の１つに記載の断層撮影装置。