JP2007114785A - プラズマディスプレイ装置の駆動方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】プラズマディスプレイパネルの駆動方法を改善してフリッカーの発生を防止し得るだけではなく、アドレッシング時間を減らして高速駆動し得るプラズマディスプレイ装置の駆動方法を提供するためのものである。
【解決手段】プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、前記サブフィールドグループ内の少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることを特徴とする。
【選択図】図3

Description

本発明は、プラズマディスプレイ装置の駆動方法に関する。
一般に、プラズマディスプレイパネル(Plasma Display Panel:以下、"PDP"と言う)は、He+XeまたはNe+Xe不活性混合ガスの放電時に発生する147nmの紫外線によって蛍光体を発光させることで、文字またはグラフィックを含んだ画像を表示する。
図1は、従来のマトリックス状に配列された放電セル構造を有する3電極交流面放電型PDPの構造を示した斜視図である。図1を参照すれば、3電極交流面放電型PDP100は、上部基板10上に形成されたスキャン電極11a及びサステイン電極12aと、下部基板20上に形成されたアドレス電極22と、を備える。前記スキャン電極11aとサステイン電極12aのそれぞれは、透明電極、例えば、インジウムスズ酸化物(Indium-Tin-Oxide:ITO)から形成される。前記スキャン電極11aとサステイン電極12aのそれぞれには、抵抗を減らすための金属バス電極11b、12bが形成される。前記スキャン電極11aとサステイン電極12aが形成された上部基板10には、上部誘電体層13aと保護膜14が積層される。前記上部誘電体層13aには、プラズマ放電時に発生した壁電荷が蓄積される。前記保護膜14は、プラズマ放電時に発生したスパッタリングによる上部誘電体層13aの損傷を防止すると共に、2次電子の放出効率を高めるようになる。前記保護膜14としては、通常、酸化マグネシウム(MgO)が利用される。
一方、アドレス電極22が形成された前記下部基板20上には、前記下部誘電体層13b、隔壁21が形成され、前記下部誘電体層13bと隔壁21の表面には、蛍光体層23が塗布される。前記アドレス電極22は、前記スキャン電極11a及びサステイン電極12aと交差する方向に形成される。前記隔壁21は、前記アドレス電極22と平行に形成されて放電によって生成された紫外線及び可視光が隣接した放電セルに漏洩されることを防止する。前記蛍光体層23は、プラズマ放電時に発生した紫外線によって励起されて赤色(R)、緑(G)または青色(B)のうち何れか一つの可視光線を発生するようになる。前記上部基板10と下部基板20の間の隔壁21によって区画された放電セルの放電空間には、放電のためのHe+XeまたはNe+Xeなどの不活性混合ガスが注入される。このような構造を有する従来PDPの駆動方法について詳しく説明すると、次の図2のようである。
図2は、従来PDPの駆動方法を説明するための駆動波形を示した図である。
図2に示したように、従来のPDPは、全画面を初期化させるためのリセット期間、セルを選択するためのアドレス期間、選択されたセルの放電を維持させるためのサステイン期間及び選択されたセル内に残留する壁電荷を除去するためのイレイズ期間に分けられて駆動される。まず、リセット期間は、正極性の高いリセットパルス(RST)がサステイン電極(Z)に供給されて全画面の各セル内にリセット放電を起こす。該リセット放電によって全画面の各セルは、均一に壁電荷が蓄積されるので放電特性が均一になる。
アドレス期間には、アドレス電極(X)にデータパルスが供給され、該データパルスに同期されるようにスキャン電極(Y)に順次的にスキャンパルス(-SCN)が供給される。これによってアドレス電極(X)及びスキャン電極(Y)は、データパルスとスキャンパルス(-SCN)による電圧差とセル内の壁電圧が加わりながらデータパルスが印加された各セルは、アドレス放電が起きるようになる。
サステイン期間には、スキャン電極(Y)とサステイン電極(Z)のそれぞれに一回ずつサステインパルスが供給される。これによってアドレス期間で選択された各セルは、サステインパルスと内部の壁電圧が加わりながら毎サステインパルスごとに放電が起きるようになる。以後、消去(ERASE)期間には、全てのスキャン電極(Y)にランプ派状のイレイズパルスが供給される。このようなイレイズパルスは、サステイン放電を消去させて全画面の各セル内に一定量の壁電荷を均一に形成させる。
一方、前述した図2のような駆動波形により駆動されるプラズマディスプレイパネルにおいては、一般に、フリッカー(Flicker)が発生するという問題点がある。
フリッカーは、一般に、映像信号の垂直周波数(Frame周波数)より蛍光体の残光時間が短い場合に発生する現象であり、例えば、NTSC(National Television System Committee)方式である垂直周波数が60Hzと仮定する時、16.67m/sec当たり一つのフレームの映像を表示するようになるが、蛍光体の反応速度は、これよりもっと速くなって画面が点滅して画質を低下させるようになる。
特に、PAL(Phase Alternating Line)方式により駆動されるプラズマディスプレイパネルは、垂直周波数が60Hzより小さい50Hzに短くなってフリッカーの発生がもっと深化されるという問題点がある。
また、PAL方式により駆動されるプラズマディスプレイパネルの場合、NTSC方式と同一に各サブフィールドのアドレス期間ごとにプラズマディスプレイパネルに形成されたスキャン電極の全てに対して順次的にスキャンパルスを供給してスキャンする。
このような駆動方法は、一つのフレームの制限された時間内でアドレス期間の間に全てのスキャン電極をスキャンしなければならないために、サステイン期間を増やして輝度を向上させるのに限界がある。特に、プラズマディスプレイパネルが高解像度及び大型化されるほど電極ラインの数が増えると、キャン時間が長くなって一つのフレームの制限された時間内では十分な輝度を有することができなくなるという問題点があった。
本発明は、プラズマディスプレイパネルの駆動方法を改善してフリッカーの発生を防止し得るだけではなく、アドレッシング時間を減らして高速駆動し得るプラズマディスプレイ装置の駆動方法を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、サブフィールドグループ内の少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることを特徴とする。
全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、全体スキャン電極グループのうち一部スキャン電極グループに対してスキャンすることを特徴とする。
全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極のみ、あるいは偶数番目のスキャン電極のみをスキャンすることを特徴とする。
この場合、スキャン電極グループの所定個数は二つ以上であることを特徴とする。
スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は全て同一であることを特徴とする。
スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は二つ、あるいは三つであることができることを特徴とする。
スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、少なくとも何れか一つが相異であることができることを特徴とする。
本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち一部サブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極に対して全てスカニングし、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち残りのサブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスカニングすることを特徴とする。
本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち奇数番目のサブフィールドのアドレス期間には、全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極あるいは偶数番目のスキャン電極をスカニングし、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には、奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンしたスキャン電極と異なるスキャン電極をスカニングすることを特徴とする。
アドレッシング時間を減らすための本発明の第1及び第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、データ駆動部を二つ備えてプラズマディスプレイパネルを二つの領域に分けてアドレッシングするデュアルスキャン方法に比べてデータ駆動部を単一個備えてアドレッシングするシングルスキャン方法において相対的に効率的である。
また、本発明の第1及び第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、サブフィールドのアドレッシング時間を減らし得るから、相対的にサステイン期間が長くなることで、輝度の特性を向上し得るという効果がある。
また、本発明の第1及び第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームを二つまたはそれ以上(図示せず)のサブフィールドグループに分けて、各サブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値配列手順をさまざまな形態に配置することで、フリッカーの発生を抑制し得るという効果がある。
以下、添付の図面を参照しつつ本発明のプラズマディスプレイ装置について詳細に説明する。
図3は、本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置を示した図である。
図3を参照すれば、本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置は、スキャン電極(Y1乃至Yn)及びサステイン電極(Z)と、前記スキャン電極及びサステイン電極(Z)と交差する複数のアドレス電極(X1乃至Xm)を含むプラズマディスプレイパネル100と、該プラズマディスプレイパネル100の下部基板(図示せず)に形成された各アドレス電極(X1乃至Xm)にデータを供給するためのデータ駆動部122と、各スキャン電極(Y1乃至Yn)を駆動するためのスキャン駆動部123と、共通電極である各サステイン電極(Z)を駆動するためのサステイン駆動部124と、プラズマディスプレイパネルの駆動時に前記データ駆動部122、スキャン駆動部123及びサステイン駆動部124を制御するためのタイミングコントロール部121と、それぞれの駆動部122、123、124に必要な駆動電圧を供給するための駆動電圧発生部125と、を含む。
このような構造を有する本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置は、リセット期間、アドレス期間及びサステイン期間にアドレス電極(X1乃至Xm)、スキャン電極(Y1乃至Yn)及びサステイン電極(Z)に駆動パルスが印加されて複数のフレームが一つの画像を表現するようになるが、この時、各フレームは、少なくとも一つ以上のサブフィールドグループに分けられ、各サブフィールドグループは、少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む。
前記プラズマディスプレイパネル100は、上部基板(図示せず)と下部基板(図示せず)とが一定間隔を置いて合着され、上部基板には、多数の電極、例えば、スキャン電極(Y1乃至Yn)及びサステイン電極(Z)が対を成して形成され、下部基板には、スキャン電極(Y1乃至Yn)及びサステイン電極(Z)と交差するようにアドレス電極(X1乃至Xm)が形成される。
前記データ駆動部122には、図示しなかった逆ガンマ補正回路、誤差拡散回路などによって逆ガンマ補正及び誤差拡散された後、サブフィールドマッピング回路によって各サブフィールドにマッピングされたデータが供給される。このようなデータ駆動部122は、前記タイミングコントロール部121からのタイミング制御信号(CTRX)に応答してデータをサンプリングしてラッチした後、そのデータを各アドレス電極(X1乃至Xm)に供給するようになる。
前記スキャン駆動部123は、タイミングコントロール部121の制御下にアドレス期間の間スキャン電圧(-Vy)のスキャンパルス(SP)を各スキャン電極に供給する。この時、前記スキャン駆動部123は、フレームを構成する各サブフィールドのうち少なくとも何れか一つのサブフィールドでは前記タイミングコントロール部121の制御下にプラズマディスプレイパネル100に形成された全てのスキャン電極ライン(Y1乃至Yn)に順次的にスキャンパルスを供給することなく、部分的にスキャン電極ラインにスキャンパルスを供給する。また、サステイン期間の間には、前記サステイン駆動部124と交番に動作してサステインパルス(SUSp)を各スキャン電極(Y1乃至Yn)に供給する。
前記サステイン駆動部124は、前記タイミングコントロール部121の制御下にリセット期間に正極性の高いリセットパルスをサステイン電極(Z)に供給し、サステイン期間の間は前記スキャン駆動部123と交番に動作してサステインパルス(SUSp)が各サステイン電極(Z)に供給される。
前記タイミングコントロール部121には、垂直/水平同期信号とクロック信号が入力されてリセット期間、アドレス期間、サステイン期間で各駆動部122、123、124の動作タイミングと同期化を制御するための各タイミング制御信号(CTRX、CTRY、CTRZ)を発生してこれらタイミング制御信号(CTRX、CTRY、CTRZ)を該当する各駆動部122、123、124に供給することで、各駆動部を制御する。
一方、データ制御信号(CTRX)には、データをサンプリングするためのサンプリングクロック、ラッチ制御信号、エネルギー回収回路と駆動スィッチ素子のオン/オフタイムを制御するためのスィッチ制御信号が含まれる。スキャン制御信号(CTRY)には、前記スキャン駆動部123内のエネルギー回収回路と駆動スィッチ素子のオン/オフタイムを制御するためのスィッチ制御信号が含まれ、サステイン制御信号(CTRZ)には、前記サステイン駆動部124内のエネルギー回収回路と駆動スィッチ素子のオン/オフタイムを制御するためのスィッチ制御信号が含まれる。
前記駆動電圧発生部125は、セットアップ電圧(Vsetup)、スキャン共通電圧(Vscan-com)、スキャン電圧(-Vy)、サステイン電圧(Vs)、データ電圧(Vd)などを発生する。このような各駆動電圧は、放電ガスの造成や放電セルの構造によって変わることができる。
図4は、本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法を説明するための図である。図4を参照すれば、本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、一つのフレームを一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、各サブフィールドグループの間には、所定の長さを有する休止期間を含むようにする。また、サブフィールドグループは、リセット期間、アドレス期間、サステイン期間をそれぞれ含む複数のサブフィールド(SF1、SF2、SF3、SF4、...)に時分割する。このように時分割された各サブフィールドは、それぞれ所定の階調加重値を有するように設定される。
また、複数のサブフィールドのうち何れか一つのサブフィールドのアドレス期間には、スキャン電極ラインを全てスキャンし、また他のサブフィールドのアドレス期間には、スキャン電極ラインを部分的にスキャンする。詳しくは、各サブフィールドグループで階調加重値の低いサブフィールド(SF1、SF2、SF3、SF4、SF8、SF9、SF10、SF11)では全てのスキャン電極ラインに対して部分的にスキャンし、階調加重値の高いサブフィールド(SF5、SF6、SF7、SF12、SF13、SF14)では全てのスキャン電極ラインに対して全てスキャンする。この時、階調加重値が高いか、または低いサブフィールドの数は調節可能である。
また、複数のサブフィールドのうち何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に部分的にスキャン電極ラインをスキャンすることができて、全てのサブフィールドでアドレス期間に部分的にスキャン電極ラインをスキャンする。すなわち、複数のサブフィールドのうち少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極ラインのうち部分的にスキャン電極ラインをスキャンする。例えば、プラズマディスプレイパネルに形成された全体スキャン電極ラインに対して奇数番目ラインのスキャン電極(Y1、Y3、Y5、...)にのみあるいは偶数番目ラインのスキャン電極(Y2、Y4、Y6、...)にのみスキャンパルスを供給する方式によりスキャンする。このような駆動方式を部分ラインアドレッシング(Partial Line Addressing;以下、PLAと言う)方式と言う。
一方、本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、同一フレームのサブフィールドグループの間に含まれた休止期間には何れかの光も放出されることなく、ビデオレコーダーまたはビデオゲームによって生成された信号のような水平ライン同期信号における偏差を使って非標準ビデオ信号を処理するようになる。この時、休止期間が含まれた同一フレーム内の各サブフィールドグループは、休止期間なしに連続的に動作する。
このような休止期間は前述したように、各フレーム内のサブフィールドグループの間に存在することができるが、同時に各フレームの間に存在することができる。すなわち、一つのフレームが第1サブフィールドグループと第2サブフィールドグループを含んでいる時、第1サブフィールドグループが動作する前と第2サブフィールドグループが動作した後のそれぞれに第1休止期間が含まれ、第1サブフィールドグループと第2サブフィールドグループの間には第2休止期間が含まれる。この時、第1休止期間と第2休止期間の長さは、非標準ビデオ信号の処理期間によって相異に設定されることができるが、信号処理効率のために同一長さに設定されることが好ましい。
また、本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、フレーム内に含まれたサブフィールドの加重値は、図5のようにさまざまな形態に配列される。
図5は、本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。
図5(a)のように、一つのフレームは、二つまたはその以上(図示せず)のサブフィールドグループを含み、各サブフィールドグループは、同一グループ内で各サブフィールドの加重値の大きさが増加する手順に配列される。すなわち、各グループ内に配列された各サブフィールドは、階調値が増加する手順に配列される。または 図5(b)のように、一つのフレームは、二つまたはその以上(図示せず)のサブフィールドグループを含み、各サブフィールドグループは、同一グループ内で各サブフィールドの加重値の大きさが減少する手順に配列される。すなわち、各グループ内に配列された各サブフィールドは、階調値が減少する手順に配列される。
または図5(c)のように、一つのフレームは、二つまたはその以上(図示せず)のサブフィールドグループを含み、各サブフィールドグループは、同一グループ内で各サブフィールドの加重値が互いに異なる手順に配列される。すなわち、各サブフィールドグループのうち何れか一つのグループ内のサブフィールドは、階調値に表現される加重値の大きさが増加する手順に配列されるか、又は階調値に表現される加重値の大きさが減少する手順に配列される。
一方、図5(c)においては、各サブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値が異なるサブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値と一定な規則に従って異なる手順に配列されているが、各サブフィールドグループ内のサブフィールド加重値が一定な規則なくランダムに形成されることができる。
このように各サブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値の配列手順をさまざまな形態に配列するようになれば、フリッカーだけでなく停止映像、特に、動画から発生する輪郭ノイズ(Contour Noise)という現象を防止することができて画質を向上し得るようになる。
図6は、本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。すなわち、図6(a)は、一つのフレームのうち第1サブフィールドのグループ内の各サブフィールドで印加される駆動波形を示した図で、図6(b)は、一つのフレームのうち第2サブフィールドグループ内の各サブフィールドで印加される駆動波形を示した図である。
*****第1サブフィールドグループ*****
(第1サブフィールド)
まず、第1サブフィールド(SF1)のリセット期間は、正極性の高いリセットパルスまたは所定の傾斜度を有するランプ信号状のセットアップ/セットダウンパルス(図示せず)がサステイン電極(Z)に供給されて全画面の各セル内にリセット放電を起こす。リセット放電によって全画面の各セルは均一に壁電荷が蓄積されるので、放電特性が均一になる。
アドレス期間には、スキャンパルス(SP)が全てのスキャン電極ラインに印加されることなく、部分的に印加される。すなわち、プラズマディスプレイパネルに配列された全体スキャン電極ラインのうち奇数番目のスキャン電極ライン(Y1、Y3、Y5、...)にのみスキャンパルス(SP)が印加される。この時、アドレス電極(X)には、スキャンパルス(SP)と同期されるようにデータパルスが印加され、このようなスキャンパルスとデータパルスとの電圧差とリセット期間に生成された壁電荷の壁電圧が加わりながら放電セル内にはアドレス放電が発生する。
図6においては、プラズマディスプレイパネルに配列された全体スキャン電極ラインのうち奇数番目のスキャン電極ライン(Y1、Y3、Y5、...)にのみスキャンパルス(SP)が印加されているが、偶数番目のスキャン電極ライン(Y2、Y4、Y6、...)にのみスキャンパルス(SP)が印加されてアドレス電極に印加されるデータパルスと共にアドレス放電を起こすことができる。このようにアドレス放電によって選択された各セル内には、サステイン電圧(Vs)が印加される時に放電が起き得るようにする位の壁電荷が形成される。
サステイン期間には、各スキャン電極とサステイン電極に交番的にサステインパルス(SUS)が印加される。このようなサステインパルス(SUS)は、アドレス放電によって選択されたセル内の壁電圧と加わりながら毎サステインパルスが印加される度にスキャン電極とサステイン電極の間にサステイン放電、すなわち、表示放電が起きる。
サステイン放電が完了した後には、プラズマディスプレイパネルの放電特性によって消去期間を置いてパルス幅と電圧レベルの小さい消去ランプ波形(Ramp-ers)をサステイン電極やスキャン電極に供給することができる。これによってサステイン放電の以後、プラズマディスプレイパネルの各セル内に残留する壁電荷を消去することができる。
(第2、3、4、...サブフィールド)
第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)のリセット期間及びサステイン期間の駆動方法は、第1サブフィールドのリセット期間及びサステイン期間の駆動方法と同一であるため、これに対する説明は省略する。
第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)のアドレス期間には、第1サブフィールドと同一にスキャンパルス(SP)が全てのスキャン電極ライン(Y1、Y2、Y3、...)に印加されることなく、部分的に印加されることができる。この場合にもやはり第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)のそれぞれは、プラズマディスプレイパネルに配列された全体スキャン電極ラインのうち奇数番目のスキャン電極ライン(Y1、Y3、Y5、...)にのみあるいは偶数番目のスキャン電極ライン(Y2、Y4、Y6、...)にのみスキャンパルス(SP)が印加される。
好ましくは、全てのサブフィールドでプラズマディスプレイパネルに配列された全てのスキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加される時、奇数番目サブフィールドのアドレス期間に奇数番目のスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されるか、又は偶数番目のスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されれば偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には、前記奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンパルスが印加されなかったスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されるようにする。
一方、図面には図示されていないが、第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)の全てのアドレス期間には、スキャンパルス(SP)が全てのスキャン電極ラインに印加されることもできる。これは、部分的なスキャン方法によって発生し得る画質の低下を防止するためである。ここで、第1サブフィールドでのみスキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加され、残りのサブフィールドは、アドレス期間の間に全てのスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されたが、全体サブフィールドのうち任意のサブフィールドを選択してスキャン電極ラインを部分的にスキャンすることができる。この時、スキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加される任意のサブフィールド数も所定の数に決定することができる。
また、部分的にスキャンするアドレス期間を含むサブフィールドは、階調加重値によって決定することができる。例えば、階調加重値の低いサブフィールドにおいては、スキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加されるが、階調加重値の高いサブフィールドにおいては、全てのスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されることができる。
階調加重値の低いサブフィールドの数は、階調加重値の臨界値によって異なることができるが、好ましくは、一つのサブフィールドグループ内に含まれた各サブフィールドの半分になるようにする。
*****第2サブフィールドグループ*****
第2サブフィールドグループに属した複数のサブフィールド(SF8、SF9、SF10、...)は、第1サブフィールドグループに属した複数のサブフィールド(SF1、SF2、SF3、...)と同一に駆動されることで、これに対する説明は省略する。
<第2実施形態>
本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の構造は、本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の構造と同一であるため、これに対する説明は省略する。ただ、前記スキャン駆動部123は、アドレス期間の間スキャンパルス(SP)を全体スキャン電極(Y1乃至Yn)に対して部分的に供給する時、スキャン電極ラインに従って部分的に供給することなく、図7のように、全体スキャン電極ラインを所定個数で縛って分けられた各スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスを供給する。
図7は、本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。
図7を参照する前に本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、本発明の第1実施形態と同一に一つのフレームを一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、各サブフィールドグループの間には、所定の長さを有する休止期間を含むようにする。また、サブフィールドグループは、リセット期間、アドレス期間、サステイン期間をそれぞれ含む複数のサブフィールド(SF1、SF2、SF3、SF4、...)に時分割され、このように時分割された各サブフィールドは、それぞれ所定の階調加重値を有するように設定される。これに対して各サブフィールドにおける駆動方法についてもっと詳細に説明する。
*****第1サブフィールドグループ*****
(第1サブフィールド)
本発明の第2実施形態による第1サブフィールド(SF1)のリセット期間及びサステイン期間の駆動方法は、本発明の第1実施形態による第1サブフィールドのリセット期間及びサステイン期間の駆動方法と同一であるため、これに対する説明は省略する。
ただ、アドレス期間には、プラズマディスプレイパネルに配列された全てのスキャン電極ラインを所定個数のグループに分けて、分けられたスキャン電極グループに対しては部分的にスキャンパルスを印加してスキャンする。詳しくは、プラズマディスプレイパネルに配列されたスキャン電極グループのうち奇数番目のスキャン電極グループ(Ya、Yc、Ye、...)にのみスキャンパルス(SP)を印加するか、又は偶数番目のスキャン電極グループ(Yb、Yd、Yf、...)にのみスキャンパルスを印加する。この時、アドレス電極(X)には、スキャンパルスと同期されるようにデータパルスを印加すれば、スキャンパルスとデータパルスとの電圧差とリセット期間に生成された壁電荷の壁電圧が加わりながら放電セル内にはアドレス放電が発生する。
(第2、3、4、...サブフィールド)
本発明の第2実施形態による第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)のリセット期間及びサステイン期間の駆動方法は、第1サブフィールドのリセット期間及びサステイン期間の駆動方法と同一であるため、これに対する説明は省略する。
第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)のアドレス期間には、第1サブフィールドと同一にスキャンパルス(SP)がスキャン電極グループの全てに印加されることなく、部分的に印加されることができる。この場合にもやはり第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)のそれぞれは、プラズマディスプレイパネルに配列されたスキャン電極グループのうち奇数番目のスキャン電極グループ(Y1、Y3、Y5、...)にのみあるいは偶数番目のスキャン電極グループ(Y2、Y4、Y6、...)にのみスキャンパルスが供給される。
好ましくは、全てのサブフィールドでプラズマディスプレイパネルに配列されたスキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加される時、奇数番目のサブフィールドのアドレス期間に奇数番目のスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されるか、又は偶数番目のスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されれば、偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には前記奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンパルスが印加されなかったスキャン電極グループにスキャンパルスが印加される。
一方、第1実施形態と同一に、第2、3、4、...サブフィールド(SF2、SF3、SF4、...)の全てのアドレス期間には、スキャンパルス(SP)が全てのスキャン電極グループに印加されることができる。これは、部分的なスキャン方法によって発生し得る画質の低下を防止するためである。ここで、第1サブフィールドでのみスキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加され、残りのサブフィールドは、アドレス期間の間に全てのスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されたが、全体サブフィールドのうち任意のサブフィールドを選択してスキャン電極グループを部分的にスキャンすることができる。この時、スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加される任意のサブフィールド数も所定の数に決定することができる。
また、スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加されるサブフィールドは、階調加重値によって決定することができる。例えば、階調加重値の低いサブフィールドにおいては、スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加されるが、階調加重値の高いサブフィールドにおいては、全てのスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されることができる。また、その反対にもスキャンパルスを印加することができる。
図8(a)乃至図8(c)は、本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第1サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である。
図8(a)乃至図8(c)に示したように、全体スキャン電極ラインを所定個数で縛って分けられたスキャン電極グループの数は、最小二つ以上から成ることができるが、好ましくは、全体スキャン電極ライン数の1/2や1/3になるようにする。スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、図8(a)のように全て同一であることができて、図8(b)のように全て異なることもできる。また、図8(c)のように、任意の各スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、全て同一で任意の各スキャン電極グループではない残りの各スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は異なることができる。すなわち、各スキャン電極グループに属したそれぞれのスキャン電極の数は、少なくとも何れか一つのスキャン電極グループでは相異である。
以上、説明した内容を通じて当業者であれば本発明の技術事象を外れない範囲で変更が可能であり、本発明の技術的範囲は、明細書の詳細な説明に記載された内容に限るのではなく、特許請求範囲により定めるはずである。
従来のマトリックス状に配列された放電セル構造を有する3電極交流面放電型PDPの構造を示した斜視図である。 従来PDPの駆動方法を説明するための駆動波形を示した図である。 本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置を示した図である。 本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法を説明するための図である。 本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。 本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。 本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。 本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。 本発明の第1実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。 本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。 本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。 本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第1サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である。 本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第1サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である 本発明の第2実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第1サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である。
符号の説明
100 プラズマディスプレイパネル
121 タイミングコントロール部
122 データ駆動部
123 スキャン駆動部
124 サステイン駆動部
125 駆動電圧発生部

Claims (20)

  1. プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
    一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、
    前記サブフィールドグループ内の少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  2. 前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、
    前記全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、前記全体スキャン電極グループのうち一部スキャン電極グループに対してスキャンすることを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  3. 前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、
    前記全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極のみあるいは偶数番目のスキャン電極のみをスキャンすることを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  4. 前記スキャン電極グループの所定個数は、二つ以上であることを特徴とする請求項2に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  5. 前記スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は全て同一であることを特徴とする請求項2に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  6. 前記スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は二つあるいは三つであることを特徴とする請求項5に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  7. 前記スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、少なくとも何れか一つが相異であることを特徴とする請求項2に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  8. 前記各フレームの間には、所定の長さを有する休止期間がさらに含まれ、前記フレームの各サブフィールドグループは同一フレーム内で連続することを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  9. 前記各フレームの間には、所定の長さを有する第1休止期間が含まれ、同一フレーム内で前記各サブフィールドグループの間には、所定の長さを有する第2休止期間が含まれることを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  10. 前記第1休止期間と前記第2休止期間の長さは、互いに同一であることを特徴とする請求項9に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  11. 前記複数のサブフィールドグループは、それぞれ複数のサブフィールドを含み、前記複数のサブフィールドグループは、各グループ内で各サブフィールドが階調値の大きさが増加するか、または減少する手順に配列されたことを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  12. 前記一つのフレームは、二つのサブフィールドグループに分けられ、
    前記二つのサブフィールドグループは、それぞれ複数のサブフィールドを含み、前記二つのサブフィールドグループのうち少なくとも何れか一つのサブフィールドグループ内で各サブフィールドが階調値の大きさが増加するか、または減少する手順に配列されることを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  13. 前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることは、階調加重値が低いサブフィールドで行われることを特徴とする請求項1に記載のプラズマディスプレイ装置。
  14. プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
    一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、
    前記複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち一部サブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極に対して全てスカニングし、
    前記複数のサブフィールドグループに含まれたサブフィールドのうち残りのサブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスカニングすることを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  15. 前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、
    前記全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、前記全体スキャン電極グループのうち一部スキャン電極グループに対してスキャンすることを特徴とする請求項14に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  16. 前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることは、
    前記全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極のみあるいは偶数番目のスキャン電極のみをスキャンすることを特徴とする請求項14に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  17. 前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることは、
    前記全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、前記全体スキャン電極グループのうち奇数番目のスキャン電極グループのみあるいは偶数番目のスキャン電極グループのみをスキャンすることを特徴とする請求項14に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  18. 前記一部サブフィールドは階調加重値の高いサブフィールドで、残りのサブフィールドは階調加重値の低いサブフィールドであることを特徴とする請求項14に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  19. 前記階調加重値が低いサブフィールドの数は、一つのサブフィールドグループ内に含まれた各サブフィールドの1/2個であることを特徴とする請求項18に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
  20. プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
    一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、
    前記複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち奇数番目のサブフィールドのアドレス期間には、全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極あるいは偶数番目のスキャン電極をスカニングし、
    前記複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には、前記奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンしたスキャン電極と異なるスキャン電極をスカニングすることを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
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