KR20070042426A - 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법에 관한 것이다.
이와 같은 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널, 상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부, 및 상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부를 포함한다.
또한, 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 한다.

Description

플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법{Plasma Display Apparatus AND Driving method thereof}
도 1은 종래 매트릭스 형태로 배열된 방전셀 구조를 갖는 3전극 교류 면방전형 PDP의 구조를 나타낸 사시도.
도 2는 종래 PDP의 구동방법을 설명하기 위한 구동파형을 나타낸 도.
도 3은 본 발명의 제 1실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 장치를 나타낸 도.
도 4는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법을 설명하기 위한 도.
도 5는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 프레임내에 포함된 서브필드의 가중치 배열을 나타낸 도.
도 6은 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 서브필드의 소정기간에 인가되는 구동파형을 나타낸 도.
도 7은 본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 서브필드의 소정기간에 인가되는 구동파형을 나타낸 도.
도 8a 내지 도 8c는 본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 제 1서브필드 그룹내에서 스캔 방법을 설명하기 위한 도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 플라즈마 디스플레이 패널 121 : 타이밍 콘트롤부
122 : 데이터 구동부 123 : 스캔 구동부
124 : 서스테인 구동부 125 : 구동 전압 발생부
126 : 서스테인 펄스 제어부
본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법에 관한 것이다.
일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : 이하 "PDP"라 함)은 He+Xe 또는 Ne+Xe 불활성 혼합가스의 방전시 발생하는 147nm의 자외선에 의해 형광체를 발광시킴으로써 문자 또는 그래픽을 포함한 화상을 표시하게 된다.
도 1은 종래 매트릭스 형태로 배열된 방전셀 구조를 갖는 3전극 교류 면방전형 PDP의 구조를 나타낸 사시도이다. 도 1을 참조하면, 3전극 교류 면방전형 PDP(100)는 상부기판(10) 상에 형성되어진 스캔전극(11a) 및 서스테인전극(12a)과, 하부기판(20) 상에 형성되어진 어드레스전극(22)을 구비한다. 스캔전극(11a)과 서스테인전극(12a) 각각은 투명전극 예를 들면, 인듐틴옥사이드(Indium-Tin-Oxide : ITO)로 형성된다. 스캔전극(11a)과 서스테인전극(12a) 각각에는 저항을 줄이기 위한 금속버스전극(11b,12b)이 형성된다. 스캔전극(11a)과 서스테인전극(12a)이 형성 된 상부기판(10)에는 상부 유전체 층(13a)과 보호막(14)이 적층된다. 상부 유전체 층(13a)에는 플라즈마 방전시 발생된 벽전하가 축적된다. 보호막(14)은 플라즈마 방전시 발생된 스퍼터링에 의한 상부 유전체 층(13a)의 손상을 방지함과 아울러 2차 전자의 방출 효율을 높이게 된다. 보호막(14)으로는 통상 산화마그네슘(MgO)이 이용된다.
한편, 어드레스전극(22)이 형성된 하부기판(20) 상에는 하부 유전체 층(13b), 격벽(21)이 형성되며, 하부 유전체 층(13b)과 격벽(21)의 표면에는 형광체 층(23)이 도포된다. 어드레스전극(22)은 스캔전극(11a) 및 서스테인전극(12a)과 교차되는 방향으로 형성된다. 격벽(21)은 어드레스전극(22)과 나란하게 형성되어 방전에 의해 생성된 자외선 및 가시광이 인접한 방전셀에 누설되는 것을 방지한다. 형광체층(23)은 플라즈마 방전시 발생된 자외선에 의해 여기되어 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B) 중 어느 하나의 가시광선을 발생하게 된다. 상부기판(10)과 하부기판(20)사이 격벽(21)에 의해 구획된 방전셀의 방전공간에는 방전을 위한 He+Xe 또는 Ne+Xe 등의 불활성 혼합가스가 주입된다. 이와 같은 구조를 갖는 종래 PDP의 구동방법을 살펴보면 다음 도 2와 같다.
도 2는 종래 PDP의 구동방법을 설명하기 위한 구동파형을 나타낸 도이다.
도 2를 살펴보면,종래 PDP는 전 화면을 초기화시키기 위한 리셋(RESET) 기간, 셀을 선택하기 위한 어드레스(ADDRESS) 기간, 선택된 셀의 방전을 유지시키기 위한 서스테인(SUSTAIN) 기간 및 선택된 셀 내에 잔류하는 벽전하를 제거 하기 위한 이레이즈(ERASE) 기간으로 나뉘어 구동된다. 먼저, 리셋(RESET) 기간은 정극성 의 높은 리셋펄스(RST)가 서스테인전극(Z)에 공급되어 전화면의 셀들 내에 리셋방전을 일으킨다. 이 리셋방전에 의해 전 화면의 셀들은 균일하게 벽전하가 축적되므로 방전특성이 균일하게 된다.
어드레스(ADDRESS)기간에는 어드레스전극(X)에 데이터펄스(DATA)가 공급되며, 그 데이터펄스(DATA)에 동기되도록 스캔전극들(Y)에 순차적으로 스캔펄스(-SCN)가 공급된다. 이에 따라 어드레스 전극(X) 및 스캔전극(Y)은 데이터 펄스(DATA)와 스캔펄스(-SCN)로 인한 전압차와 셀 내의 벽전압이 더해지면서 데이터펄스(DATA)가 인가된 셀들은 어드레스방전이 일어나게 된다.
서스테인(SUSTAIN) 기간에는 스캔전극(Y)과 서스테인전극(Z) 각각에 한 차례씩 서스테인펄스가 공급된다. 이에 따라 어드레스기간에서 선택된 셀들은 서스테인펄스와 내부 벽전압이 더해지면서 매 서스테인펄스마다 방전이 일어나게 된다. 이후, 소거(ERASE) 기간에는 모든 스캔전극(Y)에 램프파 형태의 이레이즈 펄스(erase)가 공급된다. 이러한 이레이즈 펄스는 서스테인방전을 소거시키고 전 화면의 셀들 내에 일정한 양의 벽전하를 균일하게 형성시킨다.
한편, 전술한 도 2와 같은 구동 파형으로 구동되는 플라즈마 디스플레이 패널에서는 일반적으로 깜빡거림, 즉 플리커(Flicker)가 발생하는 문제점이 있다.
플리커는 일반적으로 영상 신호의 수직 주파수(Frame 주파수)보다 형광체의 잔광시간이 짧을 경우에 발생하는 현상으로, 예를 들어, NTSC(National Television System Committee) 방식인 수직 주파수가 60Hz라고 가정할 때 16.67 m/sec 당 하나의 프레임의 영상을 표시하게 되는데 형광체의 반응속도는 이 보다 더 빠르게 되어 화면이 깜박거려 화질을 저하시키게 된다.
특히, PAL(Phase Alternating Line)방식으로 구동되는 플라즈마 디스플레이 패널은 수직 주파수가 60Hz보다 작은 50Hz로 짧아져 플리커의 발생이 더욱 심화되는 문제점이 있다.
또한, PAL방식으로 구동되는 플라즈마 디스플레이 패널의 경우 NTSC방식과 마찬가지로 각 서브필드의 어드레스 기간마다 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 스캔 전극 모두에 대하여 순차적으로 스캔 펄스를 공급하여 스캔한다.
이와 같은 구동방법은 한 프레임의 제한된 시간 내에서 어드레스 기간동안 모든 스캔 전극을 스캔 하여야 함으로 서스테인 기간을 늘려 휘도를 향상 시키는데는 한계가 있다. 특히, 플라즈마 디스플레이 패널이 고해상도 및 대형화로 갈수록 전극 라인의 수가 늘어나게 되면 스캔 시간이 길어져 한 프레임의 제한된 시간 내에서는 충분한 휘도를 갖지 못하게 된다.
이러한 문제점을 해결하기 위하여 스캔전극 라인 수를 줄이거나 플라즈마 디스플레이 패널을 두개의 영역으로 나누어 스캔하는 듀얼 스캔 방식으로 구동하여 어드레싱 시간을 줄일 수 있지만 스캔전극 라인의 수를 줄이게 되면 플라즈마 디스플레이 패널의 해상도를 떨어뜨리는 결과를 가져오고, 듀얼 스캔 방식으로 구동을 하게 되면 플라즈마 디스플레이 패널의 두 영역을 구동하기 위한 드라이버가 더 필요하기 때문에 비용이 상승하는 문제점이 있다.
이러한 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 특히, 플라즈마 디스플레이 패널 의 PAL(Phase Alternating Line) 구동 방식에서 플릭커 발생을 방지 할 수 있을 뿐만 아니라 어드레싱 시간을 줄여 고속 구동할 수 있는 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널, 상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부, 및 상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부를 포함한다.
본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널, 상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부, 및 상기 복수의 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부를 포함한다.
상기 스캔 전극 그룹의 소정 개수는 두개 이상인 것을 특징으로 한다.
상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일한 것을 특징으로 한 다.
상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 2개 혹은 3개인 것을 특징으로 한다.
상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나가 상이한 것을 특징으로 한다.
상기 각 프레임 사이에는 소정의 길이를 갖는 휴지 기간이 더 포함되고, 상기 프레임의 서브필드 그룹들은 동일 프레임 내에서 연속인 것을 특징으로 한다.
상기 각 프레임 사이에는 소정의 길이를 갖는 제 1 휴지 기간이 포함되고, 동일 프레임 내에서 상기 서브필드 그룹들의 사이에는 소정의 길이를 갖는 제 2 휴지 기간이 포함되는 것을 특징으로 한다.
상기 제 1 휴지 기간과 상기 제 2 휴지 기간의 길이는 서로 같은 것을 특징으로 한다.
상기 복수의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 복수의 서브필드 그룹은 각 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열된 것을 특징으로 한다.
상기 복수의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 복수의 서브필드 그룹은 각 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열된 것을 특징으로 한다.
상기 프레임은 두 개의 서브필드 그룹으로 나뉘고, 상기 두 개의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 두 개의 서브필드 그룹은 서브필드 그룹 내에서 서브필드들의 서로 다른 계조값의 크기 순서에 따라 배열되는 것을 특징으로 한다.
상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열된 것을 특징으로 한다.
상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열된 것을 특징으로 한다.
상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열되고, 나머지 다른 하나의 서브필드 그룹은 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열되는 것을 특징으로 한다.
상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 하는 스캔은 계조 가중치가 높은 서브필드에서 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 복수의 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 하는 스캔은 계조 가중치가 높은 서브필드에서 이루어지는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동 방법의 실시예들을 상세히 설명한다.
<제 1실시예>
도 3은 본 발명의 제 1실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 장치를 나타낸 도이다. 도 3을 참조하면, 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 스캔 전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인 전극(Z)과, 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극(Z)과 교차하는 복수의 어드레스 전극(X1 내지 Xm)을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널(100)과, 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 하부기판(미도시)에 형성된 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터 구동부(122)와, 스캔전극들(Y1 내지 Yn)을 구동하기 위한 스캔 구동부(123)와, 공통전극인 서스테인전극들(Z)을 구동하기 위한 서스테인 구동부(124)와, 플라즈마 디스플레이 패널 구동시 데이터 구동부(122), 스캔 구동부(123) 및 서스테인 구동부(124)를 제어하기 위한 타이밍 콘트롤부(121)와, 각각의 구동부(122, 123, 124)에 필요한 구동전압을 공급하기 위한 구동전압 발생부(125)를 포함한다.
이와 같은 구조를 갖는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 어드레스 전극(X1 내지 Xm), 스캔 전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인 전극(Z)에 구동 펄스가 인가되어 복수의 프레 임이 하나의 화상을 표현하게 되는데, 이 때, 각 프레임은 적어도 하나 이상의 서브필드 그룹으로 나뉘어지고, 각 서브필드 그룹은 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함한다.
플라즈마 디스플레이 패널(100)은 상부기판(미도시)과 하부기판(미도시)이 일정한 간격을 두고 합착되고, 상부기판에는 다수의 전극들 예를 들어, 스캔전극들(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)이 쌍을 이뤄 형성되고, 하부기판에는 스캔전극들(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)과 교차되게 어드레스전극들(X1 내지 Xm)이 형성된다.
데이터 구동부(122)에는 도시하지 않은 역감마보정회로, 오차확산회로 등에 의해 역감마보정 및 오차확산 된 후, 서브필드맵핑회로에 의해 각 서브필드에 맵핑된 데이터가 공급된다. 이러한 데이터 구동부(122)는 타이밍콘트롤부(121)로부터의 타이밍제어신호(CTRX)에 응답하여 데이터를 샘플링하고 래치한 다음, 그 데이터를 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 공급하게 된다.
스캔 구동부(123)는 타이밍 콘트롤부(121)의 제어 하에 어드레스기간 동안 스캔전압(-Vy)의 스캔펄스(Sp)를 스캔전극들에 공급한다. 이때, 스캔 구동부(123)는 프레임을 구성하는 서브필드들 중 적어도 어느 한 서브필드에서는 타이밍 콘트롤부(121)의 제어 하에 플라즈마 디스플레이 패널(100)에 형성된 모든 스캔 전극라인들(Y1 내지 Yn)에 순차적으로 스캔 펄스를 공급하지 않고, 부분적으로 스캔전극라인에 스캔 펄스를 공급한다. 또한, 서스테인 기간 동안에는 서스테인 구동부(124)와 교대로 동작하여 서스테인 펄스(SUSp)를 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 공급한 다.
서스테인 구동부(124)는 타이밍 콘트롤부(121)의 제어 하에 리셋기간에 정극성의 높은 리셋펄스를 서스테인 전극(Z)에 공급하고, 서테인기간 동안은 스캔구동부(123)와 교대로 동작하여 서스테인 펄스(SUSp)가 서스테인 전극들(Z)에 공급된다.
타이밍 콘트롤부(121)는 수직/수평 동기신호와 클럭신호를 입력받고 리셋기간, 어드레스 기간, 서스테인 기간에서 각 구동부들(122, 123, 124)의 동작 타이밍과 동기화를 제어하기 위한 타이밍 제어신호들(CTRX, CTRY, CTRZ)를 발생하고 그 타이밍 제어신호들(CTRX, CTRY, CTRZ)를 해당 구동부들(122, 123, 124)에 공급함으로써 각 구동부를 제어한다.
한편, 데이터 제어신호(CTRX)에는 데이터를 샘플링하기 위한 샘플링클럭, 래치제어신호, 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다. 스캔 제어신호(CTRY)에는 스캔구동부(123) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함되고, 서스테인 제어신호(CTRZ)에는 서스테인구동부(124) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다.
구동전압 발생부(125)는 셋업전압(Vsetup), 스캔 공통전압(Vscan-com), 스캔전압(-Vy), 서스테인전압(Vs), 데이터전압(Vd) 등을 발생한다. 이러한 구동전압들은 방전가스의 조성이나 방전셀 구조에 따라 변할 수 있다.
도 4는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법 을 설명하기 위한 도이다. 도 4를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 한 프레임을 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 각 서브필드 그룹 사이에는 소정의 길이를 갖는 휴지기간을 포함하도록 한다. 또한, 서브필드 그룹은 리셋기간, 어드레스기간, 서스테인기간을 각각 포함하는 복수의 서브필드(SF1,SF2,SF3,SF4,...)로 시 분할한다. 이와 같이 시 분할된 각 서브필드는 각각 소정의 계조 가중치를 갖도록 설정된다.
또한, 복수의 서브필드 중 어느 한 서브필드의 어드레스 기간에는 스캔전극 라인을 모두 스캔 하고, 또 다른 서브필드의 어드레스 기간에는 스캔전극 라인을 부분적으로 스캔한다. 자세하게는 각 서브필드 그룹에서 계조 가중치가 낮은 서브필드(SF1,SF2,SF3,SF4,SF8,SF9,SF10,SF11)에서는 모든 스캔전극 라인에 대해 부분적으로 스캔하고, 계조 가중치가 높은 서브필드(SF5,SF6,SF7,SF12,SF13,SF14) 에서는 모든 스캔전극 라인에 대해 모두 스캔한다. 이때, 계조 가중치가 높거나 낮은 서브필드의 수는 조절가능하다.
또한, 복수의 서브필드 중 어느 한 서브필드의 어드레스 기간에 부분적으로 스캔전극 라인을 스캔 할 수 있고, 모든 서브필드에서 어드레스 기간에 부분적으로 스캔전극 라인을 스캔 한다. 즉, 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극라인 중 부분적으로 스캔전극 라인을 스캔 한다. 예를 들어, 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 전체 스캔전극라인에 대해 홀수 번째 라인의 스캔전극(Y1,Y3,Y5,...)에만 혹은 짝수 번째 라인의 스캔전극 (Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스를 공급하는 방식으로 스캔한다. 이와 같은 구동방식을 부분 라인 어드레싱(Partial Line Addressing;이하, PLA라 함.) 방식이라 한다.
한편, 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서 동일 프레임의 서브필드 그룹 사이에 포함된 휴지기간에는 어떠한 광도 방출되지 않고, 비디오 레코더 또는 비디오 게임에 의해 생성된 신호와 같은 수평라인 동기 신호에서의 편차를 사용하여 비표준 비디오 신호를 처리하게 된다. 이때, 휴지기간이 포함된 동일 프레임내의 서브필드 그룹들은 휴지기간 없이 연속적으로 동작된다.
이러한 휴지기간은 전술한 바와 같이, 각 프레임내의 서브필드 그룹사이에 존재할 수 있지만 동시에 각 프레임들 사이에 존재할 수 있다. 즉, 하나의 프레임이 제 1서브필드 그룹과 제 2서브필드 그룹을 포함하고 있을 때, 제 1서브필드 그룹이 동작되기 전과 제 2서브필드 그룹이 동작된 후 각각에 제 1휴지기간이 포함되고, 제 1서브필드 그룹과 제 2서브필드 그룹 사이에는 제 2휴지기간이 포함된다. 이때, 제 1휴지기간과 제 2휴지기간의 길이는 비표준 비디오 신호의 처리 기간에 따라 다르게 설정될 수 있지만 신호처리 효율을 위해 동일한 길이로 설정됨이 바람직하다.
또한, 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서, 프레임내에 포함된 서브필드의 가중치는 다음 도 5와 같이 여러 가지 형태로 배열된다.
도 5는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 프레 임내에 포함된 서브필드의 가중치 배열을 나타낸 도이다.
도 5를 살펴보면, (a)와 같이, 하나의 프레임은 두개 또는 그 이상(미도시)의 서브필드 그룹을 포함하고, 각 서브필드 그룹은 동일 그룹내에서 서브필드들의 가중치 크기가 증가하는 순서로 배열된다. 즉, 각 그룹내에 배열된 서브필드들은 계조값이 증가하는 순서로 배열된다. 또는 (b)와 같이, 하나의 프레임은 두개 또는 그 이상(미도시)의 서브필드 그룹을 포함하고, 각 서브필드 그룹은 동일 그룹내에서 서브필드들의 가중치 크기가 감소하는 순서로 배열된다. 즉, 각 그룹내에 배열된 서브필드들은 계조값이 감소하는 순서로 배열된다.
또는 (c)와 같이, 하나의 프레임은 두개 또는 그 이상(미도시)의 서브필드 그룹을 포함하고, 각 서브필드 그룹은 동일 그룹내에서 서브필드들의 가중치가 서로다른 순서로 배열된다. 즉, 서브필드 그룹들 중 어느 하나의 그룹내의 서브필드는 계조값으로 표현되는 가중치 크기가 증가하는 순서로 배열되거나 계조값으로 표현되는 가중치 크기가 감소하는 순서로 배열된다.
한편, 도 5의 (c)에서는 각 서브필드 그룹내에서 서브필드들의 가중치가 다른 서브필드 그룹내에서 서브필드들의 가중치와 일정한 규칙에 따라 다른 순서로 배열되어 있지만, 각 서브필드 그룹내의 서브필드 가중치가 일정한 규칙없이 랜덤하게 형성될 수 있다.
이와 같이 각 서브필드 그룹내에서 서브필드들의 가중치 배열 순서를 여러 가지 형태로 배열하게 되면 플릭커(flicker) 뿐만 아니라 정지영상 특히, 동영상에서 발생되는 의사윤곽(Contour Noise)과 현상을 방지할 수 있어 화질을 향상 시킬 수 있게 된다.
도 6은 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 서브필드의 소정기간에 인가되는 구동파형을 나타낸 도이다. 즉, (a)는 한 프레임 중 제 1서브필드의 그룹 내의 각 서브필드에서 인가되는 구동파형을 나타낸 것이고, (b)는 한 프레임 중 제 2서브필드 그룹 내의 각 서브필드에서 인가되는 구동파형을 나타낸 도이다.
***** 제 1서브필드 그룹 *****
(제 1서브필드)
먼저, 제 1서브필드(SF1)의 리셋기간은 정극성의 높은 리셋펄스 또는 소정 기울기를 가지는 램프신호 형태의 셋업/셋다운펄스(미도시)가 서스테인 전극(Z)에 공급되어 전화면의 셀들 내에 리셋방전을 일으킨다. 리셋방전에 의해 전 화면의 셀들은 균일하게 벽전하가 축적되므로 방전특성이 균일하게 된다.
어드레스 기간에는 스캔 펄스(SP)가 모든 스캔 전극라인에 인가되지 않고, 부분적으로 인가된다. 즉, 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 전체 스캔 전극 라인 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극라인(Y1,Y3,Y5,...)에만 스캔 펄스(SP)가 인가된다. 이때, 어드레스 전극(X)에는 스캔 펄스(SP)와 동기 되게 데이터 펄스(DATA)가 인가되고, 이러한 스캔 펄스와 데이터 펄스의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전하의 벽 전압이 더해지면서 방전 셀 내에는 어드레스 방전이 발생한다.
도 6에서는 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 전체 스캔 전극 라인 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극라인(Y1,Y3,Y5,...)에만 스캔 펄스(SP)가 인가되어 있지만, 짝수(even)번째 스캔 전극라인(Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스(SP)가 인가되어 어드레스 전극에 인가되는 데이터 펄스(DATA)와 함께 어드레스 방전을 일으킬 수 있다. 이와 같이 어드레스 방전에 의해 선택된 셀들 내에는 서스테인 전압(Vs)이 인가될 때 방전이 일어날 수 있게 하는 정도의 벽전하가 형성된다.
서스테인 기간에는 스캔 전극과 서스테인 전극들에 교번적으로 서스테인 펄스(SUS)가 인가된다. 이러한 서스테인 펄스(SUS)는 어드레스 방전에 의해 선택된 셀 내의 벽 전압과 더해지면서 매 서스테인 펄스가 인가될 때 마다 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 서스테인 방전 즉, 표시방전이 일어나게 된다.
서스테인 방전이 완료된 후에는 플라즈마 디스플레이 패널의 방전 특성에 따라 소거 기간을 두어 펄스폭과 전압레벨이 작은 소거 램프파형(Ramp-ers)을 서스테인 전극이나 스캔 전극에 공급할 수 있다. 이에 따라 서스테인 방전 이후 플라즈마 디스플레이 패널의 셀들 내에 잔류하는 벽 전하를 소거시킬 수 있게 된다.
( 제 2, 3, 4,...서브필드)
제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법은 제 1서브필드의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법과 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 어드레스 기간에는 제 1서브필드와 마찬가지로 스캔 펄스(Sp)가 모든 스캔 전극 라인(Y1,Y2,Y3,...)에 인가되지 않고 부분적으로 인가될 수 있다. 이 경우에도 역시 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...) 각각은 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 전체 스캔 전극 라 인 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극라인(Y1,Y3,Y5,...)에만 혹은 짝수(even)번째 스캔 전극라인(Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스(Sp)가 인가된다.
바람직하게는 모든 서브필드에서 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 모든 스캔전극 라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 때, 홀수(odd) 번째 서브필드의 어드레스 기간에 홀수(odd) 번째 스캔전극 라인에 스캔 펄스가 인가되거나 짝수(even) 번째 스캔전극 라인에 스캔 펄스가 인가되면 짝수(even) 번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수 번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔 펄스가 인가되지 않은 스캔 전극라인에 스캔 펄스가 인가되도록 한다.
한편, 도면엔 도시되어 있지 않지만, 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 모든 어드레스 기간에는 스캔 펄스(SP)가 모든 스캔 전극라인에 인가될 수도 있다. 이는 부분적인 스캔 방법에 따라 발생될 수 있는 화질 저하를 방지하기 위함이다. 여기서 제 1서브필드에서만 스캔전극 라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되고, 나머지 서브필드는 어드레스 기간동안 모든 스캔 전극라인에 스캔 펄스가 인가되었지만, 전체 서브필드 중 임의의 서브필드를 선택하여 스캔 전극 라인을 부분적으로 스캔 할 수 있다. 이때, 스캔 전극라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되는 임의의 서브필드 수 역시 소정의 수로 결정될 수 있다.
또한, 부분적으로 스캔 하는 어드레스 기간을 포함하는 서브필드는 계조 가중치에 따라 정해 질 수 있다. 예를 들어, 계조 가중치가 낮은 서브필드에서는 모든 스캔전극 라인에 스캔 펄스가 인가되지만, 계조 가중치가 높은 서브필드에서는 스캔 전극라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 수 있다.
***** 제 2서브필드 그룹 *****
제 2서브필드 그룹에 속한 복수의 서브필드(SF8,SF9,SF10,...)는 제 1서브필드 그룹에 속한 복수의 서브필드(SF1,SF2,SF3,...)와 동일하게 구동됨으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
<제 2실시예>
본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구조는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구조와 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다. 다만, 스캔 구동부(123)는 어드레스기간 동안 스캔펄스(SP)를 전체 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 대해 부분적으로 공급할 때, 스캔전극 라인에 따라 부분적으로 공급하지 않고, 도 7과 같이, 전체 스캔전극 라인을 소정개수로 묶어 나누어진 스캔전극 그룹들에 부분적으로 스캔 펄스를 공급한다.
도 7은 본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 서브필드의 소정기간에 인가되는 구동파형을 나타낸 도이다.
도 7를 참조하기 전에 본 발명의 제2 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 본 발명의 제 1실시예와 마찬가지로 한 프레임을 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 각 서브필드 그룹 사이에는 소정의 길이를 갖는 휴지기간을 포함하도록 한다. 또한, 서브필드 그룹은 리셋기간, 어드레스기간, 서스테인기간을 각각 포함하는 복수의 서브필드(SF1,SF2,SF3,SF4,...)로 시 분할되고, 이와 같이 시 분할된 각 서브필드는 각각 소정의 계조 가중치를 갖도록 설정된다. 이에 대하여 각 서브필드에서의 구동방법을 더욱 자세히 살펴보기로 한다.
***** 제 1서브필드 그룹 *****
(제 1서브필드)
본 발명의 제 2실시예에 따른 제 1서브필드(SF1)의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법은 본 발명의 제 1실시예에 따른 제 1서브필드의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법과 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
다만, 어드레스 기간에는 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 모든 스캔 전극라인을 소정 개수의 그룹으로 나누고, 나누어진 스캔전극 그룹에 대해서는 부분적으로 스캔 펄스를 인가하여 스캔한다. 자세하게는 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 스캔 전극 그룹 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극그룹(Ya,Yc,Ye,...)에만 스캔 펄스(SP)를 인가하거나 짝수(even)번째 스캔 전극그룹(Yb,Yd,Yf,...)에만 스캔 펄스를 인가한다. 이때, 어드레스 전극(X)에는 스캔 펄스와 동기 되게 데이터 펄스(DATA)를 인가하면 스캔 펄스와 데이터 펄스의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전하의 벽전압이 더해지면서 방전 셀 내에는 어드레스 방전이 발생한다.
(제 2, 3, 4,...서브필드)
본 발명의 제 2실시예에 따른 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법은 제 1서브필드의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법과 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 어드레스 기간에는 제 1서브필 드와 마찬가지로 스캔 펄스(SP)가 스캔 전극그룹 모두에 인가되지 않고 부분적으로 인가될 수 있다. 이 경우에도 역시 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...) 각각은 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 스캔 전극 그룹 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극그룹(Y1,Y3,Y5,...)에만 혹은 짝수(even)번째 스캔 전극그룹(Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스가 공급된다.
바람직하게는 모든 서브필드에서 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 스캔전극 그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 때, 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 홀수 번째 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가되거나 짝수번째 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가되면 짝수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔 펄스가 인가되지 않은 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가된다.
한편, 제 1실시예와 마찬가지로, 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 모든 어드레스 기간에는 스캔 펄스(Sp)가 모든 스캔 전극그룹에 인가될 수 있다. 이는 부분적인 스캔 방법에 따라 발생될 수 있는 화질 저하를 방지하기 위함이다. 여기서 제 1서브필드에서만 스캔전극 그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되고, 나머지 서브필드는 어드레스 기간동안 모든 스캔 전극그룹에 스캔 펄스가 인가되었지만, 전체 서브필드 중 임의의 서브필드를 선택하여 스캔 전극 그룹을 부분적으로 스캔 할 수 있다. 이때, 스캔 전극그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되는 임의의 서브필드 수 역시 소정의 수로 결정될 수 있다.
또한, 스캔 전극그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되는 서브필드는 계조 가중치에 따라 결정될 수 있다. 예를 들어, 계조 가중치가 낮은 서브필드에서는 모든 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가되지만, 계조 가중치가 높은 서브필드에서는 스캔 전극그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 수 있다.
도 8a 내지 도 8c는 본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 제 1서브필드 그룹내에서 스캔 방법을 설명하기 위한 도이다.
도 8a 내지 도 8c를 살펴보면, 전체 스캔전극 라인을 소정 개수로 묶어 나누어진 스캔전극 그룹의 수는 최소 두개 이상으로 이루어 질수 있지만 바람직하게는 전체 스캔 전극 라인 수의 1/2 이나 1/3이 되도록 한다. 스캔 전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 도 8a와 같이 모두 동일할 수 있고, 도 8b와 같이 모두 다를 수 있다. 또한, 도 8c와 같이, 임의의 스캔 전극 그룹들에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일하고 임의의 스캔전극 그룹들이 아닌 나머지 스캔 전극 그룹들에 속한 스캔 전극의 수는 다를 수 있다. 즉, 스캔전극 그룹들에 속한 각각의 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나의 스캔전극 그룹에서는 상이하다.
이상에서 보는 바와 같이, 어드레싱 시간을 줄이기 위한 본 발명의 제 1 및 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 데이터 구동부를 2개 구비하고 플라즈마 디스플레이 패널을 두개의 영역으로 나누어 어드레싱 하는 듀얼 스캔 방법에 비하여 데이터 구동부를 단일개 구비하여 어드레싱 하는 싱글 스캔 방법에 있어서 상대적으로 효율적이다.
또한, 본 발명의 제 1 및 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 서브필드의 어드레싱 시간을 줄일 수 있기 때문에 상대적으로 서스테인 기간이 길어지게 되어 휘도특성을 향상시키게 된다.
또한, 본 발명의 제 1 및 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 하나의 프레임을 두개 또는 그 이상(미도시)의 서브필드 그룹으로 나누고, 각 서브필드 그룹 내에서 서브필드들의 가중치 배열 순서를 여러 가지 형태로 배열함으로 플릭커 발생을 억제할 수 있게 된다.
이와 같이, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 전술한 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 PAL(Phase Alternating Line) 구동 방식에서 플릭커 발생을 방지 할 수 있을 뿐만 아니라 어드레싱 시간을 줄여 고속 구동할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 서브필드의 어드레싱 시간을 줄일 수 있기 때문에 상대적으로 서스테인 기간이 길어지게 되어 휘도특성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (48)

  1. 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부; 및
    상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  2. 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부;및
    상기 복수의 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 스캔 전극 그룹의 소정 개수는 두개 이상인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 2개 혹은 3개인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  6. 제 2 항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나가 상이한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  7. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 각 프레임 사이에는 소정의 길이를 갖는 휴지 기간이 더 포함되고, 상기 프레임의 서브필드 그룹들은 동일 프레임 내에서 연속인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  8. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 각 프레임 사이에는 소정의 길이를 갖는 제 1 휴지 기간이 포함되고, 동일 프레임 내에서 상기 서브필드 그룹들의 사이에는 소정의 길이를 갖는 제 2 휴지 기간이 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 휴지 기간과 상기 제 2 휴지 기간의 길이는 서로 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  10. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 복수의 서브필드 그룹은 각 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  11. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 복수의 서브필드 그룹은 각 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  12. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 프레임은 두 개의 서브필드 그룹으로 나뉘고,
    상기 두 개의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 두 개의 서브필드 그룹은 서브필드 그룹 내에서 서브필드들의 서로 다른 계조값의 크기 순서에 따라 배열되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열되고, 나머지 다른 하나의 서브필드 그룹은 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  16. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 하는 스캔은 계조 가중치가 높은 서브필드에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  17. 제 2항에 있어서,
    상기 복수의 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 하는 스캔은 계조 가중치가 높은 서브필드에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  18. 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부; 및
    상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 높은 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 복수의 스캔 전극에 대해 모두 스캔 하도록 하고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 낮은 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  19. 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부; 및
    상기 복수의 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 높은 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 복수의 스캔 전극 그룹에 대해 모두 스캔 하도록 하고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 낮은 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 복수의 스캔 전극그룹에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  20. 제 18항 또는 제 19항에 있어서,
    상기 계조 가중치가 낮은 서브필드는 상기 서브필드 그룹내에서 계조 가중치의 순서로 가장 저 계조 서브필드부터 4번째까지의 서브필드인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  21. 제 18항 또는 제 19항에 있어서,
    상기 계조 가중치가 높은 서브필드는 상기 서브필드 그룹내에서 계조 가중치의 순서로 가장 높은 서브필드에서부터 4번째까지의 서브필드인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  22. 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부; 및
    상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극 혹은 짝수 번째 스캔전극을 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  23. 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부; 및
    상기 복수의 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 상기 스캔 구동부가 한 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극 그룹 중 홀수번째 스캔전극 그룹 혹은 짝수번째 스캔전극 그룹을 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 콘트롤부
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  24. 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부; 및
    상기 스캔 구동부가 한 프레임을 복수의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필 드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 홀수번째 스캔전극 혹은 짝수번째 스캔전극을 스캔 하고, 상기 서브필드 그룹내의 짝수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔했던 스캔 전극과 다른 스캔 전극을 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤러
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  25. 다수의 프레임이 한 화면을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  26. 다수의 프레임이 한 화면을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  27. 제 26 항에 있어서,
    상기 스캔 전극 그룹의 소정 개수는 두개 이상인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  28. 제 26 항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  29. 제 28 항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 2개 혹은 3개인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  30. 제 26 항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나가 상이한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  31. 제 25 항 또는 제 26 항에 있어서,
    상기 각 프레임 사이에는 소정의 길이를 갖는 휴지 기간이 더 포함되고, 상기 프레임의 서브필드 그룹들은 동일 프레임 내에서 연속인 것을 특징으로 하는 플 라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  32. 제 25 항 또는 제 26 항에 있어서,
    상기 각 프레임 사이에는 소정의 길이를 갖는 제 1 휴지 기간이 포함되고, 동일 프레임 내에서 상기 서브필드 그룹들의 사이에는 소정의 길이를 갖는 제 2 휴지 기간이 포함되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  33. 제 32 항에 있어서,
    상기 제 1 휴지 기간과 상기 제 2 휴지 기간의 길이는 서로 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  34. 제 25 항 또는 제 26 항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 복수의 서브필드 그룹은 각 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  35. 제 25 항 또는 제 26 항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 복수의 서브필드 그룹은 각 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  36. 제 25 항 또는 제 26 항에 있어서,
    상기 프레임은 두 개의 서브필드 그룹으로 나뉘고,
    상기 두 개의 서브필드 그룹은 각각 복수의 서브필드를 포함하고, 상기 두 개의 서브필드 그룹은 서브필드 그룹 내에서 서브필드들의 서로 다른 계조값의 크기 순서에 따라 배열되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  37. 제 36 항에 있어서,
    상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  38. 제 37 항에 있어서,
    상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 감소하는 순서로 배열된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  39. 제 37 항에 있어서,
    상기 두 개의 서브필드 그룹 중 어느 하나는 그룹 내에서 서브필드들이 계조 값의 크기가 감소하는 순서로 배열되고, 나머지 다른 하나의 서브필드 그룹은 그룹 내에서 서브필드들이 계조값의 크기가 증가하는 순서로 배열되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  40. 제 25항에 있어서,
    상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 하는 스캔은 계조 가중치가 높은 서브필드에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  41. 제 26항에 있어서,
    상기 복수의 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 하는 스캔은 계조 가중치가 높은 서브필드에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  42. 다수의 프레임이 한 화면을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 높은 서브필드의 어드레스 기간에는 전체 스캔 전극에 대해 모두 스캔 하도록 하고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 낮은 서브필드의 어드레스 기간에는 전체 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  43. 다수의 프레임이 한 화면을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 높은 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극 그룹에 대해 모두 스캔 하도록 하고, 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치가 낮은 서브필드의 어드레스 기간에는 전체 스캔 전극그룹에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  44. 제 42항 또는 제 43항에 있어서,
    상기 계조 가중치가 낮은 서브필드는 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치의 순서로 가장 저 계조 서브필드에서부터 4번째까지의 서브필드인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  45. 제 42항 또는 제 43항에 있어서,
    상기 계조 가중치가 높은 서브필드는 상기 서브필드 그룹 내에서 계조 가중치의 순서로 가장 높은 서브필드에서부터 4번째까지의 서브필드인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  46. 다수의 프레임이 한 화면을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극 혹은 짝수 번째 스캔전극을 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  47. 다수의 프레임이 한 화면을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극 그룹 중 홀수 번째 스캔 전극그룹 혹은 짝수 번째 스캔전극그룹을 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  48. 다수의 프레임이 한 화면을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 프레임을 적어도 하나 이상의 서브필드를 포함하는 복수의 서브필드 그룹으로 나누고, 상기 서브필드 그룹 내의 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 홀수번째 스캔전극 혹은 짝수번째 스캔전극을 스캔 하고, 상기 서브필드 그룹 내의 짝수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔했던 스캔 전극과 다른 스캔 전극을 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
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