KR20070027404A - 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널, 상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부, 상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 어드레싱 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤부를 포함한다.

Description

플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법{Plasma Display Apparatus and Driving Method thereof}
도 1은 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 구조를 나타낸 도.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 따른 구동파형의 일례를 나타낸 도.
도 3은 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조를 구현하는 방법을 나타낸 도.
도 4는 본 발명의 제 1실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 장치를 나타낸 도.
도 5는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법을 설명하기 위한 도.
도 6a 내지 도 6c는 본 발명의 제 2실시예에 따른 스캔 구동부의 스캔 방법을 설명하기 위한 도.
도 7은 본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법을 설명하기 위한 도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 플라즈마 디스플레이 패널
121: 타이밍 콘트롤부
122 : 데이터 구동부
123 : 스캔 구동부
124 : 서스테인 구동부
125: 구동 전압 발생부
본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법에 관한 것이다.
일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널은 전면 패널과 후면 패널 사이에 형성된 격벽이 하나의 단위 셀을 이루는 것으로, 각 셀 내에는 네온(Ne), 헬륨(He) 또는 네온 및 헬륨의 혼합기체(Ne+He)와 같은 주 방전 기체와 소량의 크세논을 함유하는 불활성 가스가 충진되어 고주파 전압에 의해 방전이 될 때, 불활성 가스는 진공자외선(Vacuum Ultraviolet rays)을 발생하고 격벽 사이에 형성된 형광체를 발광시켜 화상이 구현된다. 이와 같은 플라즈마 디스플레이 패널은 얇고 가벼운 구성이 가능하므로 차세대 표시장치로서 각광받고 있다.
도 1은 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 구조를 나타낸 도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 화상이 디스플레이 되는 표시면인 전면 글라스(101)에 스캔 전극(102)과 서스테인 전극(103)이 쌍을 이뤄 형성된 복수의 유지전극쌍이 배열된 전면 패널(100) 및 배면을 이루는 후면 글라스(111) 상에 전술한 복수의 유지전극쌍과 교차되도록 복수의 어드레스 전극(113)이 배열된 후면 패널(110)이 일정거리를 사이에 두고 평행하게 결합된다.
전면 패널(100)은 하나의 방전셀에서 상호 방전시키고 셀의 발광을 유지하기 위한 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103), 즉 투명한 ITO 물질로 형성된 투명 전극(a)과 금속재질로 제작된 버스 전극(b)으로 구비된 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)이 쌍을 이뤄 포함된다. 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)은 방전 전류를 제한하며 전극 쌍 간을 절연시켜주는 하나 이상의 상부 유전체층(104)에 의해 덮혀지고, 상부 유전체층(104) 상면에는 방전 조건을 용이하게 하기 위하여 산화마그네슘(MgO)을 증착한 보호층(105)이 형성된다.
후면 패널(110)은 복수개의 방전 공간 즉, 방전셀을 형성시키기 위한 스트라이프 타입(또는 웰 타입)의 격벽(112)이 평행을 유지하여 배열된다. 또한, 어드레스 방전을 수행하여 진공자외선을 발생시키는 다수의 어드레스 전극(113)이 격벽(112)에 대해 평행하게 배치된다. 후면 패널(110)의 상측면에는 어드레스 방전시 화상표시를 위한 가시광선을 방출하는 R, G, B 형광체(114)가 도포된다. 어드레스 전극(113)과 형광체(114) 사이에는 어드레스 전극(113)을 보호하기 위한 하부 유전체층(115)이 형성된다.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 따른 구동파형의 일례를 나타낸 도면이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 모든 셀들을 초기화 시키기 위한 리셋 기간, 방전할 셀을 선택하기 위한 어드레스 기간, 선택된 셀의 방전을 유지시키기 위한 서스테인 기간 및 방전된 셀 내의 벽전하를 소거하기 위한 소거 기간으로 나뉘어 구동된다.
리셋 기간에 있어서, 셋업 기간에는 모든 스캔 전극들에 상승 램프파형(Ramp-up)이 동시에 인가된다. 이 상승 램프파형에 의해 전화면의 방전셀들 내에는 약한 암방전(Dark Discharge)이 일어난다. 이 셋업 방전에 의해 어드레스 전극과 서스테인 전극 상에는 정극성 벽전하가 쌓이게 되며, 스캔 전극 상에는 부극성의 벽전하가 쌓이게 된다.
셋다운 기간에는 상승 램프파형이 공급된 후, 상승 램프파형의 피크전압보다 낮은 정극성 전압에서 떨어지기 시작하여 그라운드(GND)레벨 전압 이하의 특정 전압레벨까지 떨어지는 하강 램프파형(Ramp-down)이 셀들 내에 미약한 소거방전을 일으킴으로써 스캔 전극에 과도하게 형성된 벽 전하를 충분히 소거시키게 된다. 이 셋다운 방전에 의해 어드레스 방전이 안정되게 일어날 수 있을 정도의 벽전하가 셀들 내에 균일하게 잔류된다.
어드레스 기간에는 부극성 스캔 펄스가 스캔 전극들에 순차적으로 인가됨과 동시에 스캔 펄스에 동기되어 어드레스 전극에 정극성의 데이터 펄스가 인가된다. 이 스캔 펄스와 데이터 펄스의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전압이 더해지면서 데이터 펄스가 인가되는 방전셀 내에는 어드레스 방전이 발생된다. 어드레스 방전에 의해 선택된 셀들 내에는 서스테인 전압(Vs)이 인가될 때 방전이 일어날 수 있게 하는 정도의 벽전하가 형성된다. 서스테인 전극에는 셋다운 기간과 어드레스 기간 동안에 스캔 전극과의 전압차를 줄여 스캔 전극과의 오방전이 일어나지 않도록 정극성 전압(Vz)이 공급된다.
서스테인 기간에는 스캔 전극과 서스테인 전극들에 교번적으로 서스테인 펄스(Sus)가 인가된다. 어드레스 방전에 의해 선택된 셀은 셀 내의 벽 전압과 서스테인 펄스가 더해지면서 매 서스테인 펄스가 인가될 때 마다 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 서스테인 방전 즉, 표시방전이 일어나게 된다.
서스테인 방전이 완료된 후, 소거 기간에서는 펄스폭과 전압레벨이 작은 소거 램프파형(Ramp-ers)의 전압이 서스테인 전극에 공급되어 전화면의 셀들 내에 잔류하는 벽 전하를 소거시키게 된다.
이와 같이 구동되는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조 표시 방법을 살펴보면 다음 도 3과 같다.
도 3은 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조를 구현하는 방법을 나타낸 도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조(Gray Level) 표현 방법은 한 프레임을 발광횟수가 다른 여러 서브필드로 나누고, 각 서브필드는 다시 모든 셀들을 초기화시키기 위한 리셋 기간(RPD), 방전될 셀을 선택하기 위한 어드레스 기간(APD) 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인 기간(SPD)으로 나뉘어진다. 예를 들어, 256 계조로 화상을 표시하고자 하는 경우에 1/60 초에 해당하는 프레임기간(16.67ms)은 도 3과 같이 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8)로 나누어지고, 8개의 서브 필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 리셋 기간, 어드 레스 기간 및 서스테인 기간으로 다시 나누어지게 된다.
각 서브필드의 리셋 기간 및 어드레스 기간은 각 서브필드마다 동일하다. 방전될 셀을 선택하기 위한 어드레스방전은 어드레스 전극과 스캔 전극인 투명전극 사이의 전압차에 의해 일어난다. 서스테인 기간은 각 서브필드에서 2n(단, n = 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7)의 비율로 증가된다. 이와 같이 각 서브필드에서 서스테인 기간이 달라지게 됨으로 각 서브필드의 서스테인 기간 즉, 서스테인 방전 횟수를 조절하여 화상의 계조를 표현하게 된다.
한편, 종래 플라즈마 디스플레이 패널은 전술한 바와 같이 각 서브필드의 어드레스 기간마다 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 스캔 전극 모두에 대하여 스캔 펄스를 공급하고 동시에 어드레스 전극에 데이터 펄스를 공급하여 방전 셀을 선택함을 알 수 있다. 즉, 플라즈마 디스플레이 패널에 형성된 모든 스캔전극 라인이 스캔 됨을 알 수 있다.
이와 같은 구동방법은 한 프레임의 제한된 시간 내에서 어드레스 기간동안 모든 스캔 전극을 스캔 하여야 함으로 서스테인 기간을 늘려 휘도를 향상 시키는데는 한계가 있다. 특히, 플라즈마 디스플레이 패널이 고해상도 및 대형화로 갈수록 전극 라인의 수가 늘어나게 되면 스캔 시간이 길어져 한 프레임의 제한된 시간 내에서는 충분한 휘도를 갖지 못하게 된다.
이러한 문제점은 스캔전극 라인 수를 줄임으로써 어드레싱 시간을 줄일 수 있지만 이는 플라즈마 디스플레이 패널의 해상도를 떨어뜨리는 결과를 가져온다. 또한, 플라즈마 디스플레이 패널을 두개의 영역으로 나누어 스캔하는 듀얼 스캔 방식으로 구동하여 어드레싱 시간을 줄일 수 있지만 이는 각 영역을 구동하기 위한 드라이버가 필요하기 때문에 비용이 상승하는 문제점이 있다.
이와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 개선하여 어드레싱 시간을 줄여 고속 구동할 수 있는 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 어드레싱 시간을 줄이면서 동시에 휘도특성을 유지할 수 있는 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 복수의 스캔 전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널, 상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부, 상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤부를 포함한다.
본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널, 상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부, 상기 복수의 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어 하는 타이밍 콘트롤부를 포함한다.
상기 스캔 전극 그룹의 소정 개수는 두개 이상인 것을 특징으로 한다.
상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일한 것을 특징으로 한다.
상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 2개 혹은 3개인 것을 특징으로 한다.
상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나가 상이한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 한 프레임이 복수의 서브필드로 나뉘어 구동하고, 상기 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 한 프레임이 복수의 서브필드로 나뉘어 구동하고, 상기 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누고, 상기 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널, 장치, 패널의 구동 장치 및 구동 방법의 실시예들을 상세히 설명한다.
<제 1실시예>
도 4는 본 발명의 제 1실시예에 의한 플라즈마 디스플레이 장치를 나타낸 도이다. 도 4를 참조하면, 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 스캔 전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인 전극(Z)과, 상기 스캔 전극 및 서스테인 전극(Z)과 교차하는 복수의 어드레스 전극(X1 내지 Xm)을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널(100)과, 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 하부기판(미도시)에 형성된 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터 구동부(122)와, 스캔전극들(Y1 내지 Yn)을 구동하기 위한 스캔 구동부(123)와, 공통전극인 서스테인전극들(Z)을 구동하기 위한 서스테인 구동부(124)와, 플라즈마 디스플레이 패널 구동시 데이터 구동부(122), 스캔 구동부(123) 및 서스테인 구동부(124)를 제어하기 위한 타이밍 콘트롤부(121)와, 각각의 구동부(122, 123, 124)에 필요한 구동전압을 공급하기 위한 구동전압 발생부(125)를 포함한다.
이와 같은 구조를 갖는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 어드레스 전극(X1 내지 Xm), 스캔 전극(Y1 내지 Yn) 및 서스테인 전극(Z)에 구동 펄스가 인가되는 적어도 하나 이상의 서브필드의 조합에 의하여 프레임으로 이루어지는 화상을 표현하게 된다.
플라즈마 디스플레이 패널(100)은 상부기판(미도시)과 하부기판(미도시)이 일정한 간격을 두고 합착되고, 상부기판에는 다수의 전극들 예를 들어, 스캔전극들(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)이 쌍을 이뤄 형성되고, 하부기판에는 스캔전극들(Y1 내지 Yn) 및 서스테인전극(Z)과 교차되게 어드레스전극들(X1 내지 Xm)이 형성 된다.
데이터 구동부(122)에는 도시하지 않은 역감마보정회로, 오차확산회로 등에 의해 역감마보정 및 오차확산 된 후, 서브필드맵핑회로에 의해 각 서브필드에 맵핑된 데이터가 공급된다. 이러한 데이터 구동부(122)는 타이밍콘트롤부(121)로부터의 타이밍제어신호(CTRX)에 응답하여 데이터를 샘플링하고 래치한 다음, 그 데이터를 어드레스전극들(X1 내지 Xm)에 공급하게 된다.
스캔 구동부(123)는 타이밍 콘트롤부(121)의 제어 하에 어드레스기간 동안 스캔전압(-Vy)의 스캔펄스(Sp)를 스캔전극들에 공급한다. 이때, 스캔 구동부(123)는 프레임을 구성하는 서브필드들 중 적어도 어느 한 서브필드에서는 타이밍 콘트롤부(121)의 제어하에 플라즈마 디스플레이 패널(100)에 형성된 모든 스캔 전극라인들(Y1 내지 Yn)에 순차적으로 스캔 펄스를 공급하지 않고, 부분적으로 스캔전극라인에 스캔 펄스를 공급한다. 예를 들어, 홀수 번째 라인의 스캔전극(Y1,Y3,Y5,...)에만 혹은 짝수 번째 라인의 스캔전극(Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스를 공급하여 스캔한다. 또한, 서스테인 기간 동안에는 서스테인 구동부(124)와 교대로 동작하여 서스테인 펄스(SUSp)를 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 공급한다.
서스테인 구동부(124)는 타이밍 콘트롤부(121)의 제어 하에 리셋기간의 셋 다운 기간과 어드레스기간 동안은 소정의 바이어스전압을 서스테인 전극(Z)에 공급하고, 서테인기간 동안은 스캔구동부(123)와 교대로 동작하여 서스테인 펄스(SUSp)가 서스테인 전극들(Z)에 공급된다.
타이밍 콘트롤부(121)는 수직/수평 동기신호와 클럭신호를 입력받고 리셋기 간, 어드레스 기간, 서스테인 기간에서 각 구동부들(122, 123, 124)의 동작 타이밍과 동기화를 제어하기 위한 타이밍 제어신호들(CTRX, CTRY, CTRZ)를 발생하고 그 타이밍 제어신호들(CTRX, CTRY, CTRZ)를 해당 구동부들(122, 123, 124)에 공급함으로써 각 구동부를 제어한다.
한편, 데이터 제어신호(CTRX)에는 데이터를 샘플링하기 위한 샘플링클럭, 래치제어신호, 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다. 스캔 제어신호(CTRY)에는 스캔구동부(123) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함되고, 서스테인 제어신호(CTRZ)에는 서스테인구동부(124) 내의 에너지 회수회로와 구동 스위치소자의 온/오프타임을 제어하기 위한 스위치제어신호가 포함된다.
구동전압 발생부(125)는 셋업전압(Vsetup), 스캔 공통전압(Vscan-com), 스캔전압(-Vy), 서스테인전압(Vs), 데이터전압(Vd) 등을 발생한다. 이러한 구동전압들은 방전가스의 조성이나 방전셀 구조에 따라 변할 수 있다.
도 5는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법을 설명하기 위한 도이다. 도 5를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 한 프레임이 복수의 서브필드(SF1,SF2,SF3,SF4,...)로 시 분할되고, 각 서브필드는 리셋기간, 어드레스기간, 서스테인 기간으로 나뉘어 구동된다. 자세하게는 복수의 서브필드 중 어느 한 서브필드에서 어드레스 기간에 부분적으로 스캔전극 라인을 스캔 할 수 있고, 도시된 바와 같이 모든 서브필드에서 어드레스 기간에 부분적으로 스캔전극 라인을 스캔 한 다. 즉, 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극라인 중 부분적으로 스캔전극 라인을 스캔 한다. 이와 같은 구동방식을 본 발명에서는 부분 라인 어드레싱(Partial Line Addressing;이하, PLA라 함.) 방식이라 한다. 이에 대하여 각 서브필드에서의 구동방법을 더욱 자세히 살펴보기로 한다.
***** 제 1서브필드 *****
먼저, 제 1서브필드(SF1)의 리셋기간은 셋업(SU)기간과 셋다운(SD)기간으로 나누고, 셋업(SU)기간에는 모든 스캔 전극 라인들(Y1,Y2,Y3,...)에 상승 램프파형(Ramp-up)이 동시에 인가되고, 셋다운(SD)기간 역시 모든 스캔 전극들(Y1,Y2,Y3,...)에 상승 램프파형의 피크전압보다 낮은 전압에서 떨어지기 시작하여 특정 전압레벨까지 떨어지는 하강 램프파형(Ramp-down)이 동시에 인가되어 벽전하가 셀 들내에 균일하게 잔류하게 된다. 여기서 셋업 기간 및 셋다운 기간에 모두 램프파형을 인가하였지만 셀 들내에 벽전하를 균일하게 할 수 있는 파형이면 어떤 파형이든 스캔 전극에 인가될 수 있다. 또한, 리셋기간은 셋업 기간과 셋 다운 기간을 반드시 포함할 필요는 없고, 셀들 내에 벽 전하를 균일하게 하는데 필요한 기간이면 셋업 기간만 혹은 셋다운 기간만으로 이루어질 수 있다.
어드레스 기간에는 스캔 펄스(Sp)가 모든 스캔 전극라인에 인가되지 않고, 부분적으로 인가된다. 즉, 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 전체 스캔 전극 라인 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극라인(Y1,Y3,Y5,...)에만 스캔 펄스(Sp)가 인가된다. 이때, 어드레스 전극(X)에는 스캔 펄스(Sp)와 동기 되게 데이터 펄스(Dp)가 인 가되고, 이러한 스캔 펄스와 데이터 펄스의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전하의 벽 전압이 더해지면서 방전 셀 내에는 어드레스 방전이 발생한다.
도 5에서는 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 전체 스캔 전극 라인 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극라인(Y1,Y3,Y5,...)에만 스캔 펄스(Sp)가 인가되어 있지만, 짝수(even)번째 스캔 전극라인(Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스(Sp)가 인가되어 어드레스 전극에 인가되는 데이터 펄스(Dp)와 함께 어드레스 방전을 일으킬 수 있다. 이와 같이 어드레스 방전에 의해 선택된 셀들 내에는 서스테인 전압(Vs)이 인가될 때 방전이 일어날 수 있게 하는 정도의 벽전하가 형성된다.
한편, 서스테인 전극(Z)에는 리셋기간의 셋다운 기간과 어드레스 기간 동안에 스캔 전극과의 전압차를 줄여 스캔 전극과의 오방전이 일어나지 않도록 정극성 전압(Zdc)이 공급된다. 바람직하게는 도시된 바와 같이, 서스테인 전극(Z)에는 셋다운 기간동안 정극성 전압(Zdc)보다 낮은 그라운드(GND) 레벨과 같은 소정의 전압이 공급되고, 어드레스 기간동안에는 정극성 전압(Zdc)이 공급된다. 이와 같이 셋 다운 기간동안 서스테인 전극(Z)에 어드레스 기간동안에 공급되는 정극성 전압 보다 낮은 전압을 공급하게 되면 어드레스 방전시 발생되는 지터 특성을 향상시키게 되어 어드레싱 시간을 더욱 줄일 수 있게 된다.
서스테인 기간에는 스캔 전극과 서스테인 전극들에 교번적으로 서스테인 펄스(SUSp)가 인가된다. 이러한 서스테인 펄스(SUSp)는 어드레스 방전에 의해 선택된 셀 내의 벽 전압과 더해지면서 매 서스테인 펄스가 인가될 때 마다 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 서스테인 방전 즉, 표시방전이 일어나게 된다.
서스테인 방전이 완료된 후에는 플라즈마 디스플레이 패널의 방전 특성에 따라 소거 기간을 두어 펄스폭과 전압레벨이 작은 소거 램프파형(Ramp-ers)을 서스테인 전극이나 스캔 전극에 공급할 수 있다. 이에 따라 서스테인 방전 이후 플라즈마 디스플레이 패널의 셀들 내에 잔류하는 벽 전하를 소거시킬 수 있게 된다.
***** 제 2, 3, 4,...서브필드 *****
제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법은 제 1서브필드의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법과 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 어드레스 기간에는 제 1서브필드와 마찬가지로 스캔 펄스(Sp)가 모든 스캔 전극 라인(Y1,Y2,Y3,...)에 인가되지 않고 부분적으로 인가될 수 있다. 이 경우에도 역시 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...) 각각은 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 전체 스캔 전극 라인 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극라인(Y1,Y3,Y5,...)에만 혹은 짝수(even)번째 스캔 전극라인(Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스(Sp)가 인가된다.
바람직하게는 모든 서브필드에서 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 모든 스캔전극 라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 때, 홀수(odd) 번째 서브필드의 어드레스 기간에 홀수(odd) 번째 스캔전극 라인에 스캔 펄스가 인가되거나 짝수(even) 번째 스캔전극 라인에 스캔 펄스가 인가되면 짝수(even) 번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수 번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔 펄스가 인가되지 않은 스캔 전극라인에 스캔 펄스가 인가되도록 한다.
한편, 도면엔 도시되어 있지 않지만, 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 모든 어드레스 기간에는 스캔 펄스(scan)가 모든 스캔 전극라인에 인가될 수도 있다. 이는 부분적인 스캔 방법에 따라 발생될 수 있는 화질 저하를 방지하기 위함이다. 여기서 제 1서브필드에서만 스캔전극 라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되고, 나머지 서브필드는 어드레스 기간동안 모든 스캔 전극라인에 스캔 펄스가 인가되었지만, 전체 서브필드 중 임의의 서브필드를 선택하여 스캔 전극 라인을 부분적으로 스캔 할 수 있다. 이때, 스캔 전극라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되는 임의의 서브필드 수 역시 소정의 수로 결정될 수 있다.
또한, 부분적으로 스캔 하는 어드레스 기간을 포함하는 서브필드는 계조 가중치에 따라 정해 질 수 있다. 예를 들어, 계조 가중치가 낮은 서브필드에서는 모든 스캔전극 라인에 스캔 펄스가 인가되지만, 계조 가중치가 높은 서브필드에서는 스캔 전극라인에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 수 있다.
<제 2실시예>
본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구조는 본 발명의 제 1실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구조와 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다. 다만, 스캔 구동부(123)는 어드레스기간 동안 스캔펄스(Sp)를 전체 스캔전극들(Y1 내지 Yn)에 대해 부분적으로 공급할 때, 스캔전극 라인에 따라 부분적으로 공급하지 않고, 도 6a 내지 도 6c와 같이, 전체 스캔전극 라인을 소정개수로 묶어 나누어진 스캔전극 그룹들에 부분적으로 스캔 펄스를 공급한다.
도 6a 내지 도 6c는 본 발명의 제 2실시예에 따른 스캔 구동부의 스캔 방법을 설명하기 위한 도이다.
도 6a 내지 도 6c를 살펴보면, 전체 스캔전극 라인을 소정 개수로 묶어 나누어진 스캔전극 그룹의 수는 최소 두개 이상으로 이루어 질수 있지만 바람직하게는 전체 스캔 전극 라인 수의 1/2 이나 1/3이 되도록 한다. 스캔 전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 도 6a와 같이 모두 동일할 수 있고, 도 6b와 같이 모두 다를 수 있다. 또한, 도 6c와 같이, 임의의 스캔 전극 그룹들에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일하고 임의의 스캔전극 그룹들이 아닌 나머지 스캔 전극 그룹들에 속한 스캔 전극의 수는 다를 수 있다. 즉, 스캔전극 그룹들에 속한 각각의 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나의 스캔전극 그룹에서는 상이하다.
도 7은 본 발명의 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법을 설명하기 위한 도이다.
도 7를 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 본 발명의 제 1실시예와 마찬가지로 한 프레임이 복수의 서브필드(SF1,SF2,SF3,SF4,...)로 시 분할되고, 각 서브필드는 리셋기간, 어드레스기간, 서스테인 기간으로 나뉘어 구동된다. 이에 대하여 각 서브필드에서의 구동방법을 더욱 자세히 살펴보기로 한다.
***** 제 1서브필드 *****
본 발명의 제 2실시예에 따른 제 1서브필드(SF1)의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법은 본 발명의 제 1실시예에 따른 제 1서브필드의 리셋기간 및 서스테 인 기간의 구동방법과 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
다만, 어드레스 기간에는 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 모든 스캔 전극라인을 소정 개수의 그룹으로 나누고, 나누어진 스캔전극 그룹에 대해서는 부분적으로 스캔 펄스를 인가하여 스캔한다. 자세하게는 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 스캔 전극 그룹 중 홀수(odd) 번째 스캔 전극그룹(Ya,Yc,Ye,...)에만 스캔 펄스(Sp)를 인가하거나 짝수(even)번째 스캔 전극그룹(Yb,Yd,Yf,...)에만 스캔 펄스를 인가한다. 이때, 어드레스 전극(X)에는 스캔 펄스와 동기 되게 데이터 펄스(Dp)를 인가하면 스캔 펄스와 데이터 펄스의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전하의 벽전압이 더해지면서 방전 셀 내에는 어드레스 방전이 발생한다.
또한, 서스테인 전극(Z)에는 본 발명의 제 1실시예와 같이 셋다운 기간동안 정극성 전압(Zdc)보다 낮은 그라운드(GND) 레벨과 같은 소정의 전압이 공급되고, 어드레스 기간동안에는 정극성 전압(Zdc)이 공급된다.
***** 제 2, 3, 4,...서브필드 *****
본 발명의 제 2실시예에 따른 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법은 제 1서브필드의 리셋기간 및 서스테인 기간의 구동방법과 동일함으로 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 어드레스 기간에는 제 1서브필드와 마찬가지로 스캔 펄스(scan)가 스캔 전극그룹 모두에 인가되지 않고 부분적으로 인가될 수 있다. 이 경우에도 역시 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...) 각각은 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 스캔 전극 그룹 중 홀수(odd) 번째 스 캔 전극그룹(Y1,Y3,Y5,...)에만 혹은 짝수(even)번째 스캔 전극그룹(Y2,Y4,Y6,...)에만 스캔 펄스가 공급된다.
바람직하게는 모든 서브필드에서 플라즈마 디스플레이 패널에 배열된 스캔전극 그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 때, 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 홀수 번째 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가되거나 짝수번째 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가되면 짝수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔 펄스가 인가되지 않은 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가된다.
한편, 제 1실시예와 마찬가지로, 제 2, 3, 4,...서브필드(SF2,SF3,SF4,...)의 모든 어드레스 기간에는 스캔 펄스(Sp)가 모든 스캔 전극그룹에 인가될 수 있다. 이는 부분적인 스캔 방법에 따라 발생될 수 있는 화질 저하를 방지하기 위함이다. 여기서 제 1서브필드에서만 스캔전극 그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되고, 나머지 서브필드는 어드레스 기간동안 모든 스캔 전극그룹에 스캔 펄스가 인가되었지만, 전체 서브필드 중 임의의 서브필드를 선택하여 스캔 전극 그룹을 부분적으로 스캔 할 수 있다. 이때, 스캔 전극그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되는 임의의 서브필드 수 역시 소정의 수로 결정될 수 있다.
또한, 스캔 전극그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가되는 서브필드는 계조 가중치에 따라 결정될 수 있다. 예를 들어, 계조 가중치가 낮은 서브필드에서는 모든 스캔전극 그룹에 스캔 펄스가 인가되지만, 계조 가중치가 높은 서브필드에서는 스캔 전극그룹에 부분적으로 스캔 펄스가 인가될 수 있다.
이상에서 보는 바와 같이, 어드레싱 시간을 줄이기 위한 본 발명의 제 1 및 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 데이터 구동부를 2개 구비하고 플라즈마 디스플레이 패널을 두개의 영역으로 나누어 어드레싱 하는 듀얼 스캔 방법에 비하여 데이터 구동부를 단일개 구비하여 어드레싱 하는 싱글 스캔 방법에 있어서 상대적으로 효율적이다.
또한, 본 발명의 제 1 및 제 2실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 서브필드의 어드레싱 시간을 줄일 수 있기 때문에 상대적으로 서스테인 기간이 길어지게 되어 휘도특성을 향상시키게 된다.
이와 같이, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 전술한 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 구동시 어드레싱 시간을 줄여 고속 구동을 할 수 있고, 동시에 서스테인 기간이 늘어남으로 인해 휘도 특성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (18)

  1. 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부;
    상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 복수의 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  2. 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부;
    상기 복수의 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 상기 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 스캔 전극 그룹의 소정 개수는 두개 이상인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 2개 혹은 3개인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  6. 제 2항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나가 상이한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  7. 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부;
    상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 홀수 번째 스캔전극 혹은 짝수 번째 스캔전극을 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  8. 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 복수의 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부;
    상기 복수의 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누어 상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 홀수 번째 스캔전극 그룹 혹은 짝수 번째 스캔전극 그룹을 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  9. 복수의 스캔전극이 형성된 플라즈마 디스플레이 패널;
    상기 스캔 전극을 구동하기 위한 스캔 구동부;
    상기 스캔 구동부가 복수의 서브필드 중 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 홀수번째 스캔전극 혹은 짝수번째 스캔전극을 스캔 하고, 상기 복수의 서브필드 중 짝수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔 했던 스캔 전극과 다른 스캔 전극을 스캔 하도록 상기 스캔 구동부를 제어하는 타이밍 콘트롤러
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  10. 한 프레임이 복수의 서브필드로 나뉘어 구동하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  11. 한 프레임이 복수의 서브필드로 나뉘어 구동하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 전체 스캔 전극을 소정 개수의 스캔 전극 그룹으로 나누고, 상기 스캔 전극 그룹에 대해 부분적으로 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 스캔 전극 그룹의 소정개수는 두개 이상인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  13. 제 11항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 모두 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  14. 제 13항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 2개 혹은 3개인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  15. 제 11항에 있어서,
    상기 스캔전극 그룹에 속한 스캔 전극의 수는 적어도 어느 하나가 상이한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  16. 한 프레임이 복수의 서브필드로 나뉘어 구동하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에
    홀수번째 스캔전극 혹은 짝수번째 스캔전극을 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  17. 한 프레임이 복수의 서브필드로 나뉘어 구동하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 중 적어도 어느 하나의 서브필드의 어드레스 기간에 홀수번째 스캔전극 그룹 혹은 짝수번째 스캔전극 그룹을 스캔 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  18. 한 프레임이 복수의 서브필드로 나뉘어 구동하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 중 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 홀수번째 스캔전극 혹은 짝수번째 스캔전극을 스캔하고,
    상기 복수의 서브필드 중 짝수번째 서브필드의 어드레스 기간에는 상기 홀수번째 서브필드의 어드레스 기간에 스캔 했던 스캔 전극과 다른 스캔 전극을 스캔하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
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