JP2007096220A - 脆性材料部材の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基体の外形状を所定形状になすと共に、前記貫通孔または切り欠きの形成予定位置に、所定の深さを有する凹部を形成する工程(S1)と、前記基体を熱処理する工程(S2)と、前記熱処理された基体の凹部の底部を除去し、貫通孔または切り欠きを形成する除去工程(S3)とを含む。
【選択図】図6
Description
例えば半導体製造工程にあっては、半導体製造用部材として、例えば炭化珪素、シリコン単結晶等の脆性材料からなるウエハボートが用いられている。
このウエハボート1は、例えば図7に示すように、円環状の天板2と底板3との間に数本(図では3本)のウエハ支持棒4が配置され、これらウエハ支持棒4の上下両端によって天板2と底板3とが固定されている。
そして、図示するように、天板2には表裏に貫通した貫通孔2aが複数個(図では3個)形成され、それら貫通孔2aに前記ウエハ支持棒4の上端が夫々嵌合され固定されている。尚、複数のウエハ支持棒4には夫々一定間隔に半導体ウエハWの外周部を挿入するウエハ支持溝4aが多数設けられ、このウエハ支持溝4aによって半導体ウエハWが支持されている(特許文献1参照)。
このような、反応焼結SiC質、SiC膜を被膜したカーボン質は、従来の石英ガラス素材に比べ耐熱サイクル特性、耐高温変形性に優れており、高温で使用される半導体製造用部材として、好適に用いることができる。
ここで、反応焼結SiC質で半導体製造用部材を製造する場合について説明すると、まず、炭化珪素粉末のスラリーを調製し、前記工程で調製したスラリーを所定形状に硬化成形し、前記工程で成形した炭化珪素硬化体を、不活性雰囲気下で加熱焼成して炭化珪素及び炭素を主成分とする焼結体を形成する。続いて、前記工程で形成した焼結体を、不活性雰囲気または真空下、溶融シリコンで処理して半導体製造用部材を製造している。
そして、この溶融シリコン処理も、反応焼結SiC体を真空下、1500℃に加熱された炉内で、溶融したシリコン中に浸漬することによって行なわれる。
このように、半導体製造用部材はその製造工程において熱処理がなされるため、半導体製造用部材を構成する基体には熱応力が作用する。そのため、図7に示したような貫通孔2a等が形成されている天板1を製造する際、貫通孔2a周辺に大きな熱応力が生じ、図8に示すように熱処理後においてクラック(ひび割れ)Cが生じるという技術的課題があった。
また、図8に示すように、天板2の外周に、熱電対挿入用のノッチ部(切り欠き)2bが形成される場合においても、前記した貫通孔2aと同様に、ノッチ部2b周辺に大きな熱応力が作用し、クラックCが生じるという技術的課題があった。
本発明は、前記したような事情の下になされたものであり、貫通孔、切り欠きを有する脆性材料部材の製造方法において、熱処理工程で前記貫通孔、切り欠きに生じる熱応力を低減し、前記基体の破損を防止した脆性材料部材の製造方法を提供することを目的とする。
このように、まず凹部底部に小径の穴を貫通させ、前記穴の直径を拡張することにより貫通孔または切り欠きを形成することにより、貫通孔または切り欠きの周縁部に作用する、切削加工の外力による応力を緩和することができ、基体を破損させることなく製造することができる。
ここで、前記凹部底部の厚さが、基体10の厚さの1/10以上に設定されることが望ましい。このように凹部底部の厚さが、基体10の厚さの1/10未満の場合、後述する熱処理時の応力を緩和することができず、貫通孔または切り欠きの周縁部に発生するクラックを抑制できない。
具体的には、基体10の厚さが10mmの場合、前記凹部底部11b、12bの厚さが1mm以上に設定されるのが好ましい。
次いで、この基体10は、切削加工により、図3に示すように貫通孔形成部11において凹部底部11bが除去され、図5に示すようにノッチ部形成部12において底部12bが除去され、天板用の基体10として完成する(図4のステップS3)。
ここで、底部11b、12bの厚さ寸法は、基体10の厚さの4/10以下に設定されることが望ましい。このように凹部底部11b、12bの厚さが、基体10の厚さの4/10を超える場合、貫通孔または切り欠きを形成するための切削加工に時間がかかるため好ましくない。具体的には、基体10の厚さが10mmの場合、前記凹部底部11b、12bの厚さが、4mm以下に設定されるのが好ましい。
2 天板
2a 貫通孔
2b ノッチ部(貫通孔)
10 基体
11 貫通孔形成部(貫通孔の形成予定位置)
11a 凹部
11b 底部
11c 貫通孔
12 ノッチ部形成部(切り欠きの形成予定位置)
12a 凹部
12b 底部
12c ノッチ部
Claims (5)
- 表裏を貫通する貫通孔または切り欠きが形成された板状の基体からなる脆性材料部材、あるいは表裏を貫通する貫通孔または切り欠きが形成された板状の基体を構成部材とする脆性材料部材の製造方法において、
前記基体の外形状を所定形状になすと共に、前記貫通孔または切り欠きの形成予定位置に、所定の深さを有する凹部を形成する工程と、
前記基体を熱処理する工程と、
前記熱処理された基体の凹部の底部を除去し、貫通孔または切り欠きを形成する底部除去工程とを含むことを特徴とする脆性材料部材の製造方法。 - 前記底部除去工程において、前記凹部底部に小径の穴を貫通させ、前記穴の直径を拡張することにより貫通孔または切り欠きを形成することを特徴とする請求項1に記載された脆性材料部材の製造方法。
- 前記凹部底部の厚さが、基体の厚さの1/10〜4/10の範囲内に設定されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載された脆性材料部材の製造方法。
- 前記基体は、炭素、珪素、炭化珪素のいずれかからなることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載された脆性材料部材の製造方法。
- 前記熱処理工程は、基体に対して珪素を含浸する熱処理工程、あるいは基体に対して炭化珪素膜を形成する成膜熱処理工程であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載された脆性材料部材の製造方法。
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JP2005286804A JP2007096220A (ja) | 2005-09-30 | 2005-09-30 | 脆性材料部材の製造方法 |
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000164522A (ja) * | 1998-11-25 | 2000-06-16 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体製造用炭化珪素質組立ウェーハボート |
JP2003197722A (ja) * | 2001-12-26 | 2003-07-11 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体ウェーハ熱処理用治具及びこれを用いた熱処理用装置並びに半導体ウェーハ熱処理用治具の製造方法 |
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2005
- 2005-09-30 JP JP2005286804A patent/JP2007096220A/ja active Pending
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JP2003197722A (ja) * | 2001-12-26 | 2003-07-11 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体ウェーハ熱処理用治具及びこれを用いた熱処理用装置並びに半導体ウェーハ熱処理用治具の製造方法 |
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