JP2007095369A - Crtパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 CRTパネルの蛍光面の周辺での輝度の低下を補正し、蛍光面全域にわたって精度良く、ムラ状の欠陥を検査する。
【解決手段】 光源30でCRTパネル10の蛍光面11を裏面側から照明し、表面側から蛍光面11をCCDカメラ13で撮像する。撮像された画像データを画像処理装置15で処理して蛍光面の欠陥を検査する。光源30とCCDカメラ13との間に、CCDカメラ13により撮像される蛍光面の画像の輝度分布を蛍光面の全域にわたってほぼ均一にするフィルタ11が備えられている。
【選択図】 図1
【解決手段】 光源30でCRTパネル10の蛍光面11を裏面側から照明し、表面側から蛍光面11をCCDカメラ13で撮像する。撮像された画像データを画像処理装置15で処理して蛍光面の欠陥を検査する。光源30とCCDカメラ13との間に、CCDカメラ13により撮像される蛍光面の画像の輝度分布を蛍光面の全域にわたってほぼ均一にするフィルタ11が備えられている。
【選択図】 図1
Description
本発明は、CRTパネルの内面に形成された蛍光面の欠陥を検査するための検査装置及び検査方法に関する。
CRTの製造において、パネルの裏面に蛍光面を形成した後、蛍光面における、背景との輝度差が小さいムラ状の欠陥の有無が検査される。この検査は、パネルの裏面側に照明用光源を配置し、パネルの表面側からCCDカメラ等で蛍光面を撮像し、得られた画像データを画像処理することにより欠陥部を検出することにより行われる。
画像処理による欠陥部の検出は、例えば、撮像した原画像から2次元空間フィルタを用いて平滑画像を作成し、原画像との差画像(原画像−平滑画像)を作成することによって行われる。
CRTパネルの蛍光面が形成される領域の厚みは、中央部で最も薄く周辺に近づくほど厚いため、蛍光面の周辺では照明光の減衰が大きく、撮像画像の輝度が低下する。この為、蛍光面の周辺では、良好部と欠陥部との輝度差が現れにくく、検出精度が低下するという問題がある。
この問題を解消する為、LCD用ではあるが、周辺での輝度の低下を補正する欠陥検査装置が特許文献1に提案されている。これを図5を用いて説明する。
駆動部6で駆動されたLCDパネル1を裏面側からバックライト2で照明し、表面側からLCDパネル1をCCDカメラ3で撮像する。得られた画像データは画像メモリ4に格納される。エッジ補正係数算出部8は、画像データを用いて、パネル中心から周辺にわたって輝度値がほぼ一定となるように、パネル周辺のラインのエッジ補正係数を算出する。画像エッジ補正処理部9は、各ラインごとに算出されたエッジ補正係数を、画像データの対応する各ラインに乗じて補正処理を行う。画像処理部5は、補正処理されたデータを用いて欠陥の検出処理を行う。制御部7は、以上の一連の動作を制御する。これにより、バックライト2による照明に起因するパネル周辺の輝度の低下の問題が解消される。
特開平11−281528号公報
しかしながら、上記の欠陥検査装置では、パネル周辺における輝度の低下を、撮像して得た画像データを演算処理することにより補正している為、この演算処理に多大な時間を要してしまい、欠陥の検出処理に十分な時間をかけることができない。従って、この欠陥検査装置をCRTパネルの欠陥検査に応用すると、背景との輝度差が小さいムラ状の欠陥については、十分な検出精度が得られない。
本発明は、このような従来の課題を解決するもので、CRTパネルの蛍光面に発生する、背景との輝度差が小さなムラ状の欠陥を、蛍光面の全域にわたって精度良く検査することが可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供することを目的とする。
本発明のCRTパネルの欠陥検査装置は、CRTパネルの蛍光面を裏面側から照明する光源と、前記CRTパネルの前記蛍光面を表面側から撮像する撮像装置と、撮像された画像データを処理する画像処理装置とを備える。欠陥検査装置は、更に、前記撮像装置により撮像される前記蛍光面の画像の輝度分布を前記蛍光面の全域にわたってほぼ均一にするフィルタを、前記光源と前記撮像装置との間に備える。
本発明のCRTパネルの欠陥検査方法は、上記の本発明の欠陥検査装置を用い、前記光源と前記撮像装置との間にCRTパネルを固定し、前記CRTパネルの前記蛍光面を撮像して前記蛍光面の欠陥を検査する。
本発明によれば、撮像した時点で、蛍光面の全域にわたってほぼ均一な輝度の画像が得られる為、周辺の輝度の低下を補正するための演算処理を行う必要がない。その結果、処理時間の全てを欠陥検出処理にかけることが出来るので、蛍光面の全域にわたってより精度の高い検出処理を行う事が出来る。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係るCRTの欠陥検査装置の概略構成図である。本実施の形態の検査装置は、CRTパネル10の蛍光面11を裏面側から照明する光源30と、CRTパネル10の蛍光面11を表面側から撮像する対物レンズ20を備えたCCDカメラ13と、撮像された画像データを処理する画像処理装置15とを備える。
図1は、本発明の実施の形態1に係るCRTの欠陥検査装置の概略構成図である。本実施の形態の検査装置は、CRTパネル10の蛍光面11を裏面側から照明する光源30と、CRTパネル10の蛍光面11を表面側から撮像する対物レンズ20を備えたCCDカメラ13と、撮像された画像データを処理する画像処理装置15とを備える。
光源30は、上面が開口した箱型のケース31と、ケース31の開口に嵌め込まれた乳白色の拡散板32と、ケース31内に配置された複数の蛍光灯33とを備えている。画像処理装置15は、例えば、CCDカメラ13が撮像した画像データが入力される画像入力ボード14を内臓したパソコン19と、欠陥検査結果等を表示するモニタ21とからなる。
CRTパネル10の蛍光面の欠陥検査は、光源30とCCDカメラ13との間にCRTパネル10を固定し、光源30でCRTパネル10の蛍光面11を照明し、CCDカメラ13で蛍光面11を撮像することにより行われる。
光源30とCRTパネル10との間には、フィルタ40が配置されている。このフィルタ40は、例えば、図2に模式的に示すような透過率分布を有する。図3は、図1の欠陥検査装置でフィルタ40を使用しないで欠陥のないCRTパネル10の蛍光面を撮像したときに得られる蛍光面画像の輝度分布を模式的に表す平面図である。図3に示すように、光源30で照明された蛍光面は、中央が明るく、これより周辺に行くにしたがって暗くなる輝度分布を有している。フィルタ40は、図3の輝度分布とほぼ逆比例するような透過率分布を有している。すなわち、フィルタ40は、図2に示すように、中央で低く、これより周辺に行くにしたがって高くなる透過率分布を有している。この為、CCDカメラ13によって撮像される蛍光面画像の輝度は、蛍光面の全域にわたってほぼ均一となる。従って、図5に示した従来の欠陥検査装置のように輝度の低下を補正するための演算処理を行う必要が無く、処理時間の全てを欠陥の検出処理にかけることが出来る。よって、蛍光面の全域にわたってより精度の高い検出処理を行うことが出来る。
なお、図1ではフィルタ40は光源30とCRTパネル10との間に配置されているが、CRTパネル10とCCDカメラ13との間に配置されていても構わない。
(実施の形態2)
図4は、本発明の実施の形態2に係るCRTの欠陥検査装置の概略構成図である。図4において、図1と同じ構成要素については図1と同じ符号を用い、それらの説明を省略する。
図4は、本発明の実施の形態2に係るCRTの欠陥検査装置の概略構成図である。図4において、図1と同じ構成要素については図1と同じ符号を用い、それらの説明を省略する。
本実施の形態2では、実施の形態1におけるフィルタ40に代えて液晶45が、光源30とCRTパネル10との間に配置されている。液晶45は、パソコン19の入出力制御ボード17を介して制御される液晶駆動装置46によって駆動される。
本実施の形態によれば、液晶45を、パソコン19で制御することにより、実施の形態1におけるフィルタ40と同様に作用させることが出来るので、CCDカメラ13によって撮像されるCRTパネル10の蛍光面画像の輝度は、蛍光面の全域にわたってほぼ均一となる。これにより、実施の形態1の場合と同様に輝度の低下を補正するための演算処理を行う必要が無く、処理時間の全てを欠陥の検出処理にかけることが出来る。よって、蛍光面の全域にわたってより精度の高い検出処理を行うことが出来る。また、CRTパネル10の種類に応じて液晶45の透過率分布を変えることにより、多品種のCRTパネルの欠陥検査を効率よく行うことができる。
本発明の利用分野は特に制限はなく、CRTの蛍光面形成後の検査工程に広く利用することができる。
1 LCDパネル
2 バックライト
3 CCDカメラ
4 画像メモリ
5 画像処理部
6 駆動部
7 制御部
8 エッジ補正係数算出部
9 画像エッジ補正処理部
10 CRTパネル
11 蛍光面
13 CCDカメラ
14 画像入力ボード
15 画像処理装置
17 入出力制御ボード
19 パソコン
20 対物レンズ
21 モニタ
30 光源
31 ケース
32 拡散板
33 蛍光灯
40 フィルタ
45 液晶
46 液晶駆動装置
2 バックライト
3 CCDカメラ
4 画像メモリ
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7 制御部
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10 CRTパネル
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30 光源
31 ケース
32 拡散板
33 蛍光灯
40 フィルタ
45 液晶
46 液晶駆動装置
Claims (3)
- CRTパネルの蛍光面を裏面側から照明する光源と、前記CRTパネルの前記蛍光面を表面側から撮像する撮像装置と、撮像された画像データを処理する画像処理装置とを備え、前記蛍光面の欠陥を検査するCRTパネルの欠陥検査装置であって、
更に、前記撮像装置により撮像される前記蛍光面の画像の輝度分布を前記蛍光面の全域にわたってほぼ均一にするフィルタを、前記光源と前記撮像装置との間に備えることを特徴とするCRTパネルの欠陥検査装置。 - 前記フィルタが液晶を含み、前記光源と前記CRTパネルとの間に配置される請求項1に記載のCRTパネルの欠陥検査装置。
- 前記光源と前記撮像装置との間にCRTパネルを固定し、前記CRTパネルの前記蛍光面を撮像して前記蛍光面の欠陥を検査する、請求項1又は2に記載の欠陥検査装置を用いたCRTパネルの欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005280366A JP2007095369A (ja) | 2005-09-27 | 2005-09-27 | Crtパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
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JP2005280366A JP2007095369A (ja) | 2005-09-27 | 2005-09-27 | Crtパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
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JP2005280366A Withdrawn JP2007095369A (ja) | 2005-09-27 | 2005-09-27 | Crtパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112135117A (zh) * | 2019-06-25 | 2020-12-25 | 北京小米移动软件有限公司 | 摄像模组的测试箱体、系统、方法、装置和存储介质 |
-
2005
- 2005-09-27 JP JP2005280366A patent/JP2007095369A/ja not_active Withdrawn
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CN112135117A (zh) * | 2019-06-25 | 2020-12-25 | 北京小米移动软件有限公司 | 摄像模组的测试箱体、系统、方法、装置和存储介质 |
CN112135117B (zh) * | 2019-06-25 | 2023-11-07 | 北京小米移动软件有限公司 | 摄像模组的测试箱体、系统、方法、装置和存储介质 |
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