JP4842034B2 - 液晶パネルの検査方法および画像処理装置 - Google Patents
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Description
また、本発明の前記装置によれば、効率的に本発明の前記検査方法を実施することができる。
また、第1の撮影ステップS1で、偏光軸を相互に平行に配置された一対の偏光板18、20が用いられた場合、第2の撮影ステップS2では、両偏光板18、20は、その偏光軸が相互に直角に向くように配置される。
12 液晶パネル
14 光源
16 CCDカメラ(撮影手段)
18 一方の偏光板
20 他方の偏光板
22 光拡散板
24 画像処理装置
26 画像読み取り処理部
28a〜28c 第1ないし第3の比較部
30 抽出部
Claims (5)
- 互いに向き合うように間隔をおいて配置される光源および撮影手段と、前記光源および撮影手段間で相互に間隔をおいてほぼ平行に配置されかつ偏光方向を所定の関係に保持可能の一対の偏光板と、前記光源及び該光源側に配置される一方の前記偏光板間に配置される拡散板とを備える検査装置を用いて、偏光板が設けられていない液晶パネルをその欠陥について検査する方法であって、
前記光源からの光が前記両偏光板を透過するように該両偏光板間に配置された前記液晶パネルの液晶の配向を保持した状態で、前記撮影手段により、他方の前記偏光板の出射面を撮影する第1の撮影ステップと、
前記検査装置に前記液晶パネルが存在しない状態で、しかも前記両偏光板の偏光方向を互いに直角に保持しかつ前記光源を点灯した状態で、前記他方の偏光板の前記出射面を撮影する第2の撮影ステップと、
さらに、前記検査装置に前記液晶パネルおよび前記他方の偏光板が存在しない状態でしかも前記光源を点灯した状態で、前記撮影手段により該撮影手段に向き合う前記拡散板の出射面を撮影する第3の撮影ステップと、
前記各撮影ステップにより得られた画像に基づいて、前記液晶パネルの欠陥部位を抽出する抽出ステップとを含む、液晶パネルの検査方法。 - 前記抽出ステップは、前記第1の撮影ステップにより得られた第1の画像から特定された所定の輝度を超えない箇所のうち、前記第2の撮影ステップにより得られた第2の画像から特定された所定の輝度を超える箇所および前記第3の撮影ステップにより得られた第3の画像から特定された所定の輝度を超えない箇所と重複しない部位を抽出することを含み、該抽出部位が欠陥であると判定される、請求項1に記載の検査方法。
- 前記第1の撮影ステップでは、前記液晶パネルは、前記一対の偏光板と共にノーマリホワイト型に組み合わされ、前記液晶パネルの液晶に電界が付与されていない状態で前記一対の偏光板間に配置される、請求項1に記載の検査方法。
- 前記第1の撮影ステップでは、前記液晶パネルは、前記一対の偏光板と共にノーマリブラック型に組み合わされ、前記液晶パネルの液晶に電界が付与されている状態で前記一対の偏光板間に配置される、請求項1に記載の検査方法。
- 請求項1に記載の方法に使用される画像処理装置であって、前記第1の画像の各部位の輝度情報を第1のしきい値と比較する第1の比較部と、前記第2の画像の各部位の輝度情報を第2のしきい値と比較する第2の比較部と、前記第3の画像の各部位の輝度情報を第3のしきい値と比較する第3の比較部と、前記第1ないし第3の比較部からの出力情報に対応する位置情報を格納するための記憶部と、前記第1の比較部からの出力情報に対応する位置情報から前記第2及び第3の比較部からの出力情報に対応する位置情報に重複しない位置情報を欠陥部位として出力する抽出部とを備える画像処理装置。
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