JP2007060872A - 昇圧回路とそれを用いた電気機器 - Google Patents

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Abstract

【課題】
本発明は、チャージポンプ型昇圧回路を用いる半導体装置において、当該半導体装置の起動時に発生する起動不良を抑制することを目的とする。
【解決手段】
本発明に係る半導体装置は、電圧入力端子Vccから電圧出力端子Vdの間に、電源入力端子Vcc側にアノード端子を接続したN個の整流素子10a〜10dを直列に接続した第1整流素子群10と、電圧入力端子Vccから奇数番目の整流素子10a、10cのカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号XLを入力される第1容量素子群20a、20cと、電圧入力端子Vccから偶数番目の整流素子10bのカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号と位相が逆の第2クロック信号が入力される第2容量素子群20bとを有する半導体装置であって第1整流素子群と並列にN個より少ないM個の整流素子を直列に接続した第2整流素子群40で構成さる。
【選択図】
図1

Description

本発明は、電源投入時から早期に起動回路を駆動させることによって半導体装置の起動時に発生する起動不良を低減することを可能とする昇圧回路に関するものである。
図7に示すようなスイッチング電源装置2000において、第1スイッチ300を充分にONするためには、第1スイッチ300のゲート電極にはドレイン電極に接続される第2電源端子Vinに与えられている電圧V2よりも高い電圧を印加する必要がある。
したがって第1スイッチ300のゲート電極の電圧を印加する駆動回路200を駆動するためには、図8に示すようなダイオード81a〜81dと容量素子82a〜82dとインバータ83a、83c及びバッファ83bで構成されるチャージポンプ型昇圧回路800が用いられる。
図7のスイッチング電源装置2000のクロック端子CLKにクロック信号XLが入力されはじめると、所定の時間が経過した後、チャージポンプ型昇圧回路800の電圧出力端子Vdには特許文献1に記載されているように、電圧入力端子Vccに印加された電圧V1と、電圧入力端子Vccと電圧出力端子間Vdに設けられたダイオードの個数によって決定された電圧が出力される。例えば図8に示される回路の場合、出力電圧端子Vdより出力される出力電圧Voは、約5×Vcc(V)となる。
一方、クロック端子CLKにクロック信号XLが入力されていない場合、電圧出力端子Vdの電圧Voは、電圧入力端子Vccに印加されている電圧V1からダイオードの順方向電圧Vf×ダイオードの個数分、図8の場合4×Vf(V)降下する。例えば電圧入力端子Vccに1.5Vが印加されている場合、出力電圧端子は、約0Vとなる。
したがって、図7に示す、駆動回路200を制御する制御回路400等が駆動時回路200より先に動作しても、駆動回路200が起動していないためスイッチング電源装置2000において、起動不良が発生してしまうおそれがあった。
特開2001−69747号公報
本発明は、チャージポンプ型昇圧回路を用いる半導体装置において、当該半導体装置の起動時に発生する起動不良を抑制する。
本発明の第1の態様は、電圧入力端子Vccから電圧出力端子Vdの間に、電源入力端子Vcc側にアノード端子を接続したN個の整流素子を直列に接続した第1整流素子群10と、電圧入力端子Vccから奇数番目の整流素子10a、10cのカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号XLを入力される第1容量素子群20a、20cと、電圧入力端子Vccから偶数番目の整流素子10bのカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号XLと位相が逆の第2クロック信号が入力される第2容量素子群20bとを有し、第1及び第2クロック信号に応じて、電圧入力端子Vccから入力された電圧を昇圧して電圧出力端子Vdから出力する半導体装置であって第1整流素子群10a〜10dに並列に第1整流素子群10a〜10dの順方向電圧より、低い順方向電圧を設定できるよう整流素子を直列に接続した第2整流素子群40を有する。
さらに、本発明の第1の態様は、第1整流素子群10と並列にN個より少ないM個の整流素子を直列に接続した第2整流素子群40を有するものであってもよい。
本発明の第2の態様は、電圧入力端子Vccから電圧出力端子Vdの間に、電源入力端子Vcc側にアノード端子を接続したN個の整流素子10a〜10dを直列に接続した第1整流素子群と、電圧入力端子Vccから奇数番目の整流素子10a、10cのカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号XLを入力される第1容量素子群20a、20cと、電圧入力端子Vccから偶数番目の整流素子10bのカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号と位相が逆の第2クロック信号が入力される第2容量素子群20bとを有し、第1及び第2クロック信号に応じて、電圧入力端子Vccから入力された電圧を昇圧して電圧出力端子Vdから出力する半導体装置であって第1整流素子群10a〜10dに並列に電圧入力端子Vccに比べ、電圧出力端子Vdの電圧が低くなったときに電圧入力端子Vccと電圧出力端子Vdが導通するようなスイッチ41を有する。
さらに、本発明の第2の実施態様は、スイッチ41が電圧出力端子Vdの電圧が低くなったときに電圧入力端子Vccと電圧出力端子Vdが導通するよう比較回路42にて制御されることを特徴とするものであってもよい。
さらに、本発明の第1乃至第2の実施態様に用いられる整流素子10a〜10d、40は、第1導電型の半導体基板1、半導体基板1上に形成された第1第2導電型領域2と、第1第2導電型領域2の下部に設けられた第2第2導電型領域3と、第1第2導電型領域2内に形成された第1第1導電型領域4と、第1第2導電型領域2の縁部に形成され、下端部にて第2第2導電型領域3に接している第3第2導電型領域5と、第1第1導電型領域4と第3第2導電型領域5の間の前記第1第2導電型領域内に形成された第2第1導電型領域6と、第1第2導電型領域4に一方の端子が接続され、第3第2導電型領域5と第2第1導電型領域6に他方の端子が接続された構造をしているものであってもよい。
さらに、本発明の第1の態様は、第2の整流素子群に用いられる整流素子40として、第1整流素子群に用いられる整流素子10a〜10dに比べ第1第1導電領域4と第2第1導電領域間6の距離が大きい整流素子からなるものであってもよい。
さらに、本発明の第1の態様乃至第3の実施態様は、第1導電型がP型導電体であり、第2導電型がN型導電体であるとともに、第1第2導電型領域4がアノード端子となり、第3第2導電型領域5と第2第1導電型領域6がカソード端子となるものであってもよい。
さらに、本発明の第1の態様乃至第3の実施態様は、第1導電型がN型導電体であり、第2導電型がP型導電体である、第1第2導電型領域4がカソード端子、第3第2導電型領域5と第2第1導電型領域6がアノード端子が接続されたされたものであってもよい。
さらに、本発明の第1の態様乃至第3の実施態様は、入力端子Vinからの電圧を所定の電圧に変換して出力する、電源装置1000において、入力端子と出力端子と制御端子を有する第1スイッチ300とを更に有し、第1スイッチ300の入力端子に印加される電圧よりも高い電圧で第1スイッチ300の制御端子を駆動する駆動回路200と、駆動回路200を制御する制御回路400とを有し、出力部が駆動回路200の入力部に接続された昇圧回路100に用いられるものであってもよい。
さらに、本発明の第1の態様乃至第3の実施態様は、電気機器において、入力端子と出力端子Voutと制御端子を有する第1スイッチ301aを更に有し、第1スイッチ301aの入力端子に印加される電圧よりも高い電圧で第1スイッチ301aの制御端子を駆動する駆動回路200と、出力部が駆動回路200の入力部に接続された昇圧回路100と、駆動回路200を制御する制御回路400と、第1スイッチ301aの制御端子に印加される信号と位相が逆の信号が駆動回路200より入力される制御端子と、前記出力端子に接続される端子、基準電位が印加されている端子とを有する第2スイッチ301bとを有する制御装置1100によって、制御装置1100の出力端子Voutに接続された負荷600と、を有した電気機器であってもよい。
チャージポンプ型昇圧回路の電圧出力端子の低下を抑制することができるので、チャージポンプ回路に接続された駆動回路に設けられている起動回路を早期に起動可能とすることになる。
したがって、制御回路等の起動に遅れることなく駆動回路を起動することが可能となるので当該半導体装置の起動不良及び、これを用いた電気機器の誤動作を抑制することができる。
チャージポンプ昇圧回路の電圧入力端子と電圧出力端子の間に、従来設けられていた整流素子群とは、別の経路を並列に設けることにより電圧出力端子の低下を抑制し、電源投入初期段階においても早期に起動可能とすることができた。
図1は、本発明昇圧回路の一実施例の構成を示す図である。本発明の昇圧回路100は、
第1整流素子群10と、第1容量素子群20a、20cと、第2容量素子群20b、20dと、第2整流素子群40とから構成されている。
第1整流素子群10は電圧入力端子Vccから電圧出力端子Vdの間に、例えば電源入力端子側にアノード端子を接続した4個の整流素子10a〜10dを直列に接続したもので構成されている。以下便宜上第1整流素子群を経由する電流経路を第1電流経路とする。
第1容量素子群は電圧入力端子Vccから1番目もしくは3番目の整流素子10a、10cのカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号XLを入力される容量素子20a、20cで構成されている。
第2容量素子群は電圧入力端子Vccから2番目もしくは4番目の整流素子のカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号XLと位相が逆の第2クロック信号が入力される第2容量素子20b、20dで構成されている。
第2整流素子群40は、第1整流素子群10と並列に4個より少ない図1では1個の整流素子を直列に接続したもので構成されている。以下便宜上第2整流素子群を経由する電流経路を第2電流経路とする。電圧入力端子には第1電源電圧V1、電圧出力端子にはVoが出力されているとする。
クロック端子CLKにクロック信号XLが入力されている場合の昇圧回路100の動作について説明する。CLKにハイレベルのクロック信号XLが入力されたときコンデンサ20aには、第1電源電圧V1が充電される。次に、インバータにローレベルのクロック信号が入力された場合、ダイオードに接続されていない端子側には、第1電源電圧V1が入力されるので、ダイオード接続側の電圧が2Vccに持ち上げられる。クロック信号がハイレベルとローレベルを繰り返すと、同様に、10bのカソード端子側には2Vcc+Vccが出力され、10bのカソード端子側には3Vcc+Vccが出力され、つまり1つのダイオードと1つの容量で第1電源電圧V1だけ昇圧される。なお、図1の昇圧回路の場合、4クロック分動作することでVoに電圧5×Vcc(V)が出力される。
なお、電圧出力端子Vdの電圧Voは、電圧入力端子Vccの電圧V1に比べ高いので、第2整流素子群40を介して電圧出力端子Vdから、電圧入力端子Vccへ逆流することはない。
次にクロック端子CLKにクロック信号XLが入力されていない場合の半導体装置100の動作について説明する。従来であれば、クロック信号XLがクロック端子CLKに入力されていない場合、前述のように第1電流経路に設けられた整流素子の個数と整流素子の順方向電圧Vfとを乗じた分低下することになる。
一方、本発明において電源入力端子Vccに1.5V印加されている場合、一般的なダイオードの場合その順方向電圧Vfは0.7Vとすれば、第2電流経路を介し、電源出力端子Vdには0.8Vが出力される、そのためプレドライバ回路70aを構成するNPNトランジスタ60は動作可能となりプレドライバ回路70aが動作可能となる。つまり、電源入力端子Vccに電圧が印加されるとほぼ同時にプレドライバ回路70aを起動することが可能となる。
図1の回路の場合、従来所望の電圧が電圧出力端子Vdに出力されるまで起動できなかった場合に比べ、4クロック分早く回路を起動させることが可能となった。
第2経路の整流素子の数は、クロック動作停止時立下りを遅らせたい回路がある場合、Mの数を増やして調整してもよい。
図2は、本発明昇圧回路の第2実施例の構成を示す図である。図1と同様の構成には、同じ番号を用い詳細な説明は省略する。第1整流素子群10に並列に電圧入力端子Vccに印加されている電圧V1に比べ、前記電圧出力端子の電圧が低くなったときに電圧入力端子Vccと電圧出力端子Vdが導通するように動作するスイッチ回路41で構成されている。
スイッチ回路41の導通/非道通を制御する手段として、例えば比較器42を設け、比較回路42の反転入力部には電圧入力端子Vccを接続し、さらに、電圧出力端子側と比較器の非反転入力部の間にオフセット電圧Voff分のオフセット電圧源43を設けた。
なお、オフセット電圧Voff分のオフセット電圧源43を設けたのは、電圧入力端子Vccに印加されている電圧V1と電圧出力端子Vdの電圧Voがほぼ同一になった際にも安定動作させるために設けたものであり、オフセット電圧Voffの値は、Pチャネルトランジスタ41のドレイン−ソース電圧の値の半分とすれば動作を安定しながら消費電流の削減が可能となる。
クロック動作時は、第1実施例と同様ダイオードの段数分のクロック信号のハイレベル/ローレベルの切り替えがあれば電圧出力端子Vdに所定の電圧が出力される。この時電圧出力端子の電圧Voが電圧入力端子Vccに比べ高いので、比較器42からローレベル信号が出力される、スイッチであるPチャネルトランジスタ41は非導通となるので、Pチャネルトランジスタ41を有する第2経路を介し電圧出力端子Vdから、電圧入力端子Vccへ逆流することはない。
クロック停止時には、電源入力端子Vccに1.5V印加され、電圧出力端子Vdの端子が1.5V−Voffよりも低くなる。このとき比較器の出力は0Vととなる。Pチャネルトランジスタの制御端子には0Vが印加され、Pチャネルトランジスタが導通する。
したがって、電源出力端子Vdにはほぼ1.5Vが出力される、そのため起動回路70aを構成するNPNトランジスタ60が起動可能となり、プレドライバ回路70aを有する駆動回路200が起動可能となる。つまり、電源入力端子に電圧が印加されるとほぼ同時にプレドライバ回路70aを起動することが可能となる。
なお、比較器42によってPチャネルトランジスタ41の導通を制御したが、クロック信号の入力とともに電圧等が変化するもので制御されればよく、例えば昇圧回路100を含む装置を起動するためのイネーブル信号等によって制御してもよい。
従来整流素子は、図3に示すよう、P型半導体基板1上に形成された第1N型領域2と、第1N型領域2の下部に設けられた埋め込み層である第2N型領域3と、アノード端子に接続され第1N型領域2に形成された第1P型領域4と、カソード端子に接続され第1N型領域の縁部に形成され、下端部にて第2N型領域3に接している素子分離領域である第3N型領域5とで整流素子D1を構成している。
P型半導体基板1は、図3に示すよう接地され用いられている。このとき、第1P型領域4、第1N型領域2及び第2N型領域3とP型半導体基板1によってPNPトランジスタPT1が寄生的に形成される。
図3の整流素子を動作させた場合、トランジスタPTのベースに印加される電圧に比べ、トランジスタPTのエミッタに印加される電圧が高くなるので、トランジスタPT1も動作する。すなわち第3N型領域5に流れさらにカソード端子を介して容量素子に流れる電流の一部が、P型半導体基板を介し接地部位に流れてしまう。そのため出力電圧が規定の電位に達するまで整流素子のカソードに接続された容量に電荷蓄積するための時間が余分にかかるようになり、起動時間の遅くなっていた。
図4は、本発明の整流素子を示している。図2は、本発明昇圧回路の第2実施例の構成を示す図である。図1と同様の構成には、同じ番号を用い詳細な説明は省略する。第1P型領域4と第3N型領域の間にカソード端子に接続された第2P型領域6を整流素子を形成している。
第1P型領域4と第3N型領域5の間に第2P型領域6を設けることで、図3のようにアノード端子から接地端子へと基板断面縦方向に形成されるPNPトランジスタPT1の起動を抑制するために、代わりに基板表面上に第1P型領域4、第1N型領域2と第2P型領域6とで寄生的に構成されるPNPトランジスタPT2及びPT3を構成する。さらに第2P型領域6を整流素子のカソード端子とする。
この場合、トランジスタPT2、PT3がPT1よりも先に起動するとともに、電流が生じてもカソード端子に接続されているので、PT1を介して半導体基板1に流れることが抑制されカソード端子に接続される容量素子に電流が流れるため従来のものに比べて起動時間を早めることが可能となる。
ここで、第2P型領域6は、図4では2つに分離されているが、図示するよう分離していてもよいし、また平面状リングもしくは矩形状に一体形成されているものでもよい。また、図4では、第3N型領域5と第2P型領域6は接するように設けているが、接していなくとも両領域がカソード端子に接続されていればよい。また、図4ではP型導電体とN型導電体を逆にした上で、接地と電源、アノードとカソードを入れ替えた整流素子でも構わない。
一度出力電圧端子Vdの電圧が所望の電圧Voに達すると、第2整流素子群を形成する個々整流素子のアノード端子-カソード素子間に印加される逆方向電圧は、第1整流素子群を形成する個々のアノード端子-カソード素子間に印加される逆方向電圧に比べ大きいものとなる。
したがって第2整流素子の耐圧をあげるため、第2整流素子の第1P型領域4と第2P型領域6の距離を、第1整流素子の第1P型領域4と第2P型領域6の距離に比べ大きくすればよい。その距離については、半導体チップの大きさを考慮して適宜決めればよい。
図5は本発明のスイッチング電源装置1000を示し、入力端子と出力端子と制御端子を有する第1スイッチ300と、N型MOSからなる第1スイッチ300の入力端子に印加される電圧よりも高い電圧で第1スイッチ300の制御端子を駆動する駆動回路200と、駆動回路200を制御する制御回路400と、図1および図2で示した昇圧回路100とで構成されている。その出力端子Voutには、容量素子500と負荷600が接続され、容量素子500および負荷600の他端は接地電位に接続されている。
本発明のスイッチング電源装置1000の電圧入力端子Vccに入力されれば、第2整流素子群の個数にもよるが、チャージポンプより昇圧された電圧が出力されるより早く(第1整流素子群の整流回路の個数×クロック信号の周期)駆動回路を起動することができる。
したがって昇圧回路100の出力が駆動回路200に入力されているので駆動回路200が制御回路400より遅れて起動する怖れを低減できるので、図5に記載されるスイッチング装置1000において起動不良を低減することが可能となる。
なお、制御回路400には、半導体装置の出力をフィードバックしたものが入力され、その信号に基づいて駆動回路を制御してもよい。また、センサからの信号に基づいたもので制御するようにしてもよいし、マイコン等を介し記憶素子に基づく制御信号であってもかまわない。
図6は、本発明の第2の制御装置1100を示し、入力端子と出力端子と制御端子を有するN型MOSからなる第1スイッチ301aと、第1スイッチ300aの入力端子に印加される電圧よりも高い電圧で第1スイッチ300の制御端子を駆動する駆動回路200と、駆動回路200を制御する制御回路400と、第1スイッチ301aの制御端子に印加される信号と位相が逆の信号が入力される制御端子と、前記出力端子に接続される端子、基準電位が印加されている端子とを有するN型MOSからなる第2スイッチ301bと、駆動回路200に接続した図1もしくは図2記載の昇圧回路100で構成されている。
その出力端子Voutには、誘導素子700の一方が接続され、誘導素子700の他方には、電気機器等の負荷600と容量500が接続されている。
制御回路は、半導体装置の出力をフィードバックしたものが入力され、その信号に基づいて駆動回路を制御してもよい。また、センサから出力した信号に基づいたものでもよいし、マイコン等を介し記憶素子に基づく制御信号であってもかまわない。
なお、誘導素子と負荷を有する電気機器としては、電動機であってもよい。
相補的に制御するためには、出力トランジスタをPチャネル型トランジスタとNチャネル型トランジスタで構成してもかまわないが、Nチャネル型トランジスタと本発明のようなチャージポンプ型昇圧回路を用いたほうが、上記の電気機器のように大電流を扱う場合、Pチャネル型トランジスタの面積よりも小型にできるのでより望ましい。また、整流素子としてはダイオードの場合のみを示したがツェナーダイオードを用いてもよい。
は、本発明に係る昇圧回路の回路図である。 は、本発明に係るその他の実施例を示す昇圧回路の回路図である。 は、従来の整流素子の断面模式図である。 は、本発明に係る昇圧回路に用いられる整流素子の断面模式図である。 は、本発明に係る昇圧回路を用いたスイッチング電源装置の回路図である。 は、本発明に係る昇圧回路を用いたその他の実施例を示す電気機器の回路図である。 は、従来型の昇圧回路を用いたスイッチング電源装置の回路図である。 は、従来型の昇圧回路の回路図である。
符号の説明
1 半導体基板
2 第1第2導電型領域
3 第2第2導電型領域
4 第1第1導電型領域
5 第3第2導電型領域
6 第2第1導電型領域
10a、10b、10c、10d、40 整流素子
10 第1整流素子群
20a、20c 第1容量素子群
20b 第2容量素子群
100 半導体装置
41 スイッチ
42 比較器
200 駆動回路
300、301a 第1スイッチ
301b 第2スイッチ
400 制御回路
500 容量素子
600 負荷
700 誘導素子
Vcc 電圧入力端子
Vd 電圧出力端子
Vin 第2電源端子
CLK クロック端子
XL クロック信号

Claims (10)

  1. 電圧入力端子から電圧出力端子の間に、電源入力端子側にアノード端子を接続したN個の整流素子を直列に接続した第1整流素子群と、前記電圧入力端子から奇数番目の前記整流素子のカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号を入力される第1容量素子群と、
    前記電圧入力端子から偶数番目の整流素子のカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号と位相が逆の第2クロック信号が入力される第2容量素子群とを有し、第1及び第2クロック信号に応じて、前記電圧入力端子から入力された電圧を昇圧して電圧出力端子から出力する昇圧回路であって、前記第1整流素子群に並列に第1整流素子群の順方向電圧より、低い順方向電圧を設定できるよう整流素子を直列に接続した第2整流素子群を有する昇圧回路。
  2. 前記第2整流素子群は、前記第1整流素子群と並列にN個より少ないM個の整流素子を直列に接続した第2整流素子群を有する請求項1に記載の昇圧回路。
  3. 電圧入力端子から電圧出力端子の間に、電源入力端子側にアノード端子を接続したN個の整流素子を直列に接続した第1整流素子群と、前記電圧入力端子から奇数番目の前記整流素子のカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号を入力される第1容量素子群と、
    前記電圧入力端子から偶数番目の整流素子のカソード端子に、一方が接続され、他方に第1クロック信号と位相が逆の第2クロック信号が入力される第2容量素子群とを有し、第1及び第2クロック信号に応じて、前記電圧入力端子から入力された電圧を昇圧して電圧出力端子から出力する昇圧回路であって第1整流素子群に並列に前記電圧入力端子に比べ、前記電圧出力端子の電圧が低くなったときに前記電圧入力端子と前記電圧出力端子が導通するようなスイッチを有する昇圧回路。
  4. 前記スイッチが前記電圧出力端子の電圧が低くなったときに前記電圧入力端子と前記電圧出力端子が導通するよう比較器にて制御されることを特徴とする請求項3に記載の昇圧回路。
  5. 前記整流素子が、第1導電型の半導体基板、前記半導体基板上に形成された第1第2導電型領域と、前記第1第2導電型領域の下部に設けられた第2第2導電型領域と、前記第1第2導電型領域内に形成された第1第1導電型領域と、前記第1第2導電型領域の縁部に形成され、下端部にて第2第2導電型領域に接している第3第2導電型領域と、前記第1第1導電型領域と前記第3第2導電型領域の間の前記第1第2導電型領域内に形成された第2第1導電型領域と、
    前記第1第2導電型領域に一方の端子が接続され、前記第3第2導電型領域と第2第1導電型領域に他方の端子が接続された構造としている請求項1乃至請求項3に記載の昇圧回路。
  6. 前記第2整流素子群は、前記第1整流素子群に用いられる整流素子に比べ前記第1第1導電領域と第2第1導電領域間の距離が大きいことを特徴とした請求項1乃至請求項2または請求項5に記載の昇圧回路。
  7. 前記第1導電型がP型導電体であり、前記第2導電型がN型導電体であるとともに、前記第1第2導電型領域がアノード端子、前記第3第2導電型領域と第2第1導電型領域がカソード端子となる、請求項5乃至請求項6に記載の昇圧回路。
  8. 前記第1導電型がN型導電体であり、前記第2導電型がP型導電体であるとともに、前記第1第2導電型領域がカソード端子、前記第3第2導電型領域と第2第1導電型領域がアノード端子となる、請求項5乃至請求項6に記載の昇圧回路。
  9. 入力端子と出力端子と制御端子を有する第1スイッチを更に有し、請求項1乃至請求項8に記載された昇圧回路の出力部が入力部に接続され、前記第1スイッチの入力端子に印加される電圧よりも高い電圧で前記第1スイッチの制御端子を駆動する駆動回路と、前記駆動回路を制御する制御回路とを有し、入力端子からの電圧を所定の電圧に変換して出力する電源装置。
  10. 入力端子と出力端子と制御端子を有する第1スイッチと、前記第1スイッチの入力端子に印加される電圧よりも高い電圧で前記第1スイッチの制御端子を駆動する駆動回路と、前記駆動回路を制御する制御回路と、前記第1スイッチの制御端子に印加される信号と位相が逆の信号が前記駆動回路より入力される制御端子と、前記出力端子に接続される端子、基準電位が印加されている端子とを有する第2スイッチと、前記駆動回路に接続した請求項1乃至請求項8記載の昇圧回路と、からなる制御装置と、前記制御装置の出力端子に接続された負荷と、を有した電気機器。
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