JP2008029085A - スイッチング素子の駆動装置およびスイッチング定電圧電源装置 - Google Patents

スイッチング素子の駆動装置およびスイッチング定電圧電源装置 Download PDF

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淳一 永田
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聖 山本
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Abstract

【課題】スイッチング素子の発熱およびスイッチング損失を低減可能なスイッチング素子の駆動装置を提供する。
【解決手段】制御回路53は、出力端子Voutの電圧に基づいて、適切なデューティ比でハイレベルまたはローレベルに切り替えられる制御信号CSを生成する。駆動回路52は、制御回路53の制御信号CSに従い、トランジスタ51を駆動するための駆動信号DSを生成し、その駆動信号DSを出力端子52cから出力してトランジスタ51のゲートに印加する。そして、トランジスタ51のオン・オフ動作は、駆動信号DS(制御信号CS)に従って切り替えられる。昇圧回路11は、直流電源Vccの電源電圧を昇圧した昇圧電圧VPを生成し、その昇圧電圧VPを駆動回路52の高電位側電源端子52aへ供給する。駆動回路52の高電位側電源端子52aとグランドとの間には、コンデンサ12が接続されている。
【選択図】 図1

Description

本発明はスイッチング素子の駆動装置およびスイッチング定電圧電源装置に係り、詳しくは、スイッチング素子の駆動装置と、そのスイッチング素子の駆動装置を用いたスイッチング定電圧電源装置とに関するものである。
従来より、スイッチング定電圧電源装置(スイッチングレギュレータ)として、直流電源から供給される電源電流の全部または一部が負荷に流れる非絶縁方式のチョッパ回路が広く使用されている。
チョッパ回路には、直流電源の電源電圧を降圧して負荷へ供給する降圧型チョッパ回路と、直流電源の電源電圧を昇圧して負荷へ供給する昇圧型チョッパ回路とがある。
そして、チョッパ回路は直流電源からの電源電流の供給をオン・オフ切替するスイッチング素子を用いるが、降圧型ではスイッチング素子が入力と負荷の間に直列に接続され、昇圧型ではスイッチング素子が入力と負荷の間に並列に接続される。
ここで、スイッチング素子としてNチャネルMOSトランジスタを用い、そのNチャネルMOSトランジスタをハイサイド駆動する場合、NチャネルMOSトランジスタをオンさせるには、ゲート電圧をソース電圧よりも高くする必要がある。
また、スイッチング素子としてNPNトランジスタを用い、そのNPNトランジスタをハイサイド駆動する場合、NPNトランジスタをオンさせるには、ベース電圧をエミッタ電圧よりも高くする必要がある。
そこで、NチャネルMOSトランジスタのゲート電圧をソース電圧よりも高くしたり、NPNトランジスタのベース電圧をエミッタ電圧よりも高くするため、従来よりブートストラップ回路が一般的に用いられている。
すなわち、ブートストラップ回路を用いて直流電源の電源電圧を昇圧し、その昇圧した電源電圧をスイッチング素子の駆動回路へ供給するようにした技術が利用されている(例えば、特許文献1,2参照)。
特開2005−210768号公報(第2〜4頁、図1) 特開2005−304210号公報(第2〜12頁、図4)
図8は、降圧型チョッパ回路を用いた従来のスイッチング定電圧電源装置50の概略構成を示す回路図である。
従来のスイッチング定電圧電源装置50は、Nチャネル・パワーMOSトランジスタ51、駆動回路52、制御回路(制御信号発生回路)53、インダクタンス54、フライホイールダイオード55、平滑コンデンサ56、ブートストラップ回路57(コンデンサ57a、ダイオード57b)、出力端子Voutから構成され、直流電源Vccから電源が供給されている。
スイッチング素子としてのNチャネル・パワーMOSトランジスタ51において、ゲートは駆動回路52の出力端子52cに接続され、ドレインは直流電源Vccに接続され、ソースはインダクタンス54を介して出力端子Voutに接続されると共にフライホイールダイオード55のカソードに接続されることにより、トランジスタ51はハイサイド駆動されている。
フライホイールダイオード55のアノードはグランド(GND)に接続されている。
出力端子Voutとグランドとの間には平滑コンデンサ56が接続されている。
駆動回路52の高電位側電源端子52aはブートストラップ回路57に接続され、駆動回路52の低電位側電源端子52bはグランドに接続されている。
ブートストラップ回路57は、コンデンサ57aおよびダイオード57bから構成されている。
コンデンサ57aは、駆動回路52の高電位側電源端子52aとトランジスタ51のソースとの間に接続されている。
ダイオード57bのカソードは駆動回路52の高電位側電源端子52aに接続され、ダイオード57bのアノードは直流電源Vccに接続されている。
制御回路53は、出力端子Voutの電圧(平滑コンデンサ56に発生する出力電圧)に基づいて、適切なデューティ(Duty)比でハイレベルまたはローレベルに切り替えられる制御信号CSを生成し、その制御信号CSを駆動回路52へ出力する。
駆動回路52は、制御回路53から出力された制御信号CSに従い、トランジスタ51を駆動するための駆動信号DSを生成し、その駆動信号DSを出力端子52cから出力してトランジスタ51のゲートに印加する。
すなわち、制御信号CSがハイレベル時にはトランジスタ51をオンさせるのに必要な高電位の駆動信号DSが生成され、制御信号CSがローレベル時にはトランジスタ51をオフさせるのに必要な低電位の駆動信号DSが生成される。
そして、トランジスタ51のオン・オフ動作は、駆動信号DS(制御信号CS)に従って切り替えられる。
トランジスタ51のオン時には直流電源Vccからトランジスタ51を介してインダクタンス54へ電流が供給され、トランジスタ51のオフ時にはインダクタンス54への電流供給が停止される。
フライホイールダイオード55は、トランジスタ51のオフ時にインダクタンス54へ電流を供給する。
平滑コンデンサ56は、インダクタンス54に流された電流を蓄積し、その電流の脈動によって出力端子Voutの出力電圧に生じるリップルを吸収して低減する。
このように、降圧型チョッパ回路を用いたスイッチング定電圧電源装置50では、出力端子Voutの出力電圧に基づいてトランジスタ51のオン・オフ動作を繰り返させることにより、直流電源Vccの電源電圧を降圧した出力電圧を生成し、その出力電圧を出力端子Voutに接続された負荷(図示略)へ出力する。尚、降圧型チョッパ回路の降圧動作は周知であるため説明を省略する。
従来のスイッチング定電圧電源装置50には、以下の問題点がある。
[第1の問題点]
ブートストラップ回路57において、トランジスタ51のオフ時には直流電源Vccからダイオード57bを介してコンデンサ57aに電流が流れて充電される。
そのため、ブートストラップ回路57によって直流電源Vccの電源電圧を昇圧することが可能になり、その昇圧した電源電圧を駆動回路52の高電位側電源端子52aへ供給できる。
しかし、ブートストラップ回路57では、直流電源Vccの電源電圧を約2倍までしか昇圧できない。
そのため、直流電源Vccの電源電圧が低下すると、ブートストラップ回路57の昇圧電圧も低下することになる。
そして、ブートストラップ回路57の昇圧電圧が低下すると、駆動回路52が生成する駆動信号DSの電圧(=トランジスタ51のゲート電圧)も低下し、トランジスタ51を十分にオンさせることができなくなるため、トランジスタ51のオン抵抗が増加し、トランジスタ51の発熱が非常に大きくなってしまうという問題が発生する。
[第2の問題点]
トランジスタ51の動作をオンからオフへ切り替える際のスイッチング速度は、トランジスタ51のゲートに蓄積された電荷を引き抜いて当該ゲート容量を放電するのに要する時間によって決定される。
そして、従来のスイッチング定電圧電源装置50では、駆動回路52の低電位側電源端子52bがグランドに接続されているため、トランジスタ51のゲートに蓄積された電荷は、駆動回路52によって引き抜かれ、低電位側電源端子52bを介してグランドへ放電される。
従って、前記スイッチング速度は、トランジスタ51のゲート電圧とグランド電圧(=0V)との電位差と、トランジスタ51をオフさせるための駆動信号DSの出力時における駆動回路52の出力インピーダンスとによって決定される。
すなわち、トランジスタ51のゲート電圧とグランド電圧との電位差が大きいほど、前記スイッチング速度を速くできる。また、前記出力インピーダンスが小さいほど、前記スイッチング速度を速くできる。
ところで、前記スイッチング速度が遅いほどトランジスタ51のスイッチング損失が増大する。
そのため、スイッチング損失を低減するには、トランジスタ51のゲート電圧とグランド電圧との電位差を小さくするか、前記出力インピーダンスを小さくしなければならない。
しかし、トランジスタ51をオフさせるにはゲート電圧を所定電圧(例えば、0.7V程度)まで低下させる必要があるが、グランド電圧は一定であるため、トランジスタ51のゲート電圧とグランド電圧との電位差を小さくすることは困難である。
また、前記出力インピーダンスは、駆動回路52の内部回路における出力端子52cと低電位側電源端子52bとの間のインピーダンスに等しいため、小さくすることは困難である。
従って、従来のスイッチング定電圧電源装置50では、トランジスタ51をオンからオフへ切り替える際(オン→オフ時)のスイッチング速度を速くするのに限界があり、トランジスタ51のスイッチング損失を十分に低減できないという問題があった。
本発明は上記問題を解決するためになされたものであって、以下の目的を有するものである。
(1)スイッチング素子の発熱を低減可能なスイッチング素子の駆動装置を提供する。
(2)スイッチング素子のスイッチング損失を低減可能なスイッチング素子の駆動装置を提供する。
(3)上記(1)(2)のスイッチング素子の駆動装置を用いたスイッチング定電圧電源装置を提供する。
請求項1に記載の発明は、
スイッチング素子(51)と、
そのスイッチング素子を駆動する駆動回路(52)と
を備えたスイッチング素子の駆動装置であって、
前記駆動回路にプラスの高電位電源を供給する高電位側電源回路(11)を備え、
前記高電位側電源回路の電源電圧(VP)は、前記スイッチング素子の動作をオフからオンに切り替えさせる電圧であることを技術的特徴とする。
請求項2に記載の発明は、
請求項1に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
前記高電位側電源回路(11)とグランドとの間に接続されたコンデンサ(12)を備えたことを技術的特徴とする。
請求項3に記載の発明は、
請求項1または請求項2に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
前記高電位側電源回路は、昇圧型チャージポンプ回路(11a)を備えた昇圧回路(11)であることを技術的特徴とする。
請求項4に記載の発明は、
スイッチング素子(51)と、
そのスイッチング素子を駆動する駆動回路(52)と
を備えたスイッチング素子の駆動装置であって、
前記駆動回路にマイナスの低電位電源を供給する低電位側電源回路(21)を備え、
前記低電位側電源回路の電源電圧(VM)は、前記スイッチング素子の動作をオンからオフに切り替えさせる電圧であることを技術的特徴とする。
請求項5に記載の発明は、
請求項4に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
前記低電位側電源回路(21)とグランドとの間に接続されたコンデンサ(22)を備えたことを技術的特徴とする。
請求項6に記載の発明は、
請求項4または請求項5に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
前記低電位側電源回路は、降圧型チャージポンプ回路(21a)を備えた降圧回路(21)であることを技術的特徴とする。
請求項7に記載の発明は、
請求項4〜6のいずれか1項に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
前記駆動回路(52)と前記低電位側電源回路(21)とは1個の半導体チップ(41)上に集積化され、その半導体チップに形成された前記各回路の構成素子(44)は、絶縁体から成るアイソレーション領域(45)を備えた絶縁分離を用いて素子分離されていることを技術的特徴とする。
請求項8に記載の発明は、
請求項1〜7のいずれか1項に記載のスイッチング素子の駆動装置と、
前記スイッチング素子(51)に接続されたインダクタンス(54)と、
そのインダクタンスに流された電流を蓄積する平滑コンデンサ(56)と、
その平滑コンデンサに発生する出力電圧に基づいて前記駆動回路を制御する制御回路(53)と
を備えたスイッチング定電圧電源装置を技術的特徴とする。
<請求項1:第1実施形態および第3実施形態に該当(図1,図7参照)>
従来のスイッチング定電圧電源装置(50)において、駆動回路(52)へ昇圧電圧を供給するブートストラップ回路(57)は、スイッチング素子(51)に供給される直流電源(Vcc)の電源電圧を約2倍までしか昇圧できない。
それに対して、請求項1の発明において、高電位側電源回路(11)は、スイッチング素子の動作をオフからオンに切り替えさせるに必要な電圧である電源電圧(VP)を駆動回路(52)へ供給する。
そのため、請求項1の発明では、スイッチング素子に供給される直流電源(Vcc)の電源電圧が低下しても、高電位側電源回路(11)が生成する高電位電源の電源電圧(VP)を、従来技術のブートストラップ回路(57)の昇圧電圧よりも高い電圧にできる。
従って、請求項1の発明によれば、直流電源(Vcc)の電源電圧が低下しても、スイッチング素子を十分にオンさせることが可能であるため、スイッチング素子のオン抵抗が増加せず、スイッチング素子の発熱を大幅に低減できる。よって、請求項1の発明によれば、従来技術の前記第1の問題点を解決できる。
<請求項2>
請求項2の発明では、高電位側電源回路(11)とグランドとの間に接続されたコンデンサ(12)を備えているため、高電位側電源回路の瞬間的な能力不足を補うことが可能になり、請求項1の発明の前記作用・効果を更に確実に得ることができる。
すなわち、スイッチング素子(51)の動作をオフからオンに切り替える際のスイッチング速度は、例えば、スイッチング素子としてMOSトランジスタを使用した場合、そのゲートに電荷を蓄積して当該ゲート容量を充電するのに要する時間によって決定される。
そして、前記スイッチング速度が遅いほどスイッチング素子のスイッチング損失が増大するため、そのスイッチング損失を低減するにはスイッチング素子のゲート容量を急速に充電する必要がある。
請求項1の発明において、スイッチング素子のゲート容量を急速に充電するには、高電位側電源回路(11)が瞬間的に大きな電流供給能力を有する必要がある。
そこで、請求項2の発明において、高電位側電源回路の電流供給能力が不足する場合には、コンデンサ(12)の容量をスイッチング素子のゲート容量に対して十分に大きな容量値に設定しておく。
このようにすれば、高電位側電源回路(11)の電流供給能力によらず、コンデンサ(12)に蓄積されている電荷だけでスイッチング素子のゲート容量を急速に充電させ、スイッチング素子のゲート電圧を瞬間的に上昇させることが可能になるため、スイッチング素子をオフからオンに切り替える際(オフ→オン時)のスイッチング速度を速くしてスイッチング損失を低減できる。
<請求項3(図2参照)>
請求項3の発明では、昇圧型チャージポンプ回路(11a)を備えた昇圧回路(11)によって高電位側電源回路を具体化しているため、高電位側電源回路を簡単な構成で低コストに実現できる。
<請求項4:第2実施形態および第3実施形態に該当(図3,図7参照)>
スイッチング素子(51)の動作をオンからオフへ切り替える際のスイッチング速度は、例えば、スイッチング素子としてMOSトランジスタを使用した場合、そのゲートに蓄積された電荷を引き抜いて当該ゲート容量を放電するのに要する時間によって決定される。
従来のスイッチング定電圧電源装置(50)では、駆動回路(52)の低電位側電源端子(52b)がグランドに接続されているため、スイッチング素子のゲートに蓄積された電荷は、駆動回路(52)によって引き抜かれ、低電位側電源端子(52b)を介してグランドへ放電される。
そのため、スイッチング素子のゲート電圧とグランドとの電位差が大きいほど前記スイッチング速度を速くできるが、グランド電圧は一定であるため、スイッチング素子のゲート電圧とグランドとの電位差を小さくすることは困難であった。
それに対して、請求項4の発明では、駆動回路(52)にマイナスの低電位電源を供給する低電位側電源回路(21)を備えているため、スイッチング素子のゲートに蓄積された電荷は、駆動回路によって引き抜かれ、低電位側電源回路を介してグランドへ放電される。
そのため、スイッチング素子のゲート電圧と、低電位側電源回路(21)の電源電圧(VM)との電位差が大きいほど、前記スイッチング速度を速くできる。
そして、低電位側電源回路(21)は、スイッチング素子の動作をオンからオフに切り替えさせるに必要な電圧である電源電圧(VP)を駆動回路(52)へ供給する。
従って、請求項4の発明によれば、低電位側電源回路(21)の電源電圧(VM)を適宜設定することにより、従来技術に比べて、スイッチング素子をオンからオフへ切り替える際(オン→オフ時)のスイッチング速度を速くことが可能になるため、スイッチング素子のスイッチング損失を大幅に低減できる。
<請求項5>
請求項5の発明では、低電位側電源回路(21)とグランドとの間に接続されたコンデンサ(22)を備えているため、低電位側電源回路の瞬間的な能力不足を補うことが可能になり、請求項4の発明の前記作用・効果を更に確実に得ることができる。
すなわち、請求項4の発明において、スイッチング素子のゲート容量を急速に放電するには、低電位側電源回路(21)が瞬間的に大きな電流供給能力を有する必要がある。
そこで、請求項5の発明において、低電位側電源回路(21)の電流供給能力が不足する場合には、コンデンサ(22)の容量をスイッチング素子のゲート容量に対して十分に大きな容量値に設定しておく。
このようにすれば、低電位側電源回路(21)の電流供給能力によらず、コンデンサ(22)の容量分だけでスイッチング素子のゲート容量を急速に放電させ、スイッチング素子のゲート電圧を瞬間的に下降させることが可能になるため、スイッチング素子をオンからオフに切り替える際のスイッチング速度を速くしてスイッチング損失を低減できる。
<請求項6(図4参照)>
請求項6の発明では、降圧型チャージポンプ回路(21a)を備えた降圧回路(21)によって低電位側電源回路を具体化しているため、低電位側電源回路を簡単な構成で低コストに実現できる。
<請求項7(図6参照)>
請求項7の発明では、駆動回路(52)および低電位側電源回路(21)の構成素子(44)が、絶縁体から成るアイソレーション領域(45)を備えた絶縁分離を用いて素子分離されている。
そのため、PN接合分離のような寄生ダイオード(PD)が半導体チップ(41)に形成されず、構成素子(44)をマイナスの低電位電源で確実に動作させることが可能であり、各回路(52,21)を正常に動作させることができる。
従って、請求項7の発明によれば、各回路(52,21)を1個の半導体チップ(ワンチップ)上に集積化されたモノリシックICによって構成可能であるため、小型化できると共に低コストに提供できる。
<請求項8>
請求項8の発明によれば、請求項1〜7の発明におけるスイッチング素子の駆動装置を使用することで、降圧型チョッパ回路または昇圧型チョッパ回路を用いたスイッチング定電圧電源装置を提供できる。
<用語の説明>
上術した[課題を解決するための手段][発明の効果]に記載した( )内の符号等は、上述した[背景技術]と後述する[発明を実施するための最良の形態]に記載した構成部材・構成要素の符号等に対応したものである。
そして、[課題を解決するための手段][発明の効果]に記載した構成部材・構成要素と、[発明を実施するための最良の形態]に記載した構成部材・構成要素との対応関係は以下のようになっている。
「スイッチング素子」は、トランジスタ51に該当する。
「高電位側電源回路」は、昇圧回路11に該当する。
「高電位側電源回路の電源電圧」は、昇圧電圧VPに該当する。
「低電位側電源回路」は、降圧回路21に該当する。
「低電位側電源回路の電源電圧」は、降圧電圧VMに該当する。
以下、本発明を具体化した各実施形態について図面を参照しながら説明する。尚、各実施形態において、図8に示した従来技術と同一の構成部材および構成要素については符号を等しくして説明を省略してある。また、各実施形態において、同一の構成部材および構成要素については符号を等しくすると共に、同一内容の箇所については重複説明を省略してある。
<第1実施形態>
図1は、降圧型チョッパ回路を用いた第1実施形態のスイッチング定電圧電源装置10の概略構成を示す回路図である。
スイッチング定電圧電源装置10は、Nチャネル・パワーMOSトランジスタ51、駆動回路52、制御回路(制御信号発生回路)53、インダクタンス54、フライホイールダイオード55、平滑コンデンサ56、出力端子Vout、昇圧回路11、コンデンサ12から構成され、直流電源Vccから電源が供給されている。
各回路52,53,11は、1個の半導体チップ(ワンチップ)上に集積化されたモノリシックIC(Integrated Circuit)によって構成されている。
第1実施形態のスイッチング定電圧電源装置10において、図8に示した従来のスイッチング定電圧電源装置50と異なるのは、ブートストラップ回路57が省かれ、その代わりに昇圧回路11およびコンデンサ12が設けられている点だけである。
昇圧回路11は、直流電源Vccの電源電圧を昇圧したプラスの昇圧電圧VPを生成し、その昇圧電圧VPを駆動回路52の高電位側電源端子52aへ供給する。
また、駆動回路52の高電位側電源端子52aとグランドとの間には、コンデンサ12が接続されている。
図2は、昇圧回路11の概略構成を示す回路図である。
昇圧回路11は、昇圧型チャージポンプ回路11a、昇圧駆動回路11b、発振器OCから構成されている。
昇圧型チャージポンプ回路11aは、直列接続された各ダイオードD1〜D5と、各ダイオードD1〜D5の各接続点にそれぞれ接続された各コンデンサC1〜C4とを有し、各コンデンサC1〜C4を繰り返し充放電させることで、ダイオードD1のアノードに接続された直流電源Vccの電源電圧をより高い電圧VPに昇圧してダイオードD5のカソードから出力する。尚、昇圧型チャージポンプ回路の昇圧動作は周知であるため説明を省略する。
昇圧駆動回路11bは、直列接続された各バッファ回路11c,11dから構成されている。尚、各バッファ回路11c,11dは、例えば、1段のCMOSインバータによって構成されている。
バッファ回路11cには、発振器OCが生成したクロック信号CLKが入力されている。尚、発振器OCは、例えば、リングオシレータによって構成されている。
バッファ回路11cの出力信号は、バッファ回路11dへ出力されると共に、各コンデンサC1,C3の一端(ダイオードD1〜D4に接続されている電極の反対側の電極)に印加されている。
バッファ回路11dの出力信号は、各コンデンサC2,C4の一端(ダイオードD2〜D5に接続されている電極の反対側の電極)に印加されている。
[第1実施形態の作用・効果]
従来のスイッチング定電圧電源装置50において、駆動回路52の高電位側電源端子52aへ昇圧電圧を供給するブートストラップ回路57は、直流電源Vccの電源電圧を約2倍までしか昇圧できない。
それに対して、第1実施形態のスイッチング定電圧電源装置50において、駆動回路52の高電位側電源端子52aへ昇圧電圧VPを供給する昇圧回路11は、直列接続された各ダイオード(D1〜D5)の段数を適宜設定することにより、昇圧電圧VPを自由に設定可能である。
そのため、第1実施形態では、直流電源Vccの電源電圧が低下しても、昇圧回路11が生成する昇圧電圧VPを、従来技術のブートストラップ回路57の昇圧電圧よりも高い電圧にできる。
従って、第1実施形態によれば、直流電源Vccの電源電圧が低下しても、駆動回路52が生成する駆動信号DSの電圧(=トランジスタ51のゲート電圧)を低下させずにトランジスタ51を十分にオンさせることが可能であるため、トランジスタ51のオン抵抗が増加せず、トランジスタ51の発熱を大幅に低減できる。よって、第1実施形態によれば、従来技術の前記第1の問題点を解決できる。
加えて、第1実施形態では、コンデンサ12が設けられているため、昇圧回路11の瞬間的な能力不足を補うことが可能になり、前記作用・効果を更に確実に得ることができる。
すなわち、トランジスタ51の動作をオフからオンに切り替える際のスイッチング速度は、トランジスタ51のゲートに電荷を蓄積して当該ゲート容量を充電するのに要する時間によって決定される。
そして、前記スイッチング速度が遅いほどトランジスタ51のスイッチング損失が増大するため、そのスイッチング損失を低減するにはトランジスタ51のゲート容量を急速に充電する必要がある。
第1実施形態では、駆動回路52の高電位側電源端子52aが昇圧回路11に接続されているため、トランジスタ51のゲート容量を急速に充電するには、昇圧回路11が瞬間的に大きな電流供給能力を有する必要がある。
そこで、昇圧回路11の電流供給能力が不足する場合には、コンデンサ12の容量をトランジスタ51のゲート容量に対して十分に大きな容量値に設定しておく。
このようにすれば、昇圧回路11の電流供給能力によらず、コンデンサ12に蓄積されている電荷だけでトランジスタ51のゲート容量を急速に充電させ、トランジスタ51のゲート電圧を瞬間的に上昇させることが可能になるため、トランジスタ51をオフからオンに切り替える際(オフ→オン時)のスイッチング速度を速くしてスイッチング損失を低減できる。
<第2実施形態>
図3は、降圧型チョッパ回路を用いた第2実施形態のスイッチング定電圧電源装置20の概略構成を示す回路図である。
スイッチング定電圧電源装置20は、Nチャネル・パワーMOSトランジスタ51、駆動回路52、制御回路53、インダクタンス54、フライホイールダイオード55、平滑コンデンサ56、ブートストラップ回路57(コンデンサ57a、ダイオード57b)、出力端子Vout、降圧回路21、コンデンサ22から構成され、直流電源Vccから電源が供給されている。
各回路52,53,21は、1個の半導体チップ上に集積化されたモノリシックICによって構成されている。
第2実施形態のスイッチング定電圧電源装置20において、図8に示した従来のスイッチング定電圧電源装置50と異なるのは、降圧回路21およびコンデンサ22が設けられている点だけである。
降圧回路21は、マイナスの降圧電圧VMを生成し、その降圧電圧VMを駆動回路52の低電位側電源端子52bへ供給する。
また、駆動回路52の低電位側電源端子52bとグランドとの間には、コンデンサ22が接続されている。
図3は、降圧回路21の概略構成を示す回路図である。
降圧回路21は、降圧型チャージポンプ回路21a、降圧駆動回路21b、発振器OCから構成されている。
降圧型チャージポンプ回路21aは、直列接続された各ダイオードD6〜D10と、各ダイオードD6〜D10の各接続点にそれぞれ接続された各コンデンサC5〜C8とを有し、各コンデンサC5〜C8を繰り返し充放電させることで、ダイオードD1のカソードが接続されたグランドの電圧をより低い電圧VMに降圧してダイオードD10のアノードから出力する。尚、降圧型チャージポンプ回路の降圧動作は周知であるため説明を省略する。
降圧駆動回路21bは、直列接続された各バッファ回路21c,21dから構成されている。尚、各バッファ回路21c,21dは、例えば、1段のCMOSインバータによって構成されている。
バッファ回路21cには、発振器OCが生成したクロック信号CLKが入力されている。
バッファ回路21cの出力信号は、バッファ回路21dへ出力されると共に、各コンデンサC5,C7の一端(ダイオードD6〜D9に接続されている電極の反対側の電極)に印加されている。
バッファ回路21dの出力信号は、各コンデンサC6,C8の一端(ダイオードD7〜D10に接続されている電極の反対側の電極)に印加されている。
[第2実施形態の作用・効果]
トランジスタ51の動作をオンからオフへ切り替える際のスイッチング速度は、トランジスタ51のゲートに蓄積された電荷を引き抜いて当該ゲート容量を放電するのに要する時間によって決定される。
従来のスイッチング定電圧電源装置50では、駆動回路52の低電位側電源端子52bがグランドに接続されているため、トランジスタ51のゲートに蓄積された電荷は、駆動回路52によって引き抜かれ、低電位側電源端子52bを介してグランドへ放電される。
そのため、トランジスタ51のゲート電圧とグランドとの電位差が大きいほど前記スイッチング速度を速くできるが、グランド電圧は一定であるため、トランジスタ51のゲート電圧とグランドとの電位差を小さくすることは困難であった。
それに対して、第2実施形態のスイッチング定電圧電源装置10では、駆動回路52の低電位側電源端子52bに降圧回路21が生成した降圧電圧VMが供給されているため、トランジスタ51のゲートに蓄積された電荷は、駆動回路52によって引き抜かれ、低電位側電源端子52bから降圧回路21を介してグランドへ放電される。
そのため、トランジスタ51のゲート電圧と、降圧回路21が生成したマイナスの降圧電圧VMとの電位差が大きいほど、前記スイッチング速度を速くできる。
そして、降圧回路21は、直列接続された各ダイオード(D6〜D10)の段数を適宜設定することにより、降圧電圧VMを自由に設定可能である。
従って、第2実施形態によれば、降圧電圧VMを適宜設定することにより、従来技術に比べて、トランジスタ51をオンからオフへ切り替える際(オン→オフ時)のスイッチング速度を速くことが可能になるため、トランジスタ51のスイッチング損失を大幅に低減できる。
加えて、第2実施形態では、コンデンサ22が設けられているため、降圧回路21の瞬間的な能力不足を補うことが可能になり、前記作用・効果を更に確実に得ることができる。
すなわち、第2実施形態では、駆動回路52の低電位側電源端子52bが降圧回路21に接続されているため、トランジスタ51のゲート容量を急速に放電するには、降圧回路21が瞬間的に大きな電流供給能力を有する必要がある。
そこで、降圧回路21の電流供給能力が不足する場合には、コンデンサ22の容量をトランジスタ51のゲート容量に対して十分に大きな容量値に設定しておく。
このようにすれば、降圧回路21の電流供給能力によらず、コンデンサ22の容量分だけでトランジスタ51のゲート容量を急速に放電させ、トランジスタ51のゲート電圧を瞬間的に下降させることが可能になるため、トランジスタ51をオンからオフに切り替える際のスイッチング速度を速くしてスイッチング損失を低減できる。
ところで、モノリシックICの素子分離には、図5に示すようなPN接合分離が従来から主流として使用されている。
図5(A)は、PN接合分離を用いて半導体チップ41に形成されたラテラル構造のPNPトランジスタ44の概略構成を説明するための平面図である。
図5(B)は、トランジスタ44の概略構成を説明するための縦断面図であり、図5(A)に示すZ−Z線断面図である。
半導体チップ(半導体基板)41には、低濃度のN型半導体領域(N)および高濃度のN型半導体領域(N)によって複数個の島42が形成されると共に、高濃度のP型半導体領域(P)によってアイソレーション領域43が形成されている。
島42の表面には高濃度のP型半導体領域(P)およびN型半導体領域(N)が形成され、これら領域によってPNPトランジスタ44が形成されている。
ここで、島42とアイソレーション領域43との間には、寄生ダイオードPDが形成されることになる。
通常、アイソレーション領域43はグランドに接続されているため、トランジスタ44をマイナス電圧で動作させると、島42がマイナス電圧になって寄生ダイオードPDが動作してしまい、トランジスタ44が本来の動作をできなくなってしまう。
第2実施形態では、各回路52,53,21がモノリシックICによって構成され、降圧回路21がマイナスの降圧電圧VMを生成して駆動回路52へ供給する。そのため、図5に示すようなPN接合分離を用いた場合には、各回路52,21を正常に動作させることができない。
尚、トランジスタ44は、各回路52,53,21の構成素子の一例である。
そこで、第2実施形態では、各回路52,53,21が構成されるモノリシックICの素子分離に、図6に示すような絶縁分離を使用している。
図6(A)は、絶縁分離を用いて半導体チップ41に形成されたラテラル構造のPNPトランジスタ44の概略構成を説明するための平面図である。
図6(B)は、トランジスタ44の概略構成を説明するための縦断面図であり、図6(A)に示すZ−Z線断面図である。
半導体チップ41には、複数個の島42が形成されると共に、絶縁体から成るアイソレーション領域45が形成されている。
アイソレーション領域45は、島42の下側に設けられた絶縁層45aと、島42の外周を囲むように形成されたトレンチ内に埋め込まれた絶縁層45bとから構成され、各絶縁層45a,45bは接続されている。すなわち、島42の外周面および底面は、アイソレーション領域45によって覆われている。
そのため、個々の島42はアイソレーション領域45によって互いに絶縁され、個々の島42に形成されたトランジスタ44は素子分離されている。
このように、絶縁体のアイソレーション領域45を用いた絶縁分離では、PN接合分離のような寄生ダイオードPDが形成されないため、トランジスタ44をマイナス電圧で確実に動作させることが可能であり、各回路52,21を正常に動作させることができる。
従って、第2実施形態によれば、各回路52,53,21をモノリシックICによって構成可能であるため、小型化できると共に低コストに提供できる。
<第3実施形態>
図7は、降圧型チョッパ回路を用いた第3実施形態のスイッチング定電圧電源装置30の概略構成を示す回路図である。
スイッチング定電圧電源装置30は、Nチャネル・パワーMOSトランジスタ51、駆動回路52、制御回路53、インダクタンス54、フライホイールダイオード55、平滑コンデンサ56、出力端子Vout、昇圧回路11、降圧回路21、コンデンサ12,22から構成され、直流電源Vccから電源が供給されている。
各回路52,53,11,21は、1個の半導体チップ上に集積化されたモノリシックICによって構成されている。
第3実施形態のスイッチング定電圧電源装置30において、図8に示した従来のスイッチング定電圧電源装置50と異なるのは、ブートストラップ回路57が省かれ、その代わりに昇圧回路11およびコンデンサ12が設けられている点と、降圧回路21およびコンデンサ22が設けられている点だけである。
つまり、第3実施形態は、第1実施形態と第2実施形態を併用したものである。
従って、第3実施形態によれば、第1実施形態と第2実施形態の両方の作用・効果を得ることができる。
尚、第3実施形態では、昇圧回路11と降圧回路21とで発振器OCを共用できる。
<別の実施形態>
本発明は上記各実施形態に限定されるものではなく、以下のように具体化してもよく、その場合でも、上記各実施形態と同等もしくはそれ以上の作用・効果を得ることができる。
[1]Nチャネル・パワーMOSトランジスタ51は、Pチャネル・パワーMOSトランジスタに比べ、オン抵抗が低く効率が高いことに加え、耐圧や電流定格が大きい上に安価であるため、スイッチング定電圧電源装置に好適である。
しかし、Nチャネル・パワーMOSトランジスタ51をPチャネル・パワーMOSトランジスタに置き換えてもよい。
また、トランジスタ51は、バイポーラトランジスタ(NPNトランジスタ、PNPトランジスタ)に置き換えてもよい。
さらに、トランジスタ51は、MOSトランジスタやバイポーラトランジスタに限らず、どのようなスイッチング素子(例えば、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)、SIT(Static Induction Transistor)、サイリスタなど)に置き換えてもよい。
[2]昇圧型チャージポンプ回路11aを備えた昇圧回路11は、簡単な構成で低コストに実現できる。
しかし、プラスの昇圧電圧VPを生成可能であれば、昇圧型チャージポンプ回路11aに限らず、どのような構成の昇圧回路を用いてもよい。また、昇圧回路11を、直流電源Vccとは別個に昇圧電圧VPを生成する専用のプラス電源に置き換えてもよい。
[3]降圧型チャージポンプ回路21aを備えた降圧回路21は、簡単な構成で低コストに実現できる。
しかし、マイナスの降圧電圧VMを生成可能であれば、降圧型チャージポンプ回路21aに限らず、どのような構成の降圧回路を用いてもよい。また、降圧回路21を、直流電源Vccとは別個に降圧電圧VMを生成する専用のマイナス電源に置き換えてもよい。
[4]上記各実施形態は降圧型チョッパ回路を用いたスイッチング定電圧電源装置に適用したものであるが、本発明は昇圧型チョッパ回路を用いたスイッチング定電圧電源装置に適用してもよい。
[5]上記各実施形態はスイッチング定電圧電源装置に適用したものであるが、本発明は、スイッチング素子をオン・オフ動作させる駆動装置であれば、どのような駆動装置に適用してもよい。
降圧型チョッパ回路を用いて本発明を具体化した第1実施形態のスイッチング定電圧電源装置10の概略構成を示す回路図。 第1実施形態における昇圧回路11の概略構成を示す回路図。 降圧型チョッパ回路を用いて本発明を具体化した第2実施形態のスイッチング定電圧電源装置20の概略構成を示す回路図。 第2実施形態における降圧回路21の概略構成を示す回路図。 図5(A)は、PN接合分離を用いて半導体チップ41に形成されたラテラル構造のPNPトランジスタ44の概略構成を説明するための平面図。図5(B)は、トランジスタ44の概略構成を説明するための縦断面図であり、図5(A)に示すZ−Z線断面図。 図6(A)は、絶縁分離を用いて半導体チップ41に形成されたラテラル構造のPNPトランジスタ44の概略構成を説明するための平面図。図6(B)は、トランジスタ44の概略構成を説明するための縦断面図であり、図6(A)に示すZ−Z線断面図。 降圧型チョッパ回路を用いて本発明を具体化した第3実施形態のスイッチング定電圧電源装置30の概略構成を示す回路図。 降圧型チョッパ回路を用いた従来のスイッチング定電圧電源装置50の概略構成を示す回路図。
符号の説明
10,20,30…スイッチング定電圧電源装置
11…昇圧回路(高電位側電源回路)
11a…昇圧型チャージポンプ回路
11b…昇圧駆動回路
OC…発振器
21…降圧回路(低電位側電源回路)
21a…降圧型チャージポンプ回路
21b…降圧駆動回路
12,22…コンデンサ
41…半導体チップ
42…島
45…絶縁体から成るアイソレーション領域
51…Nチャネル・パワーMOSトランジスタ(スイッチング素子)
52…駆動回路
52a…高電位側電源端子
52b…低電位側電源端子
52c…出力端子
53…制御回路
54…インダクタンス
55…フライホイールダイオード
56…平滑コンデンサ
57…ブートストラップ回路
57a…コンデンサ
57b…ダイオード
Vout…出力端子
Vcc…直流電源
VP…昇圧電圧(高電位側電源回路の電源電圧)
VM…降圧電圧(低電位側電源回路の電源電圧)
CS…制御信号
DS…駆動信号
CLK…クロック信号

Claims (8)

  1. スイッチング素子と、
    そのスイッチング素子を駆動する駆動回路と
    を備えたスイッチング素子の駆動装置であって、
    前記駆動回路にプラスの高電位電源を供給する高電位側電源回路を備え、
    前記高電位側電源回路の電源電圧は、前記スイッチング素子の動作をオフからオンに切り替えさせる電圧であることを特徴とするスイッチング素子の駆動装置。
  2. 請求項1に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
    前記高電位側電源回路とグランドとの間に接続されたコンデンサを備えたことを特徴とするスイッチング素子の駆動装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
    前記高電位側電源回路は、昇圧型チャージポンプ回路を備えた昇圧回路であることを特徴とするスイッチング素子の駆動装置。
  4. スイッチング素子と、
    そのスイッチング素子を駆動する駆動回路と
    を備えたスイッチング素子の駆動装置であって、
    前記駆動回路にマイナスの低電位電源を供給する低電位側電源回路を備え、
    前記低電位側電源回路の電源電圧は、前記スイッチング素子の動作をオンからオフに切り替えさせる電圧であることを特徴とするスイッチング素子の駆動装置。
  5. 請求項4に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
    前記低電位側電源回路とグランドとの間に接続されたコンデンサを備えたことを特徴とするスイッチング素子の駆動装置。
  6. 請求項4または請求項5に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
    前記低電位側電源回路は、降圧型チャージポンプ回路を備えた降圧回路であることを特徴とするスイッチング素子の駆動装置。
  7. 請求項4〜6のいずれか1項に記載のスイッチング素子の駆動装置において、
    前記駆動回路と前記低電位側電源回路とは1個の半導体チップ上に集積化され、その半導体チップに形成された前記各回路の構成素子は、絶縁体から成るアイソレーション領域を備えた絶縁分離を用いて素子分離されていることを特徴とするスイッチング素子の駆動装置。
  8. 請求項1〜7のいずれか1項に記載のスイッチング素子の駆動装置と、
    前記スイッチング素子に接続されたインダクタンスと、
    そのインダクタンスに流された電流を蓄積する平滑コンデンサと、
    その平滑コンデンサに発生する出力電圧に基づいて前記駆動回路を制御する制御回路と
    を備えたことを特徴とするスイッチング定電圧電源装置。
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